光学测试第一章4节.ppt

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1、第一章 基本光学测量技术,第三节 焦距和顶焦距的测量,3 焦距和顶焦距的测量,由于科学技术的相互渗透，现代光学仪器已是光、机、电的装置，而透镜作为光学仪器的基本单元，组成各种物镜和光学系统，不仅用于目视成像系统，而且在光电、电视摄像、遥感等诸多技术中，已作为图像或能量的转换器广泛使用。 转换过程的放大、聚焦作用，主要取决于光学系统的焦距。光学系统和透镜的重要参数-焦距迄今已有多种行之有效的测量方法。 以几何光学成像理论为基础的测量方法：,3 焦距和顶焦距的测量,以几何光学成像理论为基础的测量方法： 1、放大率法-是以几何光学原理为基础的最基本的测量 焦距和顶焦距的方法。 2、自准直法和附加透镜

2、法-为了提高测量正负透镜顶焦 距和焦距的精度。 3、精密测角法-当对较大口径光学系统或透镜的焦距要 求很准确。 4、附加接筒法-对于短焦距（如显微物镜的焦距）。 5、固定共轭距离法、附加已知焦距透镜法、反转法 有时也会用到。,3 焦距和顶焦距的测量,基于物理光学原理的一些测量焦距的新方法。 1、光栅法测量透镜焦距。 2、激光散斑法测量透镜焦距。 3、莫尔条纹同向法测量透镜焦距。 本节中主要介绍放大率法测量焦距和顶焦距，这是目前在 生产中最常用的测量透镜焦距的方法，因为它可以在光具座 上实现，所需设备简单，测量操作比较方便，测量准确度较 高。另外还将介绍一种现代光学研究中常用的光栅法测量透 镜焦

3、距，这是方法可在全息和信息处理实验装置上测量焦 距，而且具有较高的准确度。,3 焦距和顶焦距的测量,不管采用那种方法，为了达到预期的测量精度，都要 注意以下几点： （1）平行光管、被测透镜和观测系统三者的光轴基本重合； （2）通过被测透镜的光束尽可能充满被测透镜的有效孔径。 观测系统也尽可能不切割被测透镜的成像光束； （3）平行光管焦距最好为被测透镜焦距的2-5倍； （4）测量时，最好按被测透镜实际工作状况安排测量光路。 例如作望远物镜用的双胶合透镜，若工作时是它的正透镜对 向无限远物体，测量时就应使它的正透镜对向平行光管或前 置镜。如果反了，就会像差增大而影响测量结果。,3 焦距和顶焦距的测

4、量,（5）测量焦距时所用的分划板往往刻有成对的刻线，安置 分划板时，应使光轴通过这些成对刻线的对称中心。最外面 一对刻线的间距应远小于平行光管的有效视场范围。否则轴 外像差将严重影响测量结果。 （6）如果测量时观测系统的出瞳直径等于或大于2mm，则调 焦时不仅要成像清晰，而且有无视差。,3 焦距和顶焦距的测量 一、放大率法,放大率法是目前最常用的方法，这种方法主要用于测量望 远物镜、照相物镜和目镜的焦距和顶焦距，也可以用于生产 中检验正、负透镜的焦距和顶焦距。 （一）测量原理 被测透镜位于平行光管物镜前，平行光管物镜焦面上的分 划板的一对刻线就成像在被测物镜的焦面上。这一对刻线的 间距 和它的

5、像的间距 与平行光管物镜焦距 和被测透镜 焦距 的关系： 而：,3 焦距和顶焦距的测量 一、放大率法,所以： 式中 和 是可以预先准确测定的。只要测出刻线像的间距 再乘以已知系数 ，即可得到被测透镜焦距 。,平行光管物镜,被测物镜,显微镜,3 焦距和顶焦距的测量 一、放大率法,负透镜焦距的测量，其光路如图所示，焦距计算公式为： 注意：由于负透镜成虚像，用测量显微镜观测这个像时，显 微镜的工作距离必须大于负透镜的焦距，否则看不到刻线像。,3 焦距和顶焦距的测量 一、放大率法,（二）用GXY-08A型光具座测量的测试技术 以焦距210mm、相对孔径1/4.5的照相物镜为例说明其主要测 试技术。 照

6、相物镜装在透镜夹持架上，它工作时的物方对向平行光 管，并注意不要使其光轴倾斜。平行光管用玻罗分划板，它 上面的4对刻线的间距分别为30mm、12mm、6mm、3mm。调好 它的伸缩筒的零位。 根据被测物镜焦距的名义值210mm（也可以是粗略估计值） 可知最外一对刻线在被测物镜焦面上的间距约为5mm，小于 目镜测微器的测量范围，因此测量显微镜可以选用 显微 物镜，其工作距离约为190mm。,3 焦距和顶焦距的测量 一、放大率法,（二）用GXY-08A型光具座测量的测试技术 轴向移动透镜夹持器，用一张描图纸承接被测物镜焦面上 的刻线像，当清晰的像距离显微物镜约190mm时，固紧夹持 器底座，在用显

7、微镜对刻线像小量调焦，以看到清晰无视差 的刻线像为准，这时显微镜已调焦在被测物镜的后焦面上。 上下和横向移动显微镜使刻线像成像在视场中央，再绕 自身光轴转动显微镜，使目镜测微器活动分划板的竖线与刻 线像平行。 用目镜测微器测出某对刻线像 的间距 ，即可计算出被测物镜 的焦距 。,0,5,15,10,20,25,30,3 焦距和顶焦距的测量 一、放大率法,（二）用GXY-08A型光具座测量的测试技术 轴向移动显微物镜到调焦在照相物镜最后一个表面的顶点 上（即清晰看见透镜最后一个表面上的灰尘和脏点），移动 的距离即为照相物镜的后顶焦距。 将镜头调转180，用与测后顶焦距相同的方法测出前顶焦 距。

8、为了简化焦距的计算，要求目镜测微器测 时得到的读数 再乘以整数，就等于被测焦距值，为此，需要合理选择光具 座的一些参数，因为GXY-08A型光具座的目镜测微器的读数 为实际的4倍，所以当测某对刻线像的间距 得到读数为D 时，设显微物镜的垂轴放大率为 ，则 。,3 焦距和顶焦距的测量 一、放大率法,（二）用GXY-08A型光具座测量的测试技术 代入式（1-29），得到被测焦距与D的关系式为： 式中 为仪器常数，以 表示，于是得： 要使 等于整数，必须使 为 的整数倍。表1-2给出 GXY-08A型光具座（ ）的六种放大率 和4对刻线 间距 对应的 值。,3 焦距和顶焦距的测量 一、放大率法,（二

9、）用GXY-08A型光具座测量的测试技术 被测正透镜的焦距最大值受仪器导轨长度的限制；负透镜 焦距的最大值则受显微镜工作距离的限制。表1-2所列的焦 距测量范围是根据导轨长度只有2m，显微镜的工作距离随 的增大而迅速减小，以及D值太小会影响测量精度（通常令 D在2.5-24范围内）这样一些限制条件确定的。能测顶焦距 的最大值也大致与表中所列举的焦距最大值相同。 由于被测透镜球差的影响，全口径对应的最佳像点位置一 般不与近轴焦点重合，因此，应尽量测量被测透镜全口径工 作时的焦距。为此除要求平行光管口径大于被测透镜有效口 径外，还要求测量显微镜的数值孔径大于或等于被测透镜相 对孔径的一半（即被测透

10、镜轴上点成像光束全部进入显微镜 成像）。,3 焦距和顶焦距的测量 一、放大率法,（二）用GXY-08A型光具座测量的测试技术 例如测量 的照相物镜最大相对孔径 的焦距时，应选用 显微物镜（ ）；若测 量 时的焦距，勉强可以选 显微物镜（ ） ，最好选 显微物镜。用 物镜分别测照相物镜相对孔径 和 时的焦距，各测5次取平均值得 和 ，二者相差 ，从 中可以看出被测物镜像差的影响。 上述对显微物镜数值孔径的要求，在测量负透镜时，往往是 做不到的。这时测得的焦距值常常接近它的近轴焦距。,3 焦距和顶焦距的测量 一、放大率法,（三）测量不确定度 由于测量误差的存在，被测量值中有不能肯定的成分。由式 （

11、1-31），利用间接测量误差的传播关系式可得用相对标准 不确定度表示的焦距测量不确定度为： 式中： 分别为 的标准不确定度。 需要说明：实际平行光管焦距不可能正好等于1200mm，为了 保证保持仪器常数 为表1-2所示的整数，一般用改变显微 物镜到目镜测微器的距离，即改变显微物镜的放大率 来达到。,3 焦距和顶焦距的测量 一、放大率法,（三）测量不确定度 根据精确测出的平行光管焦距值，定出保持 不变所需的 放大率 ，我们用一根标准尺（刻度值标准不确定度0.001 mm）放在显微镜的物平面上校正放大率，由于把显微物镜与 目镜测微器一起进行 的校正，这同时也校正了测微器的读 数误差，所以式（1-3

12、3）中使用综合不确定度 。 平行光管焦距的相对标准不确定度可达 ；仪 器的分划板刻线间距的标准不确定度 ；考虑到 对准误差和估读误差，取 。由于用标准尺进 行放大率 和测微器读数误差的综合校正，故取,3 焦距和顶焦距的测量 一、放大率法,（三）测量不确定度 被测焦距 和 为例，求 当 时，取 ，得 应用式（1-33）得： 当 时， 则得： 以上计算说明，GXY-08A型光具座测量焦距的相对标准不 确定度不超过 。,3 焦距和顶焦距的测量 一、放大率法,（三）测量不确定度 上面的误差分析是在被测透镜像质良好，并且相对孔径不太 小的情况下得到的。否则，误差就要增大。例如，测量焦距 的负透镜的焦距时

13、，若采用 显微物镜，由于 数值孔径很小（ ），调焦不确定度达 ，仅此 产生的焦距测量不确定度就会达到 。又因放大率小， 读数D就小， 增加，所以负透镜的焦距测量不确定度一 般大于正透镜的不确定度，可达到 。 像质对测量结果的影响难于定量估计，但如果像质较差， 测量不确定度将远远大于 。,3 焦距和顶焦距的测量 一、放大率法,（三）测量不确定度 测量顶焦距的不确定度包括显微镜的位置读数误差（顶焦距 小于250mm时不确定度0.1mm，大于250mm时可达0.3mm）和 显微镜的两次调焦不确定度。测量正透镜的顶焦距（只用 、 显微物镜），不确定度为0.1-0.4mm；测量负透镜时 （用 、 、 显

14、微物镜），测量不确定度约为0.1-1.5 mm。,3 焦距和顶焦距的测量 二、光栅法测量傅里叶变换透镜的焦距,全息光学和光学信息处理是近二十年发展很快的领域。傅里叶变换透 镜是空间滤波和光学信息处理系统中的基本部件，焦距是傅里叶变换透镜 的主要光学参数之一，其焦距的测量也是人们普遍关注的问题，这里介绍 一种简便、准确度较高、便于智能化测量的方法-光栅法。 （一）测量原理 由透镜的傅里叶变换性质可知，衍射物体放在 平面上，其透过率函数 为 ，当用单色平面波垂直照射时，在后焦面 平面上复振幅分 布为：,3 焦距和顶焦距的测量 二、光栅法测量傅里叶变换透镜的焦距,式中 为常数； 为 的频谱； 其光强

15、分布 可表示为：,单色平面波,菲涅尔衍射区,3 焦距和顶焦距的测量 二、光栅法测量傅里叶变换透镜的焦距,测量焦距时，选用朗奇光栅作为衍射物，将朗奇光栅放在输入面 ，用 单色平面光波照射，其透过率函数可写为： 式中：,光栅缝宽,光栅常数,光栅总宽度,单色平面波,菲涅尔衍射区,菲涅尔衍射区,3 焦距和顶焦距的测量 二、光栅法测量傅里叶变换透镜的焦距,其频谱为： 面上的光强分布可近似写为： 有由式（1-35）可以看出，谱点间距大小由 决定。当 为最大值时,3 焦距和顶焦距的测量 二、光栅法测量傅里叶变换透镜的焦距,当 为最大值时 当 时， 设谱点间距为X，则得： 故： 在光栅常数b已知后，测出谱点间

16、距X，即可求出波长为 时的透镜焦距。 或者测出m级谱点的坐标 ，代入式（1-37）求出 值，在测量傅里 叶变换透镜则有：,3 焦距和顶焦距的测量 二、光栅法测量傅里叶变换透镜的焦距,（二）测量装置及方法 测量装置如图所示，采用He-Ne激光器产生波长为0.6328m的单色平 面波，朗奇光栅为50线、mm，CCD采用2048位线阵固体摄像器件，当CCD 驱动电源工作频率为244kHz时，每秒钟可取样100次，可采用PC-XT计算 机，监视器为一般示波器。首先将P平面精确调节在透镜的后焦面上，P 屏是半透明体，激光可以透射；,监视器,微 机,打印机,3 焦距和顶焦距的测量 二、光栅法测量傅里叶变换

17、透镜的焦距,（二）测量装置及方法 在测量P平面上的谱点间距之前，先给CCD摄像系统定标，即线对P屏上 的标准黑白条纹进行测量，该条纹的间距是已知的，通过测量计算出CCD 每个像素所代表的长度，它是系统的定标常数。 在CCD摄像系统的物距、像距、光圈均不变的情况下，测量P屏上所透 射的谱点间距占据的像素数，再与定标常数相乘，即得谱点间距的实际 长度。代入式（1-36）或（1-37），即可求出 值。 表1-3为对国产的FJ-300型傅里叶变换透镜进行测量的结果。,3 焦距和顶焦距的测量 二、光栅法测量傅里叶变换透镜的焦距,（三）实际测量中的有关技术 1.频谱面的精确定位 频谱面的精确定位是这种方法

18、的关键技术，对测量的不确定度、测量 的稳定性和重复性均至关重要。由原理图可见，只有像P屏准确调整到透 镜的后焦面时，式（1-34）中的 才是稳定不变的，若P平面调 整在焦面之前或之后均是菲涅尔衍射。因此，频谱面要求精确定位，其 方法是前后移动朗奇光栅，改变 大小，当 减小时，若频谱展宽，说 明P屏至透镜主平面的距离大于 ，若频谱压缩，则说明P平面至透镜主 平面的距离小于 。反之当 增大，若频谱展宽，则说明该距离小于 ；若频谱压缩，则说明该距离大于 。,3 焦距和顶焦距的测量 二、光栅法测量傅里叶变换透镜的焦距,（三）实际测量中的有关技术 只有当P平面被调到透镜的后焦面时，无论 增大或减小，P平

19、面上光 强分布均稳定不变，这时的P平面就是频谱面。实际测量中可以借助其它 辅助的定焦方式来精确地确定透镜的焦面。 2.高斯光束的影响 由于基模He-Ne激光是高斯光束，其光强分布和发散角均是轴对称的， 照射光栅后，经过透镜的变换作用，在后焦面上与光栅频谱作卷积运 算，使谱点对称展宽与平滑，不改变谱点的中心位置。由于发散角很 小，其展宽量约为谱点间距的1%，因此，测量时只要注意取谱点中心位 置，对谱点的测量不确定度影响极小。,3 焦距和顶焦距的测量 二、光栅法测量傅里叶变换透镜的焦距,（四）误差分析 测量准确度与朗奇光栅误差、定标误差、谱点间距测量误差以及谱面 定位准确度有关，朗奇光栅常数的相对

20、不确定用工具显微镜测得为 0.05%；定标误差包含定标黑白条纹误差和定标测量过程中引入的随机不 确定度，经测量约为0.10%。为了减少谱点间距测量误差，可充分利用 CCD的长度，测量多个谱点间距，然后用最小二乘法求出谱点间距的平均 值，的相对不确定度小于0.10%；谱面定位相对不确定度不难达0.25%。 应用方和根综合上述各项不确定度，可得测量傅里叶变换透镜焦距不 确定度为0.29%，与常用的放大率法的准确度相近。,第一章 基本光学测量技术,第四节 星点检验,4 星点检验 一、原理,对非相干照明物体，成像光学系统的作用是把物面上的光强 分布转换为像面上的光强分布，由于衍射、像差和各种工艺疵 病

21、等原因，物、象分布不可能完全一致，为了评定系统的成像 质量，并为改善像质提供必要的信息，需要定量地描述系统的 成像情况。为此必须选择有代表性的物体，通过描述它们像的 全部特征来反映系统的像质。 星点（发光点）就是一种非常好的“代表性物体”，因为任意 的物分布都可以看成是无数个具有不同强度的、独立的发光点 的集合；星点像的光强分布规律比较容易描述；任意物的像就 是这无数个星点像的集合。就是说，星点像的光强分布函数就 决定了该系统的成像质量。,4 星点检验 一、原理,从近代物理光学理论来说，利用满足线性和空间不变性条件 的系统的线性叠加特性，可以将任何物方图样分解为许多基元 （星点物）图样，这些基

22、元对应的像方图样是容易知道，然后 由这些基元的像方图样（星点像）线性叠加得出总的像方图样。 从这一理论出发，我们称点状物为物方图样的基元即点基元 。这里也可以理解为一个无限小的点光源物，例如小星点，故 可以采用单位脉冲函数作为点基元，有如下数学关系：,4 星点检验 一、原理,因系统具有线性和空间不变性，可知有如下物像关系： 式（1-39）表示了线性空间不变系统的一个成像系统，,物方图样,像方图样,物面坐标,像面坐标,物像的横向放大率,系统的点基元像分布 即（u,v）处的一个点基元物（u,v）的像,点基元,4 星点检验 一、原理,该式表明：将任意物强度分布与该系统的点像分布卷积就得 到了像强度分

23、布，点物基元像的分布完全决定了系统的成像 特性。只有当点物基元像分布仍为函数时，物像之间才严 格保证点对应点的关系。 实际上每一个发光点物基元通过光学系统后，由于衍射和 像差以及生产工艺疵病的影响，绝对的点对应点的成像关系 是不存在的，因此卷积的结果，是对原物强度分布起了平滑 作用，从而造成点物基元经系统成像后的失真。,4 星点检验 一、原理,因此采用点物基元描述成像过程，其实质是一个卷积过 程，通过考察光学系统对一个点物基元的成像质量就可以了 解和评定光学系统对任意物分布的成像质量，这就是星点检 验的基本思想。-通俗的说，通过考察一个发光点（星 点）经光学系统后的像的光强分布，就可以了解和评

24、定光学 系统的成像质量。这就是星点检验的基本依据。 可以说，星点检验法是检验成像光学系统质量的方法中最 基本、最简单的一种方法。 实际上，星点的单色像的光强分布，也就是通常所说的点 扩展函数，结构是非常复杂的。要想根据点扩展函数来估算 像差，一般说是不可能的。,4 星点检验 一、原理,对于小像差系统，可以根据星点像的衍射结构来估计处像 差的类型和数量。要想从星点检验中获取更多的信息，得到 更多的结果，需要有丰富的经验。对初学者来说，获得经验 的方法是以许多已知像差或误差（指玻璃熔炼、光光学装配 校正等工艺过程中产生的误差，又称工艺疵病）的性质和大 小的星点图，最好是仅存在一种像差或误差的星点图

25、，以及 与各种星点图对应的实物作为训练器材，通过对这些典型星 点图的实际观察、分析、对比来加快获得经验的过程。,4 星点检验 二、衍射受限系统星点像的光强分布,对一个物像差衍射受限系统来说，其光瞳函数是一个实函 数，而且在光瞳范围内是一个常数，因此衍射像的光强分布 仅仅取决于光瞳的形状。在一般圆形光瞳的情况下，衍射受 限系统的星点像的光强分布函数就是圆孔函数的傅里叶变换 的模的平方，即艾里斑光强分布式中：,4 星点检验 二、衍射受限系统星点像的光强分布,上式所代表的几何图形及各个量的物理意义如图所示。 图1-22为艾里斑的三维光强分布及其放大局部图； 表1-4为艾里斑个极值点的数据。至于焦面附

26、近前后不同截面 上的光强分布，也可以通过类似的计算求出。 图1-23为子午面内等光强度线； 图1-24为焦点前后不同截面上的星点图。由图1-23和1-24可 以看出，一个具有圆形光瞳的衍射受限系统，不仅在焦面内 应具有全对称的艾里斑分布规律，而且在交点前后也应有对 称的光强分布。,4 星点检验 二、衍射受限系统星点像的光强分布,光瞳的形状不同，理想星点像的光强分布也不同。 圆环形光瞳对应的理想星点像的光强分布为： 图1-25为具有不同开口比 时焦平面内的光强分布曲线； 图1-26为其三维光强分布图。,环形孔的内外两个同心圆的半径之比,4 星点检验 二、衍射受限系统星点像的光强分布,矩形光瞳的在

27、焦平面内的理想星点像光强分布公式： 式中 为矩孔的长宽。,4 星点检验 三、检验条件,在光具座上做星点检验时，仪器应满足两个主要要求： 一是平行光管焦面上星点光阑的的直径； 二是观察显微镜的数值孔径的合理选择，并有合适的放大率， 以便眼睛能分辨细节。 （一）星孔直径 如图所示是光具座上作物镜星点检验的原理图：,被检系统,平行光管,显微镜,4 星点检验 三、检验条件,为了保证星点像具有足够的亮度和对比度，以便看清星点 像的细节，除要求照明光源具有足够的亮度外，还需对被照 星孔的尺寸加以限制。因为当星孔有一定大小时，星孔上每 一点发出的光在备件物镜的焦面上都会形成一个独立的衍射 斑，我们观察到的星

28、点像实际上是无数多个彼此错位的衍射 斑的叠加。如果星孔大于某个数值，各衍射斑的彼此错位量 超过一定限度，星点像的衍射环细节将随之消失。,被检系统,平行光管,显微镜,4 星点检验 三、检验条件,根据衍射环宽度所作的理论估算和实验表明，星孔允许的最 大角直径应等于被检系统艾里斑第一暗环的角半径 的二 分之一，如图所示，即,被检系统,平行光管物镜,显微镜工作距离,4 星点检验 三、检验条件,有表1-4查得 所以 式中，D为被检物镜的入瞳直径； 为照明光源的波长；如用 白光则取 。 因为星孔板放在焦距为 的平行光管物镜的焦面处，所以星 孔的最大允许直径为： 例如：,4 星点检验 三、检验条件,（二）观

29、察显微镜的数值孔径和放大率 星点像非细小，需借助显微镜（检验物镜时）或望远镜（检 验望远系统时）放大后进行观察。在用显微镜观察时，除了 应注意显微镜的像质外，还应注意合理选择显微物镜的数值 孔径和放大率。 为了保证被检物镜的出射光束能全部进入观察显微镜，显然 应保证显物镜的物方最大孔径角 大于或等于被检物镜的 像方孔径角 ，如图1-28所示，否则由于显微物镜的入瞳 切割部分光线无形中减小了被测物镜的通光口径，得到的是 较小口径的检验结果，即得到不符实际的检验结果。,4 星点检验 三、检验条件,在实际工作中这时容易被忽略的。为保证孔径的要求，可根据 被检物镜的相对孔径 按表1-5选用显微物镜的数

30、值孔径。 表1-5 根据相对孔径 选择数值孔径NA 显微镜的放大率选择以人眼观察时能否分开星点像的第一、二 衍射亮环为准，有表1-4可查得第一与第二衍射亮环的角间距为：,4 星点检验 三、检验条件,被测物镜焦面上对应的线距离为 经显微镜放大后两衍射环的角距离为 时人眼就能分辨，即 因为显微镜的总放大率 所以：,4 星点检验 三、检验条件,如果取 则上式简化为： 当显微物镜的数值孔径选定后，其垂轴放大率也应满足公式 （1-49)的要求。 (三）其它 在光具座上对望远系统作星点检验时，需用前置镜（望远镜） 代替显微镜进行放大观察，这时除对前置镜的像质有要求 外，还要求其入瞳直径大于或等于被检望远镜

31、的出瞳直径， 放大率应能满足人眼分辨星点像细节的要求。,4 星点检验 三、检验条件,根据与选择显微镜放大率类似的考虑，可得选择前置镜放大 率的公式为： 当取 ； 以（）为单位； （被检望远镜的出 瞳直径）以mm为单位时，上式可改写为以下简单形式： 若取 时，可得 ，若 则不必 加前置镜，可在被检望远镜后直接观察。,被检系统,平行光管,前置镜镜,4 星点检验,此外，在星点检验时应注意被检系统的光轴与平行光管光 轴间的相对角度关系，尤其是检验轴上星点像时，应保证两 者轴线准确一致，否则会得出错误的检验结果。为了发现和 避免这种情况，检验时可使被检系统在夹持器内绕自身轴线 转动，如果星点像的疵病方位

32、也随之转动，则表明疵病确实 是被检系统本身固有的；若星点像的疵病方位不变，则表明 被检系统的装夹有倾斜，或检验装置本身有缺陷，应排除后 才能使用。 根据星点像判断光学系统的像质优劣，尤其是进一步“诊 断”光学系统存在的主要像差性质和疵病种类，以及造成这些 缺陷的原因，这在光学仪器生产实践中具有重要意义。,4 星点检验,但要能对星点检验结果作出准确可靠的分析、判断，不仅要 掌握星点检验的基本理论，还要有丰富的实践经验，尽管星 点检验法必须依靠经验，但由于该方法所用设备简单、灵敏 度高以及检测结果可靠，还有一个大家熟悉的衍射受限系统 的星点像（光瞳形状是圆孔时则为艾里斑）作为最高的（或 理想的）标准，因此，对于小像差及小误差的成像系统，星 点检验法仍是一种很好的方法。,