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1、贵州大学2009-2010学年第二学期考试试卷材料分析方法一、名词解释（共12分,每小题3分）相干散射、激发限、系统消光、结构因子、球差、景深、焦长、衍射衬度、暗场像、 次电子、化学位移1 .荧光辐射2 .倒易矢量3 .结构因子4 .明场像二、填空题（共27分，每空1分）1 .用于衍射分析的X射线的波长范围为 。2 .波长和频率是描述X射线 性的物理参量，能量和动量则是描述 X射线性的物理参量。3 . K特征谱线是原子中 壳层的电子跃迁到K壳层产生的，它的强度约是 K的 倍。4 .已知X射线管是钻靶，应选择的滤波片材料是 。5 .当波长为人的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的
2、波程差是相邻两个（HKL）晶面的波程差是 。6 .面心立方结构晶体产生消光的晶面指数条件为 。7 . X射线衍射仪测样时，测角仪的计数管支架转速与样品转速之比为 。8 .粉末法的厄瓦尔德图解法解释中，衍射圆锥的顶点代表试样所在位置，轴代表 母线代表。9 .多晶体X射线衍射分析方法主要是 和 两种。10 .电磁透镜的像差中，可以控制或消除的是 和。11 .透射电镜的成像衬度中，由样品不同部位的厚度和密度差别而形成的衬度称 为,由样品不同部位衍射效应不同而形成的衬度称为 。12 .薄膜样品制备过程中的最终减薄方法有 和。13 .若扫描电镜的荧光屏尺寸 Ac=100mm电子束在样品上的扫描振幅 A=
3、0.01mm则扫 描电镜此时的放大倍数为 倍。14 .扫描电镜的两种常用成像信号中，既反映表面形貌衬度又反映原子序数衬度的5.(7分)(1)下图的断口形貌照片包含了哪些微观断口形貌？(2)简述二次电子像的成像原理。四、应用题(共26分)1 . (14分)残余奥氏体的电子衍射花样如图，已知R1 R2 10mm, R 16.3mm, R和R2之间的夹角为70o, L入=2.05mn?nni(1)标定斑点指数；(2)计算品带轴指数uvw;(3)验证该物相。已知-Fe的点阵常数为a 0.3585nm。2 .(共12分，每小题2分)下列分析内容优先选用何种仪器进行分析 ？何种分析方法?并简单说明对试样的
4、要求。(1)表面渗层、镀层的物相鉴定；(2)淬火钢中学晶马氏体与位错马氏体的形貌观察；(3)碳钢脱碳层碳浓度分布；(4)金属表面约2nm深的污染物成分分析；(5)金属断口形貌及其断口上粒状夹杂物的化学成分；(6)超细粉末形状、大小及结构测定。3 / 315.波谱仪是, 能谱仪是。16. X射线光电子能谱分析中，导电固体样品产生光电效应时的光电方程表达式为 017.扫描隧道显微镜的成像信号为，而原子力显微镜是通过检测针尖一样 品间的 来成像的。三、问答题（共35分）1. （8分）（1）推导布拉格方程；（2）为什么说衍射方向反映了晶胞的形状和大小。342 o2. （9分）X射线衍射线的强度公式为I I0e2-4-V2|F|2 * 3p1 Cos 2 A（ ）e2M32 R m2c4 Vc2sin2 cos（1）说明五个影响因子的名称及含义。（2）对立方系晶体，P200为多少？若为正方系晶体，P 200为多少？并写出所包含的晶面指数3. （6分）为什么透射电镜既可做电子衍射又可观察电子衍衬像?4. （5分）对于理想晶体，具薄膜样品的楔形边缘处的衍衬像有何特征？并用运动学理论 公式加以解释。