多端口微波器件的测试效率和双工器电原理图.doc

上传人:白大夫 文档编号:3419040 上传时间:2019-08-23 格式:DOC 页数:1 大小:12.50KB
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1、多端口微波器件的测试效率和双工器电原理图在采用网络分析仪测试多端口微波器件时,测试过程中需要更换测试电缆和DUT不同端口之间的连接。如用两端口矢量网络分析仪测量双工器,除了第一次连接以外,在测试过程中还需要变换两次连接,测试者要另外做出四次连接动作(两次接电缆,两次接测试负载),然后再对仪器进行手动操作测试。在大批量生产情况下,这种传统测试方法的测试效率较低,测试成本较高;尤其是高低温试验时,传统的测试方法无法满足需求。本文讨论了一种测试方法通过开关矩阵和自动化测试软件来快速、高效地完成双工器的测试,这种方法非常适用于双工器的批量生产测试以及高低温试验中。问题的来源问题出现在一个双工器高低温试

2、验。出厂标准要求被测双工器在-30C和+60C的试验箱里各放置90分钟后,用矢量网络分析仪测试其S参数。图1为双工器的电原理图,其中TX/RX/ANT分别为发射/接收/天线端。双工器的测试指标包括从ANT至TX之间、ANT至RX的插入损耗,TX和RX之间的隔离,以及三个端口的驻波。开始试验时,我们将被测双工器放入高低温试验箱,将ANT和TX端口接入网络分析仪。将低温设置为-30C,90分钟后测试了ANT至TX的插入损耗及两个端口的驻波,然后打开试验箱,将测试电缆从TX移至RX端并关上箱门,此时我们发现试验箱的温度迅速升至0C,过了约半小时后温度才缓慢降至-30C,完成ANT至RX的插入损耗及RX端的驻波测试后,打开箱门重复进行了TX至RX的隔离测试。由于在试验过程中频繁开关箱体门,导致试验时间超过预计,即使将两只被测双工器同时放入试验箱,完成两只的测试也整整花费了一整天时间。可以想象按照这种测试方法,对于批量产品哪怕是按比例抽检也不能满足测试效率和成本的要求。

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