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1、1. 目的明确计量器具校准的工作内容和方法，保证识别该类计量器具的准确性和有效性。2. 适用范围适用于本公司内部产品生产和检测过程中使用的通用类千分尺。用于分度值0.01mm, 测量上限至 100mm 勺外径千分尺，测量上限至 10mm 勺板厚千分尺的首次校准、后续校准和使用中的校 准检验。3. 内容1. 参照引用标准： JJG 21-2008 千分尺检定规程 .2. 参考图示：千分尺是由尺架、 测站、测微螺杆、 测力装置、锁紧装置和读数装 It 尊组成口如图 E 2,4, 5 ，6 所示。1234567311 测砧为固定式的千分尺一尺茱注一测筍 構 1 難 1 杆皿一豪鬻單一圖足真靳6 按分
2、簡测力装覽估一隔耦裳 *图 2 测砧为可换式我可调式的千分尺1 一髓砧累囲糅旬吃一测砧*3 尺架津 一髓微擱杆百一韵力裳置汀一讀分糠诅一囲宦矍牺凶一锁獗装图 3 扳厚千分尺(a) 】一尺 架肩一测砧V薦倉郭杆討一焕賊要刻度禹榕甘订一同定套窃弘亠飲分筒沖一测力装置(b) 】一尺架说一测砧 4 槽微螺杆 M 極垂製置漳一固 定廷管帝 fflt 分側汀一测力鬟覽3. 校正环境：温度 (20 平衡温度时间不小于± 5 )C, 湿度不超过2 小时。70%RH校准前应将被校千分尺及其标准器具置于检具室内，4. 校正步骤4.1 外观目视检验4.1.1用汽油或煤油清洗千分尺内外油污，做好清理清洁。4
3、.1.2用目视检验，千分尺及其校对杆外部不得有碰伤和锈蚀，各部件是否有影响测量精度的缺失，如有零件缺损，配齐。4.1.3千分尺应有测量装置、调零工具、隔热装置和锁紧装置，标尺刻线应清晰均匀，允许有无影响准确度的外观缺陷。4.2 各部分相互作用微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡滞现象。调零和锁紧装置的作用应切实有效。带有表盘的板厚千分尺，表针移动应灵活，无卡滞现象。当千分尺测量下限调整正确后，微分筒上的刻线与固定套管纵线应对准相切，压线不大于0.05mm离线不大于 0.1mm.4.3 示值误差外径、壁厚、板厚千分尺的示值误差用2 级专用量块进行校准，各种千分尺的受检点分布于测量范围的5 点上如
4、表 1 所示，得出千分尺与量块尺寸的差值，各点上的示值误差应写在内校合格证的背面进行修正。对于测量范围大于25mm勺千分尺应以相应的千分尺测量下限的量块对零。拿取量块时，手不得碰两测量面，更不可与硬物撞击，要轻拿轻放。校准量测时，保持千分尺量测面与量块量测面应轻轻接触，注意施力刚好使量块在上滑动不可落下为止。4.4 千分尺如不良需调整时，校验员应判定是否可用或维修或降级使用，如条件不允许可委外修理。4.5 校准完毕，应根据判定标准将合格标识黏贴到量具上，并出具内校合格证。将结果记录于世纪公司计量器具档案。4.6 校验周期校验周期一般为 A 类 3 个月、 B 类为 6 个月，其他情况根据使用频
5、次等各种因素进行动态校准。表 1各种千分尺受检点测量范围 /mm受检点尺寸 /mm0? 102.12 ，4.25 ，6.37 ，8.50 ，100? 153.12 ，6.24 ，9.37 ，12.50 ，150? 255.12,10.25,15.37, 20.5，25或 5.12,10.24,15.36,21.5,25大于 25A+5.12, A+10.25, A+15.37, A+20.5，A+25A+5.12, A+10.24, A+15.36, A+21.5, A+25注：表中千分尺的测量下限4.7 判定标准可根据计量器具的厂内使用环境和量具使用等级，进行适当调整5.0 结论根据校准结果判定，根据管理类别贴上准用标贴及填写内校合格证，否则为不合格 ，如不合格时根据其实际情况做出维修和报废处理或降级使用，维修后须再做校准。编制:审核:批准: