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1、练习三：顺序测试 并行测试 自动协调并行测试目标：在实际应用中，为了提高测试效率，节省测试时间，往往需要同时进行多个DUT的并行测试，在Teststand环境中，只需要轻松配置，即可实现并行测试及自动协调并行测 试。图1完整练习硬件平台：任意波形发生器PXI-5421,示波器PXI-5122,矩阵开关模块PXI-2532接线盒TB-2641,接线盒SCB-264X数字万用表PXI-4071,1KOhm电阻两个（电阻A,电阻B）。硬件连接：1 .连接TB-2641接线盒与SCB-264X8线盒：一端连接在TB-2641接线盒的J3排线端，一端连接在SCB-264X8线盒Lower J3排线端。2
2、 .在SCB-264X1安装电阻：将电阻A两端分别连接在SCB-264XR线盒的和；将电阻B两端分别连接在SCB-264X8线盒的和。3 .在 SCB-264X1连接 PXI-4071:将PXI-4071的正极（红色）连接在 SCB-264腹线盒的；将PXI-4071的负极（黑色）连接在 SCB-264腹线盒的。4 .直连信号发生器和示波器。将 PXI-5421 Arb的 CH0直接连接到 PXI-5122 Digitizer的 CH1 上。图2系统架构顺序测试操作步骤：1 .启动 Teststand,打开练习二所保存的 resistor 文件，选择 File>>save aSB
3、resistor 另存为Ex3o2 .按照下面步骤确认Teststand中的执行模式为顺序执行。a.在菜单栏中选择 Configure ? Station Optionsb.选择Model标签，在Station Model中选择。c.保存设置。3 .修改resistor test配置，使其可以自动切换测试不同 DUT。a.选中 resistor testb. 在 Step Settings中，选择 Properties 选项卡。c.选择 Switching,在 Router（s） to Connect中填入："RouteGroup"+Str ）,如下图所 示。d.在Conn
4、ection Lifetime下拉框中选择Step项，如下图所示。图 3 配置 resisitor test的 switch 设置4 .插入一个Pass/Fail Test并重命名为frequency test。如下图所示。图4插入Pass/Fail Test测试序列5 .选才F Frequency Limit为该项测试指定的VI模块。a.在 Step Settings标签下选择 Module。b.点击可按键，从Support Files文件夹路径中选择Frequency Limit。弹出对话框， 点击确定。c. VI加载后，窗口的右侧有该 VI的图标，并同时显示出输出端子 Test Pass
5、ed?点 击表达式对话框按键。图5为Pass/Fail Tes甘旨定测试 VId.在弹出的表达式对话框中选择选项，点击Insert按键确定。图6使用函数表达式对话框6 .在Sequences面板中鼠标右键单击，选择Insert Sequence新建一个序列，命名为 resistor test seq, 如下图所示。图7新建一个测试序列7 .将主序列中的resistor test拖到resistor test seq序列中，并在该序列中加入延时单 元 wait。a.如下图所示进行拖动。按住鼠标左键将resistor test拖到Sequences面板中的resistor test seq上(保持
6、鼠标按住不放)，待左侧序列面板自动切换到resistortest seq序列时，再将resistor test拖回至U该序歹U的main部分，最后释放鼠标按 键。图8将主序列中的测试步骤拖到新序列中b. 在 resistor test 步骤下方右键单击，选择 Insert Step>>Synchronization>>Wait 如 下图所示。图9给序列添加延时单元Waitc.配置 Wait。在 Wait Settings 中选择 Time Interval,在 Specify the Amount of time to wait (in seconds)中写入数字5,表
7、示等待5秒，如下图所示。图10配置Wait8 .在resistor test seq新序列中加入For循环。a.在Main上右键单击，按照下图添加 For循环。图11给序列中加入For循环b.将resistor test与 Wait拖入到For与End之间,如下图。图12序列界面9 .配置For循环次数。为了做到这一点，需要创建一个局部变量。a.在序列中选中For,在Step Settings中选择For Loop选项卡，点击 Expression Browser dialog按键，如下图所示。图13配置For Loop设置b.弹出Expression Browser对话框，在Locals中选
8、择Insert Number创建一个数据变 量。图14使用表达式对话框c.将刚创建的Local重命名为Loops,点击Insert,最后点击check键确认无误。图15创建变量d. N Number of Loops中输入2,配置好后的For Loop设置如下图所示。图16设置循环次数10 .将resistor test seq序列作为子序列插入到 MainSequence中。a.如下图所示，先在 Sequence面板中切换到 MainSequence,然后在frequency test 下方插入一个 sequence call 并重命名为 resistor testo图 17 插入 sequ
9、ence callb. 在 Step settings 中选中 Use Current File, Sequence中选择 resistor test seq。图 18 配置 sequence call11 .执行整个序列文件。选择 Execute?Single Pass 观察至U Frequency Limit Test和 resistor test 依次执行。12 .观察测试报告，以及代码执行时间。13 .保存该测试序列。并行测试操作步骤：1 .打开上面实验所保存的Ex3,选择File>>save a©等其另存为Ex32 .在主序列的Setup部分，创建两个Lock步
10、骤，用来避免并行测试硬件资源冲突。a.在MainSequence中的Setup部分右键新建一个 Lock,如下图所示。图19新建Lockb.酉己置 Lock,在在 Lock Settings 中 Operation 选择 “Create” , Lock Name Expression填写 “Arb”，“Digitizer"，如下图所示。图20配置Lockc.重复上面的步骤，新建另一个“ DMM”的Lock,配置好后的序列如下图所示。图21创建两个Lock后的序列3 .在Main部分加入Lock,保护硬件资源。a.在frequency test步骤前面右键新建一个 Lock,方法同步骤
11、。b.酉己置 Lock。在 Lock Settings 中 Operation 选择 “ Lock' , Lock Name Expression选 择 “Arb” , “Digitizer”。c.在frequency test步骤后面新建一个 Lock,重命名为 Unlock,在Lock Settings中 Operation 选择 “Early Unlock' , Lock Name Expressions择 “Arb" ;Digitizer” .d.重复上面的步骤a至1J c,为resistor test添力口 “DMM”的Lock和Unlock,配置好 后的序
12、列如下图所示。图22完全配置好的序列4 .配置 TestStand 中的运行模式(process model)为 BatchModel。a.选择菜单栏 Configure ? Station Options,选择 Model 选项卡。b.在Station Model下拉菜单中选择如下图所示。图23配置运行模式5 .进一步配置 BatchModel.a.选择 Configure ? Model Options.b.在Number of Test Sockets中填写2,如下图所示。图24酉己置Batch Model6 .执行该序列文件。选才E Execute?SinglePass观察到两个测试序
13、列并行执行。7 .观察测试报告，以及代码执行时间。8 .保存该测试序列。自动协调并行测试操作步骤：1 .打开上面实验所保存的Ex3,选择File>>save asl等其另存为Ex3。2 .创建一个 Auto Schedulea.在MainSequence序歹!J的Main部分，右键单击创建一个 Auto Schedule,如下图 所示。图 25 创建一个 Auto Scheduleb. 选中 Use Auto Scheduled Resource,酉己置 Auto Scheduled Resource Settings, 在 Resource Lock Alternatives中填
14、写 “ Arb”，“Digitizer” 如下图所示。图 26 配置 Auto Scheduled Resourcec.将 frequency test 拖入至U Use Auto Scheduled Resource口 End之间，如下图。图 27 拖动 frequency testd.在 Auto Schedule 中右键创建另一个 Use Auto Scheduled Resource 如下图。图 28 创建另一个 Use Auto Scheduled Resourcee.酉己置 Auto Scheduled Resource Settings,在 Resource Lock Alter
15、natives 中填写 “DMM”。f.将 resistor test 拖入到新建的 Use Auto Scheduled Resourc更中。g.配置完成后，序列应如下图所示。图29配置完成后的序列3 .配置 TestStand 中的运行模式(process model)为 BatchModel.a.在菜单栏中选择 Configure ? Station Options,选择Model选项卡。b.在Station Model下拉菜单中选择如下图所示。图30配置运行模式4 .进一步配置 BatchModel.a.选择 Configure ? Model Options.b.在Number of Test Sockets中填写2,如下图所示。图31酉己置Batch Model5 .执行该序列文件。选才E Execute?Single Pass观察到两个测试序列并行执行。6 .观察测试报告，以及代码执行时间。7 .保存该测试序列。