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1、TD-LTE射频板测试说明SW78202075c拟制：审核：标准化：批准1测试内容eRPLU发射/接收 链路性能指标（单路要求）ITEM技术指标指标要求发射Tx接收Rx1Frequency25482642MHz2570MHz 2620MHz2Gain（增益）52dB (i2dB) 20C30 c41dB(立dB) 20 c 30 c3增益温度变化2dB （-40C+85C 相对常 温增益）2dB （-40C+85 C相对常温 增益）4NF（噪声系数）不测量3dB 20C30 c4dB -40C+85C5ACPR(WCDMA4FA)0 -27dBc 土5MHz& -27dBc 土10MHz20
2、C30 C不测量 -26dBc 土5MHz-13dBm7S11 输入驻波比2:1 (-9.5dB)1.5:1 (-14dB)8S22输出驻波比1.5:1(-14dB)2:1 (-9.5dB)9Pout, max（输出功率）40.2dBm (开启 DPD)不测量10Ripple1.5 dB (30MHz 带内)2.5dB (30MHz)3dB (74MHz 带内)11DC current I_5.7V280mA280mA12DC currentI 28V1.7A 常开卜行满功率输出13带外抑制频率（MHz）抑制（dB）频率（MHz ）抑制（dB）02349高502400用023492400高02
3、4002533更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期底图总号旧底图总号签名日期三维通信股份有限公司第1页共12页TD-LTE射频板测试说明SW78202035c27492841书28414000或0eRPLU反馈链路性能指标ITEM技术指标指标要求说明1输入信号频率范围2540MH- 2650MHz2输出信号频率范围2540MHz- 2650MHz3前向功率检测通道增益-54 寸dB4反向功率检测通道增益-48 寸dB5前晌功率检测通道增益平坦度 15dB2所需仪器及工具名称参考型号数量备注k量网络分析仪Network AnalyzerE5062A
4、 , ZVB41ESD外壳接地I n P发生（厅Signal GeneratorE4438C, N5182A1ESD外壳接地频谱仪（带扫源）Spectrum AnalyzerE4443A , R&S FSQ81ESD外壳接地噪声系数测试仪Noise Figure MeterN8973A1ESD外壳接地“流电源DC Power SupplyGPC-3060D1ESD外壳接地50 Q SMA 终SMA1大功率衰减器40dB 200W150 Q N终端负载N型1转换头1N阳一 SMA阴1校验时用转换头2SMA 阴-SMA 阴1校验时用3 RX接收链路测试1）接收链路增益、带内波动以及输入输出驻波比更
5、改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期底图总号旧底图总号签名日期测试步骤/信号流程:测试步骤：步骤步骤步骤负载1：正确连接模块至已校准好的网络分析仪;2:正确设置模块跳线，工作在常收状态;3:通过网络分析仪测试接收链路的增益曲线,分别读取2570MHz、2600MHz、2620MHz增益值取平均得接收链路增益，读取任意30MHz通带内的最大增益、最小增益，算三维通信股份有限公司第12页共12页出30MHz带内波动;步骤4:通过网络分析仪测试接收链路的50MHz带内S11, S22曲线，分别读出带内最大驻步骤波比；5:分别测试四条通路。预期结果:增益：
6、41dB(2dB)带内波动：2.5dB30MHz带内输入驻波比：1.5:1 输出驻波比：2:12）接收链路噪声系数测试步骤/信号流程:测试步骤：更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期底图总号旧底图总号签名日期步骤1：噪声系数测试仪自校；步骤2:模块的RX端口接噪声系数测试仪输入口，ANT端口接噪声系数测试仪的噪声头,TX端口接50欧姆匹配负载；步骤3:设置模块工作在常收状态；步骤4:读取噪声系数值 NF;步骤5:分别测试四条通路。预期结果：链路噪声系数：带内最大值NF-13dBm4)接收链路带外抑制测试测试步骤/信号流程：测试步骤：步骤1:对网络分
7、析仪进行直通校准(功率： -40dBm,频段0MHz5000MHZ ；步骤2:正确连接模块至已校准好的网络分析仪；步骤3:设置模块工作在常收状态；步骤4:将矢量网络分析仪频率范围设定在2570MH2620MHz读取最小S21幅度值S0;步骤5:分别将将矢量网络分析仪频率范围设定在0MHz-2400MHz 2400MHz2533MHz、2749MHz2841MHz、2841MHz4000MHz 各自读得最大的 S21 幅度值为 S1、S2、 S3、S4;步骤6:计算(S0-S1), (S0-S2), (S0-S3), (S0-S4)即为各个频段要求的抑制比；步骤7:分别测试四个通道。预期结果：频
8、率(MHz) 抑制(dB)02400MHz 30dB24002533MHz 5dB27492841MHz5dB28414000MHz20dB更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期底图总号旧底图总号签名日期4 TX发射链路测试1）发射链路增益，带内波动（30MHz&74MHz）测试测试连接框图如下：频谱仪信号发生器FSUr RFjxeRPLU ant=h 40dB 衰减器RF_RX测试前先进行校准，把信号发生器到被测射频板的电缆损耗记入信号发生器；由于下行链路输出端功率较大，所以端口必须加衰减40dB以上的衰减器，将被测射频板和频谱仪之间的电缆损耗合
9、计衰减器自身差损共同记入频谱仪。信号源 Agilent N5182A 设置：a） Amptd= -20dBmb）设置信号源输出方式为扫频输出：SWEEP-configure step sweepFreq start :2545MHzFreq stop :2645MHzPoints: 500 （可以适当调节）sweep freq 设置为 on频谱仪 R&S FSQ8 1155.5001.08 设置：a） Center Freq :2595MHzSPAN :100 MHzRBW :30 kHz （可以适当调节）AMPLITUDE Ref Level :40dBmAttenuation :AutoS
10、cale/Div:1dBb） Trace/View: Max Hold发射链路增益测试：步骤1:分别读取2570MHz、2595MHz、2620MHz处的功率值并计算三个频点的增益G1,G2, G3。（增益=输出信号功率-输入信号功率（-20 dBm）。更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期底图总号旧底图总号签名日期步骤2:发射链路增益=(G1+G2+G3) 13。带内波动测试：(1) 30MHz内带内波动测试步骤1:读取频带(2570MHz2620MHz )内任意30MHz信号增益的最大值、最小值，算出30MHz带内波动(2) 74MHz内带内波
11、动测试步骤1:读取频带(2548MHz2642MHz )内任意74MHz信号最大增益、最小增益，算出74MHz 带内波动预期结果：增益：52dB (i2dB)带内波动：1.5dB30MHzDual ARB-Select Waveform-Waveform Segments(选 择 WCDMA_TM1_64DPCH_4C_WFM) -Load Segment From Int Meidab) Mode-Dual ARB-Select waveform- 选择 WCDMA_TM1_64DPCH_4C_WFM-ARB on如果已经导入，则可跳过上述两步骤。(2)测试输入信号参数设置：a)Freq=2
12、595MHz , Mod 设置为 onc) Amptd最初可设置为-30dBm。在测试时，逐步加大至输出功率为40dBm。(可对电源限流以保护功放)频谱仪设置：(1) 频谱仪 FSQ8 R&S 1155.5001.08 设置如下:a)Meas -MULT CARR ACP-CP/ACP STANDARD- 选择 W-CDMA 3GPP FWDb)Meas -MULT CARR ACP- CP/ACP CONFIG-其中 NO. OF ADJ CHAN 设置为 2 (default=2) , NO. OF TX CHAN 设置为 4。其余设置 default更改标记数量更改单号签名日期更改标记数
13、量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期底图总号旧底图总号签名日期c）FERQ-CENTER FREQUENCY 设置为 2595MHzd）SPAN 设置 defaulte）AMPT REF LEVEL OFFSET 根据测试线的线损进行补偿设置注意：在频谱仪输入端必须接40dB的衰减器。ACPR测试：步骤1:记录下Adjacent Channal （5MHz）中Lower和Upper值中较差的数据。例：Lower： -28dB , Upper： -28.5dB,则记录下-28dB。步骤2：记录下Alternate Channal （土 10MHz ）中Lower、Upper值中较差的数
14、据。方法同步 骤1。功放工作电流测试：步骤1:记录下输出功率为 40dBm时的28V电源的电流值10步骤2：计算两级功放效率（暂） n =一史一 M100%28 I 28V预期结果：WCDMA 4FA :ACPR :-27 dBc/ 5MHz; -27dB/ 10MHzI28V 1.7A Pout=40dBm3）输入、输出驻波（S11, S22）测试测试连接框图如下：网络分析仪PORT1PORT2L-RF_TX ANT O-H 40dB 衰减器eRPLURF RX常发50 Q负载矢网校准:更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期底图总号旧底图总号签名
15、日期a） Center freq: 2.6GHz,b） Span :1GHz,c） Power: -20 dBmS11测试步骤1:测试2570MHz2620MHz频段内的 S11,并在 Marker Search中选择 MAX 项，将 MAX值添入表格。S22测试步骤1:关掉功放28V电源。步骤2：测试2570MHz2620MHz频段内的 S22,并在 Marker Search中选择 MAX 项，将 MAX值添入表格。预期结果：输入驻波比：2:1 （-9.5dB）;输出驻波比：1.5:1 （-14dB）4）前向耦合度和平坦度测试网络分析仪（带40dB衰减器）校准设置如下：a）频率范围：254
16、8MHz 2642MHz ,b）输出功率：-20dBm ,c） IF 带宽：1KHz;测试步骤：步骤1: eRPLU模块的TX端口接矢量网络分析仪 PORT 1, ANT经过40dB衰减器后接矢量网络分析仪PORT2, RX接匹配负载，使其正常工作，设为常发状态；测出 S21。步骤2：设置网络分析仪：Display-Date to Mem ,存储eRPLU发射增益曲线，然后设置DataMath 为：Data/Mem。步骤3: eRPLU模块的TX端口接矢量网络分析仪 PORT 1, ANT接大功率匹配负载（50W以 上），RX端口经40dB衰减器后接网络分析仪 PORT2。设置eRPLU工作在
17、前向检测状态。设置方法：对应测试发射链路通道的接插件引脚电平设置如下（低：GND,高：6V）。通道号前向检测引脚编号状态检测与上行输出切换引脚编号状态TX1FRD_S1 (9)高PD_EN1 (15)高TX2FRD_S2 (8)高PD_EN2 (14)高TX3FRD_S3 (26)高PD_EN3 (32)高更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期底图总号旧底图总号签名日期TX4FRD_S4 (27)高PD_EN4 (33)高步骤4:用网络分析仪读出曲线，即为前向耦合度曲线（负值），记下值。步骤5:读取该曲线里的最大值和最小值，算出前向功率检测通道增益
18、平坦度预期结果：Gain=54dB dBRipple 10dB5 I2C接口功能测试PC频谱仪I2C信号发生器RF_TX eRPLU ANTRF_RXFSU步骤1:将eRPLU模块的TX端口连接到信号源的输出口，ANT端口通过大功率衰减器接频谱分析仪，其他端口接匹配负载；步骤2： eRPLU上电；步骤3:通过控制板对eRPLU里的EEPROM进行读写，看是否能够正常写入和读出；步骤4:通过控制板读取温度传感器数值，与实际温度比较，看是否一致。预期测试结果：EEPROM能够读写数据正确更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期底图总号旧底图总号签名日期温
19、度数据能够正确读出6高低温功能测试1）低温试验方法低温试验采用GB/T2423.1-2001的试验Ad ,即散热样品温度渐变的低温试验。试验严酷等级为-40C,持续时间2h,试验温度的容许偏差为 七C。被测模块满足 与低温相关的指标要求，测试项如表 6-1所示。2）高温试验方法高温试验采用GB/T2423.2-2001的试验Bd ,即散热样品温度渐变的高温试验。试验严酷等级为+85C,持续时间2h,试验温度的容许偏差为i2r0被测模块满 足与高温相关的指标要求，测试项如表6-1所示。表6-1高低温测试项:序号发射链路接收链路1增益增益2ACPRNF3带内增益波动带内增益波动4前向耦合度低噪放开关时间5反向耦合度更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期底图总号旧底图总号签名日期三维通信股份有限公司第15 页共12页