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1、 NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 62153-4-6 Premire dition First edition 2006-05 Mthodes dessai des cbles mtalliques de communication Partie 4-6: Compatibilit lectromagntique (CEM) Impdance de transfert de surface Mthode dinjection de ligne Metallic communication cable test method
2、s Part 4-6: Electromagnetic compatibility (EMC) Surface transfer impedance Line injection method Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 62153-4-6:2006 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la C
3、EI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publicati
4、on de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit,
5、 sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publicatio
6、ns parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textu
7、elles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est au
8、ssi dispo- nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Emai
9、l: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated vers
10、ions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publica
11、tions is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Informat
12、ion on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on t
13、he IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Pu
14、blished This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, p
15、lease contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 62153-4-6 Premire dition First edition 2006-05 Mthodes dessai des cbles mtalliques de communication Partie 4-6: Compatibilit lectromagnti
16、que (CEM) Impdance de transfert de surface Mthode dinjection de ligne Metallic communication cable test methods Part 4-6: Electromagnetic compatibility (EMC) Surface transfer impedance Line injection method Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droits de repr
17、oduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be
18、 reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 T
19、elefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE R Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission 2 62153-4-6 CEI:2006 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 1 Domaine dapplication.8 2 Rfrences normatives .8 3 Termes et dfinitions 8 4 Considrat
20、ions gnrales sur le couplage .8 4.1 Circuit intrieur et extrieur8 4.2 Impdance de transfert ZT.8 4.3 Longueur dchantillon.10 5 Montage dessai12 5.1 Gnralits12 5.2 Appareils.14 5.3 Injecteur16 5.4 Circuit dadaptation dimpdance .24 6 Prparation des chantillons dessai .28 6.1 Gnralits28 6.2 Cbles symtr
21、iques sous cran .30 6.3 Cbles multiconducteurs sous cran32 7 Mesure .32 7.1 Gnralits32 7.2 Prcautions de mesure32 7.3 Etalonnage 32 7.4 Mthode de mesure.34 7.5 Evaluation des rsultats dessais .36 8 Expression des rsultats dessai .38 8.1 Expression 38 8.2 Correction de temprature .38 8.3 Rapport dess
22、ai38 9 Exigence 38 Figure 1 Installation complte.14 Figure 2 Injecteur assembl pour ligne de type transmission, Mthode dinjection Liste des lments 18 Figure 3 Partie suprieure de linjecteur Position 1.20 Figure 4 Partie infrieure de linjecteur Position 2 22 Figure 5 Partie dadaptation dimpdance de l
23、injecteur Position 322 Figure 6 Insert pour adapter les diffrentes tailles des cbles en essai Position 4 24 Figure 7 Adaptation dimpdance pour Z1 50 28 Figure 9 Prparation du cble en essai (CUT) 30 Figure 10 Ecran supplmentaire des connecteurs sur le cble en essai (CUT)30 Figure 11 Prparation des ch
24、antillons symtriques30 Figure 12 Montage dtalonnage.34 Figure 13 Montage de mesure lextrmit loigne 36 62153-4-6 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.5 1 Scope.9 2 Normative references9 3 Terms and definitions .9 4 General coupling considerations .9 4.1 Inner and outer circuit9 4.2 Transfer impedance ZT9 4.3
25、 Sample length .11 5 Test set-up .13 5.1 General .13 5.2 Equipment.15 5.3 Launcher .17 5.4 Impedance matching circuit .25 6 Preparation of the test sample 29 6.1 General .29 6.2 Screened symmetrical cables 31 6.3 Screened multi-conductor cables .33 7 Measurement33 7.1 General .33 7.2 Measurement pre
26、cautions33 7.3 Calibration.33 7.4 Measuring procedure.35 7.5 Evaluation of the test results37 8 Expression of test results39 8.1 Expression 39 8.2 Temperature correction .39 8.3 Test report.39 9 Requirement.39 Figure 1 Complete installation 15 Figure 2 Assembled launcher for the transmission type li
27、ne, Injection method Parts list.19 Figure 3 Upper part of launcher Position 1.21 Figure 4 Lower part of launcher Position 2.23 Figure 5 Impedance matching part of launcher Position 3 23 Figure 6 Insert for adapting the different sizes of the cables under test Position 4 25 Figure 7 Impedance matchin
28、g for Z1 50 .29 Figure 9 Preparation of the cable under test (CUT).31 Figure 10 Additional screening of connectors on the cable under test (CUT) .31 Figure 11 Preparation of symmetrical samples31 Figure 12 Calibration set-up .35 Figure 13 Far end measuring set-up.37 4 62153-4-6 CEI:2006 COMMISSION L
29、ECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ MTHODES DESSAI DES CBLES MTALLIQUES DE COMMUNICATION Partie 4-6: Compatibilit lectromagntique (CEM) Impdance de transfert de surface Mthode dinjection de ligne AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normali
30、sation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publi
31、e des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet tr
32、ait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organ
33、isations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la
34、 CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de
35、lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs p
36、ublications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage
37、pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires
38、, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais
39、de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences es
40、t obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne
41、pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 62153-4-6 a t tablie par le sous-comit 46A: Cbles coaxiaux, du comit dtudes 46 de la CEI: Cbles, fils, guides dondes, connecteurs, composants passifs pour micro-onde et accessoires. Le
42、texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 46A/800/FDIS 46A/817/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. 62153-4-6 IEC:2006 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ METAL
43、LIC COMMUNICATION CABLE TEST METHODS Part 4-6: Electromagnetic compatibility (EMC) Surface transfer impedance Line injection method FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC
44、 National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports,
45、Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non- g
46、overnmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of I
47、EC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees. 3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are acc
48、epted by IEC National Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any misinterpretation by any end user. 4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees und