[电子标准]-SJT 10266-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CF714型精密运算放大器1.pdf

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1、rJ 中华人民共和国电子工业行业标准 S J / T 1 0 2 6 6 一 1 0 2 7 0 -9 1 电子元器件详细规范 半导体集成电路运算放大器 ( 一 ) 1 9 9 1 一 1 1 一 1 2 发布1 9 9 2 - 0 1 - 0 1 实施 中华人民共和国机械电子工业部发布 中 华 人 民 共 和 国 电 子 工 业 行 业 标 准 电子元器件详细规范 半导体集成电路 C F 7 1 4 型精密运算放大器 S J / T 1 0 2 6 6 - - 9 1 De t a i l s pe c i f i c a t i o n f o r e l ec t r o n i c c

2、 o mpo n e nt s S e mi c o n d u c t o r i n t e g r a t e d c i r c u i t -C F 7 1 4 t y p e p r e c is i o n o p e r a t i o n a l a mp l i f i e r ( 可供认证用) 本标准规定了半导体集成电路 C F 7 1 4 型精密运算放大器质量评定的全部内容。 本标准符合 G B 4 5 8 9 . 工 半导体器件分立器件和集成电路总规范 和 G B / T 1 2 7 5 0 半导 体集成电路分规范( 不包括混合电路) 的要求。 中国电子元器件质量认证

3、委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。 中华人民共和国机械电子工业部 1 9 9 1 - 1 1 - 1 2 批准1 9 9 2 - 0 1 一 0 1实施 S J T 1 0 286 - -91 中华人民共和国机械电子工业部 I ECQ 评定器件质量的依据: G B 4 5 8 9“半导体器件分立器件和集 成电路总规范 G B / T 1 2 7 5 0 半导体集成电路分规范( 不 包括馄合电路) S J / T 1 0 2 6 6 -91 C F 7 1 4 型精密运算放大器详细规范 一 i7 n $L F:. e 7 , 1机 械 说 明 简要说明 外形依据: G B 7 0 9 2

4、 半导体集成电路外 形1 之 寸 。 外形图: 按GB 7 0 9 2 怪 型 5 . 5 条及 5 . 5 . 1 条中 P 0 8 S 2 J型 5 . 4 条 及5 . 4 . ， 条 中 J 0 8 S 2 T型5 . 6 . 1 条及 5 . 6 . 2 条 D型 5 . 3 条 及5 . 3 . 1 条 中 D 0 8 5 2 双极型集成特殊运算放大器 半导体材料: 硅 封装: 空封、 非空封 电原理图: 见本规范第 1 1 章。 品种 : 引出端排列 : OA. ，I(A D V+IN OUT4IN. 钱 0 -7 0 C ( C) 一5 5 -1 2 5 C ( M) 塑料直擂

5、( P ) C F7 1 4 CP 黑瓷直抽( J ) CF 71 4 CJCF7 1 4 M J 金属圆壳( T) C F7 1 4 CT C F7 1 4 M T 陶瓷直插( D ) C F7 1 4 M D OAs 质t评定类别 ，人，B, I C OU T 引出端符号 名称: 见本规范 第1 1 意。 标志: 按G B 4 5 8 9 . 1 第2 . 5 条及本规范 第 6章 。 参考数据 : 超低失调 内补偿 短路保护 按本规范鉴定合格的器件， 其有关制造厂的资料， 可在现行合格产品目录中查到。 一2 一 S J / T 1 0 2 6 6 - - - 9 1 4 极限值( 绝对最

6、大颤定值) 若无其它规定， 适用于全工作温度范围。 条款号参数符号 数值 单位 C F7 1 4 CCF 7 1 4 M 最小最大最小最大 4 . 1 电裸电压 1 s士2 2 士2 2 v 4 . 2 差模输入电压 ll。士3 0士3 0 V 4 , 3 共模输入电压n P士2 2士 2 2 V 4 . 4 允许功耗” T; Ta m b =8 0 C D, J , 1 a m b =7 5 C P; T - =3 6C P50 05 0 0mw 4 . 5 工作环境温度 Ta m b07 0一 5 51 2 5 4 . 6 贮存温度范围 D , T , J T , . 一 6 51 5 0

7、一 6 51 5 0 P 一 6 51 2 5 4 . 7 耐焊接热( 6 0 x ) T b 3 0 03 0 0 4 . 8 短路输出时限肠 Y 注: 1 )电源电压小于士2 2 V时， 共模输入电压等于电源电压。 2 ) T型封装: 8 0 以上. 降倾7 . 1 -W / C , D , J 型封装, 7 5 以上， 降额6 . 7 mW/ C尸 型封装 3 6 以 上， 降额 5 . 6 mW/ C. 5 电工作条件和电特性 电特性的检验要求见本规范第 8 章。 5 . 1 电工作条件 若无其它规定， 适用于全工作温度范围. 条款号参数符号 数值 单位 C F7 1 4 CCF 7

8、1 4 M 最小最大最小最大 5 . 1 . 1电源电压1 几士 1 5士 5 V 5 . 1 . 2 调零电阻几2 020 k Q 5 . 2 常温电特性 l j s =士1 5 V T , m n = 2 5 C 一3 一 S J / T 1 0 2 6 6 -9 1 条款号 一和 件 符号 1 单位试验 ct 7 1 4 CCP 71 4 M 最小 典型最大 最小 典型最大 m W I A3 521 一 耗 1 s =士1 5 V, 1 毛=0 V P u一 8 01 5 07 51 2 0 若 沃 =士3 v, 1 。 二o v 4 1 0x . 04 . 06 0CZ a 5 . 2

9、 . 2一 电 ， 电 流 ” 一 士 5 V R,=- 1 , = O V I s 2 . 75 . 02 54 . 0m AA3 5 . 23 输 ” 调 电 压 一_ I “ ， 一 ” U C 2 一 ” v 1 o = u v ” 6 01 5 03 07 51 1 V 1 八 A3 5 . 2 . 4 输入失调电流 r, =o v R=2o k a r , . , o V 4 , 00 . 86. 0 0 . 42 . 8A3 525 输入偏置电流 I , , =O V R=20 W F-O V 1 , e 土1 . 8士 7 C 士1 . 0士 3 . CnA人3 526 输入电

10、阻 I s !士 5 v 开环 刀 . .8 . 03 32 0 6 0卜 I QC Z 是 1 5 . 2 . 7 共模输入电压范围 1， =士1 5 V K- l 00 J B V. .土 1 3士1 4士1 3士 1 4 VA3 5 . 2 . 8 电源电压抑制比 1 。 =士3 士1 8 V e 9 =5 0 5 2 K.-9 0l o l l1 0 01 0 8 d B A3 5 . 2 . 9 5 .2 .1 0 共模抑制比 1 . ( =士1 3 V几=5 0 1 ? K- e1 0 01 2 0 1 1 01 2 0JBA3 仁五. A3 士1 3 . 0 V 输出峰一 峰 电

11、压 1 s =士l s v r , , 1 O W 1 o p 护 士1 2 . 0 士1 3 . 0 士1 2 。 5 士I 15士 1 2 . 8士1 2 . 0士 1 2 8 R , , 2 . O W C2 a 士1 2 .0士 0 . 5士1 20 b . 详细规范编号; c . 质量评定类别; d . 其它 。 8 试验条件和检验要求 抽样要求: 根据采用的质量评定类别， 按 G B / T 1 2 7 5 0 第 9 章的有关规定。 A组检验的抽样要求 分组 人QL ，类 I类 1 L 人QL 1 L AQ L A l百0 . 6 5l0 . 6 5 A310 . 1 5I0 .

12、 1 5 M aS 41 . 0S41 . 0 人3 bS 41 . 0S41 . 0 A4 S 41 . 0 S41 . 0 B 组、 C组和D组检验的抽样要求 分组 L TP D l类 .类 人BC B11 51 51 51 5 cl2 02 02 02 0 C 2 a1 51 51 51 5 C 2 b1 51 51 51 5 C 3i s1 5i 51 5 B4 C 41 01 01 01 0 B5 C 51 01 01 01 0 C62 0202 02 0 C 71 51 51 51 5 B8 C8 1 0 571 0 C91 5571 5 C11202 02 02 0 D81 05

13、71 0 一7 一 S J / T 1 0 2 6 6 -9 1 A组逐批 全部试验均为非破坏性的( 见G B 4 5 8 9 . 1 第3 . 6 . 6 条) 检验或试 验 引用标准 条件 若无其它规定， 7 . . b =2 5 (, ( 见 G B 4 5 8 9 . 1 第4章) 检验要求 规范位 A1 分组 外部目检GB 4 5 89 . 1 第 4 . 2 . 1 . 1 条标志清晰， 表而无损伤和气孔 A 3分组 2 5 下 的静 态 特性 G B 3 4 4 2 半导 体集成电路运 算( 电压) 放大 器 测 试 方 法 的 基本原理 V * A rt 5.2. 1， 至 5

14、. 2训 5 . 2 . 7 条至5 . 2 . 1 1 条 一 按 本 ，见 j 5. 2 . 1 k i i 5.2.5 条 ， 5 . 2 . 7条至5 . ? . 们条 A3 a 分组 最高工作温度 下的静态特性 GB 3 4 4 2 T a m b 按本规范 4 . 5条规定的最 大值。 按本规范5 . 3 . 1 条， 5 . 3 . 3 条， 5 . 3 . 5条, 5 . 3 . 7 至5 . 3 . 1 1 条 同本规范5 . 3 . 1 条， 5 . 3 . 3 条， 5 . 3 . 5 条, 5 . 3 . 7至5 . 3 . 1 1 条 同本规范5 . 3 . 1条.

15、., . 3 . 3 条， 5 . 3 . 5 条, 5 . 3 . 7至5 . 3川条 A3 b分组 最低工作温度 下的静态特性 GB 3 4 4 2 T a m b 按本规范 4 . 5条规定的最 小值 。 按本规范 5 . 3 . 1 条， 5 . 3 . 3 条， 5 . 3 . 5条， 5 . 3 . 7至 5 . 3 . 1 1 条 A4分组 2 5 下的 动 态 特性 GB 3 4 4 2 按本规范 5 . 2 . 1 2 至 S . 2 . 1 5 条 按本规范5 . 2 . 1 2至5 . 三 . 1 5条 B组- 逐批 标有( D ) 的试验是破坏性的( 见G B 4 5

16、8 9 . 1 第3 . 6 . 6 条) 检验或试验引用标准 条件 若无其它规定， 4a;- 2 5 ( ( 见 G B 4 5 8 9 . 1第4章7 险验 规范IIt rGB 4 5 8 9 . 1第4 . 2 . 2 条及附 录 B 按本规范缸 飞 命 川尺 8 一 S d / T 1 0 2 6 6 - 9 1 B组逐批( 续) 检验或试验引用标准 条件 若无其它规定, T s m b =2 5 C ( 见G B 4 5 8 9 . 1第4 章) 检验要求 规范值 B 4 分组 可焊性G B 4 5 9 0 半导体集成电路 机械和气候试验方法 第2 . 5 条 按方法b ( 槽焊法)

17、按 2 . 5 . 6 条 B 5 分组 温度快速变化 J . 空封器件 温度快速变化 随后进行 : 电测量 密封: 细检漏 粗检漏 b . 非空封和环氧封 的空封器件 温度快速变化 随后进行 外部目检 稳态湿热( D ) 电测量 G B 4 5 9 0 第 3 . 1 条 G B 4 5 9 0第3 . 1 2条 G B 4 5 9 0第3 . 1 3 条 G B 4 5 9 0第3 . 1条 G B 4 5 8 9 . 1 第4 . 2 . 1 . 1条 G B 4 5 9 0第3 . 7条 温度: 按本规范第 4 . 6 条规定 循环次数: 1 0 次t , =5 min 同人 3分组恢

18、复 2 h 按规定 按规定 温度 按本规范第 4 . 6 条规定 循环次数 1 0 次t , = 5 min 按规定 严格度A, 2 4 h 同A 3 分组 同A3 分组 同A1 分组 同人3 分组 B 8 分组 电耐久性 ( 1 6 8 h ) 最后测量 ( 同A 3分组) 侧试参数: - 1 , o 1 1 . A- I o n v X- / s ( P . ) Ks , GB / T 1 2 7 5 0 第 1 2 . 3 条 2 a m b 按本规范4 . 5条规定的 最大值， 试验线路见 1 0 . 4 条 同 A3分组 1 . 1XUS L “ 1 . 5 X US L 1 . 3

19、 XU SL O . 9 X I SL“ 0 . 9 XL S L 0 . 9 X L S L 1 . 3X US L 0 . 9Xi SL 其余同A3 分组 C R R L分组 注: 1 ) U S L =规范的上限值， L S L =规范的下限值. S J / T 1 0 2 6 6 - 9 1 C组周期 标有( D) 的试验是破坏性的( 见G B 4 5 8 9 . 1 第 3 . 6 . 6 条) 检验或试验引用标准 条件 若无其它规定， 2 . ,o=2 5 C ( 见 G B 4 5 8 9 . 第4章) 检验要求 规范值 。 分组 尺寸G B 4 5 8 9 . 1 第 4 .

20、2 . 2 条 及附录 B 按本规范第 1 章 C 2 a 分组 环境温度下的电特 性 按本规范第 5 . 2 . 1 条， 5 . 2 . 6 条， 5 . 2 . 1 0 条， 5 . 2 . 1 1 条 按本规范 5 . 2 . 1条， 5 . 2 . 6条。 5 . 2 . 1 0 条， 5 . 2 . 1 1 条 C 2 b 分组 最高和最低工作 温度下的电特性 按本规 范 5 . 3 . 2条， 5 . 3 . 4 条， 5 . 3 . 6 条 按本规范 5 . 3 . 2条， 5 . 3 . 4 条, 5 . 3 . 6 条 C 3 分组 弓 1 线强度 拉力( D) 弯曲( D

21、 ) G B 4 5 9 0第2 . 1 条 G B 4 5 9 0第2 . 2 条 外加力的值按2 . 1 条表1 外加力的值按2 . 2条表2 按 2 . 1 . 5 条 无损伤 C 4 分组 耐焊接热( D ) 最后测量 ( 同A3 分组) CB 4 5 9 0 第 2 . 6 条 按方法 1 ( 2 6 0 C 槽焊) 同A3 分组同A3 分组 C 5 分组” 温度快速变化( D ) ( 非空封和环氧 封的空封器件) 随后进行 外部目检: 稳态湿热( D ) 电测量 ( 同A3 分组) GB 4 5 9 0 第 3 . 1 条 G B 4 5 8 9 . 1 第 4 . 2 . 1 .

22、 1 条 GB 4 5 9 0 第 3 . 7 条 温度 按本规范第 4 . 6 条规定 循环次数: 5 0 0 ， 二5 min 严格度A, 2 4 h 同A 3 分组 同A1 分组 同A3 分组 c 6 分 组， ， 稳态加速度( D ) ( 空封器件) 最后测量 ( 同A 3 分组) G B 4 5 9 0 第 2 . 1 0 条 加速度 按规定 同A 3 分组 同A 3 分组 10- S 7 / T 1 0 2 6 6 -9 1 c组周期( 续) 检验或试验弓I 用标准 条件 若无其它规定. T a m b =2 5 ( 见 GB 4 5 8 9 . 1第 4章) 检验要求 规范值 C

23、 7 分组 稳态湿热( D ) a . 空封器件 b . 非空封器件 G B 4 5 9 0第3 . 6条 G B 4 5 9 0第3 . 7 条 严格度 D: 时间: 5 6 d 沮度 8 5 C, 湿度: 8 5 % 时间 1 0 0 0 h 最后侧1t ( 同B8分组) 同 B 8分组同 B88分组 C 8分组 电耐久性( 1 0 0 0 h ) 最后侧t ( 同B 8 分组) C 9分组 高温贮存( D ) G B / T 1 2 7 5 0 第 1 2 . 3 条I同B 8分组 同B 8分组同 B8分 组 G B 4 5 9 0 第 3 . 3条温度 按 ， , rs ( m a x

24、 ) 时间: 1 0 0 0 h 最后侧i t ( 同fT 8 分组) C l l 分组 标志附久性 同iB 8分组 同 B8分组 GB 45 90 第 4 . 3 条 按 G B 4 5 9 0第 4 . 3 . 2 条方 法 1 按 4 . 3 . 2条 C R R 儿分组就C 2 a , C 2 b , C 3 , C 4 , C 5 , C 6 , C 7 , C 8 , C 9 , C 1 1 分组提供计数检查结果. 注, 1 ) 连续三次通过后， 周期可放宽为一年一次. 9 D组 D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行， 其后每年进行一次。 检验或试验 引用标准 条件 若无其它规定，

25、 1 , m b =2 5 C ( 见G B 4 5 8 9 . 1 第 4 章) 俭验要求 规范值 I类: 2 0 0 0 h I 类 3 0 0 0 h 其它同B 8分组 同B 8分组同B 8分组 D 8 分组 电耐久性( D ) 最后测盈 ( 同B 8 分组) GB/ T 1 2 7 5 0 第 1 2 . 3 条 附加资料 引用 G B 3 4 4 2 的特性测试 1010 s i / T 1 02 6 6 -3 1 参数 测试方法 1 : 1.G B 3 4 4 2第2 . 1条 一. nr 口 0G B 3 4 4 2第2 . 2条 1 1 .G B 3 4 4 2第2 . 3条

26、a月。G B 3 4 4 2第2 . 4条 I , .G B 3 4 4 2 第 2 . 5条 场 l uGB 3 4 4 2 第 2 . 1 8 条 I s U ) G B 3 4 4 2 第 2 . 6条 1 w.GB 3 4 4 2 第 2 . 1 4条 K-GB 3 4 4 2 第 2 . 1 1 条 K-GB 3 4 4 2第2 . 8条 I l c 从G B 3 4 1 2第2 . 1 5 条 I I I . G B 3 4 4 2第2 . 1 2 条 S , G B 3 4 . 12第2 . 9条 一 一一一 BI 卜 一 。 G B 3 4 4 2第2 . 2 6 条 A .G

27、 B 3 4 4 2第2 . 7条 1， I r z e G B 3 4 4 2第2 . 2 1 条 1 0 . 2 持性曲线 负载特性曲线 2 0 1 5 0 ! 二 二 1= 2; 二 ! v = f 10m vI I I_ 盯 1 一 叮 卫 一训日 日 Z刚 酬罕. 下 / 口团川 一 i 口 i r 一 一 一 V I i 一 澳 一 ， 一 1 一 厂 一 l 一_一 _ 一 】 干 二盖二谷 尺 ( n) b . 短$ fi 特性曲线 1 2 S J / T 1 0 2 6 6 - - 9 1 3 5 4 (wca d ) _ 二 1 0 ,v v - + 1 5V V- V|一

28、 一V , , ( 3端) 二+1 O mv |曰 1十一 30 les 十卜 代-u)2Jl ! 一一 十 J 头 2 5 卜 一- 共 一气 _ 上 一 + - 4 - - 一 是 舟-一 ( 2 )， J一 十一 2 0 打 一 一 十 一 士 一 一 3 4 h k Hz ) 1 0 . 3 1 0 . 4 功 态参数测试 线路 I O p F 脉冲源 t. 簇l o o n s 电耐久性试验线路 I=1 k I l z输出信号幅度: 土5 V ( 测， ， ) L 3 S J / T 1 0 2 6 6 -9 1 l o o k n 犷 。 .二士1 n v f =s o Hz v,

29、 P p士 l o v 1 0 . 5 设计参考资料 条款号恃性和条件符号 规范值 单位 CF 7 1 4 C C F7 1 4 D 1 最小典型最大最小典型最大 1 0 - 5 . 1 输出电阻 ，-O v b=0 开环 1 r G Q6 0幻 1 0 . 5 . 2 失调调整范围 / 1 z = 2 0 k 4 ? 1 s ，士1 5 v 1 . .士4 0士4 0n i V 1 0 . 5 . 3 输入噪声 电流密度 九二1 0 H z 怒 0 0 3 50 . 9 00 . 3 20 . 8 0 Pj H z f -l 0 0 H z 0 . 1 . 50 . 2 70 .1 40 .

30、 2 3 f o =1 0 0 0 H z 0 . 1 30 .1 80 .1 20 .1 7 1 0 . 5 - 4 输入噪声 电压密度 f o =1 0 H z 口口 1 0 . 52 0. 01 0 . 31 8 . 0 H z f o =1 0 0 H z 1 0 . 21 3 . 51 0 . 01 3 . 0 9 . 81 1 . 5 9 . 61 1 . 0 九二l 0 0 0 H z 1 0 . 5 . 5 失调电压长时间稳定性 R s =S O n r , =o v写 0 . 4 2 . 00 . 4 M O 1 0 . 5 . 6 共模输入电阻 R , c1 2 02 0

31、0C盈 1 1 型号说明 1 1 . 1电原理 图 14一 S J / T 1 0 2 6 6 -9 1 ) A, 又 扭 P OUT 1 1 . 2 调零电路 i N _ OU T I N+ 1 1 . 3 引出端符号名称 引出端符号 名称 I N, 同相输入 I N_ 反相输入 OAOAz调零 O U T输 出 v, 正 电源 v_ 负电源 S J / T 1 0 2 6 6 - -9 1 附录A 筛选 ( 补充件 ) 皿 类器件: 生产厂自行规定筛选条件。 ， 类器件: 筛选项目和条件如下: 等级 A 等级 B 内部目检 GB 4 5 9 0 第 4 . 6 条 等级c 内部目检 G B

32、 4 5 9 0第4 . 6 条 A AL e l G B 4590 4N 3. 3 条 T “V m n z ) , 9 6 h 温度快、 鱼 变化 GB 4 5 9 0 第 3 . l 条 T . a ( mi n ) 2 . s L ma x )， 1 0次 稳态加速度” G B 4 5 9 0第2 . 1 0 条 密封， G B 4 5 9 0第3 . 1 2 条和 3 . 1 3 条 老 化 后电 测 量 同 A 3 分 组 ， * 除 不 合 格 品 若 不 合 格 品 率 大 于 5 % ， 则 该 批 拒 收 注: I ) 不适用于非空封器件. 内部目检 G B 4 5 9 0

33、 第 4 . 6 条 高温稳定 G B 5 ， 0 第 3 . 3 条 T s ( mn x) , 4 8 h 温度快速变化 G B 4 5 9 0 第 3 . 1 条 1 s mi n)一 T u s ( mx z )， 1 0次 稳态加速度” G B 4 5 9 0 第2 . 1 0 条 密封” G B 4 5 9 0 第 3 . 1 2条和第3 . 1. 3 条 老化前电测量 同A 3 分组 剔除不合格品 老化 G B 4 5 9 0 第 4 . 7条 T a m b 最大， 1 6 8 h 老化后电测量 同A3 分组， 剔除不合格品。 若不合格品率大于 5 %， 则该批 拒收 S J / T 1 0 2 6 6 -9 1 附加说明: 本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出 本标准由北京半导体器件研究所负责起草。 本标准主要起草人: 崔忠勤 17 一