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1、一种集成电路开短路测试方案详解集成电路开短路测试分为开路测试（open short to VDD）和短路测试（open short to VSS）。一般来说，芯片的每个引脚都有泄放或保护电路是两个首尾相连的二极管，一端接VDD，一端接VSS，信号是从两个二极管的接点进来测试时测试时，先把芯片的VDD引脚接0伏（或接地），再给每个芯片引脚供给一个100uA到500uA从测试机到芯片的电流，电流会经上端二极管流向VDD（0伏），然后测引脚的电压，正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右，我们一般设上限为1.5伏，下限为0.2伏，大于1.5伏判断为openfail，小于0.2伏判断为short
2、fail.这就是open_short_to_VDD测试。open_short_to_VSS测试的原理基本相同。同样把先VDD接0伏，然后再给一个芯片到测试的电流，电流由VSS经下端二级管流向测试机。然后测引脚的电压，同样正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右，只是电压方向相反，上限还是为1.5伏，下限为0.2伏，大于1.5伏判断为openfail，小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VSS测试。总体设计（一）硬件设计1. 恒电流电路设计5V电压源通过电路产生2.5V电压，供电流源使用。电流源是通过Q1和Q2两个PNP管基极共联以及三个电阻按右上图所示
3、连接而成，该电流源主要用于提供100mA到500mA的电流用于测试输入，其中C4电容主要是在瞬间断电起到缓冲作用2. 判决电路设计比较电路上端接2.5V，通过电阻的分压作用在芯片LM358AM的2号引脚产生1.5V的电压，在5号引脚产生0.2V的电压；将3和6号引脚电位与他们比较，以此来选通二极管D1或D2，当3和6号引脚电位高于1.5V或低于0.2V时二极管其中一个导通，介于两电位之间时两个二极管全部截止，其中3和6号引脚电位等于所U3选通引脚电位。3. 控制电路设计控制电路主要通过对AT89S52编程控制U2和U3的6，9，10，11号引脚实现；右上图是AT89S52的复位电路。4. 选通电路设计选通电路主要用于选择被测芯片的引脚，芯片U2选通的引脚通过其3号引脚将被测引脚点置0，芯片U3选通的引脚置于与其3号引脚相同的电平，之后通过发光二极管来显示两引脚是开路或短路，还是正常。（二）软件设计#includereg52.h#includeintrins.h#define uint unsigned int#define uchar unsigned charsbit P1_0 =P1