GBT 15133.1-1994.pdf

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1、中华人民共和 国国家标 准 信息处理数据交换用 2 0 0 m m双频制 记录的位密度为 1 3 2 6 2 磁通翻转/ 弧度、 道密度为1 . 9 道/ 毫米的单面软磁盘 第一部分: 尺寸、 物理性能和磁性能 I n f o r m a t i o n p r o c e s s i n g -D a t a i n t e r c h a n g e o n 2 0 0 m m f l e x i b l e d i s k c a r t r id g e s u s in g t w o - f r e q u e n c y r e c o r d i n g a t 1 3 2 6

2、 2 f t p r a d , l . 9 t p m m, o n o n e s i d e - P a r t 1 . D h n e n s i o n a l , p h y s i c a l a n d m a g n e t i c c h a r a c t e r i s t i c s G B / T 1 5 1 3 3 . 1 -9 4 I S O 5 6 5 4 / 1 一1 9 8 4 1 引官 G B / T 1 5 1 3 3 规定了 2 0 0 m m用双频制记录的位密度为 1 3 2 6 2 磁通翻转/ 弧度、 道密度为 1 . 9 道/ 毫 米的单面软磁

3、盘的性能。 G B / T 1 5 1 3 3 . 2 规定了已记录信号的质量、 磁道配置和磁道格式。 G B / T 1 5 1 3 3 . 1 和G B / T 1 5 1 3 3 . 2 与G B / T 1 5 1 3 4 规定的标号系统为数据处理系统之间的全部数 据交换提供了条件。 本标准规定了上述软磁盘的尺寸、 物理性能和磁性能， 以保证数据处理系统之间实际的互换性。 本标准等同采用 I S O 5 6 5 4 / 1 -1 9 8 4 信息处理一数据交换用 2 0 0 m m双频制记录的位密度为 1 3 2 6 2 磁通翻转/ 弧度、 道密度为 1 . 9 道/ 毫米的单面软磁盘

4、第一部分: 尺寸、 物理性能和磁性能 。 2 引用标准 G B 1 9 8 8 信息处理 信息交换用的七位编码字符集 G B 2 3 1 1信息处理 七位和八位编码字符集代码扩充 技术 G B 1 1 3 8 3 信息处理 信息交换用八位代码结构和编码规则 G B / T 1 5 1 3 4 信息处理信息交换用软磁盘文卷结构和标号 3 术语 本标准采用下述术语。 3 . 1 磁盘: 磁盘是一种在特定的单面或双面上接受并保持磁信号的部件， 在信息数据处理及有关的系 统中用于输人/ 输出和存储信息。 3 . 2 基准软磁盘， 任意选来作为定标用的特性已知的软磁盘。 3 . 3 二级基准软磁盘， 经

5、基准软磁盘校准， 作为例行校正用的特性已知的软磁盘。 3 . 4 信号幅度基准软磁盘， 选作记录磁场强度和信号幅度标准的基准软磁盘。 3 . 5 典型磁场强度， 以指定的磁通翻转频率记录时， 加在软磁盘的指定磁道上， 所产生的信号输出等于 最大平均信号幅度的9 5 %时的最小记录磁场强度。 国家技术监任局1 9 9 4 一 0 7 一 1 6 批准1 9 9 5 一 0 3 一 0 1 实施 G B / T 1 5 1 3 3 . 1 -9 4 3 . 6 基准磁场强度: 信号幅度基准软磁盘的典型磁场强度。 3 . 了 测试记录电流， 在 0 0 磁道和 7 6 磁道上以2 5 0 0 0 0

6、 磁通翻转/ 秒的频率记录时， 两种大小分别相当 于产生基准磁场强度电流的 1 4 5 0 o -1 5 5 %的电流， 其中第一种电 流用来记录 0 0 至 4 3 磁道， 第二种电 流用来记录 “ 至 7 6 磁道( 见8 . 2 ) , 3 . 8 标准基准幅度: 在0 0磁道和 7 6 磁道上， 分别以 2 5 0 0 0 0 磁通翻转/ 秒和 5 0 0 0 0 0磁通翻转/ 秒的 频率记录时， 以相应于该磁道的测试记录电流， 从信号幅度基准软磁盘上得到的平均信号幅度( 见 8 - 2 ) 3 . 9 平均信号幅度: 整条磁道上所测得的峰一峰抽出电 压的算术平均值。 3 . 1 0

7、接触式记录: 操作时， 磁盘的磁表面与磁头处于实际的接触状态。 3 . 1 ， 格式化: 在磁盘表面上写人特有的控制信息， 按控制信息确定 7 7 条实际磁道和实际记录的地 址。 3 . 1 2 初始化: 在进行一般性数据处理和使用之前， 预先在软磁盘上写入卷标号、 错误映象标号 ( E R M A P ) 和其他所需信息的操作。 3 . 1 3 记录区: 磁头与磁盘表面能够接触的区域。 4 一般说明 4 . 1 总图 典型的软磁盘如图 1 至图3 所示: a . 图1 为软磁盘的俯视图， 0 面朝上。 b . 图2为沿图 1 的A -A横截面的剖视图。 c . 图 3 为装有软磁盘的保护外套

8、， 1 面朝上. 口 !窗 卤策盘知 ()l封盛. 图 1 软磁盘 图 2 A -A剖面图 Gs/r 1 5 1 3 3 . 1 -9 4 标签区 图3 带软磁盘的保护外套 4 . 2 主要组成部分 软磁盘的主要组成部分为: a . 记录磁盘; b . 里衬。 c . 封罩。 软磁盘被装入外套内。 4 . 3 说明 封罩呈正方形， 其两面均有一个中心窗口， 一个索引窗口和一个磁头窗口。 里衬固定在封罩的内表面。它有两层， 磁盘位于其间。里衬与封罩具有相同的窗口。 磁盘只有一个中心窗口 和一个索引窗口。 4 . 4 可选的外形结构 封罩的互换性允许它的结构有些变化。 它可以带折边( 如图 1 所

9、示的三个折边， 或不带折边) ; 也可 在基准边上带槽口。在某些情况下可以用禁止写入槽口， 见附录 D , 5 一般要求 5 . ， 环境和运物 5 . 1 . ， 测试环境 为了验证软磁盘是否符合本标准的要求， 应在下列条件下进行测试和测量: 二温度0 2 3 士2 C; b . 相对湿度: 4 0 % 6 0 %; c . 测试前的适应: 最少 2 4 h . 温度和相对湿度的测量应在最接近软磁盘的周围空气中进行。 磁盘表面任一点的杂散磁场强度， 包括来自 记录磁头的综合影响， 不应超过 4 0 0 0 A / m. 5 . 1 . 2 使用环境 数据交换用的软磁盘应在下列条件下使用: G

10、B / T 1 5 1 3 3 . 1 -9 4 温度: 1 0 -5 1 . 5 C; 相对湿度: 2 0 % - 8 0 Yo; 乳阮 c . 湿球温度: 小于 2 9 0C。 温度和相对湿度的测量应在最接近软磁盘的周围空气中进行。建议温度的变化率不要超过 2 0 0C / h , 在软磁盘上或其内部不得附着水份。 磁盘表面任一点的杂散磁场强度， 包括来自 记录磁头的综合影响， 不应超过 4 0 0 0 A / m o 5 . 1 . 3 存放环境 在存放期间， 建议软磁盘保持在下列条件下: 温度: 4 5 1 . 5 0C; 相对湿度: 8 Yo-8 0 Yo。 氏阮 每个软磁盘都应放人

11、外套内， 并直立放置。 周围的杂散磁场强度不应超过 4 O O D A / m a 注: 软磁盘基露在温度和湿度超出使用环境时， 其性能可能有所降低。这种软磁盘在使用前应在使用环境中进行不 少于 2 4 h的适应处理。 5 . 1 . 4 运输 发货人要负责采取措施， 保证软磁盘在运输途中不受损伤。软磁盘应放在外套内， 并连同外套置于 保护封装中。包装箱应无尘土杂物， 内表面清洁， 防尘防水。软磁盘和外层包装箱的外表面之间有足够 的间隔， 使各种杂散磁场对磁盘的损害小到忽略不计。 建议不要超出如下的条件: a . 温度: 一4 0 -5 1 . 5 0C; b . 最大的温度变化率: 2 0

12、0C / h ; c . 相对湿度: 8 % 9 0 0 0 , 在软磁盘的内部或其上面不得凝结水珠。 5 . 1 . 5 维护 软磁盘脱离外套放置的时间尽可能短。当使用软磁盘时， 操作人员不要触及磁盘的磁表面， 并要避 免直接暴露在阳光下、 潮气里和灰尘中。 5 . 2 材料 5 . 2 . ， 封罩 封罩可以用任何合适的材料制成。 5 . 2 . 2 里衬 里衬的材料应能阻挡灰尘， 又不损伤磁盘。 5 . 2 . 3 磁盘 用磁性材料( 如Y - F e z 0 3 ) 制成磁浆， 涂敷在任何合适的材料( 如双向拉伸聚对苯二甲酸乙二醋) 上制 成。 5 . 2 . 4 外套 外套可以用任何

13、合适的材料( 如纸) 制成。 5 . 3 旋转方向 往封罩的。 面看去， 磁盘应作逆时针方向旋转。 6 结构尺寸 下列条款中所列举的结构尺寸如图4 至图7 所示。 a . 图 4为封罩尺寸; c s / T 1 5 1 3 3 . 1 -9 4 b . 图 5 为封罩的局部剖面图; c图 6 为磁盘尺寸; d . 图 7 为磁盘的剖面图。 所有尺寸均以封罩的基准边为基准( 见图4 ) . 6 . 飞 封罩 6 . 1 . 1 形状 封罩呈正方形， 四角为 9 0 0 土3 0 ; 边长为: 1 , =2 0 3 . 2 士0 . 4 mm 6 . 1 . 2 厚度 6 . 1 . 2 . 1

14、封罩壁和里衬 应在r , 和r 2 规定的区域内， 其中: r , = 6 0 mm r 2 =8 5 mm 并且用直径为 1 5 m m的量规对软磁盘施加 1 N的力时， 封罩壁和里衬的厚度为: e , =0 . 4 5 士0 . 1 5 mm I 之 Jl刃 -1泞 攀准边 粉 图4 封罩尺寸 G B % T 1 5 1 3 3 . 1 -9 4 封暇嫩小 士 图5 软磁盘厚度 图6 磁盘尺寸 图7 磁盘厚度 O .I _ 气一11. 图8 压垫区 6 . 1 . 2 . 2 软磁盘 软磁盘的总厚度应为( 同时参看 6 . 1 . 7 ) ; 1 . 2 mme 2 2 . l mm 应按

15、照附录 A进行测量。 软磁盘能在落通规的狭缝中自由穿过， 其狭缝宽为 2 . 6 mm, 深为 1 5 0 mm, 两壁平滑而垂直。 c s / T 1 5 1 3 31 -9 4 6 门. 3 中心窗口 中心窗口 的直径为: d , =5 8 . 4 0 士0 . 1 5 mm 其中心位置由1 : 确定: 1 Z =1 0 1 . 6 士0 . 3 mm 6 . 1 . 4 索引窗口 6 . 1 . 4 . 1 位置 索引窗口中心的位置为: 1 3 =9 6 . 5 0 士0 . 2 5 mm 1 , =1 3 9 . 4 0 士0 . 2 5 mm 6 . 1 . 4 . 2 直径 索引窗

16、口的直径为: d , =7 . 7 士0 . l mm 6 . 1 . 5 磁头窗口 6 门. 5 . 1 位置 磁头窗口最低点的位置由1 。 确定: 1 , =3 . 7 0 士0 . 2 5 mm 6 . 1 . 5 . 2 尺寸 磁头窗口的宽度为: 1 , =1 2 . 7 士0 . l mm 其两端的公称半径为: r , = 6 . 3 5 mm 其长度为: 1 , =5 2 . 6 0 士0 . 2 5 m m 6 . 1 . 6 基准边轮廓 在1 . 确定的区域内， 基准边轮廓应为凸圆， 例如， 由一个或几个最小半径为 。 . 5 m m的圆弧组成， 其 中: 1 , =2 5 m

17、m 6 . 1 . 7 封罩的结构 如果封罩有折边， 其宽度应为: 1 s _ =1 4 mm 软磁盘与折边的总厚度 C p 应满足 6 . 1 . 2 的条件。折边的厚度最大为 0 . 9 m m( 也见附录A ) o 6 . 1 . 8 槽口 沿基准边上可以有两个槽口。若有槽口， 他们应在下面规定的区域内: l , 0 , =8 1 . 6 mm 1， 二 =9 4 . 6 mm l s m ,o =1 0 8 . 6 mm 1 , ，二 =1 2 1 . 6 mm 1 , 二 =2 . O mm 6 . 2 里衬 里衬应始终筱盖着记录区( 见6 . 3 . 4 ) 0然而， 里衬向封罩各

18、个窗口的露出量不能超过 。 . 2 m m, 6 . 3 磁盘 c B / T 1 5 1 3 3 . 1 一洲 6 3 . 1 直径 磁盘的外径应为: d 3 = 2 0 0 . 2 士0 . 2 mm 磁盘的内径应为: d , =3 8 . 1 0 0 士0 . 0 2 5 mm 6 . 3 . 2 厚度 磁盘的厚度应为: e 3 =0 . 0 8 0 士0 . O l o mm 6 . 3 . 3 索引窗口 6 . 3 . 3 . 1 位置 索引窗口的位置由r . 确定: r , =3 8 . 1 士0 . l mm 6 . 3 - 3 . 2 直径 索引窗口的直径应为: d , =2

19、. 5 4 士0 . l o mm 6 . 3 - 4 记录区 记录区由r 。 和 、 确定， 其中: r s m . . =4 4 . 8 mm r 。 二”9 6 . 6 mm 6 . 3 . 5 面 为了便于说明， 对两个面规定如下: a . 通过封罩的 。面， 能在磁盘上进行记录和存取的面是 。 面。 b . 另一面是 1 面。 了 物理性能 7 . 1 可燃性 制作软磁盘的材料， 如果用火柴点嫌， 它不应在静止的二氧化碳气氛中继续然烧。 了 . 2 磁盘的线性热膨胀系数 磁盘的热膨胀系数应为( 1 7 士8 ) X 1 0 - K - . 了 . 3 磁盘的线性湿膨胀系数 磁盘的湿膨

20、胀系数应为( 0 - 1 5 ) X 1 0 - s / % R H . 7 . 4 不透明性 7 . 4 . 1 封罩的不透明性 当按照附录 B进行测量时， 使用公称波长为 9 4 0 n m的发光二极管作为辐射光源， 封罩的光透射率 应小于1 %. 7 . 4 . 2 磁盘的不透明性 当按照附录 B进行测量时， 使用公称波长为 9 4 0 n m的发光二极管作为辐射光源， 磁盘的光透射率 应小于 1 %. 了 . 5 转矩 7 . 5 . 1 起动转矩 在磁头和压垫未加载到软磁盘上时， 起动转矩不超过 0 . 0 4 2 N m, 7 . 5 . 2 运行转矩 当软磁盘以 3 6 。 士7

21、 r / m i n的速度旋转时， 在 6 9 0 士l O m m , 的压垫表面上施加 1 . 5 0 士。 . 0 5 N的力 G s / T 1 5 1 3 31 -9 4 压垫位置与磁头窗口 平行， 其位置由图 8中的下列尺寸确定: 1 1 8 = 6 2 . O mm 1 1 8 =7 5 . O m m 1 =1 0 . O mm 1 1 8 =6 4 . O mm 使磁盘旋转的转矩应在0 . 0 2 8 N m与。 . 0 8 8 N m之间。 8 磁性能 8 . 1 磁道几何参数 8 . 1 . 1 磁道数 在记录区( 见 6 . 3 . 4 ) 内应有 7 7 条分离的同心

22、圆磁道。 8 . 1 . 2 磁道宽度 盘面上记录的磁道宽度应为0 . 3 0 0 士0 . 0 2 5 m m , 磁道间的区域应予抹除。 在附录C中规定了一种测量有效磁道宽度的方法。 8 . 1 . 3 磁道位置 8 . 1 . 3 . 1 公称位置 所有磁道中心线半径 R . ( m m ) 的公称值应使用式( 1 ) 计算: R。 二 5 1 . 5 3 7 + 2 5 . 4 ( 7 6 一n ) 4 8 (1) 式中: 。 相应磁道序号的数值; n =0 - 7 6 , 8 . 1 . 3 . 2 磁道位置公差 在测试环境条件( 见5 . 1 . 1 ) 下测量时， 已 记录的磁道

23、中心线相对公称位置的公差应在士。0 2 5 m m 以内。 8 . 1 . 4 磁道序号 磁道序号用两位十进制数字( 0 0 - v 7 6 ) 表示， 从最外磁道( 。 。 ) 开始向内 顺序编号。 8 . 1 . 5 索引 索引是确定磁道开始和终止的点。在检出索引窗口 前缘的瞬间， 索引正处在读写间隙之中。 8 . 2 功能测试 为了进行下列测试， 写操作和读操作都使用同一台驱动器。 8 . 2 . 1 表面测试 表面的磁性能由下面给出的测试要求确定。 8 . 2 . 1 . 1 测试条件 磁盘应在 3 6 0 士7 r / m in的旋转速度下测试。 采用的测试频率应为: 1 f =2

24、5 0 0 0 0 士2 5 0 磁通翻转/ 秒 2 f 二5 0 0 0 0 0 士5 0 0 磁通翻转/ 秒 每次测试都使用所规定的频率。 8 . 2 . 1 . 2 典型磁场强度 测试时磁盘的典型磁场强度应在基准磁场强度的 士2 0 %以内波动。应在 0 0 磁道和 7 6 磁道使用 i f 的频率进行测量。 8 . 2 . 1 . 3 平均信号幅度 当磁盘用测试记录电流记录， 然后在一个系统( 被在相同的条件下记录的信号幅度基准软磁盘校正 过) 上读出时， 被测磁盘的平均信号幅度应为: G s / T 1 5 1 3 3 . 1 -9 4 a . 用 i f 在 0 0 磁道上记录时不

25、大于标准基准幅度的 1 3 0 %; b . 用 2 f 在 7 6磁道上记录时不小于标准基准幅度的 8 0 %. 8 . 2 . 1 . 4 分辨率 在 7 6 磁道上用规定的测试记录电流记录后， 其比值: 2 f 的平均信号幅度 i f 的平均信号幅度 应大于信号幅度基准软磁盘相同比 值的 8 0 %. 8 . 2 . 1 . 5 重写 在 0 0 磁道上先用 i f 以规定的测试记录电流记录， 然后用 2 f 重写一周， 其比值: 2 f 重写后的 i f 残余平均信号幅度 i f 起始记录后的平均信号幅度 应小于信号幅度基准软磁盘相同比值的 1 0 0 y o o 应使用选频电压表测量

26、. 8 . 2 . 1 . 6 调制 调制应为: 最大平均值一最小平均值、 ， ， 。 / 飞 互- n . - - 一 , a . , . - - - - - ./ D 刀更目 入 T刊l 且 州 卜月叉月、 一 了 - - a 性孔 最大平均值是具有最大幅度的那一部分磁道的调幅输出电压的平均值。最小平均值是具有最小幅 度的那一部分磁道的调幅抽出电压的平均值。 输出电压应测量峰一峰值。 应在大约 2 0 0 。 个连续磁通翻 转上取平均值。 在 。 0 磁道上用 i f 记录和在 7 6 磁道上用 2 f 记录， 其调制应小于 1 0 %. 8 . 2 . 2 磁道质量测试 用测试记录电流，

27、 使用 2 f 在全部 7 7 条可用磁道的规定位置上完成的。 8 . 2 . 2 . 1 漏脉冲 用规定的测试记录电流以2 f 写一条磁道。 当测量基一峰值时. 任何输出信号小于其前面的 2 0 0 0 个连续磁通翻转输出电压峰一峰值的算术 平均值一半的 4 0 % 为漏脉冲。 8 . 2 . 2 . 2 9脉冲 用规定的测试记录电流以 2 f 写一条磁道。用等效于测试记录电流的恒定直流电抹一周。 当测量基一峰值时， 任何读出信号， 包括统计噪音和磁盘的残余信号超过被测磁道平均信号幅度的 一半的 3 0 % 为冒脉冲。 B - 2 . 3 拒收准则 8 . 2 . 3 . 1 缺陷磁道 连续

28、检测时， 在磁道的相同位置上发现有一个或多个漏脉冲或冒脉冲， 该磁道即是一条缺陷磁道。 连续检侧的次数应由供求双方确定。 8 . 2 . 3 . 2 对磁道的要求 从供户最初得到的软磁盘应没有缺陷磁道。 8 . 2 - 3 . 3 拒收标准 不符合 8 . 2 - 3 . 2 项要求的软磁盘应予拒收。 G B / T 1 5 1 3 3 . 1 -9 4 附录A 软磁盘厚度的测t ( 补充件) A 1 最大厚度 用图A 1 表示的量规测量各边的最大厚度。 当最大为 1 N的力施加到软磁盘对面的边缘时， 软磁盘 至少能插入量规 1 5 m m, 口 图A1 测量量规， A Z 最小厚度 用图A

29、2 表示的量规测量各边的最小厚度。 量规长度为 4 0 m m。当施加 1 N的力时， 软磁盘插人量 规缝隙的深度小于 l m m, 采用说明: 门 I 5 0 5 6 5 4 / 1 -1 9 8 4 中原图索引窗口的位置有误， 在本国标中已经改正。 GB / r 1 5 1 3 3 . 1 一9 4 图 A 2 测量量规 A 3 折边的厚度 用图A 3 表示的量规测量折边的厚度。将软磁盘放在水平面上， 折边朝上。 将量规放在折边上， 其轴线垂直于软磁盘的边缘。 对量规施加 1 N的力。 用千分表测量其总厚度。 然 后将量规沿径向向内移到软磁盘最里面的区域， 再测量厚度。两次测量值之差即为折

30、边的厚度 图 A3 量规 附录B 光透射率的测t ( 补充件) 本附录概述了测量封罩和磁盘的辐射( 光) 透射率时所采用的测量设备和测量方法的基本原理。 本标准中， “ 光透射率” 习惯上定义为放入试样时从测量设备上测得的读数和没有试样时的读数之 间的比值， 用百分数表示。 测量设备的主要组成部分为 a .辐 射光 源; G B / T 1 5 1 3 31 -9 4 光电二极管 光路; 测量电路。 阮c.d. B 1 测f设备说明 B l . 1 辐射光源 辐射光源为一只红外发光二极管( L E D ) ， 其参数如下: a . 峰值波长: 福t =9 4 0 士1 0 n m, b . 半

31、功率带宽: b 二士 2 5 n m . B 1 . 2 辐射光接收器 用一只平面型硅光电二极管作为辐射光的接收器。它应在短路状态下工作。二极管的有效面积应 等于光阑孔面积， 或最多大于光阑孔面积的 2 0 肠。 这样就能保证流过二极管的电流与光的强度之间的 关系为线性的。 B 1 . 3 光路( 见图B 1 ) 光轴应垂直于磁盘。 发光二极管的发光表面到磁盘的距离应为: d - L, = 7 : 于升. . . . . . . . . . . . . . . 。 。 . (B1) cc an口 式中: d -索引窗口 的最大直径， m m; a 角度， 在这个角度下， 发光二极管发光的强度应

32、等于或大于光轴中最大强度的9 5 %, 光阑的厚度为 1 . 2 m m至 1 . 4 m m ， 孔的直径D ( m m ) 为: D=2 L z t a n a . “ ” ( B 2) 式中: L z =( L , +1 . 5 ) m m, 其表面是漆黑的。整个设备装在不透光的箱子里。 B 1 . 4 测量电路 图B 2 给出了建议采用的电路、 设备、 元器件为: E : 输出电压可变的稳压电源 R : 限流电阻 L E D : 发光二极管 D ; : 硅光电二极管 A: 运算放大器 R ru . R q : 反馈电阻 s : 转换开关 V: 电压表 发光二极管的正向电流可通过电源 E

33、来调节， 从而改变其辐射强度。硅光电二极管以短路方式工 作。运算放大器的翰出电压由式 ( B 3 ) 给出; V , =人 R , . . ” (B 3) 因此， 它与光的强度为线性关系。 人为硅光电二极管的短路电流。 R to 和 R n 应是精度为1 % 的低温漂电阻， 其比值为: 丛_ 生. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ， . . ( B 4 ) R 5 0 e 2 测f方法 s 2 . 1 磁盘的测量方法 G s / T 1 5 1 3 3 . 1 -9 4 在一个环带内进行多次测量。环带的两边与索引窗口 相切。

34、a . 将转换开关 s 置于位置. 0 , . p 索引窗u 对准光电二极管， 改变输出电压E ， 使电压表指针指到满 刻度( 透射率为 1 0 0 %) 0 b . 转动磁盘， 直到光电二极管被磁盘所遮盖。将开关 s 置于位置“ 1 “ 。此时电压表的满偏转表示 2 %的透射率。 将磁盘慢慢地旋转一周， 并观察电压表的读数。 s 2 . 2 封罩的测量方法 除了不装磁盘的封罩应旋转外， 封罩的测量方法与磁盘一样。 图 B l 测量装置 L E U 图II 2 测量电路 G B / T 1 5 1 3 31 -9 4 附录C 测t有效磁道宽度的方法 ( 补充件) 将 7 条磁道宽的环带用直流抹

35、除。 用具有有效抹除元件的读写磁头在已抹除的环带中心磁道上记 录 2 5 0 0 0 0 磁通翻转/ 秒频率的信号。测量输出电压。 沿磁盘径向以不大于 。 . O l m m的增量向左右移动磁头， 直到读出信号减少 7 5 0 0 0 测定每次增量位 移后的读出信号幅度， 并给出幅度对位移的关系曲线。两个偏移边的有效磁道半宽 A与 B如图C 1 所 示。 要求所用磁头的缝隙宽度不应小于有效磁道的宽度。 整个有效磁道宽度为两个有效磁道半宽A与 B的和。 重复测量时， 确保在测量期间没有温度、 湿度的影响。 专有 效 磁道宽女 有 效班 道宽 月B !欲习，权要 .头移动t一 图 C 1 磁道宽度

36、 附录D 莱止写人箱口 ( 补充件) D 1 数据交换 用软磁盘进行全部数据交换就是执行本标准的过程。禁止写入状态是由G B / T 1 5 1 3 4 提供的软件 特性控制的。是否在封罩上开一个槽口实现数据交换时禁止写入这种硬件特性， 则要由交换的双方确 定。 D 2 其他应用 在数据交换的其他场合中， 最好具有硬件禁止写入特性， 就是在基准边上开一个槽口， 其尺寸如图 Dl所示。 Gs/r 1 5 1 3 31 -9 4 叻四.0封因0 3 . 8 1 士0 . 1 3 图 D 1 禁止写入槽 附加说明: 本标准由中华人民共和国电子工业部提出。 本标准由 全国计算机与信息处理标准化技术委员

37、会复核。 本标准由电子工业部三十三所负责起草。 本标准主要起草人董承举、 李桂新、 刘进英、 王大兰、 郑洪仁。 *草庐一苇草庐一苇*提供优质文档， 如果 你下载的文档有缺页、 模糊等现象或 者遇到找不到的稀缺文件， 请发站内 信和我联系！我一定帮你解决！ 提供优质文档， 如果 你下载的文档有缺页、 模糊等现象或 者遇到找不到的稀缺文件， 请发站内 信和我联系！我一定帮你解决！ 本人有各种国内外标准 20 余万个， 包括全系 列 GB 国标国标及国内行业行业及部门标准部门标准，全系列 BSI EN DIN JIS NF AS NZS GOST ASTM ISO ASME SSPC ANSI IEC IEEE ANSI UL AASHTO ABS ACI AREMA AWS ML NACE GM FAA TBR RCC 各国船级 社 船级 社 等大量其他国际标准。豆丁下载网址：豆丁下载网址： http:/