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1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60998-2-1 Deuxime dition Second edition 2002-12 Dispositifs de connexion pour circuits basse tension pour usage domestique et analogue Partie 2-1: Rgles particulires pour dispositifs de connexion en tant que parties spares avec organes de serrage v
2、is Connecting devices for low-voltage circuits for household and similar purposes Part 2-1: Particular requirements for connecting devices as separate entities with screw-type clamping units Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60998-2-1:2002 PUBLICATION GROUPE DE SCURIT GROUP SAFETY PUBLICATIO
3、N Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 03:15:57 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numrotation des publications Depuis le 1er ja
4、nvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent res
5、pectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil ref
6、lte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des t
7、ravaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (http:/www.iec.ch/searc
8、hpub/cur_fut.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi qu
9、e sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez
10、 des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in th
11、e 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment
12、 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including it
13、s validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of pub
14、lications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of
15、publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) is also available by email. Please conta
16、ct the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright Inter
17、national Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 03:15:57 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60998-2-1
18、Deuxime dition Second edition 2002-12 Dispositifs de connexion pour circuits basse tension pour usage domestique et analogue Partie 2-1: Rgles particulires pour dispositifs de connexion en tant que parties spares avec organes de serrage vis Connecting devices for low-voltage circuits for household a
19、nd similar purposes Part 2-1: Particular requirements for connecting devices as separate entities with screw-type clamping units Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publica
20、tion ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photo-copie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical
21、, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch Commission Elec
22、trotechnique Internationale International Electrotechnical Commission U CODE PRIX PRICE CODE PUBLICATION GROUPE DE SCURIT GROUP SAFETY PUBLICATION Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Re
23、sale, 03/09/2007 03:15:57 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 2 60998-2-1 CEI:2002 SOMMAIRE AVANT-PROPOS . 6 1Domaine dapplication .10 2Rfrences normatives .10 3Dfinitions.10 4Gnralits .12 5Notes gnrales sur les essais12 6Caractristiques principales 12 7Classifi
24、cation 12 8Marquage .14 9Protection contre les chocs lectriques14 10Connexion des conducteurs 14 11Construction .24 12Rsistance au vieillissement, lhumidit, la pntration des corps solides trangers et la pntration nuisible de leau26 13Rsistance disolement et rigidit dilectrique26 14Rsistance mcanique
25、 26 15Echauffement26 16Rsistance la chaleur.26 17Distances disolement et lignes de fuite .26 18Rsistance de la matire isolante la chaleur anormale et au feu .26 19Rsistance de la matire isolante aux courants de cheminement.28 20Prescriptions CEM 28 Annexe AA (normative) Section des conducteurs et ca
26、libres utiliser pour les essais 40 Annexe BB (normative) Nombre de lots de trois chantillons utiliser pour les essais et squence liste pour chaque lot.44 Annexe CC (informative) Nombre de conducteurs utiliser pour les essais.46 Annexe DD (informative) Equivalence entre les sections de conducteurs en
27、 mm2 et les tailles utilises en Amrique du Nord .48 Annexe EE (informative) Exemples dessais dchauffement selon le paragraphe 15.452 Bibliographie .56 Figure 101 Exemples dorganes de serrage trou.30 Figure 102 Exemples dorganes de serrage sous tte de vis et bornes goujon filet.32 Figure 103 Exemples
28、 dorganes de serrage plaquette 34 Figure 104 Exemples dorganes de serrage capot taraud34 Figure 105 Appareil dessai selon 10.10436 Figure AA.1 Calibres pour le contrle des organes de serrage 42 Figure EE.1 Exemples dessais dchauffement selon 15.4 .54 Copyright International Electrotechnical Commissi
29、on Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 03:15:57 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 60998-2-1 IEC:2002 3 CONTENTS FOREWORD 7 1Scope .11 2Normative references11 3Definitions.11 4Gen
30、eral.13 5General notes on tests 13 6Main characteristics 13 7Classification 13 8Marking.15 9Protection against electric shock .15 10Connection of conductors15 11Construction .25 12Resistance to ageing, to humidity conditions, to ingress of solid foreign objects and to harmful ingress of water27 13In
31、sulation resistance and electric strength .27 14Mechanical strength27 15Temperature rise 27 16Resistance to heat 27 17Clearances and creepage distances27 18Resistance of insulating material to abnormal heat and fire27 19Resistance of insulating material to tracking29 20EMC requirements 29 Annex AA (
32、normative) Cross-sectional area of conductors and gauges to be used for the tests41 Annex BB (normative) Number of sets of three samples to be used for the tests and sequences listed for each set 45 Annex CC (informative) Number of conductors to be used for the tests .47 Annex DD (informative) Relat
33、ionship between conductors of cross-sectional areas in mm and the sizes as used in North America.49 Annex EE (informative) Examples for temperature-rise test according to 15.4 .53 Bibliography 57 Figure 101 Examples of pillar clamping units 31 Figure 102 Examples of screw- and stud-clamping units .3
34、3 Figure 103 Examples of saddle-clamping units35 Figure 104 Examples of mantle-clamping units .35 Figure 105 Test apparatus according to 10.104.37 Figure AA.1 Gauges for checking clamping units.43 Figure EE.1 Examples for temperature-rise test according to 15.4.55 Copyright International Electrotech
35、nical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 03:15:57 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 60998-2-1 CEI:2002 Tableau 101 Capacit de connexion assigne et conducteurs racco
36、rdables 16 Tableau 102 Diamtre nominal du filetage 18 Tableau 103 Relations entre la masse, la hauteur et la section des conducteurs .22 Tableau 104 Relation entre la force de traction et la section22 Tableau AA.1 Section des conducteurs et calibres correspondants .40 Tableau BB.1 Constitution des l
37、ots dchantillons44 Tableau CC.1 Nombre de conducteurs cbls et diamtre des sections 46 Tableau DD.1 Taille du fil, mm vs. AWG48 Tableau DD.2 Capacit de connexion assigne et conducteurs raccordables 50 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=I
38、HS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 03:15:57 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 60998-2-1 IEC:2002 5 Table 101 Rated connecting capacity and connectable conductors17 Table 102 Nominal diameter of thread 19 Table 103 Relationshi
39、p between mass, height and cross-sectional area of conductors 23 Table 104 Relationship between pull force and cross-sectional area23 Table AA.1 Cross-sectional area of conductors and corresponding gauges .41 Table BB.1 Sample sets .45 Table CC.1 Number of strands and diameters for cross-section are
40、as.47 Table DD.1 Wire size, mm versus AWG 49 Table DD.2 Rated connecting capacity and connectable conductors51 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 03:15:57 MSTNo repr
41、oduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 6 60998-2-1 CEI:2002 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ DISPOSITIFS DE CONNEXION POUR CIRCUITS BASSE TENSION POUR USAGE DOMESTIQUE ET ANALOGUE Partie 2-1: Rgles particulires pour dispositifs de connexion en tant que parties spa
42、res avec organes de serrage vis AVANT-PROPOS 1)La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pou
43、r toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer
44、. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2)Les dci
45、sions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3)Les documents produits se prsentent sous la forme de
46、recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4)Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans tou
47、te la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5)La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que cer