《计数型SP.ppt》由会员分享，可在线阅读，更多相关《计数型SP.ppt（40页珍藏版）》请在三一文库上搜索。
1、,08-1,计数型SPC培训教材,计数型SPC,学习目的,计数型数据计数型数据的控制图 . p chart p图 . np chart np图 .c chart c图 .u chart u图,计数型术语,计数或离散型数据 。数据由记数或分类产生(好/不好,合格/不合格/通过/通过)数据的取值为有限个数,08-2,计数型术语, 缺陷: 。不满足规格要求的质量特性 。一个产品会具有一个或多个缺陷 。 它可能会也可能不会影响产品性能或对客户规格的符合性 不良品: 。包含一个或多个影响产品性能或规格的缺陷产品,08-3,缺陷与不良品,缺陷与不良品,08-4,计数型控制图表的使用,计数型控制图是以展示检
2、查结果看检查产品质 量是已经改变. 它是用来监控质量水平并寻找改善机会 。通过在一个计数型控制图上展示缺陷模式,它可以用来确定模式 中的变化是由普便原因引起 或是由特殊原因引起.在技术和服务领域皆可应用. 。技术: 使用p图和np图 。服务: 使用c图和u图 最大的困难是决定不良品,计量型控制图的优点&缺点,优点 。收集数据不用花费太多的时间和成本 。当对某一过程的关键输入变量不了解,但已确定客户要求及建立检验系 统侦察缺陷的发生,可用计数型控制图对该过程的稳定性进行监控缺点 。一个产品可能包含多种缺陷,由此该图表: 关于是什么导致失控情况提供很少信息或甚至乎无信息. 由于其它类型的缺陷水平高
3、而会掩饰因一种类型缺陷引起的过程失控. 。与计量型控制图相比较,需要大量样本(30)以有效地侦测过程偏移.,统计分布,08-5,计数型控制图是用来监控缺陷数或不良品率(或不良品) 。缺陷数遵循泊松分布 。不良品率(或不良品)遵循二项式分布,计数型控制图类型,固定批量 不定批量,缺陷 泊松分布 不良品百分比 二项式分布,有4种计数型控制图类型,计数型控制图的应用,08-6,选择适当的控制图,C-Chart测量一个子集中的总缺陷数 。如果一个产品会有大量缺陷,子集大小可以是1个单位产品要求一个固定的子集大小U-Chart 测量产品的单位缺陷数子集大小可以不定,08-7,选择适当的控制图,P-Cha
4、rt测量一个子集中的有缺陷单位的比例 子集大小可以不定np-Chart 测量一个子集中有缺陷产品的数量要求一个固定的子集大小,计数型控制图:p-chart,P=Fraction Defective 不良品分数,P图是画出样本中不良品比例的计数型控制图,它是有最多用途也是被使用最多的计数型控制图. 通常不需要特别的测量而且P图的测量成本通常比计量型控制图的成本要低.但是一般需要很大的样本容量.品质越好,需要找出失控状况的样本容量越大.,例题1: Minitab创建P图,08-8,打开文件ATC.mtw1.选择图表类型: p-chart2.选择变量:不良品数,例题1: Minitab创建P图,问题
5、:该过程受控吗?,P图控制限,08-9,创建P图,打开文件ATC.mtw查看结果建立中心线 由题意知: n1=n2=n3nk=50 p= 0.2729,08-10,创建P图,P图练习1,打开:P1.mtw,选项及结果,08-11,P图练习2,22,打开: “ P2.mtw”每个月的不良品情况如表,C1为每日检查数量,C2为不良品数量,请画出不良品率的情况.,Np-chart:不良品数量,08-12,Np=Number of Defective 不良品数量 np chart 是一种计数型控制图,其描绘子集中的不良品数量.子集样本大小必须相等或充分近似到可当作相等.由于不需要计算就能画出过程性能图
6、,np charts 在现场使用比较容易.,np Chart 控制界限,例题,08-13, 对于文件ATC.mtw中的数据.我们可以使用一个不同的控制图来控 制该过程吗?,用Minitab创建np图,用Minitab创建np图,08-14,np图练习,打开: “ np.mtw”每个月的不良情况如表,C1为每日检查数量,C2为不良数量,请画出不良品数的情况.,C-Chart:缺陷数量,08-15,C=Number of Defect缺陷数量c chart是一种计数型控制图,其画出一个样本中的缺陷数量.当所有样本大小相同时它是一个实用的替代方法.当在一个产品上的可能缺陷很多,而任何一个缺陷的百分比
7、却小时该图表最为有效.C chart是基于泊松分布,C chart控制界限,C图练习1,08-16,C图练习1,08-17,C图练习2,打开: “ C2.mtw”每个月的缺陷情况如表,C2为每日检查数量,C1为缺陷数量,请画出缺陷数的情况.,u-chart:每单位的缺陷数量,u=Number Defects per Unit每单位的缺陷数量 u chart 是一种画出一个样本中的每单位缺陷平均数的计数型控制图.当几个独立的缺陷可能在同一产品出现时,该控制图非常有用. u chart 最常用于复杂装配产品.由于必须计算出每个样本的单位缺陷,其现场使用有些困难.与c chart一样,u chart是基于泊松分布,u-Chart 控制界限,08-18,u图练习1,选项及结果,08-19,u图练习2,选项及结果,08-20,建议,当每产品存在多种缺陷和有很高发生率的缺陷时,应该对那些缺陷 使用不同的控制图.这种方法使了解和消除特殊原因更为容易.只有当有充分证据显示过程已得到改善时才可重新计算控制界限.当收集新数据时不要重新计算控制界限.若缺陷水平上升不要重新计算控制界限,即使其在新的水平上显示 出统计上受控.这将促使我们调查并找出导致更高缺陷水平的原因.最终目标是随着时间推移改善过程以致降低缺陷水平并缩小控制界 限.当我们使用计数型控制图时两者会同时发生.,