《JIS K7252-1-2008 塑料.用尺寸排阻色谱法测定聚合物平均分子量量和分子量的分布.第1部分一般原理.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《JIS K7252-1-2008 塑料.用尺寸排阻色谱法测定聚合物平均分子量量和分子量的分布.第1部分一般原理.pdf（18页珍藏版）》请在三一文库上搜索。
1、 K 7252-1：2008 （1） 目 次 序文1 1 適用範囲1 2 引用規格1 3 用語及定義2 4 原理3 5 試薬3 6 装置4 7 操作8 8 収集及解析8 8.1 収集8 8.2 検定及補正 8 8.3 解析8 9 結果表示9 9.1 校正曲線9 9.2 平均分子量計算10 9.3 微分分子量分布曲線11 9.4 積分分子量分布曲線12 10 精度12 11 報告12 11.1 一般12 11.2 装置及測定条件13 11.3 装置校正13 11.4 結果13 附属書 A（参考）補足事項14 附属書 B（参考）分子量分布狭分子量標準物質15 附属書 JA（参考）JIS 対応国際規
2、格対比表16 K 7252-1：2008 （2） 規格，工業標準化法第 12 条第 1 項規定基，日本工業連盟(JPIF)及財団法 人日本規格協会(JSA)，工業標準原案具日本工業規格制定申出，日本工業標 準調査会審議経，経済産業大臣制定日本工業規格。 規格，著作権法保護対象著作物。 規格一部，特許権，出願公開後特許出願，実用新案権又出願公開後実用新案登録出願 抵触可能性注意喚起。経済産業大臣及日本工業標準調査会，特許 権，出願公開後特許出願，実用新案権又出願公開後実用新案登録出願係確認，責任 。 JIS K 7252 規格群，次示部編成。 JIS K 7252-1 第 1 部：通則 JIS
3、K 7252-2 第 2 部：法 JIS K 7252-3 第 3 部：常温付近方法 JIS K 7252-4 第 4 部：高温方法 w w w . b z f x w . c o m 日本工業規格 JIS K 7252-1：2008 排除 高分子平均分子量及分子量分布求方 第 1 部：通則 PlasticsDetermination of average molecular mass and molecular mass distribution of polymers using size-exclusion chromatography Part 1: General principle
4、s 序文 規格，2003 年第 1 版発行 ISO 16014-1:2003 及 Technical Corrigendum 1 (2005) 基，技術的内容変更作成日本工業規格。，技術的正誤票(Technical Corrigendum) ，編集，一体。 ，規格点線下線施箇所，対応国際規格変更事項。変更一 覧表説明付，附属書 JA 示。 1 適用範囲 規格，排除（以下“SEC”。 ），高分子平均分子量及 分子量分布求方通則規定。平均分子量及分子量分布，分子量標準物質用作 成校正曲線計算。，方法相対法分類（A.1 参照） 。 注記 規格対応国際規格及対応程度表記号，次示。 ISO 16014-
5、1:2003， PlasticsDetermination of average molecular mass and molecular mass distribution of polymers using size-exclusion chromatographyPart 1: General principles 及 Technical Corrigendum 1 (2005) (MOD) ，対応程度表記号(MOD)，ISO/IEC Guide 21 基，修正示 。 2 引用規格 次掲規格，規格引用，規格規定一部構成。 引用規格，最新版（追補含。 ）適用。 JIS K 7252-3 排
6、除高分子平均分子量及分子量 分布求方第 3 部：常温付近方法 注記 対応国際規格：ISO 16014-3:2003，PlasticsDetermination of average molecular mass and molecular mass distribution of polymers using size-exclusion chromatography Part 3: Low-temperature method (IDT) w w w . b z f x w . c o m 2 K 7252-1：2008 JIS K 7252-4 排除高分子平均分子量及分子量 分布求方第 4
7、 部：高温方法 注記 対応国際規格：ISO 16014-4:2003，PlasticsDetermination of average molecular mass and molecular mass distribution of polymers using size-exclusion chromatography Part 4: High-temperature method (IDT) ISO 472 PlasticsVocabulary 注記 ISO 472:1988 JIS K 6900:1994 IDT 関係。 3 用語及定義 規格用主用語及定義，ISO 472 ，次。 3.
8、1 排除，SEC (size-exclusion chromatography) 分子流体力学的体積基分離液体。中，分離分子同 様大細孔非吸着性多孔質担体充。 注記 浸透(GPC)用語，非吸着性多孔質担体場合 用望。 ， 規格排除(SEC) 用語用。 3.2 分子量，M (molecular mass) 分子構成原子質量総和。 注記 分子量代分子質量用。 3.3 平均分子量 (average molecular mass) 4 種平均分子量，次諸式定義。式中，Ni分子量 Mi成分 i 分子数，a 桜田式指数。 3.3.1 数平均分子量，Mn (number-average molecular
9、mass) (1) ， Mn： 数平均分子量 Ni： 各溶出時間成分分子数 Mi： 各溶出時間成分分子量 3.3.2 質量平均分子量，Mw (mass-average molecular mass) (2) () ? ? = = = 1 1 n i i i ii N MN M () () ? ? = = = 1 1 2 w i ii i ii MN MN M w w w . b z f x w . c o m 3 K 7252-1：2008 ， Mw： 質量平均分子量 Ni： 各溶出時間成分分子数 Mi： 各溶出時間成分分子量 3.3.3 Z 平均分子量，Mz (z-average molec
10、ular mass) (3) ， Mz： Z 平均分子量 Ni： 各溶出時間成分分子数 Mi： 各溶出時間成分分子量 3.3.4 粘度平均分子量，Mv (viscosity-average molecular mass) (4) ， Mv： 粘度平均分子量 Ni： 各溶出時間成分分子数 M i： 各溶出時間成分分子量 a： 桜田式指数 4 原理 高分子試料適切溶媒溶解，希薄溶液調製。溶液移動相（溶離液）注入， SEC 導入。，均一大細孔又種大細孔非吸着性微粒 子充。高分子試料，通過分子量（流体力学的体積）相違 相互分離。SEC ，大分子細孔中浸透早溶出。 一方，小分子細孔中浸透溶出遅。溶出液中
11、高分子濃度，連続的濃 度検出器検出 SEC 得。 SEC 任意溶出時間対応分子量，単分散高分子分子量標準物質用 作成校正曲線求。平均分子量及分子量分布，各溶出時間対応分子量及 濃度計算求。 5 試薬 5.1 溶離液 SEC 測定用溶離液純度，用途異。，一般的粒子状物質 及高分子成分反応成分又高分子検出妨害成分含望。 高分子試料酸化劣化，溶離液分解，高分子会合及充剤高分子吸着防止酸 化防止剤，塩添加剤用。溶解性及屈折率加減又溶離液節約混 合溶媒用。 () () ? ? = = = 1 2 1 3 z i ii i ii MN MN M () () a i ii i a ii MN MN M 1
12、1 1 1 V ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? = ? ? = = + v w w w . b z f x w . c o m 4 K 7252-1：2008 5.2 性能評価試薬 理論段数，係数及分離度求， 低分子化合物用。 5.3 分子量標準物質 規格絶対法相対法，SEC 平均分子量及 分子量分布計算，校正曲線必要。校正曲線，分子量既知分子量分布狭標 準物質用作成。分子量標準物質Mw及又Mn，光散乱，膜浸透圧，蒸気圧浸透圧，超 遠心分離，末端基分析絶対法決定。多分散度Mw /Mn，MwMn除得 。分子量標準物質多分散度，次示範囲。 3 p 102M 20. 1/ nw MM
13、 6 p 3 101102M 10. 1/ nw MM p 6 101M 20. 1/ nw MM ， Mw：質量平均分子量 Mn：数平均分子量 Mp：最高点分子量 分子量標準物質分子量分布対数正規分布場合， 式(5)計算（非常分離多 場合，最高分子量） () 21 wnp MMM= (5) 市販分子量標準物質例，附属書 B示。 5.4 流量指標用試薬（内部標準物質） 溶出時間正確監視，仕様 範囲内評価低分子化合物用。 5.5 添加剤 SEC性能改善，試料分解防止，溶離液添加剤加。 6 装置 6.1 一般 SEC装置流路図（例）図 1示。必要構成要素，溶離液槽，試料 導入装置，検出器，配管，記
14、録計，温度制御装置及処理。機器 ，規格規定性能満用。 SEC測定必要性能満， 市販一体形SEC装置及各機器組合装置 用。 w w w . b z f x w . c o m 5 K 7252-1：2008 1 溶離液槽 4 7 記録計 10 廃液 2 5 検出器 8 表示部 3 試料導入装置 6 処理 9 図 1SEC 装置流路図（例） 6.2 溶離液槽 溶離液槽，校正曲線作成，一連試料測定必要容量備 。溶離液，減圧下超音波洗浄器方法又溶離液槽間真空脱気装置設置方 法脱気。 溶離液中粒子， 除去。 ， 溶離液中， 不活性通気（），溶離液槽気相，不活性置換，溶離液槽，遮光 望。 6.3 一定流量
15、脈流望。内径8 mm場合，約1 cm3/min流量 推奨。SEC装置使用，0.3 流量精度必要。高分子化合物及又 切断化合物測定場合並粘度高溶媒使用場合，低流量測定 望。送液一定保，送液部温度1 範囲制御望。 内部標準物質溶出時間又溶離液溶出体積若溶出質量直接計量流量頻 繁測，変動顕著場合補正。規格，分子量標準物質作成校正曲線用計 算相対法，流量情報必要。 6.4 試料導入装置 流路切換方式，試料溶液保持，広及 圧力変動最小，試料導入。 6.5 6.5.1 一般 ，分子大従試料分離機能。，一般， 管，及多孔性充剤構成。長，内径又 充剤粒子径制限。性能，JIS K 7252規格群各部箇条規定 。
16、 6.5.2 理論段数計算 初，低分子化合物用，図 2 求後，式(6)又式(7)全体理論段数(N)計算。望理論段数範 囲，JIS K 7252-3又JIS K 7252-4個別規格。 2 21 e 555 ? ? ? ? ? ? ? ? = W t .N (6) 2 e 16? ? ? ? ? ? = W t N (7) ， te：溶出時間 W1/2：半値幅 W：幅 w w w . b z f x w . c o m 6 K 7252-1：2008 1 注入 注記 H ，溶出強度示。 図 2低分子量化合物 SEC （例） 6.5.3 分離度測定 全体分離度(R)，校正曲線（9.1及図 5参照）
17、及試料頂点近 溶出狭分子量分布分子量標準物質（5.3及図 3参照）用式(8) 計算。望分離度範囲，JIS K 7252-3又JIS K 7252-4個別規格。 STD 1 WD R = (8) ， D：分子量標準物質頂点溶出時間対応校 正曲線上点校正曲線接線傾 WSTD：分子量標準物質上幅 1 注入 図 3狭分子量分布標準物質 SEC （例） w w w . b z f x w . c o m 7 K 7252-1：2008 6.5.4 係数測定 全体係数(AS)，低分子 量化合物得用，式(9)計算（図 2参照） 。 a ba A + = 2 S (9) ， AS： 係数 a： 10 高前半幅
18、 b： 10 高後半幅 6.6 検出器 検出器，溶出溶出液中高分子濃度連続的用 。示差屈折率検出器，紫外可視吸光検出器，赤外分光検出器，蛍光検出器濃度感受性検出 器各種市販。 分離分子群分離帯広，並6.5.2及6.5.3測定全体理論 段数及分離度低下，十分小体積。 検出器，示差屈折率108又紫外吸光度104差異検出感度 。（S/N）比，200以上望。分子量分布極広試 料場合又極高分子試料低濃度測定場合，S/N比低認容。， 場合S/N比20以上必要。，最大感度検出場合，1時間 当高10 未満。 6.7 配管 分離分画再混合防止及6.5.1規定性能要求確実適合 ，試料導入装置第1，次及最後検出器
19、接続用配管内径及長（）加工長含。 ，限細， ，短。試料導入装置検出器使用配管内径，0.05 cm以 下。一方，鎖切断及検出器内乱排除，細内径 配管用注意払。 6.8 温度制御 装置各項記述，試料導入装置及配管温度，狭 変動幅中収一定維持。検出器，SEC測定要求性能応温度制御。 6.9 記録計及 高，分離，処理 適切十分評価，SEC測定，鮮明記録又。 6.10 処理 処理，収集，校正曲線作成，平均分子量及分子 量分布計算並特定及又表示機能必要。， 規格規定方法，収集，解析及化必要。 SEC測定，生成望。，後 処理保存。 6.11 他構成要素 前述構成要素加，用，圧力，脈流低減用 又他関連要素，必
20、要応用。 7 操作 操作，SEC装置準備， 収集， 解析， 分子量標準物質溶液調製， 被験物質溶液調製， 性能評価用溶液調製，溶液過及注入成立。 実際行操作方法詳細，JIS K 7252規格群各部。 w w w . b z f x w . c o m 8 K 7252-1：2008 8 収集及解析 8.1 収集 収集，試料溶出始終又復帰行 。数，読取点数，分子量1当50点以上必要。収集曲線正 分子量分布曲線得加，面積及頂点溶出時間正推定 数，注意払必要。 8.2 検定及補正 SEC，測定，内部標準物質溶出時間誤差又溶媒溶出体積若溶出 質量誤差，分子量校正曲線測定時値対0.3 未満場合，0.3
21、1.0 間 場合， 1.0 超場合相当監視。 溶出時間誤差0.3 未満場合， 補正必要。 誤差0.3 1.0 間場合， 流量補正必要。 誤差許容限界(1.0 )超場合， 棄却再測定行。広補正行必 要。 注記 溶出時間及溶出体積又溶出質量監視方法，A.2記述。 8.3 解析 8.3.1 決定 図 4 a)示，溶離液起因以前，検出器 下場合，tatb引直線。 図 4 b)示，以前，検出器下 場合，試料溶出始直前点ta終了直後点tc引 直線。 8.3.2 計算範囲決定 図 4 a)示，試料中分子量1 000未満成分含場合，上点tatb 間計算範囲。 図 4 b)示， 試料中分子量1 000未満成分含
22、有率全面積30 未満場 合，次方法一方用計算。 a) 点ta 分子量1 000相当点t1 000計算。 b) 点ta 及含全分子量領域相当点td計算。， 明確添加剤由来識別場合， 除外。 点td溶離液決定。 試料分子量1 000未満成分含場合，図 4 c)示低分子量成分含有 量総計30 以上場合，JIS K 7252規格群規定方法適用。 注記 検出器応答，低分子量域変動。低分子量物質相当含場合，計算結果 信頼。 w w w . b z f x w . c o m 9 K 7252-1：2008 図 4典型的 SEC 曲線（例） 9 結果表示 9.1 校正曲線 校正曲線，図 5示溶出時間分子量対
23、数(log M)相関示。，作成 際分子量分布狭分子量標準物質Mp値用。Mp値，次方法用決定 。 a) 分子量標準物質得。 b) 式(5)用分子量標準物質記載Mw及Mn値計算。 c) 式(5)用分子量標準物質記載Mw又Mn値及Mw/Mn 値 計算。 実際高分子試料分子量（M），校正曲線以下例示多項式近似，得近似 式用算出。溶出時間t三次式多項式近似式広用。式(10)及式(11) 用計算結果作図近似良方採用。近似曲線測定点乖離認場合 ，他多項式用。 tAAM 10 log+= (10) 3 3 2 210 logtAtAtAAM+=(11) ， M：分子量 A0, A1，A2，A3：係数 t：溶出時間