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1、 CEI 61156-1 (Deuxime dition 2002) Cbles multiconducteurs paires symtriques et quartes pour transmissions numriques Partie 1: Spcification gnrique IEC 61156-1 (Second edition 2002) Multicore and symmetrical pair/quad cables for digital communications Part 1: Generic specification CORRIGENDUM 1 AVANT
2、-PROPOS Page 10 Remplacer, dans la premire phrase, la date de 2004 par 2007. Mars 2005 FOREWORD Page 11 Replace, in the first sentence, the date 2004 by 2007. March 2005 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=NASA Technical Standards 1/9972
3、545001 Not for Resale, 05/07/2007 22:10:39 MDTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61156-1 Deuxime dition Second edition 2002-12 Cbles multiconducteurs paires symtriques et quartes pour transmissions numriques Part
4、ie 1: Spcification gnrique Multicore and symmetrical pair/quad cables for digital communications Part 1: Generic specification Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61156-1:2002 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/11111
5、11001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 05/07/2007 20:05:47 MDTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Edition
6、s consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorpor
7、ant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles
8、 dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont gal
9、ement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textue
10、lles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (http:/www.iec.ch/online_news/justpub/
11、jp_entry.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Ser
12、vice clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing
13、 consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical cont
14、ent of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and co
15、rrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-l
16、ine catalogue on the IEC web site (http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications,
17、 as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions re
18、garding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing,
19、 Bernie Not for Resale, 05/07/2007 20:05:47 MDTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61156-1 Deuxime dition Second edition 2002-12 Cbles multiconducteurs paires symtriques et quartes pour transmissions numriques Par
20、tie 1: Spcification gnrique Multicore and symmetrical pair/quad cables for digital communications Part 1: Generic specification Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publicat
21、ion ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical,
22、including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE C
23、ODEXBCommission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 05/07/2007 20:05:47 MDTNo reproduction or networkin
24、g permitted without license from IHS -,-,- 2 61156-1 CEI:2002 SOMMAIRE AVANT-PROPOS . 8 INTRODUCTION.12 1Gnralits.14 1.1Domaine dapplication14 1.2Rfrences normatives14 1.3Considrations dinstallation 18 2Dfinitions et prescriptions18 2.1Dfinitions .18 2.2Matriaux et construction des cbles.28 3Mthodes
25、 dessais 34 3.1Remarques gnrales34 3.1.1Cble non blind34 3.2Essais lectriques34 3.2.1Rsistance du conducteur34 3.2.2Dsquilibre de rsistance.34 3.2.3Rigidit dilectrique .34 3.2.4Rsistance disolement 34 3.2.5Capacit mutuelle36 3.2.6Dsquilibre de capacit36 3.2.7Impdance de transfert 36 3.3Essais de tra
26、nsmission 36 3.3.1Vitesse de propagation de groupe36 3.3.2Affaiblissement 38 3.3.3Affaiblissement de symtrie .38 3.3.4Paradiaphonie48 3.3.5Tldiaphonie 50 3.3.6Impdance caractristique .50 3.3.7Affaiblissement de rflexion (RL) et affaiblissement de rflexion structurel (SRL) 60 3.4Essais mcaniques et d
27、imensionnels.64 3.4.1Mesures dimensionnelles.64 3.4.2Allongement la rupture du conducteur.64 3.4.3Rsistance la traction de lenveloppe isolante.64 3.4.4Allongement la rupture de la gaine64 3.4.5Rsistance la traction de la gaine .64 3.4.6Essai dcrasement du cble64 3.4.7Essai au choc du cble 64 3.4.8Es
28、sai de courbures rptes du cble .64 3.4.9Tenue la traction du cble.64 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 05/07/2007 20:05:47 MDTNo reproduction or networking permitted without l
29、icense from IHS -,-,- 61156-1 IEC:2002 3 CONTENTS FOREWORD 9 INTRODUCTION.13 1General 15 1.1Scope15 1.2Normative references 15 1.3Installation considerations .19 2Definitions and requirements 19 2.1Definitions .19 2.2Materials and cable construction29 3Test methods35 3.1General remarks35 3.1.1Unscre
30、ened cable35 3.2Electrical tests.35 3.2.1Conductor resistance.35 3.2.2Resistance unbalance35 3.2.3Dielectric strength35 3.2.4Insulation resistance35 3.2.5Mutual capacitance37 3.2.6Capacitance unbalance37 3.2.7Transfer impedance .37 3.3Transmission tests.37 3.3.1Group velocity of propagation 37 3.3.2
31、Attenuation 39 3.3.3Unbalance attenuation .39 3.3.4Near-end crosstalk.49 3.3.5Far-end crosstalk.51 3.3.6Characteristic impedance.51 3.3.7Return Loss (RL) and Structural Return Loss (SRL) 61 3.4Mechanical and dimensional measurement tests .65 3.4.1Measurement of dimensions 65 3.4.2Elongation at break
32、 of the conductor65 3.4.3Tensile strength of the insulation .65 3.4.4Elongation at break of the sheath.65 3.4.5Tensile strength of the sheath65 3.4.6Crush test of the cable.65 3.4.7Impact test of the cable65 3.4.8Repeated bending of the cable 65 3.4.9Tensile performance of the cable .65 Copyright In
33、ternational Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 05/07/2007 20:05:47 MDTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 61156-1 CEI:2002 3.5Essais denvironnement.64 3.5.1Retrait
34、 de lenveloppe isolante .64 3.5.2Essai denroulement de lenveloppe isolante aprs vieillissement thermique 64 3.5.3Essai de courbure de lenveloppe isolante basse temprature.66 3.5.4Allongement la rupture de la gaine aprs vieillissement 66 3.5.5Rsistance la traction de la gaine aprs vieillissement66 3.
35、5.6Essai de pression de la gaine temprature leve 66 3.5.7Essai denroulement du cble basse temprature .66 3.5.8Essai de choc thermique66 3.5.9Caractristiques de propagation de la flamme sur un cble isol .66 3.5.10 Caractristiques de propagation de la flamme sur cbles en nappes .66 3.5.11 Emission de
36、gaz halogns .66 3.5.12 Emission de fumes.66 3.5.13 Emission de gaz toxiques 66 3.5.14 Essais combins de propagation de la flamme et dmission de fumes pour les cbles destins tre installs dans les vides de construction.66 Annexe A (informative) Impdance caractristique et mthodes SRL/RL .68 A.1Equation
37、s fondamentales pour les lignes de transmission68 A.2Effets du coefficient de propagation dus la variation structurelle priodique en relation avec les effets apparaissant dans laffaiblissement de rflexion.84 A.3Dtermination de la rgression par la mthode des moindres carrs de lamplitude dimpdance et
38、dangle.90 A.4Dtermination de limpdance caractristique moyenne en utilisant le coefficient de propagation et la capacit .94 A.5Dtermination de limpdance caractristique laide de la mthode de mesure de la charge.100 A.6Dtermination de lexposant linique de propagation et de limpdance caractristique laid
39、e de la mthode circuit ouvert/court-circuit partir de la thorie des paramtres secondaires de transmission .102 Annexe B (informative) Mthode circuit ouvert/court-circuit 126 Annexe C (informative) Affaiblissement de symtrie.130 C.1Gnralits 130 C.2Affaiblissement de symtrie en extrmit proche et en ex
40、trmit distante 132 C.3Fondements thoriques136 Bibliographie.144 Figure 1 Montage pour le mesure des pertes en mode diffrentiel des symtriseurs.40 Figure 2 Montage pour la mesure des pertes en mode commun des symtriseurs42 Figure 3 Montage pour affaiblissement de symtrie en extrmit proche (ACT)44 Fig
41、ure 4 Montage pour affaiblissement de symtrie en extrmit distante (ATCT)46 Figure 5 Schma du circuit de mesure de la paire de cble56 Figure A.1 Paramtres secondaires de 1 kHz 1 GHz .82 Figure A.2 Dtermination des multiples de 2 radians pour ajouter la mesure de phase.98 Copyright International Elect
42、rotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 05/07/2007 20:05:47 MDTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61156-1 IEC:2002 5 3.5Environmental tests .65 3.5.1Shrinkage of the insulati
43、on.65 3.5.2Wrapping test of the insulation after thermal ageing.65 3.5.3Bending test of the insulation at low temperature.67 3.5.4Elongation at break of the sheath after ageing .67 3.5.5Tensile strength of the sheath after ageing 67 3.5.6Sheath pressure test at high temperature 67 3.5.7Cold bend tes
44、t of the cable 67 3.5.8Heat shock test67 3.5.9Flame propagation characteristics of a single cable .67 3.5.10 Flame propagation characteristics of bunched cables 67 3.5.11 Halogen gas evolution .67 3.5.12 Smoke generation67 3.5.13 Toxic gas emission 67 3.5.14 Combined flame and smoke test for cables
45、in environmental air handling spaces.67 Annex A (informative) Characteristic Impedance and SRL/RL Methods .69 A.1Basic transmission line equations 69 A.2Propagation coefficient effects due to periodic structural variation related to the effects appearing in the structural return loss.85 A.3Determina
46、tion of the least squares function fit of impedance magnitude and angle91 A.4Determination of the mean characteristic impedance using the propagation coefficient and the capacitance 95 A.5Determination of characteristic impedance using the terminated measurement method.101 A.6Determination of propag
47、ation coefficient and characteristic impedance using open/short circuit method from the secondary transmission parameters theory 103 Annex B (informative) “Open/short-circuit“ method.127 Annex C (informative) Unbalance attenuation.131 C.1General131 C.2Unbalance attenuation near end and far end133 C.3Theoretical background137 Bibliography145 Figure 1 Test set-up for the measurement of the differential-mode loss of the baluns.41 Figure 2 Test set-up for the measurement of the common-mode loss of the balun