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1、SJ 中 华 人 民 共 和 国 电 子 行 业 标 准 S J / T 1 0 6 8 6 一 1 9 9 5 安全电气隔离用光电祸合器 要求和试验 O p t o c o u p l e r s f o r s a f e e l e c t r i c a l i s o l a t i o n 一Re q u i r e me n t s , t e s t s 1 9 9 5 - 0 8 - 1 8 发布1 9 9 6 - 0 1 - 0 1 实施 中华人民共和国电子工业部发布 中 华 人 民 共 和 国 电 子 行 业 标 准 安全电气隔离用光电摇合器 要求和试验 S l / T
2、1 0 6 8 6 -1 9 9 5 Op t o c o u p le r s f o r s a f e e le c t r i c a l i s u l a t i o n一Re q u i reme n t s , t e s t s 本标准等效采用德国 V D E标准0 8 8 4 安全电气隔离用光电藕合器要求和试验 。 范围 本标准适用于额定电源电 压不超过1 0 0 0 V的、 在电路中 做安全电 气隔离用的光电 祸合 器。 2定义 2 . 1 光电 藕合器 。 p t o c o u p le r s 是指一 个外壳内含有一个或多个发射器和 一个或多个接收器的器件， 某些情
3、况下还包括 相关的控制器或输出电子线路。 发射器和接收器之间是靠光谱范围内的辐射传翰数据的。 注; 也包含通过光传输作用达到枪入和翰出之间安全电气隔离用的组件。 2 . 2 安全电气隔离s a f e e l e c t r i c a l is o l a t i o n 安全电气隔离是阻止一个电路的电压施加到另外一个电路的隔离。“ 安全电气隔离” 也要 求当电 路万一出现 故障时应具备基 本绝缘。 2 . 2 . 1 故障f a u l t 指 光电 粗合器和( 或) 在危及安全的外围电 路的元件或功能失效。 2 . 2 . 2 附加绝缘。 n i n s u l a t i o n 对触
4、电进行墓本防护而对带电件施加的绝缘。 注: 签本绝缘不猫要与功能绝缘相同。 2 . 2 . 3 附加绝缘a d d i t i o n a l i n s u la t io n 附 加绝缘是除了基 本绝缘之 外的一种独 立绝缘， 以便在基本绝缘万一失效的情况下， 仍能 保证防止触电。 2 . 2 . 4 双重绝缘d o u b le i n s u l a t io n 双重绝缘是由基本绝缘和附加绝缘组成的绝缘。 2 . 2 . 5 加强绝缘r e in f o r c e d in s u l a t i o n 加强绝缘是对带电 件施加的 单独绝 缘系 统. 其防触电等级等于本标准规定条
5、件下的 双重 绝缘。 中 华人民 共和国电子工业部1 9 9 5 - 0 8 - 1 8 批准 1 9 9 6 - 0 1 - 0 1 实施 一1 一 S J / T 1 0 6 8 6 - 1 9 9 5 注: 这不滋味着该绝缘必须是一体化的. 它可以由多层材料构成。但各层不能单独地按附加绝缘或羞本 绝缘进行试脸。 2 . 2 . 6 局部放电p a r t i a l d is c h a r g e 局部放电 是仅指局部跨接在两个电 极之间的 绝缘体上的 放电 。 2 . 3 限值li mi t v a lu e s 2 . 3 . 1工作限 值 o p e r a t i o n a
6、l l i m i t v a l u e s 工作限值表示光电辆合器可以 正常工作， 对其工作和安全没有有害影响的电 气、 湿度、 机 械方面的限值。 2 . 3 . 2 安全限值s a f e t y l imi t v a l u e s 安全限值是指在光电 祸合器可 以工作的范围内 ， 其安 全电 气隔 离不 低于 基本绝缘的电气、 温度和机械方面的限值。在这个范围内， 光电藕合器的其余功能可受有害影响或破坏。 安全限值是: 电流几， 电 压 U ; ， 功率P 和温度 T e o 2 . 4 电压V o l t a g e s 2 . 4 . 1绝缘电 压 U 或U ,o i n s
7、 u la t io n V o i t a g e U ,oM o r U ,o 该电压是允许施加到器件上的最大连续的电压。该电压可以是一个周期峰值电压( 包括 交流峰值电压) U 、 或直流电压U t o . 2 . 4 . 2 试验电 压 U , t e s t V o l t a g e L J . 试验电压是施加在光电藕合器上， 用以检查其隔离能力的一个电压。 交流试验电压和电涌试验电压之间有区别。 下面提到所有交流试验电压均为峰值电压。 2 . 4 . 3 瞬态过电压 U t r t r a n s i e n t o v e r v o l t a g e U a 瞬态过压可以是
8、: 2 . 4 . 3 . 1 通断过电压s wit c h in g o v e r v o l t a g e s 设备中给定点由于特殊通断在工作状态或故障状态时， 导致的瞬态过电压。 2 . 4 . 3 . 2 雷击过电压 l ig h t n i n g o v e r v o l t a g e 特殊的雷电放电导致设备中给定点的过电压。 2 . 4 . 3 . 3 操作过电压 o p e r a t i n g o v e r v o l t a g e 设备操作时， 预定施加必要的过电压。 2 . 4 . 4 额定绝缘试验电压 r a t e d i n s u l a t i o
9、 n t e s t v o l t a g e 倾定绝缘电压大于或等于在有关的工作等级情况下发生的最大瞬态过电压。撅定绝缘试 验电压是规定间晾的基准电压。 2 . 4 . 5 局 部放电 试验电压U ， 二p a rt i a l d is c h a r g e t e s t v o l t a g e U j_ w U ,是局部放电 试验的最大试验电 压， 它是交流试验电压。 UIN T T L A L - UT A 2 . 4 . 6 局部放电截止电压U , p a rt ia l d ic s c h a r g e c u t o f f vol t a g e 认 局部放电 截
10、止电 压 u ， 是指当 试验电 压从一个超过起始电 压的值逐渐降低到试验电路中 还能观测到局部放电的最低电压。 在实际情况中， 口 。 是一个局部放电强度等于或小于一个规定的较小值的最低电压值。 2 . 5 绝缘电 阻R ;, in s u l a t i o n r e s i s t a n ce R ;, 绝缘电阻是在规定的气候条件和试验电压下， 短路的箱入端子和短路的箱出端子之间的 一2 一 S 7 / T 1 0 6 8 6 - 1 9 9 5 电阻。 2 . 6 间隙c le a r a n c e 间隙是指在两导电件之间在空气中测得的最短距离。 2 . 7 爬电距离c re e
11、 p a g e d i s t a n ce 爬电距离是指在两导电件间沿绝缘体表面测得的最短距离。 2 . 8 耐漏电起痕 t r a c k i n g r e s i s t a n c e 耐翻电起痕是指绝缘材料阻止因受漏电流的影响绝缘体局部热分解而产生漏电沟痕的能 力( 引自I E C 1 1 2 ) . 2 . 9 污染等级 与 I E C 6 6 4 和6 6 4 a 规定一致。 2 . 1 0 温度 2 . 1 0 . 1 工作温度范围T , m y s e r v i ce t e m p e r a t u r e r a n g e T_6 工作温度范围是光电栩合器可以正
12、常工作的上限温度和下限温度之间的范围。 2 . 1 0 . 2 存贮a度范围Ts s t o r a g e t e m p e r a t u r e r a n g e T . . 存贮温度范围是光电藕合器可以存贮的上限温度和下限温度之间的范围。 2 . 1 0 . 3 安全极限温 度 T , ; s a f e t y l im i t t e m p e r a t u r e 几 安 全极限 温度T 是在故障情况下所 允许的外壳最高温度。 2 . 1 1 试验类型t y p e s o f t e s t 2 . 1 1 . 1 非破坏性试 验 n o n - d e s t r u
13、 c t i v e t e s t s 非破坏性试验是指当光电报合器通过该试验后其机械性能或电性能仍保持不受影响的一 种试验。 2 . 1 1 . 2 破坏性试验 d e s t r u c t i v e t e s t s 破坏性试验是指光电藕合器通过该试验， 其机械性能或电性能可能已受应力。 为此光电祸 合器不能连续使用， 或光电藕合器的正常寿命要减少的一种试验。 2 . 1 1 . 3 型式试验t y p e t e s t s 型式试验是在规定数量的同一个型号的光电藕合器上进行的一个完正的系列试验。该试 验是破坏性试验。 注: 型式试验通常确定光电报合器在试验条件下， 它的所有参数
14、在总体上是否满足设计要求。型式试验 通常是在工厂中生产的产品上进行。 2 . 1 1 . 4 随机试验r a n d o m t e s t s 随机试验是在企常生产的相同的一批光电藕合器中， 随机选择几个样品进行试验。它们 可能是破坏性试验也可能是非破坏性试验。 2 . 1 1 . 5 日常试验r o u t in e t e s t s 日常试验是在每个光电藕合器上进行的试验。它是非破坏性试验。 3 要求 光电藕合器在工作极限和安全的限值中使用时， 其输入和输出之间绝缘隔离性能应可靠 地保持表1中给出的数据。 注: 另外， 光电栩合器的使用者应确保在任何时候， 一旦故障时光电报合器的电流.
15、 电压和温度的安全限 值都要得到保证。 S l / T 1 0 6 8 6 - 1 9 9 5 表 1 光电藕合器的安全电气隔离要求 绝缘要求数值图表中的数值和数据 1 . 气候试脸等级数据与 I E C 6 8第1部分一致 2 . 抗电强度 2 . 1 绝缘电压 2 . 2 试脸电压 抽入/ 物出 U10 -或 U, , V 1 . 6 x U . ( 峰值) , V 3 . 局部放电截止电压 最高允许过电压( 瞬态过电压) U , ( 峰值) U-( 峰值) 4 . 环境条件污染等级与 】E C 6 6 4 的 6 . 3 条一致 5 . 爬电距离和间隙的数值1 ) 数值与I E C 6
16、6 4 的表2和表4的图表注释一致 5 . 1 绝缘体附飞弧起痕的数据 耐飞弧起痕的图表数据与 I E C 1 1 2的第 1部分; C T 1 1 7 5一致。皿组材料与 I E C 6 6 4一致。 5 . 2允许工作温度范围和贮存温度范围 T min T m a x T y m in 仪 m a x 6 . 在如下温度绝缘电阻的最小值 T- = 2 5 1 C T -( 但最小为 I O O C ) 1 0 “ ( 3 在 U,=5 0 0 V 1 0 “ O在 U,=5 0 0 V 7 . 故津条件下的性能 7 . 1绝缘电阻 安全值: 电 流1 ; ; 功率Y : : 温度T ; 绝
17、缘电阻 R l 护( I 在 T 下( U,=5 0 0 V) 注 1 ) : 如果使用了印侧板， 则爬电距离和间晾可以低于这个值( 例如， 在捍孔中心之间7 . 5 -的标准距 离) 如果这个值不允许， 则用户应采取适当的措施。 4 试验 方法 本章包括了按第 5 章规定进行试验时的电气试验方法。所有试验应在下面环境条件下进 行( 除非另有说明) : 温度: 1 5 一3 5 C 相对湿度: 4 5 %一7 5 % 大气压力: 8一1 0 6 k P a ( 与I E C 6 8 第1 部分的试验气候相当) 对测量有争议时， 应采用下面的环境条件: 温度: 2 3土 1 C 相对湿度( 5
18、0 士 2 ) % 4 . 1 局部放电的测量 4 . 1 . 1 试验( 型式试验和随机试验) 本试验的目的是确定在不同电路之间的绝缘内部或绝缘表面的起始局部放电电压或者放 电截止电压是否比 连续施加到器件上绝缘电压U , ， 高出2 0 % a 一4 一 S J / T 1 0 6 8 6 - 1 9 9 5 在试验时， 输入连接端子( 发射器) 和输出连接端子( 接受器) 都分别短路。 测试样品输入和输出之间的电压应增加到起始电压 U I N I TT A L ( 5 0 H z ) ( 以每秒最小 I O O V ) ， 并且保持l o s 。局部放电可以 发生， 但无击穿。电 压应按
19、数据表减少到U , ， 在U 。 点局 部放电不应超过规定的电压。 U I N I TT A L 是电网中产生的最大瞬态 过电压( 见表2 ) 即 U IN I 等于在工作等级和额定电 网电 压条件下的U T R . 表2 以额定电 压和过压 限值为 基础的绝缘试验电 压的优先值 电网电源额定电压 U“V ) ( 这里为 U , ) 或 U , ( V ) 各工作等级的优选绝缘试验电压( V) I II m IV 5 0 1 0 0 1 5 0 3 0 0 6 0 0 1 0 0 0 3 3 0 5 0 0 8 0 0 1 5 0 0 5 0 0 8 0 0 1 5 0 0 2 5 0 0 8
20、 0 0 1 5 0 02 5 0 0 4 0 0 0 1 5 0 0 2 5 0 0 4 0 0 0 6 0 0 0 2 5 0 0 4 0 0 0 6 0 0 0 8 0 0 0 4 00 0 6 0 0 0 8 0 0 0 1 2 0 0 0 注: 关于工作等级的描述. 见注释。 U 。 按下式计算: U , = K U ( o R M k = 1 . 2 适用于环境试验后的加强绝缘。 k=1 . 0适用于基本绝缘。 4 . 1 . 2测量电路 U_= 试验电压: Z=撼波器: Z . 二测量阻抗， 刊 =局部放电设备; C 4 -祸合电容; P . =被试样品， 可以认为是一个电容器
21、图 1 测量局部放电截止电压的电路图 4 . 1 . 3 测量电路和测量设备的说明 4 . 1 . 3 . 1 测量电路 测量电路的生要组成是: P ,被试样品， 可以 认为是一 个电 容器; C k藕合电容; Z m 由测量阻抗， 连接线和测量仪器的阻杭组成的测试阻抗; S J / T 1 0 6 8 6 - 1 9 9 5 P D 局部放电测量设备; Z - 阻抗或滤波器， 用来防止由高压源给出的 放电 脉冲 短路和减少电 压源的干扰。 如果没有使用阻抗或滤波器 2 ， 则高压源电容器可以代替藕合电容器。 被试样品中的局部放电导致侧试电路中电荷均衡和通过测量阻抗引起电流脉冲， 与被试 样品
22、 和藕合电 容器相连在一起的测量阻杭， 确定了被测脉冲电 压的持续时间和形状。脉冲在 测量装置中以如下方法处理， 即在侧量装置中显示出与视在电荷成比例的读数。 4 . 1 . 3 . 2 测量电 路的性能 取决于测量频率范围， 有关测量电路可以分成两组， 宽频带和窄频带。 为了保持低干扰水平， 采用窄频带测量电路。 窄颇带被定义为: 灯 簇1 5 k H z 局部放电 检测器的中 频响应应在1 5 0 k H z - 5 1v 1 H z 之间。 必须保证不在测量电路的谐振频率上进行测量。 4 . 1 . 3 . 3 测量电路的比例系数k 比 例系数k 是将测量设备的读数放大的一个系数， 以得
23、到一个被放大的、 以P C ( 微微库 仑) 计的局部放电量。比例系数取决于带有测量设备的测量电路的性能， 所以必须针对每个新 型被试样品进行校准。被试样品中的电容器相对有大的变化时， 也必须进行校准。 4 . 1 . 3 . 4 测量阻抗 测量阻抗通常的作用象频率响应经选择的四端网络一样， 要使测量设备与测量孩率电压 隔离。在纯阻的情况下， 上述可以通过电阻并接一个的电感. 或通过给电阻和测量线之间串联 一个电容来获得。测量阻抗可以由一个电阻器， 一个由电阻器和电容器组成的并联电路， 调谐 电路或者更复杂的滤波电路组成。测量阻杭经常调谐到测量设备的测量频率上。 4 . 1 . 3 . 5 藕
24、合电容器 藕合电容应仅仅有一很小的电感、 并且它的谐振频率不应小于所选择中间频率的三倍。 4 . 1 . 3 . 6 测量视在电荷q 的设备 由局部放电产生的电流脉冲在测量阻抗的端子上产生一个信号。对于短脉冲信号是一个 电压脉冲， 该脉冲的峰值与被试样品的视在电荷成比例. 分离脉冲可以在阴极射线示波器上显 示， 并通过计量来确定视在电荷的大小。脉冲能在整个线性时基上来显示， 并且通过它自己的 充电脉冲或测试电压触发。 示波器有助于在不同类型的局部放电之间， 以及被测放电之间判定哪个是被测电荷哪个 是外部干扰， 在实际试验中测得的视在电荷的大小， 通常是以最大的重复脉冲确定。 4. 1 . 4校
25、准电路 S i / T 1 0 6 8 6 - 1 9 9 5 -.， 2 一 一 c. 下门 。 南州上 _ u一=试验电压; 2=撼波器; C 。 =脉冲发生器的电容器; G= 脉冲发生器; z m=洲量阻抗; P D =局部放电测量设备;, C 二报合电容器; P , -被试样品可以认为是一个电容器。 图2 校准整套试验电路的校准电路 4 . 1 . 5 校准 4 . 1 . 5 . 1 概述 校准主要有两种不同的基本方法， 一种是对测量设备的性能进行全部测定. 包括校准最小 的细节， 这种校准在每次修理后进行， 以 及至 少每 年进行一次。 第二种是对在整套试验电 路中 的测量设备定期
26、进行的校准。该校准在每次试验前进行， 如果对很多相同的试验样品进行试 验， 由用户确定适当的校准间隔。第二种校准包括证实试验电路中的测量单元能否测量 1 P C 的值。 4 . 1 . 5 . 2 测量设备性能的确定。 测量设备性能和校准的测定应按照制造厂说明书规定的条件或按照适用的校准( 例如 I E C 2 7 0 ( 1 9 8 1 ) ) 在所有的测量范围内 进行。 校准 应包括测量阻 杭 Z 二 和所有连线。 4 . 1 . 5 . 3 对测量视在电荷e 的测量设备校准 对单次放电 视在放电电 荷9 的测量设备的 校准是通过测 最阻杭Z . 送出一个视在电 荷4 o = 5 p c
27、的短电 流脉冲的 测量设备进行校 准。 脉冲发生器应给出一个方波电压上升时间小于 5 0 n s ， 方波 电压的下降时间为 1 0 0 - 1 0 0 0 ra s o 4 . 1 . 5 . 4 整套 试验电路中测试装置的校准 对整套试验电路中测试装置进行校准， 是为了确定连接被试样品后的比倒系数 K ， 这个系 数用试验电路特性来确定。校准应对每个单独的被试样品重复进行。除非测试是在一组相同 的被试样品上进行， 该被试样品的电容值离均值偏差不大于 士1 0 %。器件的日常试验经常属 于这种情况， 在这种情况下， 在开始试验前， 至少每天要进行校准。 本校准可以用来证实放电 的最小测量值。
28、这个最小值由背 景噪声电平和侧量电 路特 性来 确定。校准只需要在测量的一个或几个值上进行。 对安 装在整套电路中、 用 来测量9 设 备的校准， 应当按照图2 中的说明， 送入一个短电流 脉冲到被试样品的端子上进行。 用同样的方法获得校准脉冲， 并且应当满足4 . 1 . 5 . 2条规定同一要求。 对整套试验电路的校准应当在不给被试样品施加试验电压情况下进行。 一7 一 S J / T 1 0 6 8 6 - 1 9 9 5 在将试验电压施加到测量装置之前， 脉冲发生器应当拆去。 4 . 1 . 6 试验性能 4 . 1 . 6 . 1 一般要求 当测量局部放电时。 为了获得可重现的结果，
29、 需要对所有有关因素进行监视， 以下各条款 规定关于被试样品和试验电压的要求。 4 . 1 . 6 . 2 规定试验电压下的 局部放电电 压的确定 4 . 1 . 6 . 2 . 1 方法 a ) 型式试验和随机试验。 将远远低于局部放电起始电压的一个电压施加到被试样品上， 然后慢慢地增加到规定值。 这个规定的测试电 压值就是局部放电 起始电 压 U IN IT IA L ， 在这个起始电压下， 局部放电可能发 生 ， 将该 电 压 维 持 规 定 的 时 间t w 内 ， 然 后 缓 慢地 减 少 到局 部 放 电 试 验电 压U ， 值。 在此电压上维持规定的试验时间t 6 ， 并在这个时
30、间内， 以规定的时间间隔t , 测量局部放 电电压。 图 3 时间测试电压图 6 . 2 . 2 方法 b ) 随机试验 图4 时间测试电压图 施 加 局 部 放电 试 验 电 压 为U , r 。 将电 压 在 此 电 压 上 维 持 规 定的 试 验 时间t o ， 并在 这 个 时 间内以规定的时间间隔t P 测量局部放电电 压。 一8 一 S i / T 1 0 6 8 6 - 1 9 9 5 4. 1 . 7说明 绝缘试验电压不应超过局部 放电起始电压U I N I T L A L - 如 果在局部放电 起始电压U u , I 、 下测不到任何局部放电( 见表2 ) ， 则不得继续增
31、加被 试样品上的试验电压。 不应从被试样品的局部放电测量值上减去噪声电平的数值。 另 外， 应考虑最大工作绝缘电 压 U I O I U a ， 因 为在实践中， 每一种形式的脉冲都在绝缘上形 成一个负载。 局部放电q C的量值是在测量时间t ， 中， 甚至在短 时间内 测得的 最大局部 放电 值。 4 . 1 . 8测试条件 4 . 1 . 9 安全要求 不小于S P C 的视在局部放电电 平q 已经被认可为光电辆合器的典型值。 希望有较低的 值 ， 但 是目 前 技 术 上 不 能 达 到 。 在 符 合4 . 1 . 8 条 的 测 试 条 件 下 ， 在 局 部 放电 测 量时 间t
32、， 内 ， 指 示的局 部放电电平q c 应不超过S p c o 4 . 2 抗电强度 4 . 2 . 1 试验 抗电强度试验时， 分别短接输入端子( 发射器) 和输出端子( 接收器) 。在输入端和输出端 之间施加交流试验电压 它们的值从下式得到: U , = 1 . 6 U . 符合4 . 1 . 6 . 2 . 1 方法a ) 和4 . 1 . 6 . 2 . 2 方法b ) 的电 压的施加时间为: 对于型式试验I m i n o 对于日常试验 I s ( 暂定值) 4 . 2 . 2 测量方法 见4 . 1 . 2条 4 . 2 . 3 评定依据 一9 一 SI / T 1 0 6 8
33、6 -1 9 9 5 试验时， 不 应发生任何超过规定值的局部放电。局部放电限值= 5 p c o 4 . 3 绝缘电阻 4 . 3 . 1 试验 绝缘电阻试验时， 分别短路抽人端子( 发射器) 和箱出端子( 接收器) ， 在输入端子和翰出端 子之间施加直流电压5 0 0 V, 1 mi n ， 然后测量绝缘电阻。 4 . 3 . 2 评定依据 绝缘电限应不低于下表值: R 二 ( n ) U( V) 1 x 1 00 1 x1 0“ 1 x1 0 温度 几 T m a x , min 但最低为 1 0 0 2 5 500500500 X=测试样品; C, =1 . F ; R, =1 k n
34、; R, = 4 Mn; R, =I O O Mfl; R, =O . 1 Mn; R, =1 5 Mn; 图 5 电涌试验 注: 该试脸是暂定试验。 4 . 4 电涌试验与 I E C 6 5的1 0 . 1 条， 图7 a 一致 在可触及件与有触电危险的部件之间的绝缘应耐 I O k V , 5 0 次的放电试验( 每分钟最多 1 2 次) 。 紧接着用5 0 0 V直流电压进行绝缘电阻的测 量， 其R 应不小于10n. 5 试 验方案 5 . 1 型式试验 试验样品应是能代表某一个型号产品的样品。 由至少 8 0个相同型号的光电藕合器， 试验样品分成三个试验组， 并且按 5 . 5 条和
35、表 3所 示顺序进行测量和试验。一个试验组的所有试验样品均应满足单独判据的要求， 任何一个试 验样品不应失效。如果在一个试验组内一个试验样品失效， 则应在另取相同数量的样品重复 进行该组的试验。 但是在该试验组内， 不应再发生失效。经过型式试验的试验样品不得再使 用。 5 . 2 随机试验 从正常产品中均匀批中抽取的试验样品上进行。它检验光电藕合器规定性能或数值。随 机试验还在选定的数据上对产品监督， 随机试验样品的大小由制造方与试验站协商。试验范 围应取自5 . 5条。 5 . 3 日常试验 试验的范围应取自5 . 5 条。 一1 0 一 S J / T 1 0 6 8 6 - 1 9 9
36、5 进行日常试验是为了证实刚刚生产的光电祠合器绝缘是否良好， 工作性能是否正确。 5 . 4 绝缘材料的试验 5 . 4 . 1 耐漏电起痕 采用的绝缘材料和它的耐漏电 起痕 是确定光电 藕合器额定绝缘电压的 重要因 素。 绝缘材 料的评价和相比漏电 起痕指数 C T I ) 确定 。应采用I E C 1 1 2 第I 部分。 5 . 4 . 2 绝缘材料的温度性能( 燃烧性能) 绝缘材料温度性能的评价应按 I E C 6 9 5 第 2 一 2部分进行。试验火焰的施加时间为 t o 二 l o so 5 . 4 . 3 绝缘材料的极限温度 绝缘材料的极限温度应按 I E C 2 1 6的第
37、1 部分和 I E C 2 1 6 第 2 部分进行测定。 该极限温度应至少比安全极限值高 2 0 C 5 . 4 . 4 陶瓷绝缘材料 如果使用陶瓷绝缘材料， 则应满足 I E C 6 7 2 的第 1 部分要求。 5 . 5 试验类型和进行的顺序见表3 S J / T 1 0 6 8 6 - 1 9 9 5 表 3 试验类型和进行顺序( n = 8 0 ) 型 式 试 脸 破 坏 性 试 验 试验 1组 n= 2 0 试验 2组 n= 3 0 试验 3 组 n= 3 0 目视检查 5 . 6 . 1 条 随机 试脸 ( 破坏 性试 脸) 日常试验 ( 非破坏性试脸 一 抗 电 强 度 5
38、.6 .2 条一 2 fV* * 5.6 .3 * 一 一 - _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ 抗电强度 5 . 6 . 2条 工作检验 5 . 6 . 3条 医 庵 云和 间 。.6 .4 条 绝 电 阻 5 6 15 条一 I r, 14 接 热 5 t6 6 条一 爬电距离和间隙5条 绝缘电阻5 . 6 . 5 条 耐 掉 接 热5 . 6 . 6 条 -.，-一一-一-一一一一一一-一一-一 逻 $fk* Id4b 5.6.IP*ff;J.Y “ IW* 盈 V xp1匕 94X#4 匣 二 习 低 “ : 一 12 h 5 . 6 . 1 1 条! 一“ Z M A .6
39、t=/93 5.6.10;一 最 后 ， t5 6 .1 5 条 ，) 不适用塑封器件 沮度循环n = s s . s .条 安 全试验 1 输人负载 5 . 6 . 1 3条 安全试验 II 翰出负荷 5 . 6 . 1 4 条 振动5 . 68 条 冲击负荷5 . 6 . 8 . 1 条 最终安全测t 5 . 6 . 1 6条 最终安全测量 5 . 6 . 1 6 条 .密封5 : 6 . 1 2 条 干热t =1 6 h 5 . 6 . 9条 湿热循环 1 个周期交变1 t =5 5 C 5 . 6 . 1 0 条 低沮 i =条 恒定湿热t 二 2 1 d 4 0条 最后测 5 . 6
40、 . 1 5条 5. 试验见表4 1 2 S i / T 1 0 6 8 6 - 1 9 9 5 表 4 5 . 6 . 1 目视检查 以目视检查方式作为右面试验的检验判据 外部状况 工艺， 标识应表示没有明显的缺陷， 或者有一个 可能使本标准规定参数变劣的缺陷。 标识 满足 6 . 1 条要求。 5. 6. 2抗电强度测量按照4 . 2 条。随机试验按照4 . 1 . 1 条 侧复沮度 测量待续时间 试验 电压 检毅判据 1 5-3 5 C t = 1 s ( 日常试脸) 二l n m in ( 型式试脸) U a = 1 . 6 U M. 局部放电不超过5 p c 5 . 6 . 3 工作
41、检验， 根据制造方数据试验 测全温度 基准温度 检验判据 1 5- -3 5 C 2 0 C 应当保证扭合功能 5 . 6 . 4 爬电距离和间隙根据 I E C 6 6 4 表 2 和表 4 测量法进 行试脸 检脸判据 外表面爬电距离和何膝 应根据顺定的绝缘试验电 压， ， 和有 关污染等 级选择爬电 距 离和间像要求 见注释 绝缘电阻测量按4 . 3 条 。5.6.5 测t电压 测量温度 检 验依据 测虽温度 检验 # 9 据 5 0 0 V( d c ) 1 5-3 5 C R;, = 1 0 “ 0 T . . -但最，4 1 1 0 0 C R;, = 1 0 “ f 1 5. 6.
42、 6耐焊接热按 I E C 6 8第2 一2 0 / 1 2 . 8 0部分焊锡糟方式第5章 试验的类型试验 T b方法 I A a ) 初始测量 b ) 试验方法 c ) 浸焊深度 d ) 焊锡箱的沮度 e ) 更进一步的检验要求 不要求 试验方法 T b 实验方法 I A 无附加要求 ( 2 6 015 ) C 无附加要求 1 3 S I / T 1 0 6 8 6 - 1 9 9 5 续表 试验的类型试脸 T b方法 I A 0 耐热试脸在2 6 0 的焊锡糟内浸焊时间 9 ) 最后洲量的方式 h ) 耐热试验后的检测判据 f ) 目视检查 ( 5土1 ) s 不要求 不要求 无可见摄伤
43、 5. 6. 7快速温度循环 I E C 6 8 第 2 一1 4 / 0 8 . 8 5 部主要章节 I 试验类型 Na a ) 低沮 b ) 高沮 c ) 循环次数 d ) 浸焊时间t , e ) 初始侧量 0 存 贮时间t i B ) 随后处理持续时间 h ) 最终侧t i ) 检脸判据 T. min T闷 5次 3 h 无要求 至少2 min 最多3 min 无要求 无要求 5. 6. 8振动按I E C 6 8 第 2 一 6 / 0 2 . 8 4部分， 试验 F c a ) 侧试件的安装 b ) 受力轴向 圈形 非圆形 孩率范围 振动幅度 c ) 交越孩率 d ) 受力持续时间
44、e ) 最后洲试 f ) 检脸判据 按 IE C 6 8第2一4 7部分 2 个轴向 3 个轴向 1 0- 2 0 1 犯 H . 0 . 7 5 mm， 最大加速度1 0 0 耐 s 2 6 0 H z 每个轴向1 0次循环 目视检查 连接是否断裂 5. 6. 8 a ) 安装 冲 击， 按I E C 6 8 第2 一 2 7 ( 1 9 7 2 ) ， 试验E a 按 ;二6。 第 4 7 部 分 b ) 冲击波形 c ) 严命度 加速度 冲击持续时间 冲击次数 d ) 初始测t e ) 操作检验 1 ) 最终测I 9 ) 检验判据 半正弦波 1 0 0 0 耐 护 6 m s 每个方向三
45、次冲击 无 无 目视检查 连接是否断裂 5 . 6 . 9 高温按 一1 4 一 I E C 6 8第2 一2 / 0 3 . 8 0 部分 S I / T 1 0 6 8 6 - 1 9 9 5 试验 B a ， 适用于快速温度循环情况下. 测试样品不发热。 a ) 预处理 b ) 初始侧t c ) 物入和抽出之间加应力 d ) 应力持续时间和沮度 e ) 中间测试 f ) 随后的处理 B ) 最终测量 h ) 检验判据 不要求 不要求 I I 不小于U* R M 至少 7 0 0 V( 交流电压的峰值) T,ma x ( 最低为1 0 0 0 ) 1 6 h 不要求 不要求 不要求 不要
46、求 5 . 6 . 1 6 湿热、 循环按 E E C 6 8 第 2 一 3 0 / 0 9 . 8 6 部分. 交货 1 , t = 5 5 一次循环 a ) 顶处理 b ) 初始侧量 c ) 在测试箱内放进侧试样品的规定 d ) 应力时间 e ) 电气应力如果适用的话 f ) 紧接着处理时间 9 ) 随后的特殊处理 h ) 最终侧t i ) 检验判据 不要求 不要求 无附加要求 一次循环 不要求 不要求 无 不要求 不要求 5. 6. 1 0 湿热、 恒定按 I E C 6 8 第 2 一 3 八2 . 8 6部分试验 C a a ) 预处理 b ) 初始侧t c ) 在侧试箱内放进洲试
47、样品的规定 d ) 受应力时间 e ) 电气应力如果适用的话 0随后处理时间 H ) 随后的特殊处理 h ) 最终测t 0检脸判据 不要求 无 无附加条件 21 d 不要求 不要求 无 不要求 不要求 5 . 6 . 1 1 低温按 I E C 6 8 第 2 一1 / 0 8 . 8 5部分 试验 As， 适用于快速温度循环情况下. 侧试样品不发热。 a预处理 b ) 初始侧t e ) 试脸箱内测试样品的排列 a ) 严酷度、 施加温度和施加时间 e ) 应力情况下的负荷 0随后的处理 9 最后测量 1) 检验判据 不要求 无 无附加要求 沮度见 】 E C 6 8 第 2 一1 / 0 8
48、 部分的表4 . 1 T y m in 或下一个较高沮度， 2 h 无附加要求 不要求 不要求 不要求 1 5 S I / T 1 0 6 8 6 - 1 9 9 5 5 . 6 . 1 2 密封按 I E C 6 8第2 一1 7 / 0 3 . 8 1 部分， 试验 Q 5 . 6 . 1 2 . 1 密封试验 Q k 按 I E C 6 8 第 2 一1 7 / 0 3 . 8 1 部分第 6 条用质谱仪跟踪气体的浸溃 注: 不适用于塑封器件 s ) 试脸类型 b ) 试验容器内的压力 c ) 受应力时间 d ) 随后的处理 e ) 受应力试验和最后试验之间的时间 0最大压力 9 ) 确
49、定最大泄漏的方法 h ) 检脸判据. 容积 成0 . 0 1 -3 0 . 0 1 蕊0 . 4 =3 方法 1或方法 2 2 0 0 k Pa 6 h 用空气咬束净化表面 最大0 . 5 m in 按制造方的规定 紧接着测量 Qc ( 密封性试脸 ) -1 . 2 U , , , . 局部放电 (5 p c 在 T, e 二2 5 1 C 最小值按4 . 3 . 2条 测量绝缘电阻 R 1 0 R 16 S I / T 1 0 6 8 6 - 1 9 9 5 5 . 6 . 1 6 最终安全测量 测t 检脸依据 局部放电截止电压按 4 . 1 条 认 无失效 U. 31 . 0 U-. 局部放电(5 p c 6 在数据衰中包括的标记. 标签和数据 如果由于器件面积的原因， 不可能在器件上标示出与 6 . 1 条和 6 . 2 条