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1、G B / e 1 6 5 2 9 一1 9 9 6 前言 本标准是根据国际电工委员会I E C 1 0 7 3 - 1 : 1 9 9 4 光纤光缆接头第1 部分: 总规范构件和配 件 制定的， 技术内容和编写规则均与之等同。 这样， 通过使我国该类产品标准与国际标准等同， 以适应国际贸易、 技术和经济交流日 益增长的需 要。 光纤光缆接头在光纤通信和非通信应用中占有重要地位， 是已在国际和国内市场上形成规模生产 的商品化产品。 I E C 1 0 7 3 从1 9 9 1 年3 月首次颁布后， 于1 9 9 4 年7 月首次修订， 并先后发布三项分规范， 即: I E C 1 0 7 3
2、- 2 光 纤光缆接头 第2 部分: 分规范一 光纤光缆接头盒和集纤盘 I E C 1 0 7 3 - 3 光纤光缆接头 第3 部分: 分规范一 光纤光缆熔接式接头 I E C 1 0 7 3 - 4 光纤光缆接头 第4 部分: 分规范一 光纤光缆机械式接头 本规范的制定为光纤光缆接头采用国际标准提供必要的技术依据。 附录 A 、 附录B均为提示的附录。 本标准由中华人民共和国电子工业部提出。 本标准由电子工业部标准化研究所归口。 本标准负责起草单位: 上海传输线研究所。 本标准主要起草人: 黄浩显、 陈国庆、 高文浩、 王毅。 G B / T 1 6 5 2 9 一1 9 9 6 I E C
3、前言 1 ) I E C ( 国际电工委员会) 是由各国家电工委员会( I E C国家委员会) 组成的世界性标准化组织。 I E C的目 的是促进电工电子领域标准化间题的国际合作。 为此目 的， 除其他活动外， I E C发布国际标准。 国际标准的制定由技术委员会承担， 对所涉及内容关切的任何I E C国家委员会均可参加国际标准的制 定工作。 与I E C相联系的任何国际、 政府和非官方组织也可以参加国际标准的制定。 I E C与国际标准化 组织( I S O ) 根据两组织间协商确定的条件， 保持密切的合作关系。 2 ) I E C在技术问题上的正式决议或协议， 是由对这些问题特别关切的国家
4、委员会参加的技术委员 会制定的， 对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。 3 ) 这些决议或协议以标准、 技术报告或导则的形式发布， 以推荐的形式供国际上使用， 并在此意义 上为各国家委员会认可。 4 ) 为了促进国际上的统一， 各I E C国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用I E C标准。 I E C标准与相应国家或地区标准之间的任何差异应在国家或地区标准中指明。 5 ) I E C未制定使用认可标志的任何程序。 当宣称某一产品符合相应的I E C标准时， I E C概不负责。 国际标准I E C 1 0 7 3 - 1 是由I E C第 8 6 技术委员会( 纤维光学)
5、的8 6 B分技术委员 会( 纤维光学互连 器件和无源器件) 制定的。 本标准文本以下列文件为依据: 国际标准草案表决报告 8 6 B ( 中央办公室) 1 1 48 6 B ( 中央办公室) 1 5 2 表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。 本标准封面上的Q C号为I E C Q规范号 附录A和附录B仅供参考。 G B / T 1 6 5 2 9 一 1 9 9 6 I E C序言 本标准共分四章、 第I 章为“ 总则” ， 包括本标准有关的一般资料。 第z 章为“ 要求” ， 包括本标准规定的光纤光缆接头构件和配件应符合的全部要求。 其中涉及产品分 类、 文件资料、 设计
6、和结构、 质量、 性能、 识别标志和包装等方面的要求。 第3 章为“ 质量评定程序” ， 包括本标准规定的产品进行相应质量评定所遵循的全部程序。 第4 章为“ 测量和环境试验程序” ， 包括质量评定所用的测量方法和环境试验程序。 中华 人民共和 国国家标 准 光 纤 光 缆 接 头 第 1部 分 :总 规 范 构 件 和 配 件G B / r 1 6 5 2 9 一 1 9 9 6 i c e s f o r o p t i c a l f i b r e s a n d c a b l e s P a r t 1 : G e n e r i c s p e c i f i c a t i o
7、 n - i d t I E C 1 0 7 3 - 1 : 1 9 9 4 Q C 8 5 0 0 0 0 Ha r d wa r e a n d a c c e s s o r i e s 1 总则 1 . 1 范围 本标准适用于光纤和光缆接头构件( 对中零件、 保护零件等) 和接头配件( 集纤盘、 接头盒等) 。它包 括: 对光纤光缆接头构件的要求; 对光纤光缆接头配件的要求; 一 一用于鉴定批准和质量评定的测量与试验程序。 1 . 2 引用标准 下列标准所包含的条文， 通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。 本标准出版时， 所示版本均 为有效。所有标准都会被修订， 使用本标准的各方应
8、探讨使用下列标准最新版本的可能性 G B 1 2 5 0 7 -9 0 光纤光缆连接器第 1 部分: 总规范( i d t I E C 8 7 4 - 1 : 1 9 8 7 ) I E C Q C 0 0 1 0 0 1 : 1 9 8 6 I E C电子元器件质量评定体系( I E C Q) 基本章程 I E C Q C 0 0 1 0 0 2 : 1 9 8 6 I E C电子元器件质量评定体系( I E C Q ) 程序规则 I E C 2 7 电工技术用文字符号 I E C 5 0 ( 7 3 1 ) : 1 9 9 1 国际电工词汇( I E V ) 第7 3 1 章: 光纤通信
9、I E C 6 8 - 1 : 1 9 8 8 基本环境试验规程第1 部分: 总则和导则 I E C 6 8 - 2 - 1 : 1 9 9 0 基本环境试验规程第2 部分: 各种试验试验A: 寒冷( 低温) I E C 6 8 - 2 - 2 : 1 9 7 4 基本环境试验规程第2 部分: 各种试验试验B : 干热( 高温) I E C 6 8 - 2 - 3 : 1 9 6 9 基本环境试验规程 第2 部分: 各种 试验 试验C a : 稳态湿热 I E C 6 8 - 2 - 5 : 1 9 7 5 基本环境试验规程 第2 部分: 各种试验 试验S a : 模拟地面上的太阳辐射 I E
10、 C 6 8 - 2 - 6 ; 1 9 8 2 基本环境试验规程第2 部分: 各种试验试验F e 和导则: 振动( 正弦) I E C 6 8 - 2 - 7 : 1 9 8 3 基本环境试验规程第2 部分: 各种试验试验G a 和导则: 恒定加速度 I E C 6 8 - 2 - 9 ; 1 9 7 5 基本环境试验规程 第2 部分: 各种 试验 太阳 辐射试验导则 I E C 6 8 - 2 - 1 0 : 1 9 8 8 基本环境试验规程第2 部分: 各种试验试验J 和导则: 长霉 I E C 6 8 - 2 - 1 1 : 1 9 8 1 基本环境试验规程 第2 部分: 各种试验 试
11、验K a ; 盐雾 I E C 6 8 - 2 - 1 3 : 1 9 8 3 基本环境试验规程第2 部分: 各种试验 试验M: 低气压 I E C 6 8 - 2 - 1 4 : 1 9 8 4 基本环境试验规程 第2 部分: 各种试验 试验N: 温度变化 国家技术监督局1 9 9 6 一 0 9 一 0 9 批准1 9 9 7 一 0 5 一 0 1 实施 G B / r 1 6 5 2 9 一 1 9 9 6 I E C 6 8 - 2 - 1 7 : 1 9 7 8 基本环境试验规程第2 部分: 各种试验试验Q: 密封 I E C 6 8 - 2 - 2 7 : 1 9 8 7 基本环
12、境试验规程第 2 部分: 各种试验试验 E a 和导则: 冲击 I E C 6 8 - 2 - 2 9 : 1 9 8 7 基本环境试验规程第2 部分: 各种试验试验验E b 和导则: 碰撞 I E C 6 8 - 2 - 3 0 : 1 9 8 。 基本环境试验规程第 2 部分: 各种试验试验D b 和导则: 循环湿热( 1 2 h + 1 2 h循环) I E C 6 8 - 2 - 3 8 : 1 9 7 4 基本环境试验规程第 2 部分: 各种试验试验: Z / A D : 温度/ 湿度组合循环 试验 I E C 6 8 - 2 - 4 2 : 1 9 8 2 基本环境试验规程 第2
13、部分: 各种试验试验K c : 接触点与连接件的二氧 化硫试验 I E C 4 1 0 : 1 9 7 3 计数检查抽样方案和程序 I E C 4 1 9 : 1 9 7 3 电子元器件( 或部件) 规范中逐批检查与周期检查程序指南 I E C 6 1 7 : 1 9 8 3 图形符号 I E C 6 9 5 - 2 - 2 : 1 9 9 1 着火危险试验第2 部分: 试验方法针焰试验 I E C 7 9 3 - 1 : 1 9 9 2 光纤第 1 部分: 总规范 I E C 7 9 4 - 1 : 1 9 8 7 光缆 第1 部分: 总规范 I E C 8 7 5 - 1 : 1 9 9
14、2 纤维光学分路器第1 部分: 总规范 I S O 1 2 9 : 1 9 8 5 技术制图一 一尺寸标注 总则、 定义、 标注方法和专门标注 I S O 2 8 6 - 1 : 1 9 8 8 I S O极限和配合体系 第1 部分: 基本公差、 偏差和配合 I S O 3 7 0 : 1 9 7 5尺寸公 差 英 寸和 毫米的 相互换算 I S O 1 1 0 1 : 1 9 8 3 技术制图几何公差 形位公差、 定向、 定位和偏差通则、 定义、 符号， 图 的标注 I S O 8 6 0 1 : 1 9 8 8 数据元素和换算公式信息交换日 期和时间表示法 1 . 3 定义 本标准采用下
15、列定义和I E C 5 0 ( 7 3 1 ) 中的定义。 1 3 1 光纤接头f i b r e s p l i c e 两根光纤间永久式或可分离式( 见1 . 3 . 4 ) 连接， 它一般具有保护措施， 避免正常操作中可能导致的 损坏。 1 . 3 . 2 光缆接头 c a b l e s p l i c e 两根或两根以上光缆的保护性连接， 它可由光纤接头、 集纤盘和接头盒组成。 1 . 3 - 3 永 久式接头 p e r m a n e n t s p l ic e 如不破坏接合点就不能被分离的接头。 1 . 3 . 4 可 分离式接 头 s e p a r a b l e s p
16、 l i c e 虽然旨在作永久式连接却能够分离的接头， 但有别于旨在作多次连接和分离的连接器。 1 . 3 . 5 混装式接头 h y b r i d s p l i c e 具有光纤接头和电导体接头的光缆接头。 1 . 3 . 6 熔接式接头 f u s i o n s p l i c e 以熔接方法将光纤端永久式连接的接头。 1 . 3 . 7 机 械式 接头 m e c h a n i c a l s p l i c e 以任何机械方式而不是用 熔接方式将光纤永久式或半永久式地连接的接头。 1 . 3 . 8 环 境受控 接头 c o n t r o l l e d e n v i r
17、 o n m e n t s p l ic e 设计的接头应用于受控制的环境， 如建筑物内、 室内等。 1 . 3 . 9环 境 非 受 控 接 头 n o n - c o n t r o l l e d e n v i r o n m e n t s p l i c e 设计的接头应用于不受控环境。极限温度、 水浸、 低气压均为环境非受控的例子。 G B / T 1 6 5 2 9 一 1 9 9 6 1 . 3 . 1 0 接头 构件 s p l i c e h a r d w a r e 光纤接头的任何单独的零件。 1 . 3 . 1 1 互换接头 i n t e r c h a n g
18、 e a b l e s p l i c e s e t s 具有相同的安装几何尺寸和性能要求的接头被认为是可互换的接头。 1 . 3 . 1 2 分门 类s u b - f a m i l y 在分规范中规定的光纤光缆接头技术或配件的范围。 1 . 3 . 1 3阻 档 层密 封 b a r r i e r s e a l 为防止潮气或气体进入光纤光缆接头而采用的方法或机构。 1 . 3 . 1 4 接头固定件s p l i c e h o l d e r 用以存贮若干个光纤接头的器具， 它可以是接头集纤盘的组成部分。 1 . 3 . 1 5接头 集 纤盘 s p l ic e o r g
19、a n i z e r 用以收容和有序安放接头固定件及保护光纤接头和( 或) 接头工艺要求的余长光纤的器具。它保护 光纤和光纤接头免受机械损坏， 以规则的方式控制光纤的最小允许弯曲半径并使光纤处于不受应力的 存贮状态。接头集纤盘置于接头盒之内。 1 . 3 . 1 6接 头 盒 s p l i c e c l o s u r e 保护光纤接头和接头集纤盘使其免受外部机械和环境作用的配件。 1 . 3 . 1 7 基本 试验 p r i m a r y t e s t 以受控方式进行的温度、 湿度、 冲击和振动等环境试验。 2 要求 本章和有关分规范规定了本标准包括的光纤光缆接头构件和配件的要求
20、。 2 . 1 分类 光纤光缆接头构件和配件应按下列类别进行分类; 随着接头技术的发展 目。 可能改变或增加若干项 类型， 品种 ; 规格; 配置; 气候类别; 一 一 评定水平。 2 . 1 . 1 类型 光纤光缆接头构件和配件应按下列项目加以规定 类型名称 例如: 转动接头; T K ( 干线) 接头盒; U C ( 通用) 接头盒。 接头配件种类: 例如: 机械式接头; 熔接式接头构件; 集纤盘; 接头盒。 结构 例如: 永久式接头; G s / T 1 6 5 2 9 一 1 9 9 6 可分离式接头; 带有接头固定件的集纤盘; 不带接头固定件的集纤盘 2 . 1 . 2 品种 光纤光
21、缆接头构件和配件的品种应按下列项目加以规定 同可有变化。 2 . 1 . 2 . 1 机械式接头 光纤种类( 按照I E C 7 9 3 - 1 ) 接头方法 例如: V形槽式; 套管式; 精密棒式; 粘结式; 夹待式。 对中方法 例如: 包层0卜 表面、 包层轴线定位) ; 纤芯定位( 传输功率， 目 检) ; 自对中; 第二基准表面( 例如， 套筒) 同时制作接头的光纤数 例如: 单纤; 多纤( 说明最多纤数) 。 折射率匹配 例如: 匹配胶; 匹配液; 处理的树酷; 无匹配材料。 光纤被覆层去除 例如: 要求去除; 不要求去除。 2 . 1 . 2 . 2 熔接式接头 一一光纤种类 按照
22、I E C 7 9 3 - 1 ) 同时制作接头的光纤数 例如: 单纤; 多纤( 说明最多纤数) 。 接头保护 例如: 胶; 液体; 处理的树酉 旨 ; 注塑; 收缩管; 护架结构 2 . 1 . 2 . 3 集纤盘 ， 这些项目根据接头构件或配件的种类不 G B / T 1 6 5 2 9 一 1 9 9 6 光纤或光缆类型 例如: 松包单根光纤; 松包多根光纤; 光纤带; 具有特种被覆层的光纤。 2 . 1 - 2 . 4 接头盒 密封种类 例如: 机械式; 收缩式。 保护种类 例如: 填充式; 充气加压式。 材料种类 例如: 金属; 塑料。 2 . 1 . 3 规格 接头构件和配件规格应
23、规定其附加的特点: 例如: 采用的光纤附加尺寸; 安装或固定点; 接头盒中的光缆数、 光纤数或集纤盘数; 一个集纤盘内的接头或接头固定件数。 2 . 1 . 4 配置 光纤光缆接头构件和配件配置应规定产品交货的形式。 例如: 工具配置; 接头构件配置; 集纤盘和接头固定件配置; 接头盒与集纤盘的配置。 2 . 1 . 5 气候类别 光纤光缆接头和配件应按照气候类别加以 分类。 该类别规定了器件所适用的寒冷、 干热和湿热气候 试验条件。 器件至少应承受寒冷( 见4 . 5 . 1 1 ) 、 干热( 见4 . 5 . 1 2 ) 和稳态湿热( 见4 . 5 . 1 3 ) 环境试验。 采用以斜线
24、隔开的三组数字序列标明气候类别， 这三组数字分别对应于器件应承受的寒冷温度、 干 热温度及暴露于稳态湿热中的天数， 如下所示: 第1 组数字: 2 位数字代表寒冷试验采用的最低环境温度; 第 2 组数字: 3 位数字代表干热试验采用的最高环境温度; 当要求的温度仅为2 位数字时， 其前应加数字“ 0 “ 以组成3 位数字。 第 3 组数字: 2 位数字代表稳态湿热试验( C a ) 天数。 当要求的持续天数仅为 1 位数字时， 其前应加数字“ 0 “ 以组成 2 位数字。 例如: 5 5 / 1 2 5 / 2 1 低温一5 5 C 高温1 2 5 C 稳态湿热 2 1 d - c B / T
25、 1 6 5 2 9 一1 9 9 6 可规定的优先值如下表所示: 低温 一 5 一 1 0 一 2 5 一 4 0 一 5 5 一 6 5 高温 3 0 1 2 5 4 0 1 5 5 5 5 1 7 5 7 0 2 0 0 8 5 1 0 0 湿热待续时间 d 4 1 0 2 1 5 6 2 . 1 . 6 评定水平 评定水平规定了A组和B组检查的检验水平、 合格质量水平( A Q L ) 和C组、 D组检验的周期。 分规 范应规定一个或一个以上的评定水平， 每一评定水平应以一个大写字母命名。 优先评定水平如下: 评定水平 A A组检验: 检查水平 I , A Q L =4 %; - B组
26、检验: 检查水平 I , A Q L =4 %; - C组检验: 周期为2 4 个月; D组检验: 周期为 4 8 个月。 评定水平B A组检验: 检查水平 I , A Q L =1 %; B组检验: 检查水平 I , A Q L =1 %; - C组检验: 周期为 1 8 个月; - D组检验: 周期为 3 6 个月。 评定水平C A组检验: 检查水平I , A Q L =0 . 4 %; B 组检验: 检查 水平I , A Q L 一 。 4 %; - C组检验: 周期为 1 2 个月; - D组检验: 周期为 2 4 个月。 在详细规范中可以增加其他可能的评定水平( 不同于分规范中规定的
27、评定水平) 。 在这种情况下应采用大写字母X , 2 . 2 文件 2 . 2 . 1 符号 凡有可能时， 图 形和文字符号应从I E C 2 7 和I E C 6 1 7 中 选择。 2 . 2 . 2 规范体系 本标准是四层I E C规范体系的一部分， 所属规范应由分规范( 含空白详细规范) 和详细规范组成。 规范体系见表1 。 2 . 2 . 2 . 1 分规范 分规范应规定接头构件和配件的分门类( 见 1 . 3 . 1 2 ) 。分门类的举例有机械式接头， 熔接式接头构 件， 接头盒和接头集纤盘。分规范至少应包括下列内容: 类型( 见2 . 1 . 1 ) ; 质量评定程序( 见第3
28、 章) ; 一个或多个空白详细规范。 G B / T 1 6 5 2 9 一 1 9 9 6 表 1 四层 I E C规范结构 规范层次 适用于 二个或多个元器件门类 基础标准 所含内容举例 评定体系规则 检验规则 环凌试验方法 抽样方案 识别规则 标志标准 尺 寸 标准 术语标准 符号标准 优先数系 S I 单位 专用术语 专用符号 专用单位 优先值 标志 质量评定程序 试验与测量方法 元器件门类 总规范 附加术语 附加试验方法 选择的试验 下列优先值 特性 标称值 试验严酷度 尺寸 鉴定批准和( 或) 能力批准 程序 元器件分门类 分规范 质量致性试验览表 检验要求 对类型编号的通用内容
29、具有通用的试验览表的类型组 空白详细规范 特定值 专用内容 完整的质量 特定类型器件 详细规范 致性试验一一览表 每个空白详细规范应包括: 最少规定的试验一览表和性能要求; 一个或一个以上的评定水平; 填写详细规范中要求内容的优先格式和说明。 G s / T 1 6 5 2 9 一 1 9 9 6 每个空白详细规范应限于: 一 个品种( 2 . 1 . 2 ) ; 几个结构类似的规格( 见2 . 1 . 3 和3 . 2 ) 0 2 . 2 - 2 . 2 空白详细规范 空白详细规范本身不是一个规范层次， 它是分规范的一部分。 分规范可含有一个以上的空白详细规 范 2 . 2 - 2 . 3
30、详细规范 详细规范至少应规定下列内容: 一 类型( 见2 . 1 . 1 ) ; 品种( 见212 ) ; 一 规格( 见 2 . 1 . 3 ) ; 一配置( 见 2 . 1 . 4 ) ; 一 气候类别( 见2 . 1 . 5 ) ; 评定水平( 见2 . 1 . 6 ) ; 一尺寸和公差极限( 见2 . 2 . 3 ) ; 鉴定程序方法( 见 3 . 3 ) ; - 一 每一规格的零件识别号( 见2 . 6 . 1 ) , 试验程序要求的全部参照器件( 见2 . 2 . 4 - 2 ) 和量规( 见2 . 2 . 4 . 3 ) 所必须具有的图、 尺寸和性能 判据; 性能要求( 见2 .
31、 5 ) 。 2 . 2 . 3 图 在分规范和详细规范中给出的图和尺寸既不限制结构细节， 也不作为制造图纸使用。 2 , 2 . 3 . 1 投影体系 本标准包括的文件中的图应采用第一角或第三角投影。在同一文件中的全部图纸应采用相同的投 影体系， 并且应说明图中采用的投影体系。 2 . 2 . 3 . 2 尺寸体系飞 应按照I S O 1 2 9 , I S O 2 8 6 - 1 和I S O 1 1 0 1 给出全部尺寸。 在分规范、 详细规范中应采用公制， 尺寸及其公差均应以毫米值给出。在特殊情况下 要求详细规范 注出英寸值时， 英寸值应注在相应毫米值后的括号内并说明原始尺寸体系为公制
32、单位， 但分规范中不能 采用。 单位制间的换算应按照I S O 3 7 0 的规定。 需换算尺寸时应在详细规范中增加下列注释: “ 以， n为 单位的尺寸值由以m m为单位的尺寸值换算而来。 虽无必要严格按照I S O 3 7 0 换算， 但在准确度上相对 于原始尺寸是可接受的” 。 尺寸值应不多于五位有效数。 2 . 2 . 4 测量 2 . 2 . 4 门测量方法 当尺寸总公差范围为。 . 0 1 m m ( 0 . 0 0 0 4 i n ) 或 0 . 0 1 m m以下时， 所采用的尺寸测量方法应在有关 规范中规定( 见附录A ) o 2 . 2 - 4 . 2 参照器件 如有要求，
33、 应在有关规范中规定参照器件。 2 . 2 - 4 . 3 量规 采用说明: i 1根据国家统一实行计量单位的法规， 本条相对于国际标准有适当修改 c s / T 1 6 5 2 9 一1 9 9 6 如有要求， 应在有关规范中规定量规。 2 . 2 . 5 试验资料单 按照详细规范进行的每项试验均应拟制试验资料单。在鉴定报告( 见3 . 3 - 7 ) 和周期检验报告( 见 3 . 4 - 2 - 5 ) 中应含有该资料单 资料单至少应包括下列内容: 试验名称、 日期; 试样说明。试样说明中还应包括规格识别号( 见2 . 6 . 1 ) ; 一 采用的试验设备和最近的校验日 期; 全部测量数
34、值及有关观测结果; 一 一提供失效分析跟踪资料足够的详细文件( 见3 . 3 . 6 和3 . 4 . 2 . 4 ) 0 2 . 2 . 6 使用说明 制造厂应给出使用说明， 其中应包括: 一 装配 说明， 如必要， 附加内容。 22 . 了 安全事宜 从未加盖帽或未端接的光纤输出 端口 可能出射具有潜在危害的光辐射。不要求接头制造厂在接头 上作出这样的标志. 但在制造厂提供的资料巾应获得足够的信息告诫系统设计师或其他有关人员留心 这一潜在危害， 并指出必要的安全操作事项。 在有关规范中应包括下列文字: “ 警告: 当处置直径很小的光纤时应注意避免穿刺皮肤， 特别是眼部。 当光纤传输功率时，
35、 不应直接盯着光 纤末端和未端接的器件端口， 除非预先已 保证光输出为安全能力水平” 。 23 设计和结构 设计和结构应满足详细规范各项要求 2 . 3 . ， 金属 在接头结构、 接头构件、 接头配件中采用的全部金属应为防腐蚀类型材料， 或应经适当的镀涂 2 . 3 . 2 非金属 当要求不可 燃性材料时， 在有关规范中应规定相应要求， 并应参照标准I E C 6 9 5 - 2 - 2 , 2 . 4 质量 应采用第3 章质量评定程序控制接头构件和配件的质量。 如适用， 对质量评定应采用第4 章的测量 与试验程序。 2 . 5 性能 接头构件和附件应符合详细规范中规定的性能要求。 2 .
36、6 识别和标志 当详细规范要求时应对器件、 辅助构件和包装加以水久和清晰的识别和标志。 2 . 6 门规格识别号 应以规格识别号命名详细规范中的每一规格。 规格号应包括详细规范号， 接着加短线和四位数字和 表征评定水平的一个字母。四位数字中的首位应为详细规范包括的每一器件类型顺序命名号。其余三 位数字应为该器件每一规格的顺序命名号 举例: G B / T 1 6 5 2 9 一1 9 9 6 QC 8 5 0 1 0 1 / G B 0 0 10 01 A 下|.|1 一一 吐下卜 详细规范号 器件类型 规格号 评定水平 2 . 6 - 2 器件标志 如有要求， 应在详细规范中规定器件的标志，
37、 标志的优先顺序为: ll制造厂识别标志; 2 ) 制造日 期代码; 3 ) 制造厂零件号; 4 ) 规格识别号。 2 . 6 . 3 包装标志 包装标志应包括下列内容: 1 ) 制造厂识别标志; 2 ) 制造厂零件号; 3 ) 制造日 期代码( 年/ 星期， 见I S O 8 6 0 1 ) ; 4 ) 规格识别号( 见 2 . 6 . 1 ) ; 5 ) 类型( 见2 . 1 . 1 ) ; 6 ) 评定水平; 7 ) 有关规范要求的任何附加标志。 当适用时， 特立单元包装( 在密封包装之内) 应标志放行批合格记录参照号、 制造厂识别代码和器件 识别。 2 . 7 包装 当有关规范要求时，
38、 包装中应含有使用说明书( 见2 . 2 . 6 ) . 3 质I评定程序 器件质量评定和放行程序包括: 鉴定批准程序( 见3 . 3 ) ; 一 一 质量一致性检验( 见34 ) . 11 初始制造阶段 本标准包括的接头构件和配件的初始制造阶段定义为: 对产品质量重要的 零件制造或按详细规范规定将其装配成产品的制造阶段。 I E C Q C 0 0 1 0 0 2 1 1 . 2 . l c ) 项允许初始制造阶段和分阶段的分包。 3 . 2 结构类似 为鉴定批准和质量一致性检验， 按下列界限规定对结构类似器件进行分组。 结构类似器件应是: 由基本相同的材料制造; 按基本相同的设计制造; 采
39、用基本相同的工艺和方法制造; 采用相同的光纤固定技术( 见2 . 1 . 3 ) ; G B / T 1 6 5 2 9 一 1 9 9 6 采用相同的光缆固定技术( 见2 . 1 . 3 ) ; 采用相同的对中技术( 2 . 1 . 3 ) o 结构类似器件可以是: 采用各种光纤尺寸; 采用各种光缆尺寸。 结构类似器件不可以是: 预定用于不同的光纤结构或技术。 为鉴定批准和质量一致性检验， 对结构类似器件作的特殊分组应经国家监督检查机构批准。 3 . 3 鉴定批准程序 本标准和有关规范规定鉴定批准程序。 制造厂应: 遵守I E C Q C 0 0 1 0 0 2 第1 1 章的一般要求; 遵
40、守对制造厂初始制造阶段性能的要求( 见3 . 1 ) ; - 一 提供试验证据表明成功地完成了鉴定试验程序。 3 . 3 . 1 和3 . 3 . 2 的程序 是按照I E C Q C 0 0 1 0 0 2 中1 1 - 3 . 1 规定鉴定的两个替代程序 详细规范应规 定采用的哪一程序， 3 . 3 门固定样本程序 固定样本程序包括按详细规范规定的固定样本鉴定试验一览表对提交的一个样本中的样品进行试 验。样本应从当前生产的产品中抽取。 应在详细规范中规定鉴定批准用固定样本程序的样本大小。 样品在完成“ O” 组检验后， 应随机被分到其他组。 3 . 3 . 2 逐批和周期检验程序 逐批和周
41、期程序包括对在尽可能短的时间内抽取的规定检验批数( 至少为三批) 进行逐批检验， 然 后对从其中至少一个批中抽取样品进行周期检验。 应按I E C 4 1 0 从检验批中抽样。应采用正常检查， 但当样本大小意味着按零个不合格品予以接收 时， 应增加样品数以满足按一个不合格品予以接收所需要的样本大小。 3 . 3 . 3 试样制备 详细规范应规定所采用的光纤和( 或) 光缆的尺寸和类型和长度。应按照制造厂使用说明书( 见 2 . 2 . 6 ) 装配试样。 3 . 3 . 4 鉴定检验、 鉴定试样应符合有关规范中给定的性能要求。 3 . 3 . 5 鉴定失效 在鉴定试验中发生失效时制造厂应立即通
42、知国家监督检查机构。如果国家监督检查机构确定对失 效未能充分说明并进行纠正时， 制造厂的总检查员可能被指令进行正式的失效分析。 分析完成时制造厂 应起草失效报告并提交给国家监督检查机构 失效报告应对此失效予以描述， 应说明所发生的失效原因 并建议将采取的纠正措施。此后国家监督检查机构应决定将采取的步骤。 在鉴定批准报告( 见3 . 3 . 7 ) 中应包括全部失效报告， 其中包括国家监督检查机构的指示。 一个或一个以上的失效应是拒绝给予鉴定批准的理由。 3 . 3 . 6 鉴定批准的维持 应采用连续提交器件进行 3 . 4 中规定的质量一致性检验维持器件的鉴定批准。 如果存在任何下列情况应验证
43、鉴定批准: 生产进度使周期检验不能按规定的频次进行; 器件不能保证其初始鉴定批准的一致性。例如， 技术改进可能潜在改变器件的性能; G B / T 1 6 5 2 9 一1 9 9 6 所作的变动增加了规范的要求 应按照I E C Q C : 0 0 1 0 0 2 第1 1 - 5 . 3 和1 1 - 5 . 4 规定的程序重新验证鉴定批准。 3 . 3 . 7 鉴定报告 在鉴定批准报告中应按照I E C Q C ; 0 0 1 0 0 2 第 1 1 . 3 记录鉴定试验结果。 3 . 4 质量一致性检验 质量一致性检验包括本标准和详细规范中规定的逐批检验和周期检验。 制造厂应遵守管理器
44、件质量一致性检验规则和程序的 一般要求( 见I E C Q C 0 0 1 0 0 2 第1 2 章) 。 逐批和周期检验一览表应规定分组并应按照I E C Q C 0 0 1 0 0 2 第1 2 . 3 加以确定。 3 . 4 . 1 逐批检验 逐批检验包括对的样本中的试样进行详细规范中规定的A组检验和B组检验。 应按规定的抽样方案从每一检验批中抽取试样， 样品应随机抽取。 在最后检验期间可能采用器件零件的生产过程控制数据来代替对这些成品器件的检验。 3 . 4 _ 11 检验批构成 检验批可由采用下列方式集合的一个生产批或数个生产批组成: 检验批应由结构类似的生产批组成( 见3 . 2
45、) ; 集合生产批的整个周期应不超过 一 个月。 生产批集合成检验批的方案应经国家监督检查机构批准。 3 . 4 . 1 . 2 拒收批 应按照I E C Q C 0 0 1 0 0 2 第1 2 . 4 . 1 的要求处理逐批检验中发现失效的试样。 对拒收批可进行返修， 以纠正缺陷或筛除失效的产品。然后应提交返修批按加严检验作重新检验。应将该返修批与新批分开 并应清楚标志为重新检验批。 3 . 4 . 2 周期检验 周期检验应包括对样本中 试样进行详细规范中规定的C组和D组检验。 应按有关评定水平规定的 周期对每一组进行检验。应相互维持检验周期以便在D组周期情况下由D组检验代替C组检验。 3
46、 . 4 . 2 . 1 样本大小 详细规范应规定周期检验的样本大小。 试样应从自 上一个周期检验以来通过 3 . 4 . 1 逐批检验的检验批中抽样。 3 . 4 - 2 . 2 试样制备 详细规范应规定所采用的光纤和( 或) 光缆尺寸、 类型和长度。 应按照生产厂使用说明 书( 见2 . 2 - 6 ) 装配试样。 3 . 4 . 2 . 3 要求 周期检验试样应符合有关规范中规定的性能要求口 3 . 4 - 2 . 4 失效 应按照 3 . 3 . 5 程序处理失效。 如果试样不符合 周期检验要求， 则制造厂总检查员应立即开始执行I E C Q C 0 0 1 0 0 2 第1 2 .
47、6 的要 求。 一个或一个以上的失效应导致撤消鉴定批准。 3 . 4 . 2 . 5 周期检验报告 应按照I E C Q C 0 0 1 0 0 2 第1 2 . 4 . 2 的要求维持周期检验结果。 3 . 5 放行批证明记录 详细规范中 应规定 是否要求放行批证明 记录。 当 有要求时， 应按照I E C Q C 0 0 1 0 0 2 第1 4 章 拟制放 行批证明记录并至少应包括下列内容: 周期检验包括的各组试验的计数数据( 即: 被试器件数量和失效器件数量) ， 不涉及导致拒收的 G B / r 1 6 5 2 9 一 1 9 9 6 参数。 按分规范要求变量数据。 I6 延期交货
48、随放行批一同放行的贮存期超过二年的器件在交货前应重新检验。制造厂应推荐重新检验程序并 应经国家监督检查机构批准。经重新检验的产品可返回贮存另 一 规定周期的贮存。 注: 当与器件一起提供诸如粘结剂等可短期退化的材料时， 制造厂应标志出这些材料的期满 日期( 年或星期数， 见 I S O 8 6 0 1 ) ， 同时给出有关危害的注意事项或贮存环境条件的要求 3 . 7 完成B组检验前交货放行 对全部B组检验， 当I E C 4 1 。 关于转移规则中放宽的条件得到满足时， 允许制造厂在完成B组试 验之前交付器件。 3 . 8 替代试验方法 可采用有关规范中规定的替代试验方法， 但制造厂必须使国
49、家监督检查机构满意， 认为替代方法所 获得的结果与用规定方法获得的结果等效。在有争议的情况下， 只能采用在有关规范中的规定试验方 法。 I9 不检验参数 只有在详细规范中作了规定并曾作过试验的器件的那些参数可被认为在规定范围之内。不应认为 凡未规定的参数在器件之间都是均匀一致、 不变化的。如果有必要控制规定参数以外的参数， 则应制定 和采用新的涉及范围更宽的详细规范。 对补充的试验方法应加以详细说明， 并应规定合适的性能范围和 评定水平。 4 测2和环境试验程序 4 . 1 标准条件 采用包括试样恢复在内的I E C 6 8 - 1 标准大气条件。有关规范应规定预处理程序和恢复程序。 4 . 2 试样 在有关规范中应规定包括采用的光纤和( 或) 光缆在内的试样。 4 . 3 光学表面的清洁 除非在详细规范中另有规定允许对光学表面加以清洁作为试验预处理和恢复程序的一部分， 应按 照使用说明书( 见2 . 2 - 6 ) 进行清洁。 4 . 4 测量程序 质量评定所采用的测量程