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1、一款基于法拉电容的UPS电路设计思路您是否有遇到使用中的程序无故丢失？产品调试非常稳定，布置到现场后频繁系统崩溃和数据遗失，亦或产品应用一年后批量涌现存储器件损坏？本文将深入探明这些问题的原因及提供参考解决方案。一、存储器件使用寿命二、存储器件掉电丢数据三、系统数据保护方案调试系统或现场使用时，建议使用软件复位，避免人为频繁的通过断电实现复位操作；有断电必要时，将打印信息添加如“系统加载完成”、“数据保存完毕”等指示说明后操作；软件采取Flash均衡保存算法，高效地调整更改数据时擦除的Flash区域大小；可将数据先写入内存或者铁电存储器，然后定期的再将数据搬移到大的存储器里面，减少直接断Nan
2、d-Flash、EMMC擦写次数；在程序中加入或者提高电源电量检测的阈值，程序上保证所有电源系统下的芯片在此阈值上均可以正常工作。读写过程中仔细对坏块表进行维护更新，避免程序写入坏块。读取数据时对ECC校验，确保读取数据无误。用法上避免在Flash擦除或写入过程中人为突然掉电；设计好处理控制核心的电源系统，防止CPU等在启动、运行中，电源系统因瞬时变化引起的纹波等情况；搭配掉电检测添加文件系统电源域UPS电源，乃至整机掉电续航工作电源；对于使用EEPROM等小容量存储的用户而言，可以考虑使用高可靠性的铁电材料加工制成的铁电非易失性存储器F由于电容存在个体差异，电容存储电荷的速率不一样，存在过充
3、造成电压超过耐压值的问题，电路中存在多颗法拉电容时需要做均压处理；为保证电容能够充满电能，源端需采用恒流源充电；为维持电容电压稳定，并降低充电电路功耗，需增加过压检测电路；若对电压高于法拉电容本身电压上限的电源系统提供掉电续航时，Vcc_backup端需通过BOOST升压电路后以实现，且注意系统正常时（充电过程中）关断EN脚。四、工业品质稳定可靠在ARM内核核心板、开发板、工控机等领域，M6708核心板、M/A335x核心板、M/A28x核心板、EPC系列工控主板、IoT系列无线主板/网关、DCP系列经典工控机等产品中，核心板产品针对Nand-Flash有着完善的坏块管理、工控主板添加掉电保护等措施。例如在Linux系统下加固Flash驱动、对操作系统进行双备份；软件与硬件信号测试对Flash进行10万次掉电试验等。同时，致远电子配备专业的EMC实验室、安规实验室、环境实验室等可实际模拟恶劣应用状况试验。结合优质供应商保证各产品分立器件均达到EMC工业三级标准，有良好的静电抗性、雷击浪涌抗性、电瞬变群脉冲抗性、以及极低的EMI传导骚扰情况；可实现-40+85的工业级环境适应性。为从Flash至整套目标系统的可靠性安全稳定提供切实保障。图6 DCP-1000L产品剖析图示