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1、关于关于 BCI 的若干问题的若干问题 问题问题 1：从图 1 可以看出注入的电流逐渐增大，最后达到所设置的电 流等级。同时，对应的感应阻抗（test bench transfer impedance）逐 渐减小。请问：注入电流为什么不一开始就达到最大？感应阻抗的大 小跟什么有关系？ 图 1 问题问题 2： 图 2 是测试报告中 Events 表格的部分截图， 图上标注着Power increased by XX dB。图 3 为测试功率曲线。请问：既然 Power 在不断 的以 XX dB 来增加，图 3 中的 Power 曲线为什么没有呈上升趋势？ Power increased by X
2、X dB中的“Power”指的是哪个功率？如何计 算？ 图 2 图 3 问题问题 3：选用 ISO 11452-4 2005 CLOSED LOOP 标准做测试时，软件只 提供了 Level（25mA） 、Level（50mA） 、 Level（75mA）和 Level （100mA）四个等级。请问：如果要自定义 150mA 的电流来进行 测试，该如何操作？详细步骤是怎么样的？ 问题问题 4：如下图所示的测试曲线中，注入电流出现了突然下降。请问 这是由于 DUT 本身的特性呢，还是 DUT 的动作引起了相应的变化？ 是否说明 DUT 在这个频段上存在异常？ 图 4 问题问题 5：测试报告中 Test Points 表格中的 VSWR 是什么意思？其数字 大小跟什么因素有关？ 问题问题 6：测试过程中常出现“COM ERROR” ，导致测试终止。请问是 硬件接口问题还是软件问题？如何解决？ 问题问题 7：test bench transfer impedance 具体指哪部分的阻抗？