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1、对于ATE测试仪器仪表，典型测试设备系统设计开关功能是所有电子MEMS 开关优势详解MEMS开关技术就体积差异来看，尺寸可缩小90%以上。除了 MEMS 技术的物理尺寸优势之外，MEMS 开关的电气和MEMS 开关应用示例过去，要在ATE测试设备中实现dc/RF开关功能，必须使用 EMR开关。但是，由于存在以下问题，使用继电器开关的尺寸较大，必须遵守“禁区”设计规则，这意味着它要占用很大面积，缺乏测试可扩展性。继电器开关的使用寿命有限，仅为数百万个周期。必须级联多个继电器，才能实现需要的开关配置（例如，SP4T配置需要三个SPDT继电器）。使用继电器时，可能遇到PCB组装问题，通常导致很高的P
2、CB返工率。由于布线限制和继电器性能限制，实现全带宽性能可能非常困难。电器驱动速度缓慢，为毫秒级的时间量级，从而限制了测试速度。按面积计算，MEMS开关使占用面积减少68%以上，按体积计算，则可能减少95%以上。它们不需要外部驱动器 IC。由于MEMS开关封装的高度较小（ADGM1304的封装高度为 0.95 mm，ADGM1004的封装高度为1.45 mm），因此开关可以安装在PCB的反面。较小的封装高度增大了可实现的通道密度。图8显示了另一个测试设备开关使用示例。该图显示连接高速或RF待测器件的测试接口的典型原理图，使用EMR作为开关元件。在本例中，评估电子设备需使用高速RF信号和数字/D
3、C信号。整体而言， ADGM1304 或 ADGM1004开关的SP4T配置可提供更多功能通道，并实现更多数字和DC参数测试功能：使用MEMS开关可实现八种功能，而使用继电器仅实现四种功能。MEMS开关具有 14 GHz宽带宽、0 Hz/dc工作频率、小尺寸封装和低电压控制特性，这种解决方案更加灵活，延长了使用寿命，减小了占用面积，能够同时实现高精度高速数字信号路由和较宽带宽的RF信号路由。ADI 的 MEMS开关技术独树一帜，与传统的RF继电器解决方案相比，它提升了测试功能和性能，而且占用的 PCB 面积更小。ADGM1304和 ADGM1004 SP4T MEMS开关具有精密 DC 性能和宽带 RF 性能，采用小尺寸SMD封装，驱动功率要求较低，使用寿命长，ESD可靠性增强。这些特性使得ADI公司的MEMS开关技术成为所有现代ATE设备的理想通用开关解决方案。