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1、三级理论考试工艺题的解答技巧m级资格人员开卷笔试（B2）中的工艺题，是评估考生的无损检测专业知识及其在特种设 备中的应用能力的创新方式。在进行工艺题设计时，选择具体的特种设备部件或焊接接头， 设定相关条件（如设备与器材、个别工艺参数），答题就变成完成一项具体工艺方案的制订。 通过工艺题考试可以考察答题者对JB/T 4730.2-2005标准条文的理解和把标准条文具体应用于检测方案，以及优选检测工艺参数的能力，非常接近实际。不少报考者把出级 无损检测人员资格考核笔试中的工艺题、综合题视为畏途。近十年来，笔者有机会参加了多次全国特种设备无损检测人员资格考核工作。从考核中体会到，结合专业理论知识正确
2、理解标准制定的思路，对于成功的应试是非常有帮助的。下面就RTIII级资格考试中工艺题的出题思路与解答技巧谈一些体会，与大家共同探讨。至于综合题将另文阐述。工艺题中主要涉及的工艺参数有：工件的检测比例与验收等级；透照方式（射线源-工彳4-胶片-定位标志的布置）；几何参数（包括：透照厚度、透照焦距、透照次 数、一次透照长度、 搭接长度等）；曝光参数（包括：射线源种类或探伤机型号、胶片型号与增感屏规格、射线 能量（管电压kV）、曝光量与曝光时间）；底片质 量指标（包括：像质计型号与像质计灵敏 度值、底片黑度）；胶片暗室处理参数（包括：显影/定影液配方与温度、 显影/定影时间等）； 散射线的屏蔽处理、
3、安全防护措施等。这些参数和措施并非割裂或各自独立的，而是互相影响、互相关联的有机的整体。在进行工艺题解答时， 要仔细审题，充分理解题目的要求， 充分利用题目所给出的条件与参 数。进行射线检测工艺设计时,应以控制影响射线照相灵敏度的因素（即影响对比度、不清晰度、颗粒度的因素）为主线，针对受检工件的结构特点（包括规格、材质、形状等）与客观条件（题目给出的检测设备与器材、环境条件、对检测的特殊要求等），分析可能产生的危害性缺陷，综合考虑、选择适当的透照方式（工件、设备、器材对缺陷检出率的影响）、几何参数、曝光参数及散射线屏蔽、安全防护等技术措施。 下面，举例说明射线检测工艺题、综合题的设计与解答思路
4、： 一、检测比例与验收等级： 根据特种设备的种类，分别按压力容器安全技术监察规程、蒸汽锅炉安全技术监察规程、压力管道安全技术监察规程等安全技术规范及GB 150钢制压力容器、GB/T 20801压力管道规范工业管道、SH/T 3501石油化工有毒、可燃介质管道工程施工及验收规范等标准的规定，确定检测比例（检测长度）、验收等级。二、射线检测工艺参数：JB/T 4730.2-2005标准对射线源（能量）、胶片、增感屏的使用，透照布置、焦距、曝光量、 像质计与标记的摆放要求、散射线屏蔽、底片质量等要求均进行了相应的规定，这些规定综合考虑了检测灵敏度（对比度、不清晰度、颗粒度）的影响因素。在制造或安装
5、过程中对承压设备进行射线检测，一般应按JB/T 4730.2-2005标准AB级射线检测技术的要求考虑相应的检测工艺参数。1、透照方式选择：在可以实施的情况下应选用单壁透照方式，以获得较高的主因对比度。还应考虑危险性缺陷可能出现的部位与透照几何不清晰度的关系；也应考虑透照便于操作及检测工作效率。对小径管环缝，采用双壁双影透照方式，并应根据其规格、焊缝宽度等条件，按JB/T4730.2-2005第4.1.4条规定选择椭圆成像（T8mm或者gDo/4 ,或者法兰口等椭圆成像有困难的部位） 。若为在役的压力管道、锅炉管子等工件因检测时不可拆卸， 不能实现单壁透照， 可采用环向焊接接头源在外双壁单影透
6、照方式。 对制造过程中的压力容器， 因透照小车或平台配置有滚动胎具便于容器在卧位时的转动，或配置有移动式X 射线机，一般可以采用源在外单壁透照的方式，操作方便、工作效率高，若配置有周向曝光 X射线机或适当的丫射线源，对环缝可采用中心曝光的方式。对球形容器可将射源置于球形容器中心进行全景曝光。对在用压力容器检验中的射线检测，则应从提高对危害性缺陷的检出效果来考虑透照方式的选择。2、透照厚度：根据透照方式确定相应的透照厚度。3、 探伤机型号选择： 应综合考虑工件的结构尺寸、 透照方式、 透照厚度， 按 JB/T 4730.2-2005 第 4.2条规定，选用适当的探伤机或射线源。4、 胶片与增感屏
7、选择：按JB/T 4730.2-2005第 3.2条和表 1 的规定，对于X 射线透照，可选用天津出型胶片和前、后屏厚度均为0.03mm的铅箔增感屏。若采用丫射线透照，且 工件材质具有裂纹倾向，按JB/T 4730.1-2005第 4.2.4条和 JB/T 4730.2-2005第 3.5条的规定，选用 T2 类胶片（ Agfa-D4 型胶片）和前、后屏厚度均为 0.1mm 的铅箔增感屏。 （常见胶片类别的划分：T1 类：Koda R、SR; Agfa-D2、D3 ; Fuji lX-25。T2 类：Koda M、T; Agfa-C4、 D4 、 D5 ； Fuji 50、 80；天津V ；上
8、海GX-A5 。 T3 类： Koda A 、 B； Agfa-C7、 D7 、 D8 ；Fuji 100;天津山；上海 GX-A7。）5、 像质计型号与像质计灵敏度值确定： 按透照方式、 像质计放置位置， 由 JB/T 4730.2-2005表57,查出应识别的像质计丝号，选用相应的型号，如丝号为1016的应选用Fe-ni型像质计或专用像质计。像质计的材料应按照 JB/T 4730.2-2005 表 2 选用，对原子序数大的工件，当无法得到相应材料制作的像质计时，可用原子序数小的材料制作的像质计代替使用，按原子序数排列：Cu Ni Fe Ti Al）。6、透照焦距：首先应满足标准对最短焦距（
9、 Fmin）的限制（按公式fmin 10d b2/3十算或由 JB/T 4730.2-2005图 3查得射线源焦点至工件表面距离fmin ， Fmin=fmin+b ，单壁透照或双壁单影透照时， b=T+ 余高；双壁双影透照时， b=Do+ 余高） 。还应考虑匀强透照场范围的大小（单向 X 射线机） 、一次透照长度、曝光时间等因素（工作效率） 。对筒体纵缝、环缝进行单壁外透法透照、小径管环缝双壁双影透照时，焦距一般可选用700mm；环缝偏心内透的焦距应尽量接近环缝的半径， f 可比 fmin 减小20%；环缝中心透照时，f 可比 fmin减小50%； 当采用双壁单影法透照管子环缝时， 为获得最
10、大的一次透照长度， 应将射线源焦点尽可能接近管外壁。 当曝光曲线中的焦距值符合要求时， 可直接应用， 以简化曝光量的换算。或按题目给定值选用。7、透照次数和一次透照长度：按照射线检测技术等级、透照方式、工件直径（Do ） 、 厚度（T）、透照焦距（F）来确定。对小径管按 JB/T 4730.2-2005第4.1.5条规定；对管道环焊缝，由JB/T 4730.2-2005曲线图（D3、D4）查得相应的透照次数（ N）（对Dow 400mm,查曲线图 D3、 D4 ） ；对压力容器等大直径工件的环焊缝，按K=1.1 及与焦距 F（ F=f+b ）、一次透照长度 L3 的相互关系计算确定相应的透照次
11、数 （ N ） 。 则环向对接焊接接头一次透照长度为二兀DO/N。对于容器筒体（管道）纵缝，按 K=1.03及与F、L3的相互关系计算确定N与L3。8、射线源种类或射线能量（管电压kV）选择：应按JB/T 4730.2-2005图1、表4、第4.4.2条的规定确定X射线能量的上限（或 丫射线源、高能射线适用的厚度）。从X射线曝光曲线 中选用 kV 值时，应 适中并兼顾曝光量的要求。中心曝光时，在保证像质计灵敏度要求的前提下，允许 丫射线源最小透照厚度为表4下限值的1/2 ;其他透照方式，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度要求的前提下、经合同各方同意， Ir-192 源的最小透照厚度可为10m
12、m, Se-75源的最小透照厚度可为5mm,未经合同各方同意，不能降低最小透照厚度值。9、曝光量（曝光时间）确定： F=700mm时，曝光量不小于15mA min。由所选用射线机的 曝光曲线图查得相应透照厚度、基准焦距、射线能量（ kV ）所对应的基准曝光量（曝光时间） ，并根据平方反比定律，利用曝光因子（或）按实际使用焦距换算成相应的曝光时间。10、定位（搭接）标记的摆放：应按照JB/T 4730.2-2005 附录 G 的规定。11、 散射线的屏蔽：当暗盒背后近距离内如有金属或非金属材料物体,例如钢平台、木头桌面、水泥地面时，应用背防护铅板加以屏蔽；可利用铅罩和光阑减小照射场范围 ,从而在
13、一定程度上减少散射线；对厚度差较大的工件透照时,可采用厚度补偿措施减少散射线；对厚度差较大的工件透照时,可在射线窗口处加黄铜、 铅或钢制 作的滤板， 吸收 X 射线束中波长较长的软射线，使透过射线波长均匀化，提高有效能量,减少边蚀散射；当被透照的工件小于胶片时，应对露出工件外的胶片用屏蔽 物进行遮蔽，减少边蚀散射；对重要的焊缝，可修整、打磨焊缝余高，缩小工件厚度差，减小散射比，获得更佳的照相质量。应在暗盒背面贴附“ B”铅字标记，对背散射的防护控制效果进行检查。12、底片黑度：按 JB/T 4730.2-2005第4.11.2条的规定，黑度应控制在 2.0 & DK 4.范围内。以上仅是笔者对在射线RT-3 级人员考核工作中涉及的工艺题出题与解答思路的一些体会，由于所从事的特种设备制造安装范围与品种所限， 涉及的实际问题带有一定的局限性、 对问题的考虑也不够全面，望各位同行给予批评指正。