TR-518FE训练教材(Windows版).doc

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1、TR-518FE 訓練教材(Windows 版)1-1 TR-518FE 訓練教材(Windows 版) 1.硬體介紹硬體介紹 1-4 1.1.TR-518FE 系統規格 1-4 1.1.1.開關電路板元件：CMOS Relay.1-4 1.1.2.測試點數 1-4 1.1.3.測試步驟 1-4 1.1.4.測試時間 1-4 1.1.5.量測範圍 1-4 1.1.6.隔離點電路 1-4 1.1.7.IC 開路測試 .1-4 1.1.8.可測電路板尺寸 1-4 1.2.TR-518FE 設備安裝 1-4 1.2.1.機械部分組裝 1-4 1.2.2.細部連接 1-6 1.2.3.TR-518FE

2、 系統組裝圖 1-7 2.ICT 治具介紹與安裝治具介紹與安裝 2-8 2.1.治具種類 2-8 2.1.1.單面治具&HP 天板(一般天板).2-8 2.1.2.雙面治具 2-9 2.1.3.真空治具 2-10 2.1.4.In-Line 治具 .2-10 2.2.治具安裝 2-11 2.2.1.單面治具+HP 天板(一般天板) .2-11 2.2.2.雙面治具 2-11 2.2.3.程式安裝 2-11 2.3.治具相關配件及測試針種類介紹 2-12 2.3.1.一體成型針 2-12 2.3.2.兩段針(套筒針)2-12 2.3.3.治具保護板 2-13 2.3.4.TestJet 天板2-

3、13 2.3.5.自動蓋章 2-14 2.3.6.計數器 2-15 2.3.7.Counter Board.2-15 2.3.8.DiodeCheck 繞線注意事項 .2-24 3.ICT 程式發展程式發展 3-26 3.1.基本測試原理 3-26 3.1.1.開路及短路(Open/Short)的量測原理 .3-26 3.1.2.隔離效果(Guarding)測試原理.3-26 3.1.3.電阻測試原理 3-27 TR-518FE 訓練教材(Windows 版)1-2 3.1.4.電容測試原理 3-30 3.1.5.電感測試原理 3-32 3.1.6.JUMP 測試原理.3-34 3.1.7.二

4、極體(Diode)測試原理3-35 3.1.8.齊納二極體(Zener Diode)測試原理3-35 3.1.9.電晶體(Transistor)測試原理3-36 3.1.10.FET 測試原理 3-37 3.1.11.二端電容極性(Capacitor Polarization)測試原理3-37 3.1.12.三端電容極性測試原理 3-38 3.1.13.光耦合元件(Photo-Coupler)測試原理3-40 3.1.14.IC 保護二極體測試原理 .3-40 3.1.15.Diode Check 測試原理 3-41 3.1.16.Agilent TestJet 測試原理(Lead Frame

5、 的電容效應)3-42 3.2.治具程式撰寫與偵錯 3-44 3.2.1.治具程式撰寫與偵錯程序 3-44 3.2.2.治具安裝 3-45 3.2.3.測試參數設定 3-45 3.2.4.Open/Short 學習設定.3-45 3.2.5.編輯欄位定義說明 3-45 3.2.6.常用編輯功能說明 3-48 3.2.7.電阻 Debug 要領3-54 3.2.8.電容 Debug 要領3-56 3.2.9.電感 Debug 要領3-57 3.2.10.二極體 Debug 要領3-57 3.2.11.電晶體 Debug 要領3-58 3.2.12.場效電晶體(FET)Debug 要領.3-60

6、3.2.13.閘流體(SCR，TRIAC)Debug 要領.3-61 3.2.14.跳線，保險絲，開關 Debug 要領3-62 3.2.15.光耦合元件 Debug 要領3-62 3.2.16.編輯零件穩定度測試 3-63 3.2.17.IC 保護二極體設定與學習 .3-63 3.2.18.IC 空焊設定與學習 .3-65 3.2.19.開始測試 3-69 3.2.20.多聯片測試要領 3-70 4.系統定期保養系統定期保養 4-73 4.1.主機保養 4-73 4.2.壓床保養 4-73 4.3.治具保養 4-73 4.4.電腦程式保養 4-73 5.ICT 主機定期校驗程序主機定期校驗程

7、序 5-74 TR-518FE 訓練教材(Windows 版)1-3 5.1.ICT 校驗程序與追朔.5-74 5.2.ICT 校驗步驟.5-75 6.ICT 故障排除故障排除 6-76 6.1.開機系統檢查錯誤流程圖 6-76 6.2.開關電路板檢測不良流程圖 6-77 6.3.壓床動作異常流程圖 6-78 6.4.治具測試不良排除流程圖 6-79 7.提昇治具可測率之提昇治具可測率之 PCB 設計佈線建議設計佈線建議 7-80 7.1.PCB 設計佈線規則建議7-80 7.2.FABmaster 轉換所需的 CAD file 檔案7-81 TR-518FE 訓練教材(Windows 版)1

8、-4 1 . 硬硬 體體 介介 紹紹 1 . 1 . T R - 5 1 8 F E 系 統 規 格 1.1.1.開關電路板元件：CMOS Relay 1.1.2.測試點數 標準配備：256 點 開關電路板種類：128 點，256 點 5U 主機最大擴充點數：1792 點 8U 主機最大擴充點數：3584 點 1.1.3.測試步驟 標準配備：12288 步驟 1.1.4.測試時間 開路/短路測試：每 1000 點約 1.5sec 零件測試：每一零件約 1msec 至 40msec 1.1.5.量測範圍 電阻：1.0 至 40M，精密度：0.1 電容：1.0pF 至 40mF，精密度：0.1pF

9、 電感：1.0H 至 60H，精密度：0.1H 電晶體/二極體：0.1V 至 9.99V Zener 二極體：標準配備 0.1V 至 9.99V 選購配備 0.1V 至 48.0V* 1.1.6.隔離點電路 隔離點自動選取，每測試步驟 5 點 1.1.7.IC 開路測試 IC 測試數量：標準配件 64 顆，最大擴充 960 顆。* 測試時間：2.5msec/pin 1.1.8.可測電路板尺寸 標準壓床：380mm(L)*280mm(W)*130mm(H) 特大壓床：500mm(L)*350mm(W)*130mm(H) 1 . 2 . T R - 5 1 8 F E 設 備 安 裝 1.2.1.

10、機械部分組裝 1. 將防靜電桌墊平攤在測試桌面上。 2. 將壓床置於測試桌上。 3. 打開測試桌旁邊的門，將電腦主機置入。 4. 將旋轉臂裝在測試桌的右上角。 5. 將彩色監視器及鍵盤置於旋轉臂上。 6. 將印表機置於桌面右前方。 TR-518FE 訓練教材(Windows 版)1-5 機械部分組裝完成之後，系統應如下圖所示。 彩色監視器 壓床 蜂巢板 鍵盤 旋轉臂 印表機 測試桌 TR-518FE 測試主機 電腦主機 TR-518FE 訓練教材(Windows 版)1-6 1.2.2.細部連接 1. 將 ICT 測試主機、電腦主機、彩色監視器及印表機 電源供應器的電源線分別接到測試桌內部後方

11、下面 的插座上。 2. 檢查主電源之電壓規格是否正確(110V/220V)，以 免造成設備損壞。將主電源線插入位於測試桌左側 方的主電源供應插座上。 3. 將彩色監視器的訊號線接到電腦主機後方的監視器 插座上。 4. 將鍵盤連接到位於電腦主機後方的鍵盤插座上。 5. 將 34-Pin 排線由位於電腦主機擴充槽上的 Digital I/O 卡接到 TR-518FE 測試主機上的控制電路板。 34-Pin 排線的方向要注意。 6.將印表機訊號線由印表機接到電腦主機上的印表機 埠（LPT 1）。 7. 利用 15-Pin 訊號線將壓床後方的 15-Pin 信號埠連 接到 TR-518FE 測試主機上

12、的直流量測電路板上。 8. 將 10-Pin 的控制線從 TR-518FE 測試主機上的 IC 空焊控制板連接至蜂巢板上的 IC 空焊狀態板 (若 有選購 IC 空焊測試設備)。 9. 測試桌後面有一條接地線，應確實接地，避免因靜 電或放電不確實造成主機損壞或待測板故障。 TR-518FE 訓練教材(Windows 版)2-7 1.2.3.TR-518FE 系統組裝圖 J1 J14 鍵盤 印表機 彩色監視器 鍵盤 滑 鼠 34-PIN 排線 64-PIN 排線 切 換 電 路 板 交 流 量 測 電 路 板 壓 床 控 制 / 直 流 量 測 電 路 板 控 制 電 路 板 電腦 印 表 機

13、監 視 器 D-TYPE 15-PIN 信號線 切 換 電 路 板 IC 空 焊 控 制 板 高 壓 量 測 電 路 板 底板治具 J14,J13, ,J2,J1 壓床 DIGITAL I/O CARD 1 2 3 4 15 16 17 天板治具 10-Pin 排線 蜂巢板 IC空焊狀態板 S1 S2 S3 TEST RETEST EM/ SW REJECT ABORT ACCEPT DOWN TR-518FE 訓練教材(Windows 版)2-8 2 . I C T 治治 具具 介介 紹紹 與與 安安 裝裝 2 . 1 . 治 具 種 類 2.1.1.單面治具&HP 天板(一般天板) 治具製

14、作時，測試針之選擇以集中於 PCB 之單面頂 針為最優先，如此不僅可以降低治具成本，方便治具 檢修，提高測試穩定性。若要提高 SMD IC 之空焊可 測率，可以配合 TestJet 天板架設。(參考圖 2.1, 2.2) (圖 2.1 單面治具&一般天板) (圖 2.2 單面治具&TestJet 天板) TR-518FE 訓練教材(Windows 版)2-9 2.1.2.雙面治具 治具製作時，待測板因為PCB 兩面皆有零件PCB 兩面皆有預留測試點，造成測試針須 PCB 兩面皆植 針才能得到最佳測試效果。為提高雙面治具之水平 穩定度，通常會在壓床上加裝雙面定位架一併使用。 (參考圖 2.3,

15、2.4) (圖 2.4 雙面定位架) (圖 2.3 雙面治具) TR-518FE 訓練教材(Windows 版)2-10 2.1.3.真空治具 真空治具利用真空幫浦將治具抽成真空再進行測試， 目前 TR-8001 便以真空治具為主，ICT 仍以壓床式 為主。 2.1.4.In-Line 治具 In-Line ICT 著重於 ICT 自動化測試，從 PCB 進入測 試到測試結束離開，都不需人員協助，治具機構之精 密度要求較高，治具安裝也儘量配合自動化設計，根 據正確的安裝程序，從控制面板操作。若要在壓床上 使用須加裝轉接座。 (圖 2.5：真空治具) (圖 2.6：In-Line 治具) TR-

16、518FE 訓練教材(Windows 版)2-11 2 . 2 . 治 具 安 裝 2.2.1.單面治具+HP 天板(一般天板) 將總電源打開，電腦進入 ICT Windows 版主程式， 首先進行系統自我檢測，關閉自我測試，進入 ICT 主畫面。 將治具對稱置於壓床之平台上，用螺絲固定(不要 轉緊)，利用 TEST+DOWN 鍵使壓床下降，壓床下 降快接觸到 HP 天板時，便停止壓床下降動作，調 整治具左右位置，利用蝴蝶螺絲將 HP 天板與蜂巢 板固定轉緊。 按 ABORT 鍵使壓床上升，反覆使壓床上下動作幾 次，確定 HP 天板與治具完全密合，再讓壓床下降 使 HP 天板與治具密合，將治具

17、之固定螺絲轉緊， 主機上之 cable 按順序插入治具之 cable 座。 將壓床上升，進入測試畫面，選擇正確電路板名稱， 開始 ICT 測試。 2.2.2.雙面治具 將總電源打開(同 2.2.1 第一段) 將下治具放入雙面定位架中，若無法平放，可將雙 面定位架之擋塊用六角板手轉鬆調整。 將上治具順著滑軌推到底，壓床慢慢下降使上治具 與下治具完全密合，再將上治具滑軌 4 顆蝴蝶螺絲 轉緊，主機上之 cable 按順序插入治具 cable 座， 須注意上治具之 cable 長度，避免因壓床上升使 cable 毀損。 將壓床上升，進入測試畫面，選擇正確電路板名稱 開始 ICT 測試。 2.2.3.

18、程式安裝 若治具在 ICT 曾經使用過，在主畫面完成治具 程式安裝。 若治具在 ICT 為第一次使用，在主畫面進入、，於選擇，利用選擇適當的治具程式路 徑(注意要進入到有 File 為止)，輸入正確的電路板名稱(不得超過 15 個字元)， 選擇完成治具程式安裝。 TR-518FE 訓練教材(Windows 版)2-12 2 . 3 . 治 具 相 關 配 件 及 測 試 針 種 類 介 紹 2.3.1.一體成型針 一體成型針規格以 3、2 為主，當大部份測試點 為 Dip 零件腳，它的行程有 15-18mm，較不易因為 行程太短造成測試針損壞。 一體成型針外型以 3 叉針為主(如附圖所示)，因

19、為 PCB 上零件密度與漸漸以 SMD 零件為主的設計概 念，目前一體成型針較不為治具廠商使用，僅 Power Supply、UPS 產品仍有使用。 圖面說明： 一體成型針之 3、2 是指套筒外徑。 2.3.2.兩段針(套筒針) 兩段針規格以 100mil、75mil、50mil 為主，行程為 8mm，因為 SMD 零件大量使用，測試點間距愈來 愈小，使兩段針漸漸成為測試針主流。 兩段針之規格 100mil 是指測試點中心與最近之測 試點中心距離須大於 100mil，可以選用 100mil 針。 兩段針外型種類眾多，有尖針、爪針、T 型針等， 配合測試點不同可以選用正確的測試針，提高測試 的穩

20、定度。 常用的測試針型號與使用時機如下： 皇冠針：常用於 Dip 零件腳的測試點，依零件腳粗 細、長短，可以選用皇冠針、四爪針、九爪針。 T 型針：常用於 SMT 治具上，Dip 零件腳當測試 點，確沒有裝零件時使用。若零件腳孔徑太大，須 使用特殊的 T 型針(一般為 1.5mm，特殊為 探針套筒 X 測試針 X100mil100mil 100milX75mil 75mil 75milX50mil 50mil X 2. 3.選擇開/短路區 間。 開路測試(Open Test)時，在任一短路群(Short Group)中任何兩點之阻抗不得大於 55，否則即是 開路測試不良(Open Fail)。

21、 短路測試(Short Test)時分成三種情況，若有以下其 中之一的情況發生，則判定短路測試不良(Short Fail)： 1. 在短路群中任何一點與非短路群中任一點之阻 抗小於 5。 2. 不同短路群中任兩點之阻抗小於 5。 3. 非短路群中任兩點之阻抗小於 5。 3.1.2.隔離效果(Guarding)測試原理 在 ICT 內部電路中，利用一顆 OP 放大器當做一個 隔離點（最多可有五個隔離點），若是： 1.以電流源當信號源輸入時，則在相接元件一之另 TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-27 一腳加上一等高電位能(Guarding Point)，以防止電 流流入與被測元件

22、相接之旁路元件，確保量測的精 準性。此時隔離點的選擇必須以和被測元件高電位 能腳(Hi-Pin)相接之旁路元件為參考範圍(如附圖 3.1)。 2.以電壓源當信號源輸入時，則在相接元件二之另 一腳加上一等低電位能(Guarding Point)，以防止與 被測元件相接之元件所產生的電流流入，而增加量 測的電流，影響量測的精準性。此時隔離點的選擇 必須以和被測元件低電位能腳(Low-Pin)相接之旁 路元件為參考範圍(如附圖 3.2) 。 被 測 元 件 相 接 元 件 一 相 接 元 件 二 V A V A OP Guarding Point 被 測 元 件 相 接 元 件 一 相 接 元 件

23、二 隔 離 點 V B OP Guarding Point V B Hi-Pin Low-Pin Hi-Pin Low-Pin V I V A V B 電 壓 源 隔 離 點 電 流 源 3.1.3.電阻測試原理 3.1.3.1. 固定電流源(Constant Current)模式(Mode0) 對於不同的電阻值，ICT 本身會自動限制一個適當 的固定電流源做為測試的訊號源使用，如此才不 會因使用者的選擇不當，因而產生過高的電壓而 燒壞被測試元件，故其測試方式為：提供一個適當 的固定電流源 I，流經被測電阻 R，再於被測電阻 R 兩端，測量出 Vr，由於 Vr 及 I 已知，利用 Vr=IR

24、公式，即可得知被測電阻 R 值(如圖 3.3)。 RANGECURRENT 1- - 299.995mA 300- - 2.99K500A 3K- - 29.99K50A 30K- - 299.9K5A 300K- - 2.99M0.5A 3M- - 40M0.1A (圖 3.1：電流源測試圖)(圖 3.2：電壓源測試圖) TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-28 3.1.3.2. 低固定電流源(Low Constant Current)模式(Mode1) 該測試方法和上述固定電流源模式一樣，只是在 被測電阻於電路上若有並聯(Parallel)著二極體 (Diode)或是 IC

25、 保護二極體(IC Clamping Diode)時， 對於該電阻兩端測量電壓值若超過 0.5V 至 0.7V 左右時，因為二極體導電的關係，該電阻兩端電壓 將被維持在 0.5V 至 0.7V 左右，固無法量測出真 正的 Vr 值，為解決此問題，只要將原先的電流源 降低一級即可(如附圖 3.4)。 RANGECURRENT 1- - 299.99500A 300- - 2.99K50A 3K- - 29.99K5A 30K- - 299.9K0.5A 300K- - 2.99M0.1A (圖 3.3：固定電流源方法) I R Vr Vr=IR (圖 3.4：低固定電流源方法) D Vr I R

26、 Vr=IR TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-29 (圖 3.5：快速測試方法) V=Ir*R R 0.2V Ir C 3.1.3.3. 快速(High-Speed)測試模式(Mode2) 假如被測電阻並聯一顆 0.3F 以上的電容時，若 使用上述固定電流源測試時，需要花費很長的時 間，讓電容充飽電荷，再去測量出 Vr 值，而得知 R 值，如此測試方法將增加 ICT 測試時間，為解決 此問題，可以將固定 DC 電流源改為 0.2V DC 固 定電壓源，直接接於被測電阻兩端，如此電容將會 在短暫時間內使其 Ic=0，故電路上所有電流將流 經電阻 R。其測量方式為：提供一個 0

27、.2V DC 電壓 源，當 Ic=0 時，再測試流經電阻端的 Ir，因為 V=IrR，而 V 及 Ir 已知，即可得知電阻 R 值(如附 圖 3.5)。 3.1.3.4. 交流相位(AC phase)測試模式 (Mode3、Mode4、Mode5 ) 由於電路設計關係，被測試電阻，將會並聯著電感 等元件，對於此電阻值測量，若使用固定電流源方 式測試，電阻值將會偏低而無法測量出真正的電 阻值，故使用 AC 電壓源，利用相位角度的領先， 及落後方式而得知被測電阻值。故其測試方式為： 提供一個適當頻率的 AC 電壓源 V，同時在被測電 阻兩端測量出 Iz，由於 V=Iz*Zr1，因為 V 及 Iz

28、已 知，故可得知 Zr1，又因為 R=Zr1*cos，而 Zr1 及 cos 已知，故即可得知被測電阻 R 值(如附圖 3.6)。 TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-30 MODESIGNALRANGE(L)RANGE(R) 31KHZ600H - - 60H5- - 300K 410KHZ60H - - 600mH5- - 40K 5100KHZ6H - - 6mH5- - 4K 3.1.4.電容測試原理 3.1.4.1.固定 AC 電壓源(Constant AC Voltage)測試模式 (Mode0、Mode1、 Mode2 、 Mode3) 對於不同阻抗的電容，ICT

29、 本身會自動選擇一個適 當頻率(frequency)的 AC 電壓源，作為測試使用， 其頻率計有：1KHZ，10KHZ，100KHZ，1MHZ，對 於極小阻抗值的電容將需要較高頻率的 AC 電壓 源，再測量被測元件兩端的電壓源，由於 V=Ic*Zc，而 V 及 Ic 已知，故得知 Zc=1/2*f*c， 又因 f 已知，故即可得知電容 C(如附圖 3.7)。 DEBUG MODESIGNAL SOURCE CAPACITOR RANGE 01KHz1pF - - 39.99F 110KHz1pF - - 2.99F 2100KHz1pF - - 29.99nF 31MHz1pF - - 299

30、.99pF (圖 3.6：交流相位測試方法) V=Iz*Zr1 R=Zr1*cos R L V TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-31 3.1.4.2. 向位(AC PHASE)測量模式 (Mode5、Mode6、Mode7 ) 對於電容的測試，若並聯電阻時，則利用相位角度 的落後方式來測量出阻抗值，故其測量方式為：提 供一個適當頻率的 AC 電壓源並在被測元件兩端 測量出 Iz，由於 V=Iz*Zrc，而 V 及 Iz 已知，故可 得知 Zrc，又因 Zc=Zrc*sin，而 Zrc 及 sin 已知， 故可得知 Zc，又因 Zc=1/2*f*c，而 Zc 及 f 已知，

31、故即可得知電容 C 值(如附圖 3.8)。 DEBUG MODESIGNAL SOURCE CAPACITOR RANGE 51KHz1pF - - 39.99F 610KHz1pF - - 2.99F 7100KHz1pF - - 29.99nF V=Ic*Zc Zc=1/2*f*c (圖 3.7：固定 AC 電壓源測試方法) Ic Zc V V=Iz*ZrC Zc=Zrc*sin Zc=1/2*f*c (圖 3.8：AC 相位測試方法) C V Iz TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-32 3.1.4.3. DC 固定電流(DC Constant Current)測試模式

32、 (Mode4, Mode8) 對於 3F 以上電容值的電容，若使用上述 AC 電 壓源模式測試時，將需要較低頻率來測試，而增 加 ICT 測試時間，故可利用電容充電曲線的斜率 方式得知電容值，故其測試方式為：提供一個固定 的 DC 電流源，並在 T1 時間測量電容兩端的 V1 值，及 T2 時間測量電容兩端的 V2 值，由於 Slope=(V2-V1)/(T2-T1)=V/T，而 V1、V2 及 T1、T2 已知，故得知 Slope，又因 Slope*C=Constant，而 Slope 及 Constant 已知，故 即可得電容 C 值(如附圖 3.9)。 3.1.5.電感測試原理 3.1

33、.5.1. 固定 AC 電壓源(Constant AC Voltage)測試模式 (Mode0、Mode1、Mode2、Mode3 ) 對於不同阻抗的電感，ICT 本身會自動選擇一個適 當頻率(frequency)的 AC 電壓源，作為測試使用， 其頻率計有：1KHZ，10KHZ，100KHZ，1MHZ，對 於極小阻抗值的電感將需要較高頻率的 AC 電壓 V T V2 V1 T1 T2 Vc C I Slope=(V2-V1)/(T2-T1)=V/T Slope*C=Constant (圖 3.9：DC 固定電流測試方法) TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-33 源，再測量被

34、測元件兩端的電壓源，由於 V=Il*Zl，而 V 及 Il 已知，故得知 Z1=2fL，又因 f 已知，故即可得知電感 L 值(如附圖 3.10)。 DEBUG MODESIGNAL SOURCEINDUCTOR RANGE 01KHz800H 60H 110KHz1H 799.99mH 2100KHz1H 79.99mH 31MHz1H 799.9H 3.1.5.2. AC 向位(AC PHASE)測量模式 (Mode5、Mode6、Mode7 ) 對於電感的測試，若並聯電阻時，則利用相位角度 的領先方式來測量出阻抗值，故其測量方式為：提 供一個適當頻率的 AC 電壓源並在被測元件兩端 測量

35、出 Iz，由於 V=Iz*Zr1，而 V 及 Iz 已知，故可 得知 Zr1 值，又因 Z1=Zr1*sin，而 Zr1 及 sin 已 知，故可得知 Z1，又因 Z1=2*f*L，而 Z1 及 f 已 知，故即可得知電感 L 值(如附圖 3.11)。 DEBUG MODESIGNAL SOURCEINDUCTOR RANGE 51KHz80H 60H 610KHz1H 799mH 7100KHz1H 79.9mH Ic V Zl V=I1*Z1 Z1=2*f*L =2*f*L (圖 3.10：固定 AC 電壓源測試方法) TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-34 I Vx V

36、x=IR (圖 3.12：固定電流源方法) R(X) 3.1.6.JUMP 測試原理 ICT 提供一個 0.1mA 的直流電流源量測兩測試點之 間的阻抗值，測量出 Vx，由於 Vx 及 I 已知，利用 Vx=IR 公式，即可得知被測兩端之量測電阻值(簡稱 X)，系統把兩測試點間之阻抗值，於不同 MODE，分 別顯示如下： 量測值(X) Mode X55 (Mode0) 255 (Mode1) X10 (Mode2) X正常情況下，測試值140200fF 開路不良時，測試值4.5fF A 檢測器 AC 電壓源 0.3V, 10KHz Cframe Cframe 等效電路 A 檢測器 AC 電壓源

37、 0.3V, 10KHz Cframe Cframe 等效電路 Cfault Cfault TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-44 3 . 2 . 治 具 程 式 撰 寫 與 偵 錯 3.2.1.治具程式撰寫與偵錯程序 TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-45 3.2.2.治具安裝 治具安裝請參考 2.2.ICT 治具安裝，將治具正確安裝 於壓床平台上，進入、選擇，利用選擇 適當的治具程式路徑(注意要進入到有 file 為止)，輸入正確的電路板名稱(不得超 過 15 個字元)，選擇完成治具安裝與治具程 式設定。 3.2.3.測試參數設定 進入選擇設定測試順序

38、不良的重測次數測試有不良時顯示方式等功能。 選擇設定治具上第 1 支測試針編 號最後 1 支測試針編號(若 open/short 測試時間太 久，可調整短/開路範圍設定)。 選擇設定印表機列印方式與範圍，包括自 動或手動開路/短路測試不良列印模式等。 選擇設定不良零件位置圖範圍(可 參考治具點圖)，若客戶有使用自動蓋章功能，可以選擇良品蓋章。 選擇將測試參數設定資料 save，選擇離開測試參數設定。 3.2.4.Open/Short 學習設定 進入將待測板放在治具上，壓床 下降至定位，檢查開始與結束測試針編號是否正確， 若有問題可以至測試參數修改，選擇開始待 測板之開/短路學習，視窗中顯示學習

39、到的短路點資 料，再進行單獨正常，完成 open/short 學習設定。 3.2.5.編輯欄位定義說明 選擇編輯 icon 進入編輯畫面，編輯欄位說明如下： 1. 步驟：步驟是零件測試時的執行順序，每一個步 驟代表一個零件的量測，零件測試時是從設 定的第一個步驟逐一測試到最後一個步驟。 2. 零件名稱：基本上零件的名稱並無限制，但建議 使用如下表中的代號。系統根據第一個字母 自動產生零件的類別。零件名稱最多不能超 過 13 個字元。 第一個字母零件單位 TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-46 R, PR, VR電阻、排阻、可變電阻 ，K，M C電容、可變電容pF，nF，F L

40、電感（線圈）、變壓器H，mH，H D二極體V Q,T電晶體V I,U, MIC 保護二極體V Z齊鈉二極體V PC光耦合二極體V J, F, W跳線、保險絲 DC電容極性mA PX電容極性三端測試V 3. 實際值：實際值就是零件表上的零件值。各類零 件的單位如上表所列。 4. 標準值：在零件測試時判斷零件好壞的數值，通 常零件標準值與實際值一樣。如果量測值因 為無法找到合適的隔離點而不能與實際值 接近時，方才修改標準值。 5. 補償值：在判斷零件好壞前以 (量測值-補償值) 取代量測值再和標準值比較。當無法找到合 適的隔離點而標準值與量測值不能接近時， 可修改標準值或補償值。 6. 上限%：零

41、件量測值誤差的上限百分比。量測值誤 差百分比 = (量測值-標準值)/ 標準值 *100。零件量測值誤差百分比如果超過此上 限百分比即為不良零件。上限的範圍是從 1 到 999。在此欄鍵入-1，可忽略上限。 7. 下限%：零件量測值誤差的下限百分比。零件量測 值誤差百分比如果低於此下限百分比即為 不良零件。下限的範圍是從 1 到 99。在此欄 鍵入-1，可忽略下限。 8. 模式：選擇零件量測的信號模式。 9. 型態：表示零件的類別，若零件名稱符合規定，本 欄位的初始值為零件名稱第一個字元。 類別測試零件種類單位 R電阻、排阻、可變電阻 ，k，M C電容、可變電容pF，nF，F，mF L電感（線

42、圈）、變壓器H，mH，H TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-47 D二極體、齊鈉二極體、電容極性V Q電晶體V U保護二極體、並聯測試V PC光偶二極體V PX電容極性三端量測V J跳線、保險絲 QH電晶體hFE QFMOSFET,FETmA QSSCR,TRIACmA OCrystal頻率KHz，MHz V電壓測試V I電流測試A 10. 高點：高點即高電壓點，零件測試時，量測電流 由此測試點流入待測零件。 11. 低點：低點是低電壓點，零件測試時，量測電流 由此測試點流出待測零件。 12. 位置：位置是零件在電路板的對應位置。電路板 的橫向最多可分為 A B C D E

43、F G H 共 8 區，縱向最多可分為 1 2 3 4 5 6 7 8 共 8 區。每個零件有各自對應的位置，以 2 個字 母表示，如 A3，D1。 13. 延遲：零件測試的延遲時間。將信號源流入待測 零件時，有些零件因為線路的特性，必需較 長的延遲時間，量測值才會穩定。一般延遲 時間最大是 150mSec。 14. 隔離點(1-5)：零件量測時加隔離點可使該零件的 量測不受周圍零件的影響。每個零件量測最 多可加 5 個隔離點。部分零件量測的隔離點 限制如下： 1. 小於 10 之電阻，不允許有隔離點。 2. 跳線及保險絲，不允許有隔離點。 3. 小於 150F 之電容使用模式 4，只允許 有

44、二個隔離點。 4. 大於 150F 之電容使用模式 4，不允許 有隔離點。 5. 二極體測試非使用模式 5 或模式 6 者， 只允許有一個隔離點。 6. 二極體測試使用模式 5 或模式 6，不允 許有隔離點。 15. 刪略：若刪略設定為 1，在零件測試時這個步驟 TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-48 將不會被測試。實際要測試的步驟其刪略應 設定為 0。被刪略的步驟以綠色顯示。 16. 平均：平均是將多次量測的平均值做為零件量測 值。 17. 重測：重測是設定該步驟重測的次數。每次量測 後，如果測試不良，該步驟會重新量測。一 但量測值是在上限百分比與下限百分比之 間時，則不再

45、重新量測。此欄位最多不能設 定超過 5 次。若在此欄輸入“D” ，表示測試 前先進行放電，並且重測次數內定為 5 次。 當該測試步驟測試前需先放電才能得到穩 定的量測值時可使用此功能。一般單獨測試 步驟(F8)時正常，連續測試(F5)發生零件測 試不穩 Fail，可以使用此功能。 18. 中停：中停用於需即時調整的零件測試。若中停 設定為 1，測試該步驟時會先暫停，並顯示 該量測值，目前部份客戶利用此設定量測 On/Off 開關。 19. 量測值：在編輯模式可執行每一個步驟的量測。 零件量測值顯示在此欄位。若測試不良，此 步驟以紅色表示。若測試正常，此步驟以藍 色表示。此欄位只能顯示，不可編輯

46、。 20. 偏移：偏移是零件量測值與標準值的誤差比率。 此欄位只能顯示，不可編輯。 3.2.6.常用編輯功能說明 在編輯主畫面中有一個下拉式功能表，包含許多編 輯器可使用的功能，方便測試資料之編寫與偵錯。在 以下的說明中，每個功能後的鍵盤碼是該功能的快 速鍵。 1. 檔案 1.A 開啟全部測試資料(Shift+F1) 將全部 (不含高壓及 FUN) 測試資料納入編 輯器。 1.B 存檔(F2) 將正在編輯中的測試資料存檔，但不離開編 輯器。 1.C 存檔後結束(F3) 將正在編輯中的測試資料存檔，並離開編輯 器回到主畫面。 TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-49 1.D 結束

47、測試資料編輯(F4) 離開編輯器回到主畫面。若測試資料已修改， 系統會詢問使用者是否儲存測試資料。 2. 編輯 2.A 區塊步驟修改(Ctrl.+B) 當使用者欲同時修改多個測試步驟時，可輸 入開始步驟、結束步驟及欲修改的內容即可。 選擇此功能後顯示以下視窗並依以下步驟操 作： 1. 輸入開始步驟、結束步驟。 2. 設定欲修改的內容。系統設計七個欄位可 執行區塊步驟修改，實際值、標準值、補償 值、延遲時間、上限%、下限%和刪略。實 際值和標準值需再設定單位，補償值的單 位和標準值一致。欲設定某欄位時需在該 欄位對應的小方塊內以滑鼠左鍵點選。 3. 選擇確定。 以 38 上圖為例。修改步驟 1-

48、165，下限皆設為 10%， 不刪略。 2.B 刪除測試步驟(Ctrl.+D) 同時刪除多個測試步驟，設定開始步驟及結 束步驟，將目標區內之測試步驟全部刪除。 2.C 插入測試步驟(Ctrl.+I) 同時插入多個測試步驟，設定開始步驟及結 TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-50 束步驟，在目標區內插入空白的測試步驟。 2.D 高低腳位交換(Ctrl.+C) 高點的測試針編號與低點的測試針編號互換。 有些零件，高點與低點互換後，所得到的量 測值可以更接近標準值。 2.E 多聯片測試資料複製 當待測電路板是多聯片時，只要準備好第一 片電路板的測試資料，其他的測試資料可使 用多聯片

49、測試資料複製功能取得。選擇此功 能後顯示以下視窗並依以下步驟操作： 1. 測試針 OFFSET 值：第一片電路板的第一 個測試點和第二片電路板的第一個測試點 其測試針編號的補償值。 2. 每一列電路板個數：在一橫排上，共有幾 片電路板。 3. 每一行電路板個數：在一縱排上，共有幾 片電路板。 4. 每一電路板在位置圖所佔行數：不良零件 位置圖在橫排上可以分成 A 到 H (8 行)。 如果第一片電路板的位置是 A 到 B，則設 定所佔行數為 2。 5. 每一電路板在位置圖所佔列數：不良零件 TR-518FE 訓練教材(Windows 版)3-51 位置圖在縱排上可以分成 1 到 8 (8 行)。如 果第一片電路板的位置是 1 到 2，則設 定所佔列數為 2。 6. 電路板排列順序：設