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1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61290-10-1 Premire dition First edition 2003-03 Amplificateurs optiques Mthodes dessai Partie 10-1: Paramtres canaux multiples Mthode dimpulsion utilisant un interrupteur optique et un analyseur de spectre optique Optical amplifiers Test methods Pa
2、rt 10-1: Multichannel parameters Pulse method using an optical switch and optical spectrum analyzer Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61290-10-1:2003 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie
3、 Not for Resale, 03/09/2007 20:31:39 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les version
4、s consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et
5、 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des p
6、ublications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par li
7、ntermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes o
8、u date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) est aussi
9、disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: cus
10、tserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions o
11、f its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications
12、is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on
13、 the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC
14、 web site (http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda.
15、IEC Just Published This summary of recently issued publications (http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication
16、 or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale,
17、03/09/2007 20:31:39 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61290-10-1 Premire dition First edition 2003-03 Amplificateurs optiques Mthodes dessai Partie 10-1: Paramtres canaux multiples Mthode dimpulsion utilisant
18、 un interrupteur optique et un analyseur de spectre optique Optical amplifiers Test methods Part 10-1: Multichannel parameters Pulse method using an optical switch and optical spectrum analyzer Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2003 Droits de reproduction rser
19、vs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced o
20、r utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 2
21、2 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODETCommission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie No
22、t for Resale, 03/09/2007 20:31:39 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 2 61290-10-1 CEI:2003 SOMMAIRE AVANT-PROPOS . 4 INTRODUCTION 8 1Domaine dapplication et objet.10 2Rfrences normatives .10 3Appareil 10 4Echantillon dessai 16 5Procdure.16 5.1Etalonnage 18 5.2M
23、esure de lAFO26 6Calcul .32 6.1Calcul du facteur de bruit linaire.32 6.2Puissance dESA34 6.3Calcul du gain34 6.4Puissance moyenne du signal en sortie34 6.5Calcul du facteur de bruit .34 7Rsultats des essais .34 Annexe A (informative) Liste des abrviations.38 Annexe B (informative) Forme donde des so
24、rties pour les diffrents EDFA 25 kHz et 500 kHz de frquence de rcurrence des impulsions (voir 5.1.2 a).40 Annexe C (informative) Prcision de mesure par rapport aux frquences de rcurrence (voir 5.1.2 a) 44 Bibliographie .46 Figure 1 Disposition type de la mthode dessai par impulsions optiques.12 Figu
25、re 2 Deux dispositions de la source dimpulsions optiques12 Figure 3 Isolation statique dun interrupteur optique 14 Figure 4 Dfinitions des temps de monte et de chute, tr et tf des impulsions optiques16 Figure 5 Schma fonctionnel de mesure .18 Figure 6 Disposition pour ltalonnage de linterrupteur dch
26、antillonnage20 Figure 7 Disposition pour rglage de la temporisation .22 Figure 8 Ajustage de la temporisation de linterrupteur dchantillonnage 24 Figure 9 Tableau de la temporisation pour ltalonnage de lisolation dynamique .26 Figure 10 Disposition pour mesurer lAFO.28 Figure 11 Tableau de temporisa
27、tion pour la mesure de lESA.30 Figure 12 Tableau de a temporisation pour la mesure de la puissance amplifie du signal .30 Figure B.1 Forme donde de sortie dEDFA pour les divers EDFA.42 Figure C.1 Prcision du mesurage de NF par rapport aux frquences de rcurrence .44 Copyright International Electrotec
28、hnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 20:31:39 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61290-10-1 IEC:2003 3 CONTENTS FOREWORD 5 INTRODUCTION 9 1Scope and object 11 2No
29、rmative references11 3Apparatus .11 4Test sample17 5Procedure.17 5.1Calibration .19 5.2OFA measurement.27 6Calculation33 6.1Noise factor calculation33 6.2ASE power.35 6.3Gain calculation .35 6.4Average output signal power 35 6.5Noise figure calculation35 7Test results.35 Annex A (informative) List o
30、f abbreviations .39 Annex B (informative) Output waveforms for various EDFAs at 25 kHz and 500 kHz pulse rates (see 5.1.2 a)41 Annex C (informative) Measurement accuracy versus pulse rates (see 5.1.2 a).45 Bibliography 47 Figure 1 Typical arrangement of the optical pulse test method 13 Figure 2 Two
31、arrangements of the optical pulse source.13 Figure 3 Static isolation of an optical switch15 Figure 4 Definitions of rise time and fall time, tr and tf of optical pulses .17 Figure 5 Measurement flow chart19 Figure 6 Arrangement for the sampling switch calibration21 Figure 7 Arrangement for timing a
32、djustment23 Figure 8 Timing adjustment of the sampling switch .25 Figure 9 Timing chart for dynamic isolation calibration 27 Figure 10 Arrangement for OFA measurement29 Figure 11 Timing chart for ASE measurement.31 Figure 12 Timing chart for amplified signal power measurement31 Figure B.1 EDFA outpu
33、t waveforms for various EDFAs .43 Figure C.1 NF measurement accuracy versus pulse rates .45 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 20:31:39 MSTNo reproduction or network
34、ing permitted without license from IHS -,-,- 4 61290-10-1 CEI:2003 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ AMPLIFICATEURS OPTIQUES METHODES DESSAI Partie 10-1: Paramtres canaux multiples Mthode dimpulsion utilisant un interrupteur optique et un analyseur de spectre optique AVANT-PROPOS 1)La CEI
35、(Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domai
36、nes de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales
37、et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2)Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les qu
38、estions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3)Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme
39、 normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4)Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de l
40、a CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5)La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit n
41、est pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) attire lattention sur le fait quil est dclar que la conformit avec les dispositions du prsent document peut impliquer lutilisation de deux brevets. Un brevet intresse une techni
42、que pour la dtermination du bruit dmission spontan amplifi dun amplificateur optique en prsence dun signal optique trait aux articles 3 et 5. La CEI ne prend pas position quant la preuve, la validit et la porte de ces droits de proprit. Le dtenteur de ces droits de proprit a donn lassurance la CEI q
43、uil consent ngocier des licences avec des demandeurs du monde entier, des termes et conditions raisonnables et non discriminatoires. A ce propos, la dclaration du dtenteur des droits de proprit est enregistre la CEI. Des informations peuvent tre demandes : Agilent Technologies Palo Alto (CA) USA Lau
44、tre brevet intresse un systme et un appareillage de mesure du bruit pour un amplificateur optique traits aux article 3 et 5. La CEI ne prend pas position quant la preuve, la validit et la porte de ces droits de proprit. Le dtenteur de ces droits de proprit a donn lassurance la CEI quil consent ngoci
45、er des licences avec des demandeurs du monde entier, des termes et conditions raisonnables et non discriminatoires. A ce propos, la dclaration du dtenteur des droits de proprit est enregistre la CEI. Des informations peuvent tre demandes : Fujitsu Limited Tokyo Japon Lattention est dautre part attir
46、e sur le fait que certains des lments du prsent document peuvent faire lobjet de droits de proprit autres que ceux qui ont t mentionns ci-dessus. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de lidentification de ces droits de proprit en tout ou partie. Copyright International Electrotechnical Commi
47、ssion Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 20:31:39 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61290-10-1 IEC:2003 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ OPTICAL AMPLIFIERS TEST METHODS Part 10-1: Multichannel parameters Pulse method using an optical switch and optical spectrum analyzer FOREWORD 1)The IEC (Intern