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1、样品编号检验依据GB1353-2009检验日期样品特征描述检验项目检验方法标准GB/T5490-1985,GB5491-1985,GB/T5492-2008,GB/T5493-2008,GB/T5494- 2008,GB/T5497-1985,GB1353-2009 附录 A.使用仪器规格型号精度设备编号检定有效期温度C湿度%电子天平电子天平电热干燥箱谷物容重器检验项目12检验结果水分()W-W2=X 100W-W0容器编号%容器+样品烘前质量（g）W容器+样品烘后质量（g）W容器质量（g） W样品质量（g）试验结果（%）水分(%)(二次烘干法)W.W2-W1 .W3=X 100W/.W2一次
2、烘前试样质量（g） W%一次烘后试样质量（g） W一次烘前试样质量（g） W二次烘后试样质量（g） W试验结果（%）容 重 （g/L）试样质量（g）10001g/L等级：2大样杂质(%)M=W WX 100大样质量W（g）大样杂质质量W g%大样杂质M: % 小样杂质N: % 杂质总量=M+ N%Wg%小样杂质(%)N=(100-M) x(W3+ W2)小样质量W（g）小样杂质质量Wg%W3 g%不完善粒（%） =（100- M）X （W 十 W）W-不元善粒质量gW试样质量：g皿=大样杂质百分率%虫蚀粒质量（g）%其中生霉粒：%病斑粒质量（g）破损粒质量（g）生芽粒质量（g）生霉粒质量 （g
3、）热损伤粒质量（g）不完善粒质量（W）试验结杲（色泽、气味备注检验员：校核：年 月 日小麦检验原始记录第页共页样品编号检验依据GB1351-2008检验日期样品特征描述检验项目检验方法标准GB/T5490-1985,GB5491-1985,GB/T5492-2008,GB/T5493-2008,GB/T5494-2008, GB/T5497-1985, GB/T5498-1985.使用仪器规格型号精度设备编号检定有效期温度c湿度%电子天平电子天平电热干燥箱谷物容重器检验项目12检验结果水分()W-W2-X 100W-W0容器编号%容器+样品烘前质量(g)W容器+样品烘后质量(g)W容器质量(g
4、) W样品质量(g)试验结果(%)容 重 (g/L)试样质量(g)10001g/L等级：2大样杂质(%)M-W WX 100大样质量W(g)大样杂质质量W g%大样杂质M%小样杂质N:%其中矿物质：%杂质总量N%Wg%小样杂质(%)N=(100-M)x(W+ W2)小样质量W(g)小样杂质质量g%W g%矿物质含量(%)-(100- M)XW4-W2小样质量W2(g)矿物质 质量W g%wg%不完善粒(%) -(100- M)X (W 十 W)虫蚀粒质量(g)%病斑粒质量(g)破损粒质量(g)V1=不完善粒质量gW试样质量：g皿=大样杂质百分率%生芽粒质量（g）霉变粒质量（g）不完善粒质量（W
5、试验结果（%）色泽、气味 备注检验员：校核：年 月日稻谷检验原始记录第页共页样品编号检验依据GB1350-99检验日期样品特征描述检验项目检验方法标准GB/T5490-85,GB5491-85,GB/T5492-85,GB/T5493-85,GB/T5494-85, GB/T5495-85,GB/T5496-85,GB/T5497-85,GB1350-99 附录 A.使用仪器规格型号精度设备编号检定有效期温度C湿度%电子天平电子天平电热干燥箱检验项目12检验结果水分(%)W-W2=X 100W-W)容器编号%容器+样品烘前质量（g）W容器+样品烘后质量（g）W容器质量（g） W样品质量（g）试
6、验结果（%）出糙率(%)=(W1+W)-(Wi+W) +2X 100W稻谷试Wg生芽生霉粒剥 冗后糙米质量Wg%等级：样质量WgWg糙米 质量Wg糙米中不完 善粒质量Wg%W2gW g整精米率(%)=X 100WX (W2 + W)稻谷试样质量W g碾米机的取佳碾磨质量W g%WgW g糙米质量Wg整精米 粒 质 量W g%WgW g大样杂质()M=W W 100大样质量W(g)大样杂质质量W g%大样杂质M%小样杂质N:%杂质总量=W N%W g%小样杂质(%)N=(100-M)x(W+ W)小样质量W(g)小样杂质质量W g%W g%谷外糙米(%)=(100-M) x(W)小样质量W(g)
7、 大验谷外糙Wg,口%米检米原量始W记录第页共 页%十¥irtzr丄人VI人H丄匚样粒编米号%)试样质量检验依据WB1354-2UU9检验日H%样品特征描述0W(g)检验项目%检验方法标准GB/4 noT5490-2010,T camc7GB5491-198彳co匚can5)GB/T5492-2008,:rft cccq carruuc汨 /T5494-20彳co匚08,GB/T5496-198使色用泽仪器味卡EH去Q口一莎冬厶户 口一定有八效甘H沖0/使用仪器规格型 号精 度设备编号检疋有效H温览度匕湿度电子天平电子天平电热干燥箱注检验项目12检验结果容器编号%检验员：校核：年 月
8、 日水分()W-W2一X100W-W0容器+样品烘前质量(g)W容器+样品烘后质量(g)W容器质量(g) W样品质量(g)试验结果(%)糠粉杂质(%)A=W WX 100试样质量W(g)糠粉 质量W g%A:%B:%C:%杂质总量A+ B+ C%wg%矿物质含量()B=W2+ WX 100试样质量W(g)矿物质 质量wg%wg%其它杂质(%)C=3 WX 100试样质量W(g)其它杂质质量W3 g%W3 g%不完善粒(%) =(100- M)X (W1- W)W-不元善粒质量gW试样质量：gM-大样杂质百分率%未熟粒质量(g)%虫蚀粒质量(g)病斑粒质量(g)生霉粒质量(g)元整糙米质量(g)
9、不完善粒质量(W)试验结杲(小碎米含量A-呼 WX 100(%)试样质量W:gWg%wg%A-%B-%o A+B0 %大碎米含量B-加 WX 100(%)W:gWg%Wg%带冗稗粒(粒/kg)试样质量g12粒/kg稻谷粒(粒/kg)试样质量g12粒/kg黄粒米(%)-WX 100试样质量W(g)wg%Wg%加工精度按实物标准样品对照检验留皮程度色泽、气味、口味互混(%)试样质量粒粒%粒粒检验员：校核：年 月日样品编号检验依据GB1535-2003检验日期样品特征描述检验项目检验方法标准GB/T5524-2008,GB/T5525-2008,GB/T5526-1985,GB/T5527-1985
10、,GB/T5528-2008,GB/T5529-1985,GB/T5531-1985,GB/T15687-2008,GB/T22460-2008,GB/T15688- 2008 附录 A.B.使用仪器规格型号精度设备编号检定有效期温度C湿度%电子天平电子天平电子天平电热干燥箱罗维朋比色计液体比重天平阿贝折射仪检验项目检验数据检验结果色泽罗维朋比色槽(25.4mm)黄：红：黄：红：黄：红：罗维朋比色槽(133.4mm)黄：红：黄：红：气味、滋味透明度水分及挥发物()m-m2=X100mi-mo烘前称样皿+试样质量m(g)%烘后称样皿+试样质量m(g)称样皿质量m)(g)试验结果()不溶性杂质(%
11、)=W*WX 100试样 质量W:g杂质质量W:g%W:g杂质质量W:g%加热试验(280 C)烟点(C)1:2:C冷冻试验©C储藏5.5h)折光指数(n40)=nt + 0.00038 X (t - 40)油温在t C时 所测折光指数测定折光指数时的油温C相对密度(d 20)1:2：备注检验员：校核：年 月 日样品编号检验依据GB1355-1986检验日期样品特征描述检验项目检验方法标准GB/T5490-1985,GB5491-1985,GB/T5492-2008,GB/T5497-1985,GB/T5504-1985,GB/T5505-2008,GB/T5507-2008,GB/
12、T5508-1985,GB/T5509-2008,GB/T5506.2- 2008.使用仪器规格型号精度设备编号检定有效期温度c湿度%电子天平电子天平电子天平电热干燥箱面筋仪电动验粉筛磁性金属物检测器箱式电阻炉检验项目12检验结果水分()W1-W2M=x 100Wl-Wb容器编号M:%容器+样品烘前质量(g)W容器+样品烘后质量(g)容器质量(g) W样品质量(g)试验结果(%)加工精度按实物标准样品对照检验粉色麸星粗细度留存物()=W+ WX 100试样 质量W g全部通过CB 筛留存CB筛上W:g%)%)W g留存CB筛上W:g%灰分(干基%)W-W0=x10000WX (100 -M)试样质量W坩埚质量W坩埚+灰分质量 W) %)ggg:%ggg%湿面筋含量(m/m) =WX 860- (100-M)试样 质量g湿面筋质量Wg%(m/m)g湿面筋质量Wg%含砂量()=(W-W>)十 WX 100试样质量W坩埚质量W坩埚+细砂质量W) %)ggg%ggg%磁性金属物(g/kg)=(W-W>)十 WX 1000试样质量W坩埚质量W坩埚+金属物质量Wg/kggggg/kggggg/kg气味、口味备注检验员：校核：年 月 日