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1、 C 5441：2006 （1） 追補，工業標準化法基，日本工業標準調査会審議経，経済産業大臣改正 ，JIS C 5441:1994 改正，一部置換。 C 5441：2006 （2） 白 紙 w w w . b z f x w . c o m 日本工業規格 JIS C 5441：2006 電子機器用試験方法 （追補 1） Testing methods of switches for use in electronic equipment （Amendment 1） 序文序文 追補 JIS C 5441:1994 併用，JIS C 5441:1994 一部改正，追 補置換。 JIS C 544
2、1:1994 ，次改正。 附属書附属書（耐熱試験）附属書表附属書表 1 ，次置換。 附属書表附属書表 1 装置装置 試験方法 装置 方法方法 1 BH 1. 試験装置，附属書図附属書図 1 示。構成内容，次。 供試片本体縦軸横軸水平方向固定。，滑 動支持台備直立支持部頂部取付，長異供試体試験 。 2. 試験先立， 固定供試片前端平位置保， 径 8 mm長 150 mm 式金属棒。 棒材， 試験中白熱棒保持正確位置回転 。 3. 炭化素棒中取付，基板固定二組中，水平軸 回転配置，磁器材質絶縁支持物。支持物使，必要場合炭 化素棒試験片移動，完全遠。基板寸法，約 275 mm 250 mm 。 4.
3、 試験片接触際， 白熱棒約 0.3 N 力働設定 板使，供試片約 5 mm 部分焼落，白熱棒供試片触 状態保止。 方法方法 2 FH 試験装置附属書図附属書図 2 示。装置供試体，金網水平保持調節付実験用 設。縦方向軸水平，横方向軸 45 度傾斜，供試片固定 。 金網（125 mm125 mm，254 mm 当日数 20，径 0.043 mm 線）供試体下方 水平固定，供試片低縁部金網間距離 10 mm 。可動， ，供試片低側縦方向縁部同一垂直面内保持，水平方向約 45 度角度 据。 w w w . b z f x w . c o m 2 C 5441：2006 附属書表附属書表 1 装置 装置（続） 試験方法 装置 方法方法 3 FV 試験装置，供試片垂直保持調節付支台用。供試片上 部 6 mm 長方向軸直角供試片締，供試片下端 頂部上 10 mm，乾燥外科用脱脂綿水平層（50 mm50 mm 厚 6 mm）上部 300 mm 来。 調節可動使，供試片底下端部中央来 保持。必要応，角度 45 度傾斜，供試片底部 頂部間間隔 10 mm 火炎間変。