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1、管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,1,製程能力分析方法介紹,講師: Tony.Wu / GQSD,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,2,製程能力分析方法介紹,介紹內容 :,一. X - R 管 制 圖 二. 製 程 能 力 ( CP / CPK ) 三. Z - 分 佈 圖,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,3,X - R 管制圖,功 能 : 可以讓我們知道製程上的差異,其中有些參數亦可應用在 “ 製程能力 ” 的計算式中. 方便又容易.,條 件 : 1. 先建立製程用之管制圖. 2. 將製程變得穩定 3. 然後再評估製程的能力.,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,4,作法步驟
2、 :,X - R 管制圖,A. 收集足夠資料. 最好能得到製程全部變化數據. 第一階段需 50 個讀值. 第二階段需 25 個讀值. 第三階段需 25 個讀值.,B. 依數據與公式計算出自然管制界限與相關參數.,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,5,X - R 管制圖,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,6,R 管制圖公式 :,X - R 管制圖,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,7,製 程 能 力,功 能 : 可顯示出生產製程的能力是否達到可生產狀況.,a. 一般而言 CP 1.33 時,該製程屬平穩可生產. b. 若 CP 1.33 時,該製程屬不平穩,需小心管制. c. CP
3、值愈大顯示製程的製造能力愈穩定. CP 值愈小則顯示製程的製造能力愈不足,需要作許多的改善.,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,8,製 程 能 力 公 式 :,製 程 能 力,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,9,製 程 能 力,計算方式如附件所示.,GO,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,10,功 能 : 可提供瞭解製程的變異與不穩定趨勢,預先提出改善預防.,請參閱下頁例子說明.,Z 分 佈,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,11,Z 分 佈 例子說明:,假設:,d2 =2.326,Z 分 佈,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,12,步驟 2.,計算出UCL / LCL
4、超出規格上下限所佔之比率,由Z分佈表查知 1.426 所佔面積約 0.423 = 42.3%,超出規格上限的不良比率 : 50% - 42.3% = 7.7%,Z 分 佈,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,13,由Z分佈表查知 1.8152 所佔面積約 0.4653 = 46.53%,超出規格下限的不良比率 : 50% - 46.53% = 3.47%,步驟 3.,將超出規格上下限的不良比率相加即等於製程不良率,製程不良率 = 7.7% + 3.47% = 11.17% (估計值),Z 分 佈,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,14,LCL=0.8127,UCL=0.8497,規格下限
5、=0.82,規格上限=0.84,46.53%,42.3%,3.47%,7.7%,3,3,製程不良趨勢圖,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,15,LCL,UCL,規格下限,規格上限,3,3,6,UCL及LCL都在規格上下限之內,且距離規格上下限皆有一個以上,此種狀況正表示製程能力很好,且非常穩定.,製程不良趨勢圖,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,16,LCL,UCL,規格下限,規格上限,製程不良趨勢圖,此圖表示,製程有變異存在,整個分佈圖往規格上限偏移,致使UCL超出規格上限, 以致有不良會產生.,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,17,LCL,UCL,規格下限,規格上限,3,3,製程不良趨勢圖,6,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,18,製程不良趨勢圖,LCL,UCL,規格下限,規格上限,3,3,8,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,19,製程不良趨勢圖,LCL,UCL,規格下限,規格上限,日本常用,管理资料质量管理制程能力分析方法介绍,20,製程不良趨勢圖,LCL,UCL,規格下限,規格上限,