沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法.docx

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1、ICS 75010E11备案号：29416-2010 图口中华人民共和国石油天然气行业标准SYT 5163-2010代替SYT 51631995，SYT2101996，SYT 59831994沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法Analysis method for clay minerals and ordinary nonclay minerals in sedimentary rocksby the Xray diffraction2010一0501发布2010100l实施国家能源局 发布SYT 5163-2010目次前言- - - 1范围 - - 12分析方法原理和流程

2、- - l3沉积岩中黏土矿物总量和常见非黏士矿物台量测定方法 -34沉积岩黏土矿物中各黏士矿物种类的相对含量x射线衍射分析方法 65伊利石蒙皂石问层矿物x射线衍射鉴定方法 - - - - 106 x射线衍射实验室的安全防护和环保要求 - -12 附录A(规范性附录)参比强度(K值)的测定方法 13 附录B(规范性附录)黏土分离 - - - - 14 附录C(规范性附录)定性分析 - - 15 附录D(规范性附录)定量方法 - 16附录E(资料性附录)常见矿物的x射线衍射数据和x射线衍射图谱 18 附录F(资料性附录)常见矿物的参比强度(K值) - - - - - 37 附录G(资料性附录)黏土

3、矿物x射线衍射谱图 - - - 38SYT 51632010前言本标准代替SYT 5163 1995沉积岩黏土矿物相对含量x射线衍射分析方法，SYT 62lo一1996沉积岩中黏土矿物总量和常见非黏土矿物x射线衍射定量分析方法和SYT 5983-1994伊 利石蒙皂石间层矿物X射线衍射鉴定方法。本标准与SYT 5163 1995，SYT 6210 1996和SYT 5983 1994相比主耍变化如下：对三标准内容进行了整合修订。并以沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物x射线衍射分析方法为新标准名称改变黏土矿物样品片高温处理温度；一增加应用计算机处理x射线衍射谱图的内容；增加x射线衍射实验室安全防护

4、和环保要求方面的内容。本标准的附录A、附录B、附录C、附录D为规范性附录；本标准的附录E、附录F和附录G为 资料性附录。本标准由石油地质勘探专业标准化技术委员会提出并归口。本标准起草单位：中国石油西南油气田分公司勘探开发研究院、中国石油大庆油田勘探开发研究 院、中国石化胜利油田地质科学研究院、中国海油渤海油田勘探开发研究院、中国石油华北油田勘探 开发研究院。本标准主要起草人：曾理、王兰生、许怀先、焦玉国、崔松男、韩慧、张秉顺。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为：SYT 51631987，SYT 5163-1995；SYT 5983-1994：SYT 6210-1996。SYT 516320

5、10沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物x射线衍射分析方法1范围 本标准规定了应用x射线衍射(XRD)技术测定沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物含量分析方法及对分析结果的质量要求。 本标准适用于沉积岩中黏土矿物及石英、方解石、白云石、铁白云石、菱铁矿、硬石膏、石膏、无水芒硝、重晶石、黄铁矿、石盐、斜长石、钾长石、钙芒硝、浊沸石、方沸石等常见非黏土矿物的 定性与定量分析。2分析方法原理和流程21分析方法原理根据流体静力学中的斯托克斯(Stocks)沉降定理，采用水悬浮液分离方法或离心分离方法分别提取粒径小于10fzm和小于2pm的黏土矿物样品。粒径小于10-m的黏土矿物样品用于测定黏土矿物在原岩中的总

6、相对含量；粒径小于2妒的黏土矿物样品用于测定各种黏土矿物种类的相对含量。由于每一种矿物的晶体都具有特定的X射线衍射图谱，图谱中的特征峰强度与样品中该矿物的 含量正相关，因此，采用实验的方式可以确定某种矿物的含量与其特征衍射峰的强度之间的正相关关 系K值，进而通过测量未知样品中该矿物的特征峰的强度而求出该矿物的含量，这就是x射线 衍射定量分析中的“K值法”。沉积岩中常见非黏土矿物含量采用K值法测定。黏土矿物总量既可采用K值法测定，也可采用 水悬浮液分离方法测定。将所要分析的各常见非黏土矿物含量与黏土矿物总量加在一起作为100来计算，可得到各矿物 在沉积岩中的相对含量。沉积岩黏土矿物中各黏土矿物种

7、类的相对含量采用自然片、L-醇饱和片和高温片的衍射峰面积 差减法测定。22分析流程推荐的分析流程见图1。23设备与器材 设备与器材包括： a)分析天平：感量为0 1 rng； b)电热干燥箱； c)电热水浴锅；d)碎样机； e)研磨机； f)玛瑙研钵 g)瓷研钵； h)铜研钵；1)标准筛； j)脂肪抽提器； k)离心机1SYT 5163-2010图1分析流程图1)超声波清洗器； m)高型烧杯； n)低型烧杯； o)虹吸管； p)注射器； q)载玻片。24试剂 试剂包括： a)盐酸：化学纯； b)双氧水：化学纯； c)乙醇：化学纯；d)氨水：化学纯；e)六偏磷酸钠：分析纯2SYT 5163201

8、0f)乙二胺四乙酸钠：分析纯； g)pH试纸； h)三氯甲烷：化学纯； i)乙二醇：化学纯；】)氯化钾：化学纯；k)盐酸：化学纯1)水合联氨：化学纯。25仪器与测试条件251多晶x射线衍射仪。252测角仪测角准确度优于0 02。(劫。253仪器分辨率优于60。254综合稳定度优于1。255测试条件为： a)cuKn辐射 b)发射狭缝与散射狭缝均为1。，接收狭缝为0 3mm+ c)工作电压：30kV45kV； d)工作电流：20mA100mA； e)扫描速度：采用2。(29)mira f)采样步宽：采用0 02。(2日)；g)扫描范围：根据待测试样中矿物的种类及选定衍射峰的位置确定，一般为5。4

9、5。(。3沉积岩中黏土矿物总量和常见非黠土矿物含量测定方法31 K值法 试样和刚玉为1：1配比，K值法计算公式如下：x=瓦1盎100式中：x；试样中i矿物的百分含量，用百分数表示 K。z矿物的参比强度； J。一z矿物某衍射峰的强度 J晰刚玉某衍射峰的强度。 K值的测定方法见附录A。32绝热法 绝热法计算公式如下：耻忐(匙)。too(2)33样品处理331洗油 含油岩石样品洗油至荧光四级以下。332干燥 潮湿的岩石样品应放在电热干燥箱中，在低于60+C的温度下烘干，冷却至室温后待用。SYT 5163-2010333破碎 用碎样机或研钵将lg29岩石样品粉碎至粒径小于1fTllll。334研磨将粉

10、碎后的岩石样品放在研磨机或玛瑙研钵中研磨至全部粒径小于409m。34测量试片的制作方法 测量试片采用背压法制作。将铝质样品框架置于平的毛玻璃板或纸面上，使其贴紧，然后用样品勺把准备好的粉末试样装人样品框内，垂直均匀压紧成型。把向下的一面作为测试面。35衍射嶂强度的测量方法351衍射峰强度一般采用扣除背底后的积分强度。基线的选定和手绘基线的画法见图2。图2基线的画法352采用x射线衍射分析软件来确定基线时，应按照图2所示的方法确定基线选取的参数。36定性分析将试样的x射线衍射数据与矿物的标准x射线衍射数据对比，进行定性分析，参见附录E。当使用x射线衍射数据鉴定矿物种类有困难时，应采用其他鉴定手段

11、，准确鉴定试样中的矿物种类。37定量分析371黏土矿物总量的测定方法和计算。3711称取岩石样品至少509，按3 3的方法进行处理。3712采用自然沉降法提取粒径小于10“m的全部组分。粒径小于10“m组分在样品中的百分含 量按下式计算：=甓100(3)式中：X厂粒径小于10pro组分在样品中的百分含量，用百分数表示；10粒径小于10pm组分的质量，g； WT样品的质量，g。3713在粒径小于10pm组分的试样中按1：1掺人刚玉，混合均匀后测量选定衍射峰的积分4SYT 51632010强度。3714用式(1)分别计算各种非黏土矿物的含量。K值参见附录F。粒径小于10“m组分中各种非黏土矿物含量

12、的总和为x。3715黏土矿物总量为：x=X10(1_X，)(4)式中：x一黏土矿物总的百分含量，用百分数表示。372各种非黏土矿物含量的测定方法和计算。各种非黏土矿物含量采用绝热法直接测定。3721取岩石样品lg29，按3 3的方法处理样品，按3 4的方法制作试片，然后测量各种非黏 土矿物选定衍射峰的积分强度。3722用绝热法计算各种非黏土矿物的百分含量，其计算公式如下：x；2丽IffK(1)1。(5)373黏土矿物总量和各种非黏土矿物含量的测定方法和计算，对于黏土矿物含量较高的岩石样品，黏土矿物总量和各种非黏土矿物含量采用绝热法直接测定。3731取岩石样品lg29，按3 3的方法处理样品，按

13、3 4的方法制作试片。3732测量衍射图谱上黏土矿物和各种非黏土矿物选定衍射峰的积分强度。3733当岩石样品中黏土矿物相对含量已按4 4的方法测出，-j面体黏土矿物蒙皂石、伊利石、 高岭石和伊利石蒙皂石问层总的相对含量大子50时，黏土矿物总量和各种非黏土矿物含量用下列 公式计算：茁：(Io 45Koloo(6)置=簪tooN(7)M 2(恕)M+瓦Ii(8)式中：矗。s二八面体黏土矿物0 45nm衍射峰的强度； K。s二八面体黏土矿物0 45nm衍射峰的参比强度； M按4 4 2方法测得的二八面体黏土矿物总的相对含量； x；z矿物的百分含量，；J：z矿物选定衍射峰强度； K。z矿物的参比强度；

14、 M试样中各种矿物被测衍射峰折合强度的代数和。当未视定黏土矿物相对含量或二八面体黏土矿物总的相对含量较低对 矿物含量的计算公式如下x【5=警一oSYT 5163-2010Xc=业!箭学一o耻訾100G(12)2=悬r而L,7R+走(13)X=Xo 45+墨 (14)式中： X。45_一二八面体黏土矿物总的百分含量，用百分数表示Xc-一三八面体绿泥石的百分含量，用百分数表示；高岭石和绿泥石0 7nm衍射峰总的强度；K”高岭石和绿泥石0 7nm衍射峰的参比强度；h c-蜘绿泥石在25 2。(2口)处的衍劓峰高度；c，圳高岭石在24 8。(2目)处的衍射峰高发；N2试样中各种矿物被测衍射峰折合强度的

15、代数和。38精度 平行试样分析结果的相对偏差应符合表1要求。表1精度要求矿物含量相对偏荠4沉积岩黏土矿物中各黏土矿物种类的相对含量x射线衍射分析方法41黏土的提取411泥岩黏土分离步骤4111将样品粉碎至小于1 rum粒径。4112把粉碎后的样品放在高型烧杯中，肌蒸馏水浸泡，用超声波促进分散。4113若黏土悬浮，吸取粒径小于2fm的悬浮液。不同温度F吸取10cm悬浮液所需的时闸见附录B。4114若黏土不悬浮可适当处理，直到悬浮。处理方法如下：a)除去碳酸盐，方法见4 1 3 2；6SYT 51632010 b)用双氧水除去有机质；c)湿磨； d)用蒸馏水反复洗涤； e)加几滴氨水或浓度为5的7

16、、偏磷酸钠溶液。4115将吸取的悬浮液离心，使黏粒沉降。4116将离心后的样品在低于60C电热干燥箱中烘干。4117将烘干后的样品用玛瑙研钵磨至手摸无粒感。用纸包好标明样品编号412砂岩黏土分离步骤4121粉碎样品至小f 5ram粒径。4122含油砂岩用三氯甲烷抽提至荧光四级以下。4123其他步骤同4 1 1 44 1 1 7。4124提取粒径小于2Fm的黏粒。413碳酸盐岩黏分离步骤4131粉碎样品至小于O 2Itm粒径。4132除去碳酸盐采用两种方法。41321稀酸法：将样占占用23的盐酸反复处理至无反应白云石类矿物需在温度低于60 的永浴上进行加热处理。4 1322络合法(EDTA)：将

17、粉碎的样品用乙_：胺四乙酸钠饱和溶液在低于50水浴上或电热 干燥箱中处理至无反应。4133把除去碳酸盐的样品用蒸馏水反复洗涤，使黏粒悬浮。4134其余步骤同4 1 1 3，41 54 l 1 7。414沉火山碎屑岩黏土分离步骤 参照4 1 2和4 1 3进行。42定向片制备方法421自然定向片(N片)制备4211千样法将40rag干样放人10mL试管中，加人0 7ml。蒸馏水，搅匀，用超声波使黏粒充分分散，迅速将悬浮液倒在载玻片卜，风干。4212是浮液法加适萤蒸馏水于经离心沉降获得的黏土中，搅匀吸取0 7mL0 8mL的悬浮液于载玻片上， 风干。4213抽滤法 装置如图3和图4所示。启动真宅泵

18、，将浸泡过的微孔滤膜放在漏斗上。分几次倒人悬浮液，每次倒人的悬浮液10rain内抽完。待黏土膜达30”m4(1m厚时取下滤膜，将滤膜反贴在载玻片上， 然后置于培养皿中干燥。422自然定向片处理4221乙二醇饱和片(EG片)：将自然定向H置于乙二醇蒸气气氛中进行饱和处理，乙二醇蒸气 气氛应恒定在6(FC，恒温时问不少于8h。4222高温片(450550)：在450“C550条件下将乙二醇饱和片恒温不少于2 5h，自然 冷却平室温。经处理后若伊利石的0 lnna峰强度下降太大，则应通过实验调整加热温度与恒温时间。423特殊片制备4，2，31盐酸片(Hcl)：加6mc,lI。的盐酸于4()mg 5(

19、Img样品中，在8()10(1水浴上处理1 5min，冷却后离心洗涤至无氯离子。制片方法同4 2 1。SYT 51632010捕斗上部一镕*目一mn滤膜可。LJ抽滤瓶 缓冲瓶 真空泵图3抽滤漏头图4抽滤装置4232联氨片(NH：NH：)：在装有6mL联氨的试管中放进一些干样，使黏土充分分散，15h后经离心并倾出清液，将湿样均匀地涂在载玻片上，立即上机分析。4233钾离子饱和片(KCI)：称40rag样品放入试管中，加入lmolL的氯化钾溶液7mL，饱和三次后用蒸馏水诜涤至无氯离子。制片方法弼4 2 1。43定性分析常见黏土矿物x射线衍射鉴定特征见表2，其典型x射线衍射谱图参见附录G。谱图中，峰

20、顶所标的数值是晶面问距，所标的矿物符号表示该峰属于这个矿物。表2黏土矿物x射线衍射鉴定表谱图特性 矿物N片 EG片 450550片高岭石 0 720m和0 358m两个衍峰位置无 有0 720nm和0 358眦两个衍射峰晶格破坏，峰消失K射峰无变化 变化1 420nm峰移动到有1 420mt 0 710nm，0 480rIl和大多数晶绿泥石 1 420mn,0 710mn，0 483rIl 1 380nm，其余各峰0 353一四个衍射峰，其中0 710衄格破坏，C和a 353ran四峰无变化强度大大减弱以至消 峰最强，0 353m峰次之 峰消失失蒙皂石 有1 700nm,n85an和n妇 1

21、700,m1峰移动到 在相对湿度为50“时，钙蒙皂石有1 500rm峰，钠蒙皂石有S蝰1 250m蛏有1m叫0 500rm和n 333m峰，伊利石 I C00nm0 5(0nm和0133rm 1 000nm峰位不变， 峰位置无其中0 5C0r皿峰强度约为1 000rznh峰无变化 强度不变或略有变化 变化峰强度的13伊利石蒙皂石问层矿物 见5 2和5 3绿泥石钙蒙皂石：在1 500rim与1 420nm之间有峰；绿泥石钠蒙皂在1 420nm与1曝泥石蒙皂石 在1 700一与1 420rim，大多数晶间层矿物 0 852I】111与0 710一之间分格破坏， 石：在1 420r】IIl与1 25

22、0一之间之间出现一1、峰别有一衍射峰，见附录c 峰消失有峰SYT 5163_201044各黏土矿物种类的相对含量定量方法441经定性分析，对样品中已被确定存在的各个黏士矿物种类，可利用x射线衍射分析专用软件 进行分峰，以单独计算重叠于1 000nm的伊利石(It)和伊蒙间层矿物(IS)峰的面积(见图5)； 分峰也可用于单独计算蒙皂石(s)、绿蒙问层矿物(CS)的峰面积(见图6)。拟合线型选用“对称高斯一洛伦兹”函数。图5重叠于1000rim的伊利石(I)和伊蒙问层矿物(Is)峰的面积分蜂示意图圉6蒙皂石(s】、绿蒙间层矿物(CS)的峰面积分峰示意图442矿物组合为S，IS，It，K和C时的百分

23、含量计算见式(15)式(20)K+c=i：；：I；：；j：，oo(15)K=丽=面ho 3罚ss。瓦(EG忑)蕊丽。(K+c)(16) C=(K+C)一K (17)s=!i搿100(K+c)(18)SYT 5163-2010t=!ijt!呈!12二；!：i6；211-!n!里鱼妇100一(K+c)(19)IS=100 (s+n+K+c)(2n)式中：，哪(N) N谱图上0 700nm衍射峰强度；I眦(H)450550谱图上1 000nm衍射峰强度； h”嘲m(EG) EG谱图E 0 358nm衍射峰高度； h。跏吣(EG)E(：髀图上0 353r皿衍射峰高度；11，。(EG)一一EG谱图上蒙皂

24、石1 700nm衍射峰强度；fu蛔(EG)EG谱图r 1 000mn衍射蜂强度；ho 7m(N)N谱尉匕0 700mn衍射峰高度；ho 7吣(EG) EG谱图上0 700nm衍射峰高度； K高岭石含量，用百分数表示； G绿泥石含量，用百分数表示； s蒙皂石含量，用百分数表示； I伊利石含量，用百分数表示； Is伊利石蒙皂石间层矿物含量，用白分数表示。当只有高岭石而无绿泥石或只有绿混石f|i尢高岭石时，其卣分含量按式(21)计算K或c=赢志巷X100(21)当只有蒙皂石而无伊利石蒙皂石间层矿物或只有伊利石蒙皂石间层矿物而无蒙皂石时，其百分 含量必须按式(22)计算：S或IS=100“一(n+K+

25、c) (22)443矿物组合为s，CS，It，K和C时的百分含量训算见式(D 1)。444矿物组合为IS，cs，it，K乖f C时的百分含量训算见式(n 2)5伊利石蒙皂石间层矿物X射线衍射鉴定方法51主题内容与适用范围 本章规定了应用x射线衍射技术对伊利石蒙皂石问层矿物识别及其间层比的计算方法。 本章适用于沉积岩样品巾伊利石蒙皂石间层矿物的鉴定。52伊利石蒙皂石无序间层矿物鉴定方法521在x射线衍射图上的识别标志 伊利石蒙皂石无序间层矿物有以下三个识别标志，必须同时存在。5211在自然片(N片)谱图上，在1 000nmd1 540nm范嗣内有衍射峰。5212在乙二醇饱和片(EG片)谱圈七，5

26、 2 1 1中所述衍射峰向低角度一侧移动至1 7(10nm处，但谱图中不存在与该峰成整数关系的一组系列峰。5213在高温片(450C550“C)谱图上，5 2 1 2中所述衍射峰向高角度一侧移动至1 000nm处。10SYT 51632010522间层比的计算方法s221计算乙二醇饱和片(EG片)谱图上1700nm峰的鞍峰比SP。52211在乙二醇饱和片(EG片)谱图上按图7方法画基线，基线与卵轴平行，并过却(CuKa)之内衍射曲线的最低点。弋sL儿 ，、图7 乙二醇饱和片谱图基线1 700nm峰的高度P及其低角一侧峰鞍高度S。示意图52212在旧7中测量P和S。，并计算鞍峰比S；P。5222

27、计算伊利石和伊利石，蒙皂石问层矿物的含量比，(1S)。52221按5 2 2 35 3 2计算伊利石和伊利石蒙皂石间层矿物的含量比。52222们研0fI和伊利蒙皂白间层矿物的含量比也可以用峰面积直接计算，见式(23)U(IlS)=瓦揣(23)式中： I(IS)样品一|伊利石和伊利石蒙皂石间层矿物的含量比； L(EG)EG瀚图上1 000nm衍射峰强度； L(H)珥s()550谱图上1 000nm衍射峰强度。5223根据I(IS)和S。P，查图8中相应曲线，即得间层比。53伊利石蒙皂石有序间层矿物鉴定方法531在x射线衍射图上的识别标志伊利石蒙皂石有序问层矿物有以下三个识别标志，必须同时存在。5

28、311在自然片(N片)谱图上，在1 000nmd1 540r,m范围内有衍射峰。5312在乙二醇饱和片(EG片)谱图上，3 3 1 1中所述衍射峰向低角度一侧移动，但不到1 700nm处。5313在高温片(4505曩)谱罔上，5 3 1 2中所述衍射峰向高角度侧移动至1 000mm处。532间层比的计算方法 根据乙二醇饱和片(EG片)谱图上伊利石蒙皂石间层矿物的00I00l，00I002和00I003三个峰的位置查表3确定闻层比，三个峰确定的间层比互不相同时，可以以其中一个峰为准，也可以取 两个峰或三个峰的平均值。54鉴定结果的取值和精度541罄定结果修约档数。542计算精度见3 8。SXfl

29、 5163_2010孓 心。j、 飞n6t孑釜甘群O 4义 吣 60阃层比图8伊利石幕皂石无序间层矿物间层比计算曲线 表3伊利石藏皂石问层矿物间层比与其特征峰位置关系表20(CuKo，(。)问层比OOI00100I002 oolI)【J36 X射线衍射实验窒的安全防护和环保要求61安全防护x射线对人体会产生电离辐射危害，应在每次实验分析之前检查仪器的防护设施，确保仪器的防护设施完好。x射线穿越空气时会产生对人体有害的臭氧，操作应在通风良好的环境下进行。62环境保护 处理废弃的光管应按照国家环保部门的有关规定进行。SYT 51632010附录A (规范性附录)参比强度伍值)的测定方法丸1参考物质

30、选择根据参考物质的选择原则，选用刚蕞(nAk 03)作为参考物质。剐玉的纯度应优于99 9， 粒径应小于40“m。丸2矿物标样的要求根据待测岩石样品的矿物种类选择矿物标样。矿物标样应结晶良好，在x射线衍射图谱上没有杂质衍射峰，或者已知其准确含量。粒径应研磨毫小于40州，。A3测定方法 A31干燥将矿物标样和刚玉粉末置于电热干燥箱内，在30。C下恒温2h，冷却至室温后待用。A32称量 在分析天平上按1：1分别称取一定质量的刚玉和矿物标样。A33混合将称量后的样品放在研磨机或玛瑙研钵中研磨，使其充分混合均匀。丸34试片制作按3 4的方法制作上机测量用试片。 扎3s衍射峰强度的测量从衍射图谱上分别测

31、量矿物标样和刚玉选定衍射峰的积分强度。 每个样品至少重复制样5次，并测量相应的衍射峰强度。丸36计算值 当矿物标样与刚玉按1：1配制成二相混合试样时，i矿物的K值计算公式如下：K。=东，(A1)式中： K。矿物的参比强度5J。一矿物某衍射峰的强度；f叫一刚玉某衍射峰的强度。将每次测得的衍射峰强度代入式(A 1)，求出K值，然后计算出多次测量的平均K值和相对标准偏差。SXfl 5163-2010附录B 规范性附录 黏土分离黏粒沉降时间与温度关系见表B 1表B1黏粒沉降时间与温度关系表101的沉降时问10era的沉阵时间 韫度黏度温度黏度(21,m)Pa3Pash min1 5191011 009

32、x101 47310 19 84010 21 42910一9 61010 29 38010“2 l 34810。19160x10 21 310x1011 8 95010 228 750108 55010 221 20610一369x101 1751018 18010。21 1451018 000x10”21 116x10一7 8301021 0871017 670101 0361017 510x10 21 03410。7 36010 2SYT 5163-2010附录c 规范性附录 定性分析cs混层的x射线鉴定见表C 1表c1cs混层的x射线鉴定衰混层比S无序有序OOIOOl峰d值0f)2002

33、峰d值 00I001峰d值 002002峰d值附录D 规范性附录 定量方法n1矿韧组台为S。CS，It，K和C时的定量方法 在EG谱图上测得相应衍射峰强度，其白分含量按下列公式计算T 1【K+C29署2。100(D 1)K=瓦等鬻=(K+c)(D 2) c=瓦等蔷=(K_c)(D 3) s=鼍半100(D 4) CS=虹警100 (D 5)It3等。100(D 6)=Il4+I哪K“s+f1。m+jo 70。肌1 5(D 7)KCs=22 23 5(2口)(D 8)式中：L，w，岫珈700nm衍射峰强度；h。_0 358nm衍射峰高度；h吼一)353nra衍射峰高度；I，7眦1 700nm衍射

34、峰强度；J 舯1 000rim衍射峰强度；bscs的ool001衍射峰强度；cs绿泥石与蒙皂石混层含量，用百分数表示。式(n 8)中的2日为CS的00I001衍射蜂位置，单位为度(。)。 当只有高岭石而无绿泥石或只有绿泥石而无高岭石时，直接按式(D 1)计算D2矿物组合为Vs，cs，It，K和C时的百分含量计算公式 计算公式如下：16SX 71 5163-2010n c一蔚面丽d誉巷謦击忑丽而xloo(n，)_K2瓦=面ho可3ss4瓦,(E焉G)=丽。(K+c)c=瓦五面ho万3s3。再(E忑G)蕊。(K+c)(D11)CS2石i霞两霄磊了lcis(忑EG了)可K了c：si二=面瓣。100n

35、=b趔堕m噪警m迎鲫100cs一(K+o、J“。，oLo厶0DOI_l(H)IS=100一(CS+n+K+c)式中符号意义见4 4 2与D 1。当只有高岭石而无绿泥石或只有绿泥石而无高岭石时，直接按式(D 9)计算SYT 51632010附录E (资料性附录) 常见矿物的x射线衍射数据和x射线衍射图谱E1常见矿物的X射线衍射数据常见矿物的x射线衍射数据列于表E 1表E 17。表中2日为衍射角，d为晶面间距，tI。为相 对强度，hkl为衍射指数。表E1剐玉(Corundum船1f1。(。)化学式 A1 03晶系三方表E2石英(Quartz甜jL(。)化学式 a S1Q 晶系 三方SYT 5163

36、-2010表E3方解石fCalcite却l 7Io(。)0 22841 L3202化学式CaCO，晶系三方表B 4白云石(Dolomite20lla(。)101018(4018化学式 CaMg(Cq)2 晶系三方SYT 5163r2010表E5铁白云石(Ankerite却l 7ln(。)35 22化学式 Ca(Fe，Mg)(Cq)2 晶系三方表E6菱铁矿(Siderite2口lh(。)化学式 Fe(XX晶系j肯表E7硬石膏(Anhydrite加l，I。(6)化学式 CaS04晶系正交SYT 5163-20LO衰E8石膏(Gypsum20 dlIl。(。)Tn化学式 CaS042H20晶系单斜表E9无水芒硝(Thenardite2口lfIn(。)018650 1“北学式NS04晶系正交SYT 5163_2010 表B10重晶石(Barite2口IIo(。)化学式 BaS04晶系正交表E11黄铁矿(Pyrite2口lil。(。)