内存ATE测试介绍.ppt

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4、,功能测试Pattern March-6N,ATE测试简介,DC参数测试,DC 参数 测试,电压参数测试,电流参数测试,测试方法: 1。加电压测电流、 加电流测电压 2。改变DC参数,进行 功能测试,找到P/F 转变点 3。运行pattern程序, 直接对参数测量,ATE测试简介,DC测试,ATE测试简介,目的:检测芯片的各项电气性能,VSIM,ISVM,DC test unit,DC参数测试,电压参数测试,主要电压参数 电源电压VDD、VDDQ、VREF 输入电压VIL、VIH 输出电压VOL、VOH,测试目的: 评估DUT能正常工作的电压范围 评估输入管脚区分输入逻辑状态的能力 评估输出管

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6、件时序参数解决故障问题 Debug/优化测试程序的工具,工程测试,典型AC参数的时序图(CL/tRCD/tRP),AC参数测试,Shmoo 图例-Margin Test (潜力测试) 用于评价芯片实际能力,通常使用SHMOO PLOT 工具进行分析,AC参数测试,Shmoo 图例,二维Shmoo 同时改变两个 相互关联的参 数,执行功能 测试 红色FAIL区域 绿色PASS区域,AC参数测试,ATE 测试,生产测试 (mass production),工程/评估测试 (engineering/evaluation),ATE测试简介,生产测试流程,基本 电性能 测试,重要 AC 参数 测试,功能 测试,连接性测试、漏电流测试、IDD测试,时序宽松、 时序严格、 基本功能、 重要的POPULAR PATTERN,选用engineering的测试方法对重要参数进行测试,ATE测试简介,工程测试,工程测试(engineering),DC参数 测试,AC参数 测试,功能 测试,工程测试,谢谢!,

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