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1、认识 SPC,製程能力指數Ca或 (準確度；Accuracy),表示製程特性中心位置的偏移程度，值等於零，即不偏移。值越大偏移越大，越小偏移越小。 製程準確度Ca (Capability of Accuracy),標準公式,T=USL-LSL=規格上限-規格下限=規格公差 PS.單邊規格(設計規格)因沒有規格中心值，故不計算Ca 製造規格將單邊規格公差調整為雙邊規格,如此方可計算Ca,製程精密度Cp (Capability of Precision),製程能力指數Cp、Pp、CPU、CPL（精密度；Precision）： 表示製程特性的一致性程度，值越大越集中，越小越分散。,USL： 特性值之
2、規格上限；即產品特性大於USL在工程上將造成不合格 LSL： 特性值之規格下限；即產品特性小於LSL在工程上將造成不合格 ： 製程平均數估計值；即製程目前特性值的中心位置 ： 製程標準差估計值；即製程目前特性值的一致程度 PS.製程特性定義 單邊規格(設計規格)因沒有規格上限或下限 沒有規格下限 Cp CPU Cpk 沒有規格上限 Cp CPL Cpk,簡易公式,製程精密度Cp (Capability of Precision)之 參考判定,綜合製程能力指數 Cpk,PS.製程特性定義 單邊規格(設計規格)因沒有規格上限或下限 沒有規格下限 Cp CPU Cpk 沒有規格上限 Cp CPL C
3、pk,估計製程不良率ppm,計量值公式,標準 公式,簡易 公式,直方圖分析(Histogram Analysis),製程能力分析圖 (Process Capability Analysis),數據常因測定單位不同，而無法相互比較製程特性在品質上的好壞。因此，定義出品質指標來衡量不同特性的品 質，在工業上是很重要的一件事情。 製程能力指數是依特性值的規格及製程特性的中心位置及一致程度，來表示製程中心的偏移及製程均勻度。基本上，製程能力分析必須先假設製程是在管制狀態下進行 ，也就是說製程很穩定，以及特性分配為常態分配；如此，數據的分析才會有合理的依據。 製程能力指數Cp、Pp、CPU、CPL（精密度；Precision）： 表示製程特性的一致性程度，值越大越集中，越小越分散。,XBARR管制圖分析 ( XR Control Chart),XMEDR管制圖分析 ( R Control Chart),XBAR管制圖分析 ( X Control Chart),計數值公式,