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1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61000-4-14 Edition 1.1 2002-07 Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-14: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit aux fluctuations de tension Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-14: Testing and measurement techniques Voltage fluct
2、uation immunity test Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61000-4-14:1999+A1:2001 Edition 1:1999 consolide par lamendement 1:2001 Edition 1:1999 consolidated with amendment 1:2001 PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les
3、publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la p
4、ublication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel
5、de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris
6、 par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de
7、 faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just P
8、ublished Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de r
9、enseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC
10、60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Fu
11、rther information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (s
12、ee below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web
13、Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publicati
14、ons, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any que
15、stions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61000-4-14 Edition 1.1 2002-07 Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4
16、-14: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit aux fluctuations de tension Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-14: Testing and measurement techniques Voltage fluctuation immunity test Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Pour prix, voir cata
17、logue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les mic
18、rofilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission3, rue de Varemb Ge
19、neva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300e-mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODEN Edition 1:1999 consolide par lamendement 1:2001 Edition 1:1999 consolidated with amendment 1:2001 PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION 2 61000-4-14 CEI:1999+A1:2001 SOM
20、MAIRE AVANT-PROPOS . 4 INTRODUCTION 6 1Domaine dapplication 8 2Rfrences normatives 8 3Gnralits .10 3.1Effets des fluctuations de tension.10 3.2Sources .10 4Dfinitions.10 5Niveaux dessai.12 6Matriel dessai.14 6.1Gnrateur dessai.14 6.2Caractristiques et performances du gnrateur dessai.14 6.3Vrificatio
21、n des caractristiques du gnrateur dessai.14 7Installation dessai 14 8Procdure dessai .16 8.1Conditions climatiques .16 8.2Excution de lessai .16 9Evaluation des rsultats dessai 18 10Rapport dessai.18 Annexe A (informative) Classes denvironnement lectromagntique 26 Bibliographie .28 Figure 1a Diagram
22、me dessai .20 Figure 1b Exemple dun chelon de tension pour tf et tr gal 0,25 priode 22 Figure 1c Exemple dune fluctuation de tension pour tf et tr gale cinq priodes (priode: 1/fn)22 Figure 1 Exemple de squences dessais de fluctuations de tension .22 Figure 2 Exemple dapplications successives de fluc
23、tuations de tension24 Figure 3 Schma (monophas) de linstrumentation dessai pour les fluctuations de tension, avec amplificateur de puissance.24 Tableau 1 Niveaux dessai12 Tableau 2 Caractristiques du gnrateur dessai.14 61000-4-14 IEC:1999+A1:2001 3 CONTENTS FOREWORD 5 INTRODUCTION 7 1Scope 9 2Normat
24、ive references. 9 3General.11 3.1Effects of voltage fluctuations 11 3.2Sources .11 4Definitions.11 5Test levels 13 6Test equipment .15 6.1Test generator .15 6.2Characteristics and performance of the test generator15 6.3Verification of the test generator 15 7Test set-up .15 8Test procedure17 8.1Clima
25、tic conditions.17 8.2Execution of the test 17 9Evaluation of test results.19 10Test report19 Annex A (informative) Electromagnetic environment classes.27 Bibliography 29 Figure 1a Test diagram.21 Figure 1b Example of a voltage step for tf and tr equal to 0,25 periods 23 Figure 1c Example of a voltag
26、e fluctuation for tf and tr equal to five periods (a period is 1/fn) 23 Figure 1 Example of test sequences of voltage fluctuations.23 Figure 2 Example of successive applications of voltage fluctuations25 Figure 3 Schematic (single-phase) of test instrumentation for voltage fluctuations, with power a
27、mplifier.25 Table 1 Test levels .13 Table 2 Characteristics of the test generator.15 -,-,- 4 61000-4-14 CEI:1999+A1:2001 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ COMPATIBILIT LECTROMAGNTIQUE (CEM) Partie 4-14: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit aux fluctuations de tension AVANT-PROPOS
28、1)La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans
29、les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouverne
30、mentales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2)Les dcisions ou accords officiels de la CEI concerna
31、nt les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3)Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont pub
32、lis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4)Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internation
33、ales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5)La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa respon
34、sabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsabl
35、e de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 61000-4-14 a t tablie par le sous-comit 77A: Phnomnes basse frquence, du comit dtudes 77 de la CEI: Compatibilit lectromagntique. Cette norme constitue la partie 4-14 de la srie
36、 CEI 61000. Elle a le statut de publication fondamentale en CEM conformment au Guide 107 de la CEI. La prsente version consolide de la CEI 61000-4-14 est issue de la premire dition (1999) documents 77A/263/FDIS et 77A/268/RVD et de son amendement 1 (2001) documents 77B/291+293/FDIS et 77B/298+300/RV
37、D. Elle porte le numro ddition 1.1. Une ligne verticale dans la marge indique o la publication de base a t modifie par lamendement 1. Le comit a dcid que le contenu de la publication de base et de ses amendements ne sera pas modifi avant 2006. A cette date, la publication sera reconduite; supprime;
38、remplace par une dition rvise, ou amende. -,-,- 61000-4-14 IEC:1999+A1:2001 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) Part 4-14: Testing and measurement techniques Voltage fluctuation immunity test FOREWORD 1)The IEC (International Electrotechnical Commission)
39、 is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addit
40、ion to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaisin
41、g with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2)The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters ex
42、press, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Committees. 3)The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of sta
43、ndards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their
44、 national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to b
45、e in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 61000-4-14
46、 has been prepared by subcommittee 77A: Low fre- quency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility. This standard forms part 4-14 of IEC 61000 series. It has the status of basic EMC publication in accordance with IEC Guide 107. This consolidated version of IEC 61000-4-14
47、 is based on the first edition (1999) documents 77A/263/FDIS and 77A/268/RVD and its amendment 1 (2001) documents 77B/291+293/FDIS and 77B/298+300/RVD. It bears the edition number 1.1. A vertical line in the margin shows where the base publication has been modified by amendment 1. The committee has
48、decided that the contents of the base publication and its amendments will remain unchanged until 2006. At this date, the publication will be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended. -,-,- 6 61000-4-14 CEI:1999+A1:2001 INTRODUCTION La CEI 61000 est publie sous la forme de plusieurs parties spares conformment la structure suivante: P