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1、IC （集成电路）检验标准 文件编号 BC-QM-015 生效日期 批准 审核 拟制 版本/修订 号 制订部门 品质部 1.0 目 的：为使 IC （集成电路）来料符合本厂之产品要求，特制定检验和判定标准。 2.0 范 围：适用本公司所有 IC （集成电路）检验 3.0 检验环境：在正常光源下，距 30CM 远，以 45视角观看产品。 1.0 检验标准：GB/ 正常检验一次抽样方案，一般检验水平级，特殊检验水平 S-3 之 AQL 值 CR=0 MA= MI=进行抽样检查 检验 项目 检验内容 检验方 法及工 具 /、 判定标准 CR MA MI 外观 1、表面字符丝印清晰、完整，易于识别，丝
2、印无模糊、错误 丝印、漏丝印、重影不良。 目视、 放大镜 V 2、无变形、严重划伤、缺料，无表面污渍现象。 V 3、元件脚无连脚、脱落、氧化现象。 V 4、兀件脚在同一平面，无变形、偏位 。 V 结构 1、按照承认书标注尺寸要求，进行尺寸检查。 承认 书、试 装 V 2、封装样式符合承认书及样板。 V 包装 1、根据来料单据及承认书核对来料包装方式、数量，确认来 料标示清楚、完整。 来料单 据、 承 认书、 目视 V 2、不可有短装、混料、包装脏污等不良现象。 V 3、针对散装物料要求包装完好，防静电，真空包装需完好，无 破损、漏气不良。 V 可焊 性 在炉温 250 5 C状态下将稳压二极管引脚浸入锡炉 2 +观察引 脚上锡率95% 锡炉 V 备注：1 拿取时需戴手套; 2.可焊性按每批次 10PCS 抽取。