《IEC-TR-62271-310-2004.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《IEC-TR-62271-310-2004.pdf（64页珍藏版）》请在三一文库上搜索。
1、 RAPPORT TECHNIQUE CEI IEC TECHNICAL REPORT TR 62271-310 Premire dition First edition 2004-04 Appareillage haute tension Partie 310: Essais dendurance lectrique pour disjoncteurs de tension assigne suprieure ou gale 72,5 kV High-voltage switchgear and controlgear Part 310: Electrical endurance testi
2、ng for circuit-breakers of rated voltage 72,5 kV and above Numro de rfrence Reference number CEI/IEC/TR 62271-310:2004 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les
3、 versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendeme
4、nts 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalog
5、ue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponible
6、s par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit
7、dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) es
8、t aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Em
9、ail: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated ve
10、rsions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publi
11、cations is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Inform
12、ation on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on
13、 the IEC web site (http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corr
14、igenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this pub
15、lication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . -,-,- RAPPORT TECHNIQUE CEI IEC TECHNICAL REPORT TR 62271-310 Premire dition First edition 2004-04 Appareillage haute tension Partie 310: Essais dendur
16、ance lectrique pour disjoncteurs de tension assigne suprieure ou gale 72,5 kV High-voltage switchgear and controlgear Part 310: Electrical endurance testing for circuit-breakers of rated voltage 72,5 kV and above IEC 2004 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de
17、 cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic
18、or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch U
19、Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue CODE PRIX PRICE CODE 2 TR 62271-310 CEI:2004 SOMMAIRE AVANT-PROPOS6 INTRODUCTION.14 1 Domaine dapplication 16 2 Rfrence normatives.16 3 Termes et
20、 dfinitions16 4 Procdure dessais.16 4.1 Qualification de lendurance lectrique accrue obtenue en dehors des essais de type18 4.2 Qualification de lendurance lectrique accrue combine des essais de type 22 Annexe A (informative) Notes explicatives .30 Bibliographie.54 Tableau 1 Squence dessais et critr
21、es pour les essais dendurance lectrique accrue effectus en dehors des essais de type.20 Tableau 2 Conditions dessais pour les essais dendurance lectrique accrue effectus en dehors des essais de type 22 Tableau 3 Nombre quivalent de coupures 24 Tableau 4 Exemple de programme de qualification denduran
22、ce lectrique accrue combin des essais de type .26 Tableau 5 Conditions dessais pour le programme de qualification dendurance lectrique accrue combin aux essais de type 28 Tableau A.1 Liste des pays impliqus dans la collecte des donnes 32 Tableau A.2 Donnes de rfrence utilises 34 Tableau A.3 Nombre d
23、e coupures 10 % du pouvoir de coupure assign en court- circuit38 Tableau A.4 Nombre de coupures 30 % du pouvoir de coupure assign en court- circuit38 Tableau A.5 Nombre de coupures 60 % du pouvoir de coupure assign en court- circuit38 Tableau A.6 Nombre de coupures 75 % du pouvoir de coupure assign
24、en court- circuit38 Tableau A.7 Nombre de coupures 90 % du pouvoir de coupure assign en court- circuit40 Tableau A.8 Nombre de coupure 100 % du pouvoir de coupure assign en court- circuit40 Tableau A.9 Nombre total de coupures 10 % du pouvoir de coupure assign en court-circuit.42 Tableau A.10 Nombre
25、 total de coupures 30 % du pouvoir de coupure assign en court-circuit.42 Tableau A.11 Nombre total de coupures 75 % du pouvoir de coupure assign en court-circuit.42 Tableau A.12 Nombre total de coupures 60 % du pouvoir de coupure assign en court-circuit.44 TR 62271-310 IEC:2004 3 CONTENTS FOREWORD.7
26、 INTRODUCTION.15 1 Scope.17 2 Normative references .17 3 Terms and definitions .17 4 Test procedure .17 4.1 Extended electrical endurance qualification obtained separately from type tests19 4.2 Extended electrical endurance qualification combined with type tests23 Annex A (informative) Explanatory n
27、otes .31 Bibliography55 Table 1 Test sequence and criteria for extended electrical endurance tests obtained separately from type tests.21 Table 2 Test conditions for extended electrical endurance tests obtained separately from type tests23 Table 3 Equivalent number of breaking operations.25 Table 4
28、Example of extended electrical endurance qualification programme combined with type tests.27 Table 5 Test conditions for extended electrical endurance qualification programme combined with type tests.29 Table A.1 List of countries involved in the data collection 33 Table A.2 Used reference data 35 T
29、able A.3 Number of breaking operations at 10 % of the rated short-circuit breaking current39 Table A.4 Number of breaking operations at 30 % of the rated short-circuit breaking current39 Table A.5 Number of breaking operations at 60 % of the rated short-circuit breaking current39 Table A.6 Number of
30、 breaking operations at 75 % of the rated short-circuit breaking current39 Table A.7 Number of breaking operations at 90 % of the rated short-circuit breaking current41 Table A.8 Number of breaking operations at 100 % of the rated short-circuit breaking current41 Table A.9 Total number of breaking o
31、perations at 10 % of the rated short-circuit breaking currents43 Table A.10 Total number of breaking operations at 30 % of the rated short-circuit breaking currents43 Table A.11 Total number of breaking operations at 75 % of the rated short-circuit breaking current43 Table A.12 Total number of break
32、ing operations at 60 % of the rated short-circuit breaking current45 -,-,- 4 TR 62271-310 CEI:2004 Tableau A.13 Nombre de coupures 60 % du pouvoir de coupure assign en court- circuit reprsentant les contraintes dusure lectrique avant les essais dacceptation .46 Tableau A.14 Nombre de coupures 60 % d
33、u pouvoir de coupure assign en court- circuit pour satisfaire aux exigences dusure.46 Tableau A.15 Correspondance entre le facteur de tension utilis pour les essais de courants capacitifs de type et le facteur de tension utiliser pour les essais de courants capacitifs du programme dendurance lectriq
34、ue accrue.52 -,-,- TR 62271-310 IEC:2004 5 Table A.13 Number of breaking operations at 60 % of the rated short-circuit breaking current to represent the wear stage before acceptance tests 47 Table A.14 Number of breaking operations at 60 % of the rated short-circuit breaking current to satisfy the w
35、ear requirements .47 Table A.15 Correlation between voltage factors used for standard capacitive current type tests and voltage factors to be used for extended electrical endurance capacitive current acceptance tests.53 -,-,- 6 TR 62271-310 CEI:2004 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ APPARE
36、ILLAGE HAUTE TENSION Partie 310: Essais dendurance lectrique pour disjoncteurs de tension assigne suprieure ou gale 72,5 kV AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (C
37、omits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapp
38、orts techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernement
39、ales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant
40、les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales e
41、t sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite pa
42、r un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes
43、 Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses
44、 Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dt
45、udes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisa
46、tion de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publicatio
47、n. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La tche principale des comits dtudes de la CEI est llaboration des Normes internationales. Toutefois, un comit dtudes peut proposer la publication dun rapport technique lorsquil a runi