SPC统计过程控制培训教材.ppt

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1、SPC（统计过程控制）培训教材 Statistical Process Control,作成：Jack 日期：2010.07.20,SPC统计过程控制培训教材,课 程 大 纲,一、什么是SPC 1、SPC的含义 2、SPC的作用与特点 二、基本的统计概念 1、主要的统计学名词 2、正态分布的基本知识 3、主要统计参数三、持续改进及SPC概述 1、过程控制控制的是什么 2、局部措施和对系统采取措施 3、控制图四、管制图的种类五、计数型数据管制图 1、p 图/不良率控制图 2、np图/不合格品数控制图 3、c 图/不良（缺陷）数控制图 4、u 图/单位不良（缺陷）数控制图六、计量型数据管制图,1、

2、与过程相关的管制图 2、使用控制图的准备 3、 X bar-R 图 4、 X bar-s 图 5、 X med-R图 6、 X -Rm图七、管制图的选择方法八、过程能力分析及管制图的判读 1、过程能力分析 2、管制图判读,SPC统计过程控制培训教材,一、SPC的含义,1、什么是SPC SPC -Statistical Process Control (统计过程控制） 含义-利用统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而达到保证产品质量的目的。,SPC统计过程控制培训教材,2、SPC的作用与特点 作用： -确保制程持续稳定、可预测。 -提高产品质量、生产能力、降低成本。 -为制程分析提供依据。 -

3、区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措施或对系统采取措施的指南。 特点： -SPC是全系统的，全过程的，要求全员参加，人人有責。这点与TQM的精神完全一致。 -SPC強调用科学方法(主要是统计技术，尤其是控制图理论来保证全程的预防。 -SPC不仅用于生产过程，而且可用于服务过程一一切管理过程。,SPC统计过程控制培训教材,二、基本的统计概念,1、主要的统计学名词-1,SPC统计过程控制培训教材,2、正态分布的基本知识,在中心线或平均值两侧呈现对称之分布常态曲线左右两尾与横轴渐渐靠近但不相交曲线下的面积和为 1如下例：,例：100个螺丝直径直方图。图中的直方高度与该组的出现频数成正比,螺丝

4、直径直方图 直方图趋近光滑曲线,SPC统计过程控制培训教材,将各组的頻数用资料总和N=100相除，就得到各组的频率，它表示螺丝直径属于各组的可能性大小。显然，各组频率之和为1。若以直方面积来表示该组的频率，则所有直方面积总和也为1。,在极限情况下得到的光滑曲线即为分布曲线，它反映了产品质量的统计规律，如分布曲线图所示.,正态分布中，任一点出现在1內的概率为： P(-1X +1) = 68.27% 2內的概率为 ：P(-2X +2) = 95.45% 3內的概率为： P(-3X +3) = 99.73%,SPC统计过程控制培训教材,正态分布有一个结论对质量管理很有用，即无论无论均值和标准差取何值

5、，产品质量特性值落在3之间的概率为99.73。于是落在3之外的概率为100%一99.73%= 0.27%。而超过一侧，即大于-3或小于+3的概率为0.27%/2=0.135%1 。如正态分布曲线图。这个结论十分重要。控制图即基于这一理论而产生。,红色代表实际制程分布形态,蓝色代表规格分布形态,SPC统计过程控制培训教材,3、主要的统计参数,用于制程特征分析的参数Ca： 制程准确度Cp： 制程精密度/潜力Pp： 初期制程潜力Cpk： 制程能力Ppk： 初期制程能力PPM： 百万分之不良率Sigma s：規格标准差Sigma a：制程标准差Sigma p：样本标准差,用于品质管制图分析的参数XUC

6、L：X bar管制图的管制上限 Xbar：Xbar管制图的中心值XLCL：Xbar管制图的管制下限RUCL：R管制图的管制上限Rbar：R管制图的中心值RLCL：R管制图的管制下限,平均数、中位数、众数、全距、平方和、变异数、及标准差的计算平均数(X bar) X bar=(x1+x2+x n)/N中位数(Me) 将数据从小到大或大至小依次排列，位居中央的数称为中位数。众数(Mo) 一群数据中，再现次数最多的数。全距(R) 一组数值中最大值与最小值之差：R=Max-Min平方和 (S) 各数值与平均值之差之平方总和： S=(X-X)2变异数 V(X) 平方和除以数据个数： V(X)= S/n=

7、 (X-X)2 /n标准差 () 变异数之开方：=V= S/n = (X-X)2 /n,SPC统计过程控制培训教材,标准差的计算 -規格標準差 s 读做Sigma Spec,-制程标准差a 读做Sigma Actual,-样本标准差p 读做Sigma Pattern,SPC统计过程控制培训教材,制程准确度Ca Capacity of Accuracy,Ca = L1 /L2L1 = X SLL2 = (USL LSL)/2,制程准确度Ca的等级解说,Ca等级处置原则：A级：作业员遵守作业标准操作并达到规格的要求。B级：有必要时可能将其改进为A级。C级：作业员可能看错规格没按操作标准作业或检讨规

8、格及作业标准。D级：应采取紧急措施，全面检讨所有可能影响的原因，必要时得停止生产。 以上仅是些基本原则，在一般应用上Ca如果不良时，其对策方法是以制造单位为主，技术单位为副，品管单位为辅。,SPC统计过程控制培训教材,Cp：是一个关键制程指数，为标准公差范围与6个SIGMA的比值，Cp的 计算应该在制程已达到管制状态时进行。,制程精密度/潜力-Cp (Process Potential),制程精确度/潜力Cp的等级解说,Cp等级处置原则：A级：制程甚稳定，可以将规格公差缩小或胜任更精密的工作。B级：有发生不良品的危险，必须加以注意，并设法维持不要使其变坏及迅速自查。C级：检讨规格及作业标准，可

9、能本制程不能胜任如此精密的工作。D级：应采取紧急措施，全面检讨所有可能影响的原因，必要时得停止生产。 以上仅是些基本原则，在一般应用上Cp如果不良时，其对策方法是以制造单位为主，技术单位为副，品管单位为辅。,SPC统计过程控制培训教材,制程能力综合指数Cpk,Cpk是综合Ca (k)及Cp两者的指数计算为：当Ca =0時，Cpk =Cp；单边规格时：Cpk即为Cp的绝对值,A级：制程能力充足B级：制程能力尚可，仍需努力C级：制程能力需要改善,Cpk = (规格上限 Xbar ) / 3a 或 ( Xbar 规格下限 ) / 3a 两者取小值,SPC统计过程控制培训教材,初期制程潜力Pp,- P

10、p初期制程潜力，为一项类似于Cp的指数，但本项指数的计算，是以新制程之初期短程性研究所得的数据为基础，取得的制程数据，至少应包括该制程初期评估时的二十组数据，但计算时，应定义“样本标准差”而进行,初期制程能力Ppk Preliminary process capability,- Ppk初期制程能力，为一项类似于Cpk的指数，但本项指数的计算，是以新制程之初期短程性研究所得的数据为基础，取得的制程数据，至少应包括该制程初期评估时的二十组数据，但计算时，应于取得的数据足以显示制程至于稳定状态时实施。,SPC统计过程控制培训教材,三、过程控制,1、过程控制控制的是什么？ 过程控制是整个生产（服务）

11、过程中各种变差的控制。变差所产生的原因可 分为普通原因和特殊原因。 普通原因：是指过程在受控的状态下，出现的具有稳定的且可重复的分布过 程的变差的原因。普通原因表现为一个稳定系统的偶然原因。只有过程变差 的普通原因存在且不改变时，过程的输出才可以预测。 特殊原因：（通常也叫可查明原因）是指造成不是始终作用于过程的变差的 原因，即当它们出现时将造成（整个）过程的分布改变。只有特殊原因被查 出且采取措施,否则它们将继续不可预测的影响过程的输出。 过程控制所控制的正是影响过程输出的特殊原因。,如果仅存在变差的普通原因，随着时间 的推移，过程的输出形成一个稳定的分 布并可预测如果存在变差的特殊原因，随

12、着时间的 推移，过程的输出不稳定。,范围,范围,目标值线,预测,预测,目标值线,SPC统计过程控制培训教材,2、局部措施和对系统采取措施,局部措施通常用来消除变差的特殊原因通常由与过程直接相关的人员实施通常可纠正大约15%的过程问题对系统采取措施通常用来消除变差的普通原因几乎总是要求管理措施，以便纠正大约可纠正85%的过程问题,3、控制图,收集 收集数据并画在图上控制 根据过程数据计算实验控制限识别变差的特殊原因并采取措施分析及改进 确定普通原因变差的大小并采取减小它的措施 重复这三个阶段从而不断改进过程,SPC统计过程控制培训教材,3、控制图,收集 收集数据并画在图上控制 根据过程数据计算实

13、验控制限识别变差的特殊原因并采取措施分析及改进 确定普通原因变差的大小并采取减小它的措施 重复这三个阶段从而不断改进过程,控制图的益处： 供正在进行过程控制的操作者使用 有助于过程在质量上和成本上能持续地，可预测地保持下去 使过程达到： 更高的质量 更低的单件成本 更高的有效能力 为讨论过程的性能提供共同的语言 区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措施或对系统采取措施的指南,SPC统计过程控制培训教材,四、控制图的种类,SPC统计过程控制培训教材,五、计数型数据控制图,1、P图/不良率控制图, P图是用来测量在一批检验项目中不合格品（缺陷）项目的百分数。 步骤： 1收集数据，选择子组容量

14、、频率 和数量： -子组容量：需足够大(最好能恒定)，并有包含几个不合格品。 -分组频率：根据实际情况，兼容量大和信息反馈快的要求。 -子组数量：收集的时间需足够长，使得可以找到所有可能影响到过程 变差源，一般为25组 2计算每个子组的不良率(P)： P=np /n 3选择控制图的座标刻度并将不良率绘到图上。 4计算管制界限： -计算过程不良率(P bar): P bar=（n1p1+n2p2+nkpk）/ (n1+n2+nk),-计算控制上、下限(P bar):,SPC统计过程控制培训教材,5划线并标注: 过程平均（P）为水平实线，控制限（USL； LSL）为虚线。 (初始研究时，这些被认为

15、是试验控制限。）,SPC统计过程控制培训教材,2、nP图/不合格品数控制图,采用时机： -不合格品的实际数量比不合格品率更有意义或更容易报告。 -各阶段子组的样本容量相同。,3、C图/不良(缺陷)数控制图,采用时机： -C图用来测量一个检验批内的不合格（的缺陷）的数量，C图 要求样本的容量恒 定或受检验材料的数量恒定，主要用于以下两类检验： 1不合格分布在连续的产品流上（如：每条尼龙上的瑕疵，玻璃上的气 泡或电线上绝缘层薄的点），以及可以用不合格的平均比率表示的地 方（如100平方米上的缺陷） 2在单个的产品检验中可能发现不同 原因造成的不合格。,SPC统计过程控制培训教材,4、u图/单位不良

16、(缺陷)数控制图,采用时机： -u图用来测量具有不同的样本（受检材料的量不同）的子组内每检验单 位产品之内的不合格数量（可以用不良率表示）。,SPC统计过程控制培训教材,六、计量型数据控制图,1、与过程相关的控制图,过程,计量单位：(mm, kg etc),不精密,测量方法必须保证始终产生准确和精密的结果,不准确,准确,精密,SPC统计过程控制培训教材,2、控制图的准备,建立适合于实施的环境 -排除阻碍人员公正的因素 -提供相应的资源 -管理者支持定义过程 根据加工过程和上下使用者之间的关系，分析每个阶段的影响因素。确定待控制的特性。应考虑到： -顾客的需求 -当前及潜在的问题区域 -特性间的

17、相互关系,确定测量系统 -规定检测的人员、环境、方法、数量、频率、设备或量具。 -确保检测设备或量具本身的准确性和精密性。使不必要的变差最小 -确保过程按预定的方式运行。 -确保输入的材料符合要求。 -恒定的控制设定值。注：应在过程记录表上记录所有的相关事件，如：刀具更新，新的材料批次等，有利于下一步的过程分析。,SPC统计过程控制培训教材,3、X bar-R图,计算各样组的平均数 计算这些组平均数的平均数,各常数值如下:,SPC统计过程控制培训教材,4、X bar-s图,计算各样组的平均数 计算这些组平均数的平均数,各常数值如下:,SPC统计过程控制培训教材,5、X med-R图,计算各样组

18、的中位数 计算这些组中位数的平均数,各常数值如下:,SPC统计过程控制培训教材,6、X-Rm图,各常数值如下:,SPC统计过程控制培训教材, 过程能力的定义製造程序潛在精度的測定，以衡量加工的一致性製程加工品質在一定因素與正常管制狀態下滿足技術標準的程度 基本精神將製程能力計量化將測得的製程能力與品質要求作比較,SPC统计过程控制培训教材,七、管制图的选择方法,确定要制定控制图的特性,是计量型数据吗？,关心的是不合格品率？,关心的是不合格数吗？,样本容量是否恒定？,使用np或p图,使用p图,样本容量是否桓定？,使用c或u图,性质上是否是均匀或不能按子组取样例如：化学槽液、批量油漆等？,子组均值

19、是否能很方便地计算？,使用中位数图,使用单值图X-MR,是,使用u图,否,是,是,是,是,是,是,否,否,否,否,否,子组容量是否大于或等于9？,是否能方便地计算每个子组的S值？,使用XR图,使用XR图,使用X s图,是,是,是,否,否,SPC统计过程控制培训教材,八、过程能力分析管制图判读,1、过程能力分析, 过程能力分析的用途 -設計部門可參考目前之製程能力，以設計出可製 造的產品 -評估人員、設備、材料與工作方法的適當性 -根據規格公差設定設備的管制界限 -決定最經濟的作業方式,SPC统计过程控制培训教材,2、管制图判读,判斷失控的規則樣本點落在管制界限之外連續9點在同側的C區或C區之外,連續6點以上持續地上升或下降,SPC统计过程控制培训教材,連續11點交互一升一降,相連3點中有2點在同側的A區或A區之外,相連5點中有4點在同側的B區或B區之外,SPC统计过程控制培训教材,