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1、G B 1 1 0 3 0 -2 0 0 0 前台 本标准是等效采用 工 E C 3 8 3 - 1 : 1 9 9 3 ( 第四版) 标称电压高于 1 0 0 0 v 的架空线路绝缘子第一部 分: 交流系统用瓷或玻璃绝缘子元件- - 一 定义、 试验方法和验收准则 制定的 按 I E C 3 8 3 - 1 ， 本标准主要增加了抽样试验中抽取三倍试品数量的重复试验程序和等效的电气、 机 械型式试验条件的内容 本标准与原行标 J B / T 8 1 8 0 -1 9 9 5 ( 由G B 1 1 0 3 0- 1 9 8 9降为J B / T 8 1 8 0 -1 9 9 5 ， 其内容不变)
2、 相 比， 在产品分类方面取消了上帽管径为5 0 mm类的产品， 增加了爬电距离为 1 5 0 0 mm类和弯曲强度为 8 k N类的产品， 将爬电距离为8 5 0 m m类的产品 作为过渡型产品列人本标准的附录B中; 在特性方面 将人工污秽耐受电压由 2 9 k V提高到 3 1 . 5 k V. 本标准自实施之日 起， 同时代替J B / T 8 1 8 0 -1 9 9 5 , 本标准的附录A是标准的附录， 附录B是提示的附录。 本标准由国家机械工业局提出。 本标准由全国绝缘子标准化技术委员会归口。 本标准由西安电瓷研究所负责起草 本标准主要起草人: 丁京玲、 蔡梅成 本标准委托西安电瓷
3、研究所负责解释。 中华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 交流牵引线路用棒形瓷绝缘子 G B 1 1 0 3 0 -2 0 0 0 e q v I E C 3 8 3 - 1 : 1 9 9 4 R o d p o r c e l a i n i n s u l a t o r s f o r a . c . s y s t e m t r a c t i o n l i n e s 范围 本标准规定了交流牵引线路用棒形瓷绝缘子( 以下简称绝缘子) 的分类与命名， 技术要求， 检验规则 与试验方法， 包装、 标志、 运输与贮存 本标准适用于污秽地区交流工频单相 2 5 k V牵引线路绝缘和固
4、定导线用的绝缘子。 绝缘子安装地 点环境温度应在一4 0 C-+4 0 C 之间， 海拔不超过 1 0 0 0 m o 注: 海拔超过 1 0 0 0 .时按 G B 3 1 1 . 1 判定其适用性 本标准不适用于对绝缘件和金属附件有严重腐蚀的环境下使用的绝缘子。 2 引用标准 下列标准所包含的条文， 通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时， 所示版本均 为有效。所有标准都会被修订， 使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。 G B 3 1 1 . 1 -1 9 9 7 高压输变电设备的绝缘配合( n e q I E C 7 1 - 1 : 1 9 9 3 ) G
5、B 7 7 2 -1 9 8 7高 压 绝 缘 子 瓷 件 技 术 舞 件( n e q I E C 2 3 3 : 1 9 7 4 ) G B / T 7 7 5 . 1 -1 9 8 7 绝缘子试验方法第 1 部分: 一般试验方法 G B / T 7 7 5 . 2 -1 9 8 7 绝缘子试验方法第2 部分: 电气试验方法 G B / T 7 7 5 . 3 -1 9 8 7 绝缘子试验方法第3 部分: 机械试验方法 G B / T 2 9 0 0 . 8 -1 9 9 5 电工术语绝缘子( e q v I E C 4 7 1 ) G B / T 4 5 8 5 . 2 -1 9 9 1
6、 交流系统用高压绝缘子人工污秽试验方法固体层法( i d t I E C 5 0 7 : 1 9 7 5 ) J B / T 3 3 8 4 -1 9 9 9 高压绝缘子抽样方案 J B / T 4 3 0 7 -1 9 8 6 绝缘子胶装用水泥胶合剂技术条件 J B / T 8 1 7 7 -1 9 9 9 绝缘子金属附件热镀锌层通用技术条件 J B / T 9 6 7 4 -1 9 9 9 超声波探测瓷件内部缺陷 I B / T 9 6 7 3 -1 9 9 9 绝缘子产品包装 3 定义 本标准所用术语的定义均按G B / T 2 9 0 0 . 8 的规定。 4 分类与命名 4 . 1
7、绝缘子按安装方式分为悬挂、 定位和腕臂支撑式三种。 隧道用悬挂、 定位式， 区间， 站场用腕臂支撑 式 4 . 2 绝缘子的主要尺寸与特性分别符合图 1 一图4和表 1 的规定。 国家质f技术监督局2 0 0 0 - 0 1 一 0 3 批准 2 0 0 0 一 0 3 一 0 1 ga G B 1 1 0 3 0 -2 0 0 0 图 1 图 3 图 4 7几 0 G B 1 1 0 3 0 -2 0 0 0 表 1 绝缘子主要尺寸与特性 序 号 绝缘 子 一 型 号 图 号 ) 主要尺寸 m m最小公称 爬电距离 ( 主绝缘/ I 辅助 一 mm 雷电全波 冲击耐受 电压 k V I (
8、峰 TL ) ! 小 小于 工频湿耐 受电压 k V 3 0 0 m m 时， 士( 0 . 0 2 5 E+6 . 0 ) mm; E为被检查的尺寸， 单位 mm 5 . 4 绝缘子形位公差应符合如下规定: a ) 绝缘子瓷件轴线直线度应不超过其长度的 1 %; b )悬挂、 定位用绝缘子上、 下金属附件安装面应在同一平面内， 其平行度不超过 5 mm; c ) 绝缘子上、 下金属附件的同轴度应不超过那 m m, 5 . 5 半导体釉绝缘子釉层电阻值应符合工厂产品图样中所做的规定。 半导体釉层外观质量及其电阻的 测量方法按附录 A的规定。 5 ， 6 绝缘子瓷件的剖面应是均质的， 经孔隙性试
9、验后不应有任何渗透现象。孔隙性试验的压力应不小 于 2 0 MP a ， 压力与时间的乘积应不小于 1 8 0 MP a “ h 5 . 7 绝缘子瓷件在胶装前应逐只进行超声波探伤检查， 瓷件内部不应有超声波能发现的缺陷( 如生烧、 氧化、 开裂和气孔夹层等) 5 . 8 绝缘子应使用相当于J B / T 4 3 0 7 规定的 II 类水泥胶合剂进行胶装， 瓷件端面与金属附件之间应垫 以缓冲衬垫， 瓷件及金属附件与水泥接触面应均匀地涂一层缓冲层， 外露水泥表面应平整无裂纹， 其平 面度应不大于3 mm， 外露砂层高度不大于 1 0 mme 5 . 9 绝缘子金属附件表面应全部热镀锌， 其锌层
10、质量应符合J B / T 8 1 7 7的规定。 5 . 1 0 绝缘子应耐受三次温度循环试验而不损坏 试验温差为7 0 K , 5 . 1 1 对于悬挂、 定位式绝缘子应能耐受 1 mi n拉伸负荷试验而不损坏， 其试验负荷为额定拉伸破坏负 荷的 6 0 %; 对于腕臂支撑式绝缘子应耐受一 1 05弯曲负荷试验， 其试验负荷为额定弯曲破坏负荷的 6 0 %口 6 检验规则与试验方法 6 . 1 绝缘子应由制造厂质量检查部门检验， 并保证出厂的绝缘子符合本标准的要求。 6 . 2 绝缘子应按批进行检验， 同批绝缘子的制造工艺及型号应完全相同， 每批数量N应不超过 1 2 0 0 只。当绝缘子多
11、于 1 2 0 0只时， 应将其均分成数量为 5 0 0 -1 2 0 0 只绝缘子数批， 分别进行试验和考核 6 . 3 绝缘子的检验分为逐个试验、 抽样试验和型式试验， 其试验方法按本标准的规定。 6 . 3 . 1 逐个试验: 绝缘子应按表 2 规定逐个进行检验， 如发现有不符合表 2中规定的任何一项要求时， G s 1 1 0 3 0 -2 0 0 0 则此绝缘子不合格 表 2 绝缘子逐个试验项 目 项 目 一 试验方法 1 夕 卜 、 检 查本 标 准 5 . 2 ; 0 . 5 ; 5 . 8 ; 5 . 9 G B / T 7 7 5 . 1 ， 本标准附录A 2连接尺寸检查 本
12、标准 4 . 2 GB/ T 7 7 5 . 1 3 瓷件超声波检探伤查本标准 5 . 7 B / T 9 6 7 4 4 机械负荷试验本标准 5 . nGB/ T 7 7 5 . 3 5 半导体釉层电阻测量本标准 5 . 5 本标准附录A 6 . 3 . 2 抽样试验: 抽样试验应在逐个试验合格后的绝缘子中按表 3 规定试品数量随机抽取试品， 并按 表3的程序进行试验 表 3 绝缘子抽样试验项 目 项号试验名称试验依据 批量 N 试验方法 N成1 5 0 1 5 0 N5 0 0500N-l 2 0 0 样本容量， 只 3 ( 6 )4 ( 8 )5 ( 1 0 ) 1 尺寸检查本标准 4
13、. 2 ; 5 . 3 ; 5 . 4 ; 3 . 8 34 口 GB / T 7 7 5 . 1 9 锌层试验 本标准5 . 9 34 5 J B / T 8 1 7 7 3 温度循环试验本标准 5 . 1 03 ( 6 )4 ( 8 )5 ( 1 0 ) GB / T 7 5 5 . 1 4 拉伸破坏 负荷试验 本标准 4 . 2 345 G B / T 7 7 5 . 3 办 弯曲破坏 负荷试验 本标准 4 . 2 345 GB / T 7 7 5 . 3和 本标准 6 . 4 6孔隙性试验 本标准 56 34 刁 GB / T 7 7 5 . 1 注: 括号内数量仅适用于腕臂支律式绝缘
14、子 抽样试验项目中的拉伸、 弯曲破坏负荷试验采用计量二次抽样方案; 锌层试验按J B / T 8 1 7 7 的规 定， 其余项目 采用计件二次抽样方案。接收质量水平( A Q L ) 均为2 . 5 0 0 , 判定按J B / T 3 3 8 4 的规定 在第一轮试验时， 如表 3 仅有一只( 第 1 , 3 , 6 项) 或仅有一项( 第 2 , 4 , 5 项) 被判为重复试验时， 试验 应继续做完。 对第 1 , 3 , 6 项所缺试品应重新随机抽取一只进行补试; 在继续第一次试验时， 除第 1 项外， 如在第 3 , 6 项中又有一只不合格， 或在第 2 . 4 . 5 项中又被判
15、为重复试验时， 则该批绝缘子不合格， 但若 仅第 1 项不合格， 则仅对第 1 项进行加倍数量的重复试验， 如重复试验仍不合格， 则允许逐只精选。 如果在第一轮试验时， 仅有一项( 第 2 , 4 , 5 项) 不合格或计量抽样方案被判为拒收时， 则该批绝缘子 不合格 在首轮全部试验做完后， 如总计仅有一只试品不合格或仅有一项被判为重复试验时， 则按以下三种 情况进行加倍数量的重复试验: a )如若仅表 3中第 3 , 6 项中任何一项不合格， 仅对不合格项单独进行加倍数量的重复试验， 如重 复试验不合格， 则该批绝缘子不合格。 b )如若仅表 3 中4 , 5 项按照J B / T 3 3
16、8 4 被判为重复试验时， 则应按该项加倍数量进行重复试验。 重复试验时， 应先进行温度循环试验。但如果在第一轮试验时纯属金属附件强度不合格， 则可不进行温 度循环试验 ， 如重复试验不合格， 则该批绝缘子不合格。 c ) 如若仅表 3中第 2 项在第一轮试验被判为重复试验时， 应单独进行加倍数量的重复试验， 其试 验按 1 B / T 8 1 7 7 的规定， 如重复试验不合格， 则该批维级子不合格_ G B 1 1 0 3 0 - - 2 0 0 0 如果能够清楚地识别出产品不合格的原因， 制造厂可以在该批绝缘子中剔除具有这种缺陷的所有 绝缘 子( 如一批绝缘子已分成较小批量， 如果小批量
17、中有一个绝缘子不合格， 则应扩大到其他小批量) 然后精选后的各批量或部分绝缘子可重新提交试验此时抽取试品的数量是第一次抽取试品数量的三 倍， 在进行重复试验时， 如有任何一个绝缘子不合格， 则认为整批( 包括已分成所有的小批) 绝缘子不合 格 。 6 . 3 . 3 型式试验: 新产品试制定型或正常生产的产品修改结构， 改变原材料配方及工艺方法时， 必须按 型式试验的全部项目或根据改变的性质涉及的f式试验项目进行试验。其中机械破坏负荷试验采用计 量一次抽样方案， 尺寸检查、 半导体釉层电阻测量、 温度循环试验和孔隙性试验采用计件一次抽样方案， 接收质量水平( A Q L ) 均为2 . 5 .
18、 判定均按 B / T 3 3 8 4 相应的规定。锌层试验按I B / T 8 1 7 7 的规定， 釉 阻测量按本标准附录 A 的规定口 型式试验应在逐个试验合格后， 按表 4 规定进行 若某种绝缘子已进行过型式试验， 并提供了有效的型式试验报告 ， 则 与其相 比， 能满足下述条件 a ) 或( 和) b ) 的绝缘子， 即可认为其电气或( 和) 机械性能不低于该种绝缘子， 可不必再进行相应项目的型 式试验。但对供需双方另有协议的绝缘子除外 a )电气上等效的绝缘子是在同一工厂制造的， 具有相同材料， 采用相同工艺， 且具有下列特征: 公称杆体直径相同或略小; 公称伞间距相同， 差异在士
19、5 %之内; - 一 伞伸出相同， 差异在士5 %之内; 一 一 伞形相同; 一一公称电弧距离相同， 差异在士5 %之内。 b )机械上等效的绝缘子是同一工厂制造的， 采用相同工艺， 且具有下列特征: 一 一 公称杆体直径相同; 强度等级相同或较小; -一绝缘件与金属附件之间连接结构及尺寸相同; 公称电弧距离相同或较小。 表 4 绝缘子型式试验项 目 项号试验名称 试验依据 试品数量， 只试验方法 l 尺寸检直 本标准 4 . 2 ; 5 . 3 汤 4 ; 5 . 8 匀 GB / T 7 7 5 . 1 2 锌层试验 水标准 5 . 95 J B / T 8 1 7 7 3 半导体釉层电阻
20、测量 本标准 5 . 55 本标准附录A 4 雷电全波冲击 耐受电压试验 本标准 4 . 2 3GB / T 7 7 5 . 2 O 工频湿耐受电 压试验本标准4 . 2 3 GB / T 7 7 5 . 2 6 人工污秽耐受 电压试验 本标准4 . 2 3 GB / T 4 5 8 5 . 2 7 温度循环试验 本标准5 . 1 05 ( 1 0 )GB/ T 7 7 5 . 1 8 拉伸破坏负荷试验 本标准4 . 2 经项 7试后 5 GB / T 7 7 5 . 3 和本标准 6 . 5 9 弯曲破坏负荷试验 本标准 4 . 2 经项 7试后 刁 GB / T 7 7 5 . 3 和本标
21、准6 . 4 丁 0 孔隙性试验 本标准 5 . 6 经项 8或项 9试后 a 注: 括号内的数量为腕臂支撑式绝缘子 G B 1 1 0 3 0 -2 0 0 0 6 . 4 弯曲破坏负荷试验: 试验时将上帽孔套在试验夹具的芯棒 仁， 并用 U 形卡箍压板固定， 然后在下 帽单耳孔内穿销钉， 用钢丝绳套在销钉上施加弯曲负荷， 加负荷方向应与上帽缺口的朝向相反， 负荷方 向应与试品的轴线垂直且和试品轴线在同一平面内， 如图5 所示， 试验程序按G B / T 7 7 5 . 3的规定 销钉 图 5 6 . 5 拉伸破坏负荷试验: 将腕臂支撑式绝缘子铁帽插孔套在相应直径的芯棒上， 芯棒应加工有适当
22、尺 寸的孔， 紧固好U形卡箍( 凸压板的销钉应插在芯棒孔内) 。 然后在下铁帽单耳上配合适当的试验夹具 沿绝缘子轴线方向施加拉伸负荷， 试验程序按G B / T 7 7 5 . 3 的规定 了 包装、 标志、 运输与贮存 7 . 1 绝缘子的包装推荐采用 J B / T 9 6 7 3的规定， 在包装体上应标明: a ) 制造厂名称; b )绝缘子名称， 型号; c )绝缘子数量; d ) 包装体总重量; e ) “ 小心轻放” 、 “ 瓷件” 等字样或指示标记。 7 . 2 绝缘子瓷件上应按图样规定的部位清楚而牢固地标出制造厂商标和制造年份 了 . 3 绝缘子的包装必须保证在正常运输中， 不
23、至因包装不良而使绝缘子损坏。 7 . 4 绝缘子应储存在通风良好、 干燥的仓库或场地上 ， 不宜放在潮湿或有腐蚀气体的附近， 以防止附件 镀锌层被腐蚀。 7 . 5 送交的每批绝缘子应附有加盖制造厂检验部门印章的产品检验合格证 G B 1 1 0 3 0 -2 0 0 0 附录A ( 标准的附录) 半导体釉层外观质A及其电阻的测f方法 本附录规定了半导体釉绝缘子的半导体釉层外观质量及其电阻的测量方法。 A 1 绝缘子瓷件全部上半导体釉， 其表面缺釉总面积不超过 1 . 5 c m ， 单个缺陷面积不超过。 . 5 c m 。 当 釉层电阻值合格时， 半导体釉瓷件允许有轻微的色调不均， 其余应符
24、合 G B 7 7 2的规定 A 2 半导体釉层电阻的测量一般可用 2 5 0 0 v摇表或晶体管兆欧表测量。测量时周围环境in 度应在 +1 0 C十4 0 C 之间， 相对湿度不超过 8 5 线， 被测试品表面应干燥， 且不允许有导电性的物质存在。测 量引线应与绝缘子瓷件两端靠近金属附件的主体部位的釉面接触良好， 所测电阻值按下式进行校正。 K , 。 一 戈/ K 式中: K ,-一校正到标准状态( t =2 0 C) 时的电阻值， Mn ; K在温度t C时测量的电阻值， MC I ; K-温度校正系数， 由制造厂提供 实测后的校正值应符合工厂产品图样中的规定值范围。 附录B ( 提示
25、的附录) 过渡型绝缘子的主要尺寸和特性 过渡型绝缘子的主要尺寸见表 B l ， 特性见表B 2 e 表 B 1 过渡型绝缘子的主要尺寸 绝缘子类型图号 主要尺寸 最小公称 爬电距离 H人 U ) : d d , a石 隧道悬挂、 定位用 1一 5 5 0 3 8 2 一 1 4 5 3 0 3 0 I一 2 1一一 2 1 5 6 1 6一一 25 5 0 一 3 8 2 一 1 4 5 3 0 3 0一一 2 1一一l一一一 i s一 一 表 B 2 过渡型绝缘子特性 绝缘子类型图号 雷电全波 冲击耐受 电压( 峰值 ) k V 不小于 工频湿耐受 电压( 有效值) k V 不小于 人工污秽
26、 耐受电压 k V 不小 于 额定弯曲 破坏负荷 k N 额定拉伸 破坏负荷 k N 盐密 盯 、 9 / e m 0. 10 . 3 隧道悬挂 、 定位用 1 2 0 51 0 5 一 一 一 一 2 9 4 O l 2 *草庐一苇草庐一苇*提供优质文档， 如果 你下载的文档有缺页、 模糊等现象或 者遇到找不到的稀缺文件， 请发站内 信和我联系！我一定帮你解决！ 提供优质文档， 如果 你下载的文档有缺页、 模糊等现象或 者遇到找不到的稀缺文件， 请发站内 信和我联系！我一定帮你解决！ 本人有各种国内外标准 20 余万个， 包括全系 列 GB 国标国标及国内行业行业及部门标准部门标准，全系列 BSI EN DIN JIS NF AS NZS GOST ASTM ISO ASME SSPC ANSI IEC IEEE ANSI UL AASHTO ABS ACI AREMA AWS ML NACE GM FAA TBR RCC 各国船级 社 船级 社 等大量其他国际标准。豆丁下载网址：豆丁下载网址： http:/