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1、RAPPORT TECHNIQUE CEI IEC TECHNICAL REPORT 60664-2-1 Premire dition First edition 1997-11 Coordination de lisolement des matriels dans les systmes (rseaux) basse tension Partie 2-1: Guide dapplication Feuilles de dimensionnement et exemples Insulation coordination for equipment within low-voltage sy
2、stems Part 2-1: Application guide Dimensioning procedure worksheets and dimensioning examples Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60664-2-1:1997 PUBLICATION FONDAMENTALE DE SCURIT BASIC SAFETY PUBLICATION Numros des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numro
3、tes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant des amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et
4、 la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de la publication sont dis
5、ponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs ces rvisions, ltablis- sement des ditions rvises et aux amendements peuvent tre obtenus auprs des Comits nationaux de la CEI et dans les documents ci-dessous: Bulletin de la CEI Annuaire de la CEI Accs en ligne* Catalogue des publicat
6、ions de la CEI Publi annuellement et mis jour rgulirement (Accs en ligne)* Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CEI 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles lit
7、traux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littraux utiliser en lectrotechnique, la CEI 60417: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: Symboles graphiques pour sch
8、mas. Publications de la CEI tablies par le mme comit dtudes Lattention du lecteur est attire sur les listes figurant la fin de cette publication, qui numrent les publications de la CEI prpares par le comit dtudes qui a tabli la prsente publication. * Voir adresse site web sur la page de titre. Numbe
9、ring As from the 1st January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base public
10、ation, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information re
11、lating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the revision work, the issue of revised editions and amendments may be obtained from IEC National Committees and from the following IEC sources: IEC Bulletin IEC Yearbook On-line access* Cat
12、alogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line access)* Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by th
13、e IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. IEC publications prepared by
14、 the same technical committee The attention of readers is drawn to the end pages of this publication which list the IEC publications issued by the technical committee which has prepared the present publication. * See web site address on title page. -,-,- RAPPORT TECHNIQUE TYPE 3 CEI IEC TECHNICAL RE
15、PORT TYPE 3 60664-2-1 Premire dition First edition 1997-11 Coordination de lisolement des matriels dans les systmes (rseaux) basse tension Partie 2-1: Guide dapplication Feuilles de dimensionnement et exemples Insulation coordination for equipment within low-voltage systems Part 2-1: Application gui
16、de Dimensioning procedure worksheets and dimensioning examples Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 1997 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune part
17、ie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photo- copie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, elec
18、tronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission3, rue de Varemb Geneva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300e-mail: inmailiec.ch IEC web site http: /www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODEL PUBLICATION FO
19、NDAMENTALE DE SCURIT BASIC SAFETY PUBLICATION -,-,- 2 60664-2-1 CEI:1997 SOMMAIRE Pages AVANT-PROPOS 4 Articles 1 Domaine dapplication.8 2 Distances disolement.8 3 Lignes de fuite10 4 Exemples de feuille de dimensionnement (bass sur le cas A) 14 5 Exemples de dimensionnement (bass sur le cas A).18 6
20、Document de rfrence 22 Figure 1 Diagramme de dimensionnement des distances disolement et des lignes de fuite pour les matriels basse tension (jusqu 2 000 m) 12 -,-,- 60664-2-1 IEC:1997 3 CONTENTS Page FOREWORD.5 Clause 1 Scope.9 2 Clearances.9 3 Creepage distances11 4 Examples of a dimensioning work
21、sheet (based on case A)15 5 Dimensioning examples (based on case A).19 6 Reference document 23 Figure 1 Diagram for dimensioning of clearances and creepage distances for low-voltage equipment (up to 2 000 m) .13 -,-,- 4 60664-2-1 CEI:1997 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ COORDINATION DE L
22、ISOLEMENT DES MATRIELS DANS LES SYSTMES (RSEAUX) BASSE TENSION Partie 2-1: Guide dapplication Feuilles de dimensionnement et exemples AVANT-PROPOS 1)La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nat
23、ionaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes Internationales. Leur laboration est confie
24、des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale
25、 de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2)Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, reprsentent, dans la mesure du possible un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux int
26、resss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3)Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4)Dans le but dencourager lunification internationale, les C
27、omits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes cla
28、irs dans cette dernire. 5)La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6)Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuv
29、ent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La tche principale des comits dtudes de la CEI est dlaborer des Normes internationale
30、s. Exceptionnellement, un comit dtudes peut proposer la publication dun rapport technique de lun des types suivants: type 1, lorsque, en dpit de maints efforts, laccord requis ne peut tre ralis en faveur de la publication dune Norme internationale; type 2, lorsque le sujet en question est encore en
31、cours de dveloppement technique ou lorsque, pour une raison quelconque, la possibilit dun accord pour la publication dune Norme internationale peut tre envisage pour lavenir mais pas dans limmdiat; type 3, lorsquun comit dtudes a runi des donnes de nature diffrente de celles qui sont normalement pub
32、lies comme Normes internationales, cela pouvant comprendre, par exemple, des informations sur ltat de la technique. Les rapports techniques de types 1 et 2 font lobjet dun nouvel examen trois ans au plus tard aprs leur publication afin de dcider ventuellement de leur transformation en Normes interna
33、tionales. Les rapports techniques de type 3 ne doivent pas ncessairement tre rviss avant que les donnes quils contiennent ne soient plus juges valables ou utiles. La CEI 60664-2-1, rapport technique de type 3, a t tablie par le sous-comit 28A: Coordination de lisolement pour le matriel basse tension
34、, du comit dtudes 28 de la CEI: Coordination de lisolement. Elle a le statut de publication fondamentale de scurit en conformit avec le Guide 104 de la CEI. -,-,- 60664-2-1 IEC:1997 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ INSULATION COORDINATION FOR EQUIPMENT WITHIN LOW-VOLTAGE SYSTEMS Part 2-
35、1: Application guide Dimensioning procedure worksheets and dimensioning examples FOREWORD 1)The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to p
36、romote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee intere
37、sted in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance
38、 with conditions determined by agreement between the two organizations. 2)The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all inter
39、ested National Committees. 3)The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. 4)In order to promote international unification, IEC Nati
40、onal Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5)The IEC provid
41、es no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6)Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. The IEC
42、shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. The main task of IEC technical committees is to prepare International Standards. In exceptional circumstances, a technical committee may propose the publication of a technical report of one of the following types: type 1, w
43、hen the required support cannot be obtained for the publication of an International Standard, despite repeated efforts; type 2, when the subject is still under technical development or where for any other reason there is the future but not immediate possibility of an agreement on an International St
44、andard; type 3, when a technical committee has collected data of a different kind from that which is normally published as an International Standard, for example “state of the art”. Technical reports of types 1 and 2 are subject to review within three years of publication to decide whether they can
45、be transformed into International Standards. Technical reports of type 3 do not necessarily have to be reviewed until the data they provide are considered to be no longer valid or useful. IEC 60664-2-1, which is a technical report of type 3, has been prepared by subcommittee 28A: Insulation coordina
46、tion for low-voltage equipment, of IEC technical committee 28: Insulation coordination. It has the status of a basic safety publication in accordance with IEC Guide 104. 6 60664-2-1 CEI:1997 Le texte de ce rapport technique est issu des documents suivants: CDVRapport de vote 28A/110/CDV28A/118/RVC L
47、e rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de ce rapport technique. -,-,- 60664-2-1 IEC:1997 7 The text of this technical report is based on the following documents: CDVReport on voting 28A/110/CDV28A/118/RVC Full information on the voting for the approval of this technical report can be found in the report on voting indicated in the above table. 8 60664-2-1 CEI:1997 COORDINATION DE LISOLEMENT DES MATRIELS DANS LES SYSTMES (RSEAUX) BASSE TENSION Partie 2-1: Guide dapplication