《[国家计量标准]-JJG 182-1993 V形钻式千分尺检定规程.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《[国家计量标准]-JJG 182-1993 V形钻式千分尺检定规程.pdf（10页珍藏版）》请在三一文库上搜索。
1、中华人民共和国国家计量检定规程 J J G 1 8 2 - 1 9 9 3 V 形 砧 式 千 分 尺 V- s h a p e A n v i l Mi c r o me t e r 1 9 9 3 一0 9 一2 2发布 1 9 9 4 一0 4 一0 1 实 施 国 家 技 术 监 督 局发 布 JJ G 1 82 - 19 93 岌.。.。.。.。.。.。.。.护 J J G 1 8 2 - 1 9 9 3 代替 J J G 1 8 2 -1 9 7 8 旷。.0-。.。乙石.。. V形砧式千分尺检定规程 Ve r i f i c a t i o n Re g u l a t i o
2、n o f 七. ，. ，. ，. ，. ， ， . ，. ， . ，. ， . ，. ，. ，. ， V一s h a p e An v i l Mi c r o me t e r 本检定规程经国家技术监督局于1 9 9 3年0 9月2 2日 批准，并自1 9 9 4 年0 4月0 1日起施行。 归口单位 : 黑龙江省技术监督局 起草单位 : 黑龙江省计量检定测试所 本规程技术条文由起草单位负责解释 IJ G 1 82 - 1 993 本规程主要起草人 : 张黎平( 黑龙江省计量检定测试所) 马荃( 黑龙江省计量检定测试所) JJ G 1 82 - 19 93 目录 一概述 。 ， 。 。 (
3、 1) 二检定项 目和检定条件 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ( 1 ) 三技术要求和检定方法 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4、 . . . . . . . . ( 1 ) 四检定结果处理和检定周期 ， ( 5 ) 附录 ， 。 ， ， “ ， ， ， ， ， 】 ( 6 ) J JG 18 2- 1 99 3 V形砧式千分尺检定规程 本规程适用于新制造的，使用中和修理后的分度值为 0 . 0 1 mm V形砧式千分尺的 检 定。 一概述 V形砧式千分尺是应用螺旋副原理和采用 V形砧的一种长度计量器具，主要用于 测量具有奇数等分槽、齿的制件 ( 如丝锥 ，铰刀等)外径尺寸的量具。V形面夹角 a 有 6 0 0 , 1 0 8 0 和 1 2 8 0 3 4 “ 1 7 “ 。其示意图见图 t o 图1 1 一尺架;2
5、-V形测砧;3 一测微螺杆;4 -锁紧装置; 5 一固定套管;6 一微分筒;7 -测力装置;8 -隔热装置 二检定项 目和检定条件 1 V形砧式千分尺的受检项目和主要检定用的工具列于表 t o 2 检定的条件 2 . 1 检定 V形砧式千分尺的室内温度为 ( 2 0 士5 ) C o 2 . 2 检定前受检 V形砧式千分尺及其校对用量具与检定用的工具在检定室内平衡温度 的时间应不少于 1 h o 三技术要求和检定方法 外观 要求 八、几布 J J G 1 82 - 1 9 93 3 . 1 . 1 V形砧式千分尺及其校对用量具均不应有碰伤、锈蚀、镀层脱落等外观缺陷， 刻线应清晰、平直、均匀。
6、3 . 1 . 2 V形砧式千分尺应刻有测量范围、分度值 、V形面夹角 a值、制造厂名或厂标 和出厂编号 ， 并附有校对用的量具。 3 . 1 . 3 使用中和修理后的V形砧式千分尺， 及其校对用的 量具不应有影响使用准确度 的外观缺陷。 JJ G 1 8 2- 19 9 3 3 . 2 检定方法:目力观察。 4 各部分的相互作用 4. 1 要求 4 . 1 . 1 微分筒在工作行程内往返转动时必须灵活、平稳，无卡住和摩擦现象，无手感 觉到的径向摆动和轴向窜动，锁紧装置的作用应可靠。 4 . 1 . 2 测贴的安装必须牢固可靠。 4 . 1 . 3 零位调整装置在调整零位时应能保证顺利可靠。
7、4 . 2 检定方法:试验和目力观察。 5 测力 5 . 1 要求:应在 6 - - 1 0 N范围内。 5 . 2 检定方法:用分度值不大于 0 . 2 N的测力仪检定。检定时，使工作面与测力仪的 球面工作面接触后进行。 6 刻线宽度及宽度差 6 . 1 要求:固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为 0 . 1 5 - - 0 . 2 0 mm，刻线宽度差应 不大于0 . 0 3 m m , 6 . 2 检定方法 :在工具显微镜上检定，微分筒上的刻线宽度至少抽检 3 条刻线。 7 微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离 7 . 1 要求:微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离应不大于0 . 4 m
8、 m, 7 . 2 检定方法 : 在工具显微镜上检定，检定时在微分筒转动一周内不少于 3 个位置上 进行。 8 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置 8 . 1 要求 :当测量下限调整正确后 ，微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微 分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于0 . 0 5 m m，离 线不大于0 . 1 m m o 8 . 2 检定方法:当测量下限调整正确后，使微分筒锥面的端面与固定套管任一毫米刻 线的右边缘相切时，读取微分筒的零刻线与固定套管纵刻线的偏移量。 9 测量面和校对用的量具工作面的表面粗糙度 9 . 1 要求: 表面粗糙度应不大于R
9、 a 0 . 0 8 fL m o 9 . 2 检定方法 :用表面粗糙度比较样块以比较法检定。 1 0 测量面的平面度 1 0 . 1 要求:测微螺杆测量面的平面度应不大于 0 . 0 0 1 mm,测砧两测量面的平面度应 不大于0 . 0 0 1 2 mm，在距边缘 0 . 5 m m范围内允许塌边 0 . 1 mmo 对于测量面为 “ 1 . 5 mm的测微螺杆，其测量面边缘允许有塌边。 1 0 . 2 检定方法:用 2 级平晶或专用平晶以技术光波干涉法检定。也可用零级刀口尺以 光隙法检定。用刀口尺检定时至少在两对角线位置上进行。 1 1 测微螺杆测量面与测砧两测量面交线的平行度 1 1
10、. 1 要求:测微螺杆测量面与测砧两测量面交线的平行度应不超过表 2 规定。 J JG 1 82- 1 9 93 衰 2 V形砧工作面夹角 测 量 上 限 平行度示 值 误 差 60 0 350. 0 04士0. 00 4 5 00. 005士0. 0 05 8 00. 006士0. 0 06 1 8 0 0 1 2 8 0 3 4 1 7 “ 2 5 0. 004土0. 0 04 450. 005 土0. 0 05 850. 00 6 士0 . 0 0 6 1 1 . 2 检定方法 :在均匀分布整个测量范围的 4点上，用圆柱度不大于 0 . 0 0 1 m m的， 尺寸尾数差为 0 . 1
11、2 一0 . 1 3 m m的 4 个专用光滑量规检定。 检定时，每个量规的同一部位在测砧两端位置上，并与测微螺杆测量面直径 1 / 4处 接触检定 ( 如图2所示) 。两端位置的读数差即为平行度。 图2 1 -侧杆;2 -JR规 这一检定 ，也可用检定示值误差用的同一组量规进行。 1 2 示值误差 1 2 . 1 要求:应不超过表 2规定。 1 2 . 2 检定方法 :示值误差用专用光滑量规检定。检定点应均匀分布于测量范围的 5 点。其各点示值误差均不应超过表2的规定。 建议选用表 3 所列量规尺寸。 1 3 校对用量具的尺寸 1 3 . 1 要求:校对用量具的工作尺寸偏差及任意截面、方位直
12、径之差见表 4 0 4 J JG 1 82- 1 9 93 衰 3 量程 光滑量规尺寸 1 5 A A+3 . 1 2 A +6 . 2 5 A + 9. 3 7 A +1 2. 5 0 A+1 5 20 A A+4. 1 2 A+8 . 2 5 A +1 2 . 3 7 A +1 6. 5 0 A+2 0 注:( 1 )表中 “ A”为V形砧式千分尺测f下限的尺寸。 ( 2 )对于I程 1 4 mm的所用光滑f规尺寸参照表中t程 1 5 mm 的，只是上限尺寸用 A +1 40 衰 4 标 称 尺 寸 尺 寸 偏 差任意截面、方位直径之差 5 , 2 0 士0. 001 50. 001 2
13、5, 3 5士0. 00 20. 001 4 5, 5 0, 6 5士0. 00 250. 001 5 1 3 . 2 检定方法:校对用的量具工作尺寸用 4等量块在立式或卧式光学计上比较检定。 检定时，至少在量具两个截面和两个方位上检定。 四检定结果处理和检定周期 1 4 经检定符合本规程要求的 V形砧式千分尺填发检定证书;不符合本规程要求的， 应发给检定结果通知书。 1 5 V形砧式千分尺检定的周期根据使用具体情况确定。一般为 1 年。 J J G 1 8 2 - 1 9 9 3 附录 示值误差专用光滑量规其工作面的长度要不小于测砧测量面的宽度。圆柱度不大于 0 . 0 0 1 m m， 检定误差不超过1 ( 0 . 5 + 5 D) I m o D 被测直径，mo