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1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 62024-1 Premire dition First edition 2002-05 Composants inductifs haute frquence Caractristiques lectriques et mthodes de mesure Partie 1: Inductance pastille de lordre du nanohenry High frequency inductive components Electrical characteristics and
2、 measuring methods Part 1: Nanohenry range chip inductor Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 62024-1:2002 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/10/2007 03:42:15 MSTNo rep
3、roduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la C
4、EI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les public
5、ations de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plu
6、s des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch
7、) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement
8、 disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-
9、dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January
10、 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the
11、base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current tech
12、nology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee w
13、hich has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a variety of criteria including te
14、xt searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.htm) is also available by emai
15、l. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 .
16、Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/10/2007 03:42:15 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STAN
17、DARD 62024-1 Premire dition First edition 2002-05 Composants inductifs haute frquence Caractristiques lectriques et mthodes de mesure Partie 1: Inductance pastille de lordre du nanohenry High frequency inductive components Electrical characteristics and measuring methods Part 1: Nanohenry range chip
18、 inductor Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y co
19、mpris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical
20、 Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODENCommission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Copyright International Elect
21、rotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/10/2007 03:42:15 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 2 62024-1 CEI:2002 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ COMPOSANTS IN
22、DUCTIFS HAUTE FRQUENCE CARACTRISTIQUES LECTRIQUES ET MTHODES DE MESURE Partie 1: Inductance pastille de lordre du nanohenry AVANT-PROPOS 1)La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Co
23、mits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits
24、 dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normal
25、isation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2)Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont
26、reprsents dans chaque comit dtudes. 3)Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4)Dans le but dencourager lunification intern
27、ationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indiqu
28、e en termes clairs dans cette dernire. 5)La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme int
29、ernationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 62024-1 a t tablie par le comit dtudes 51
30、 de la CEI: Composants magntiques et ferrites. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDISRapport de vote 51/658/FDIS51/675/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rd
31、ige selon les directives ISO/CEI, Partie 3. Lannexe A fait partie intgrante de cette norme. Le comit a dcid que la prsente publication restait valable jusquen 2006. A cette date, selon la dcision du comit, la publication sera: reconduite; annule; remplace par une dition rvise, ou modifie. Copyright
32、International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/10/2007 03:42:15 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 62024-1 IEC:2002 3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISS
33、ION _ HIGH FREQUENCY INDUCTIVE COMPONENTS ELECTRICAL CHARACTERISTICS AND MEASURING METHODS Part 1: Nanohenry range chip inductor FOREWORD 1)The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC Nat
34、ional Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technic
35、al committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Orga
36、nization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2)The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each techn
37、ical committee has representation from all interested National Committees. 3)The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committee
38、s in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or r
39、egional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements
40、 of this International Standard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 62024-1 has been prepared by IEC technical committee 51: Magnetic components and ferrite materials. The text of this st
41、andard is based on the following documents: FDISReport on voting 51/658/FDIS51/675/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part
42、 3. Annex A forms an integral part of this standard. The committee has decided that this publication remains valid until 2006. At this date, in accordance with the committees decision, the publication will be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended. Copyright International
43、Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/10/2007 03:42:15 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 62024-1 CEI:2002 COMPOSANTS INDUCTIFS HAUTE FRQUENCE CARACTRISTIQUES
44、LECTRIQUES ET MTHODES DE MESURE Partie 1: Inductance pastille de lordre du nanohenry 1 Domaine dapplication La prsente Norme internationale spcifie les caractristiques lectriques et les mthodes de mesure pour linductance pastille de lordre du nanohenry qui est normalement utilise dans la gamme de ha
45、utes frquences (suprieure 100 kHz). 2 Rfrences normatives Les documents de rfrence suivants sont indispensables pour lapplication du prsent document. Pour les rfrences dates, seule ldition cite sapplique. Pour les rfrences non dates, la dernire dition du document de rfrence sapplique (y compris les
46、ventuels amendements). CEI 60249-1:1982, Matriaux de base pour circuits imprims Premire partie: Mthodes dessai ISO 6353-3:1987, Ractifs pour analyse chimique - Partie 3: Spcifications Deuxime srie ISO 9453:1990, Alliages de brasage tendre Composition chimique et formes 3 Inductance, facteur Q et imp
47、dance 3.1 Inductance Linductance dune bobine est mesure par la mthode du courant/tension vectorielle. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/10/2007 03:42:15 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 62024-1 IEC:2002 5 HIGH FREQUENCY INDUCTIVE COMPONENTS ELECTRICAL CHARACTERISTICS AND MEASURING METHODS Part 1: Nanohenry range chip inductor 1 Scope This International Standard