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1、 B 0090-17：2007 (ISO 10110-17：2004) （1） 目 次 序文1 1 適用範囲1 2 引用規格1 3 用語及定義2 4 試験3 5 規定3 5.1 一般3 5.2 放射損傷値3 5.3 長及連続波（CW）放射損傷値4 6 表示4 7 位置4 8 表示例4 B 0090-17：2007 (ISO 10110-17：2004) （2） 規格，工業標準化法第 12 条第 1 項規定基，日本光学工業協会(JOIA)及財団法人日本規 格協会(JSA)，工業標準原案具日本工業規格制定申出，日本工業標準調査会 審議経，経済産業大臣制定日本工業規格。 規格，著作権法保護対象著作物
2、。 規格一部，特許権，出願公開後特許出願，実用新案権又出願公開後実用新案登録出願 抵触可能性注意喚起。経済産業大臣及日本工業標準調査会，特許 権，出願公開後特許出願，実用新案権又出願公開後実用新案登録出願係確認，責任 。 JIS B 0090 規格群，次示部編成。 JIS B 0090-1 第 1 部：通則 JIS B 0090-2 第 2 部：材料欠陥応力複屈折 JIS B 0090-3 第 3 部：材料欠陥泡及異物 JIS B 0090-4 第 4 部：材料欠陥不均一性及脈理 JIS B 0090-5 第 5 部：表面形状公差 JIS B 0090-6 第 6 部：偏心公差 JIS B 0
3、090-7 第 7 部：表面欠陥許容値 JIS B 0090-8 第 8 部：面肌 JIS B 0090-9 第 9 部：表面処理及 JIS B 0090-10 第 10 部：光学素子及接合部品表示表 JIS B 0090-11 第 11 部：公差表示 JIS B 0090-12 第 12 部：非球面 JIS B 0090-17 第 17 部：放射損傷値 The Standard is downloaded from Standard Sharing 日本工業規格 JIS B 0090-17：2007 (ISO 10110-17：2004 ) 光学素子及用製図手法 第 17 部：放射損傷値
4、Preparation of drawings for optical elements and systems Part 17: Laser irradiation damage threshold 序文 規格， 2004 年第 1 版発行 ISO 10110-17 基， 技術的内容及対応国際規格構 成変更作成日本工業規格。 ，規格点線下線施事項，対応国際規格事項。 1 適用範囲 JIS B 0090 規格群，製造及検査用製図光学素子及対，設計上及 機能上要求事項表記方法規定。 規格，光学面放射損傷値製図上表記方法規定。ISO 11254-1 規定，光学面，値損傷示。 注記 規格対応国際規格
5、及対応程度表記号，次示。 ISO 10110-17:2004，Optics and photonicsPreparation of drawings for optical elements and systems Part 17: Laser irradiation damage threshold (IDT) ， 対応程度表記号(IDT)， ISO/IEC Guide 21 基， 一致示。 2 引用規格 次掲規格，規格引用，規格規定一部構成。 引用規格， 西暦年付記， 記載年版適用， 後改正版 （追補含。 ） 適用。西暦年付記引用規格，最新版（追補含。 ）適用。 JIS B 0090-5
6、光学素子及用製図手法第 5 部：表面形状公差 注記 対応国際規格：ISO 10110-5，Optics and optical instrumentsPreparation of drawings for optical elements and systemsPart 5: Surface form tolerances (IDT) JIS B 0090-6 光学素子及用製図手法第 6 部：偏心公差 注記 対応国際規格：ISO 10110-6，Optics and optical instrumentsPreparation of drawings for optical elements
7、and systemsPart 6: Centring tolerances (IDT) JIS B 0090-7 光学素子及用製図手法第 7 部：表面欠陥許容値 注記 対応国際規格：ISO 10110-7，Optics and optical instrumentsPreparation of drawings for optical elements and systemsPart 7 : Surface imperfection tolerances (IDT) JIS B 0090-10:2007 光学素子及用製図手法第 10 部：光学素子及接合部品 2 B 0090-17：2007
8、(ISO 10110-17：2004) 表示表 注記 対応国際規格：ISO 10110-10:20041)，Optics and photonicsPreparation of drawings for optical elements and systemsPart 10: Table representing data of optical elements and cemented assemblies (IDT) ISO 11145:2006，Optics and photonicsLasers and laser-related equipmentVocabulary and sym
9、bols ISO 11254-1:2000，Lasers and laser-related equipmentDetermination of laser-induced damage threshold of optical surfacesPart 1: 1-on-1 test ISO 11254-2，Lasers and laser-related equipmentDetermination of laser-induced damage threshold of optical surfacesPart 2: S-on-1 test 注 1) ISO 10110-17:2004 “
10、ISO 10110-10:2003”記載，規格 2004 年 発行 ISO 10110-10 適用。 3 用語及定義 規格用主用語及定義，ISO 11145，ISO 11254-1 及次。 3.1 波長 (wavelength)， 放射波長。 3.2 値 (threshold) 損傷確率推定，光学面入射放射最大量。 注記 放射量，密度 Hmax又密度 Emax表示。 ISO 11254-1:2000 3.3 有効幅 (effective pulse duration)，eff 単一発光 （放射） ， 最大値対総比。 ISO 11254-1:2000 注記 1 最大値 Ppk，総 Q 有効幅 e
11、ff，次式 表。 pk 0 pk eff )( P dttP P Q ? = ，総Q，時間t変化P(t) 全発光時間積分値。 注記 2 ISO 11254-2 定義，繰返放射，規格適用。 注記 3 ISO 11254-2 ，繰返放射，1当 最大値対比有効幅定義。最 大値Ppk，繰返周波数fp，総Q有効幅eff，次 式表。 The Standard is downloaded from Standard Sharing 3 B 0090-17：2007 (ISO 10110-17：2004) pk 1 0 pk eff P )( P dttP P Q f ? = ，総Q，平均Pav繰返周波数f
12、p除値。 p av f P Q = 3.4 密度値 (threshold energy density)，Hth 放射，損傷発生密度値（J/cm2） 。 3.5 密度値 (threshold power density)，Eth 放射，損傷発生密度値（W/cm2） 。 3.6 線形密度値 (threshold linear power density)，Fth 連続波及長放射，損傷発生線形密度値（W/cm） 。 注記 1 損傷考慮場合，長，熱拡散係数D，熱伝達長（2 D eff） 1/2 試験領域大dT,eff同程度場合。 注記 2 ISO 11254-1:2000附属書 C （参考） ， 連
13、続波及長放射， 照射領域周辺沿著熱伝起。場合放射損傷 値，熱支配的，線形密度換算。 直径0.33 mm連続波又長放射，安全使用 最大56 W， 直径5 mm照射場合， 線形 密度換算，安全使用56 W(5/0.33)0.85 kW。 場合線形密度換算値，密度換算値56 W(5/0.33)212.9 kW比約1/15低注意。直径5 mm，12.9 kW 照射場合，溶大変危険。 4 試験 箇条 3 記載用語基本。 以外必要試験， ISO 11254-1 及 ISO 11254-2 規定。一部光学素子，入射角度加偏光面及偏光状態規定場 合。 5 規定 5.1 一般 放射損傷値規定値，表面処理及施仕上
14、面適用 。 5.2 放射損傷値 光学面放射損傷値規定値Hth又Eth，波長及有効 幅eff併記。 4 B 0090-17：2007 (ISO 10110-17：2004) 5.3 長及連続波（CW）放射損傷値 光学面放射損傷値規定値Fth， 波長及有効幅eff， 連続波放射場合放射時間併記。 注記 連続波（ISO 11145 規定，放射時間0.25秒長放射）場合，有 効幅“放射時間”用。 6 表示 放射損傷値，番号及箇条 5 規定各値図面記載 。付加的要求事項，注記補足。 放射値対番号，6。 表示，次形式。 a) 放射関 6/Hth；eff 又 6/Eth；eff b) 長及CW放射関 6/F
15、th；eff Hth，Eth，Fth，及eff，単位記載。 7 位置 図面記載，表示面引出線用行。場合，JIS B 0090-5，JIS B 0090-6 及 JIS B 0090-7 規定，面関係他面（3/，4/，5/）記載。記載一例 JIS B 0090-1:2007図 A.1 示。 上記代，JIS B 0090-10:2007図 3 例表領域記載 2） 。 注 2) 表中記載6/，放射損傷値規定意味。必要 ，箇条 6 記載。 8 表示例 図面表示例，次示。 例 1 6/25 Jcm2；1 064 nm；20 ns 表示，1 064 nm (Nd:YAG) 波長及20 ns有効幅対，損傷
16、値密度25 Jcm2以上意味。 例 2 6/10 kWcm1；10.6 m；1 s 表示，波長10.6 m (CO2) 連続発振及1秒放射時間対，損傷 値線形密度10 kWcm1以上意味。 参考文献 JIS B 0090-1:2007 光学素子及用製図手法第1部：通則 注記 対応国際規格 ： ISO 10110-1:2006，Optics and photonicsPreparation of drawings for optical elements and systemsPart 1: General (IDT) The Standard is downloaded from Standard Sharing