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1、Juillet 2004 July 2004 CEI 61000-4-7 (Deuxime dition 2002) IEC 61000-4-7 (Second edition 2002) Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-7 : Techniques dessai et de mesure Guide gnral relatif aux mesures dharmoniques et dinterharmoniques, ainsi qu lappareillage de mesure, applicable aux rseaux dal
2、imentation et aux appareils qui y sont raccords Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-7: Testing and measurement techniques General guide on harmonics and interharmonics measurements and instrumentation, for power supply systems and equipment connected thereto CORRIGENDUM 1 Page 14 3.1 Dfinitio
3、ns relatives lanalyse frquentielle Dans le systme dquations (3) : lire: = = = w w w T w T w m T w m dttf T c dtt N m tf T a dtt N m tf T b 0 0 0 1 0 1 )( 1 cos)( 2 sin)( 2 au lieu de: = += += w w w T w T m w m T m w m dttf T c dtt N m tf T a dtt N m tf T b 0 0 0 1 0 1 )( 1 cos)( 2 sin)( 2 Page 15 3.
4、1 Definitions related to frequency analysis In equation system (3): read: = = = w w w T w T w m T w m dttf T c dtt N m tf T a dtt N m tf T b 0 0 0 1 0 1 )( 1 cos)( 2 sin)( 2 instead of: = += += w w w T w T m w m T m w m dttf T c dtt N m tf T a dtt N m tf T b 0 0 0 1 0 1 )( 1 cos)( 2 sin)( 2 Juillet
5、2004 July 2004 2 et dans la dfinition de cm : lire: 1 f N m fm= au lieu de: mm f N m f= and in the definition of cm : read: 1 f N m fm= instead of: mm f N m f= NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61000-4-7 Deuxime dition Second edition 2002-08 Compatibilit lectromagntique (CEM) Parti
6、e 4-7: Techniques dessai et de mesure Guide gnral relatif aux mesures dharmoniques et dinterharmoniques, ainsi qu lappareillage de mesure, applicable aux rseaux dalimentation et aux appareils qui y sont raccords Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-7: Testing and measurement techniques General
7、 guide on harmonics and interharmonics measurements and instrumentation, for power supply systems and equipment connected thereto Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61000-4-7:2002 PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, le
8、s publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la
9、 publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actue
10、l de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepr
11、is par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet
12、de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just
13、 Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de
14、 renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IE
15、C 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2.
16、Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications
17、(see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC We
18、b Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publica
19、tions, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any q
20、uestions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61000-4-7 Deuxime dition Second edition 2002-08 Compatibilit lectromagnt
21、ique (CEM) Partie 4-7: Techniques dessai et de mesure Guide gnral relatif aux mesures dharmoniques et dinterharmoniques, ainsi qu lappareillage de mesure, applicable aux rseaux dalimentation et aux appareils qui y sont raccords Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-7: Testing and measurement te
22、chniques General guide on harmonics and interharmonics measurements and instrumentation, for power supply systems and equipment connected thereto Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie
23、 de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electron
24、ic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch
25、 CODE PRIX PRICE CODEWCommission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION 2 61000-4-7 CEI:2002 SOMMAIRE AVANT-PROPOS . 6 INTRODUCTION .10 1Domaine dapplication.12 2Rfrences normatives .12 3Dfinitions, symboles et
26、indices.14 3.1Dfinitions relatives lanalyse frquentielle.14 3.2Dfinitions relatives aux harmoniques 16 3.3Dfinitions relatives aux taux de distorsion.18 3.4Dfinitions relatives aux interharmoniques20 3.5Notations .22 3.5.1Symboles et abrviations22 3.5.2Indices.24 4Concepts gnraux et prescriptions co
27、mmunes tous les types dinstrumentations .24 4.1Caractristiques du signal mesurer .24 4.2Classes de prcision de linstrumentation.24 4.3Types de mesure .24 4.4Structure gnrale de linstrument26 4.4.1Instrument principal26 4.4.2Modules de post-traitement 28 5Mesures dharmoniques 30 5.1Circuit dentre de
28、courant .30 5.2Circuit dentre de tension30 5.3Prescriptions relatives la prcision 32 5.4Configuration de mesure pour lvaluation des missions .34 5.5valuation des missions harmoniques 36 5.5.1Regroupement et lissage38 5.5.2Respect des limites dmission.40 5.6valuation des sous-groupes harmoniques de t
29、ension40 6Autres principes danalyse.40 7Priode de transition .42 8Gnralits .42 Annexe A (informative) Mesure des interharmoniques.44 Annexe B (informative) Mesures au-del de la plage de frquence harmonique jusqu 9 kHz 48 Annexe C (informative) Rflexions dordre technique pour une mthode de regroupeme
30、nt52 Bibliographie .70 Figure 1 Structure gnrale de linstrument de mesure28 Figure 2 Montage pour la mesure des missions monophases 34 Figure 3 Montage de mesure pour les mesures dmissions triphases.34 61000-4-7 IEC:2002 3 CONTENTS FOREWORD 7 INTRODUCTION.11 1Scope .13 2Normative references13 3Defin
31、itions, symbols and indices .15 3.1Definitions related to frequency analysis15 3.2Definitions related to harmonics.17 3.3Definitions related to distortion factors.19 3.4Definitions related to interharmonics21 3.5Notations.23 3.5.1Symbols and abbreviations 23 3.5.2Indices.25 4General concepts and com
32、mon requirements for all types of instrumentation25 4.1Characteristics of the signal to be measured .25 4.2Accuracy classes of instrumentation 25 4.3Types of measurement 25 4.4General structure of the instrument27 4.4.1Main instrument .27 4.4.2Post-processing parts 29 5Harmonic measurements 31 5.1Cu
33、rrent input circuit .31 5.2Voltage input circuit.31 5.3Accuracy requirements 33 5.4Measurement set-up for emission assessment.35 5.5Assessment of harmonic emissions .37 5.5.1Grouping and smoothing39 5.5.2Compliance with emission limits.41 5.6Assessment of voltage harmonic subgroups 41 6Other analysi
34、s principles.41 7Transitional period43 8General 43 Annex A (informative) Measurement of interharmonics.45 Annex B (informative) Measurements above the harmonic frequency range up to 9 kHz.49 Annex C (informative) Technical considerations for grouping method.53 Bibliography71 Figure 1 General structu
35、re of the measuring instrument .29 Figure 2 Measurement set-up for single-phase emission measurement 35 Figure 3 Measurement set-up for three-phase emission measurements35 4 61000-4-7 CEI:2002 Figure 4 Illustration des groupes harmonique et interharmonique (reprsents ici pour une alimentation 50 Hz)
36、38 Figure 5 Ralisation dun filtre passe-bas numrique: z-1 dsigne un retard dune fentre temporelle, et sont les coefficients du filtre (voir les valeurs dans le tableau 2)38 Figure 6 Illustration dun sous-groupe harmonique et dun sous-groupe interharmonique centr (dune alimentation 50 Hz)40 Figure B.
37、1 Illustration des bandes de frquence pour les mesures dans la plage 2 kHz 9 kHz50 Figure C.1 Large fluctuation de courant du 5me harmonique .58 Figure C.2 Large fluctuation de tension du 5me harmonique58 Figure C.3 Fluctuation du 3me courant harmonique dun appareil micro-onde.60 Figure C.4 Signal d
38、e communication de 178 Hz avec 3me et 5me harmoniques.62 Figure C.5 Interharmonique 287 Hz, 5me et 6me harmoniques .62 Figure C.6 5me harmonique modul et interharmonique 287 Hz .66 Figure C.7 Composantes des frquences de 245 Hz et 255 Hz.68 Tableau 1 Prescriptions de prcision pour les mesures de cou
39、rant, de tension et de puissance32 Tableau 2 Coefficients du filtre de lissage en fonction de la largeur de fentre 42 61000-4-7 IEC:2002 5 Figure 4 Illustration of harmonic and interharmonic groups (shown here for a 50 Hz supply)39 Figure 5 Realisation of a digital low-pass filter: z-1 designates a
40、time window delay, and are the filter coefficients (see table 2 for values) 39 Figure 6 Illustration of a harmonic subgroup and an interharmonic centred subgroup (of a 50 Hz supply)41 Figure B.1 Illustration of frequency bands for measurement, in the range 2 kHz to 9 kHz 51 Figure C.1 Large 5th harm
41、onic current fluctuation 59 Figure C.2 Large 5th harmonic voltage fluctuation59 Figure C.3 Fluctuating 3rd harmonic current of a micro-wave appliance .61 Figure C.4 Communication signal of 178 Hz together with 3rd and 5th harmonics 63 Figure C.5 Interharmonic at 287 Hz, 5th and 6th harmonic .63 Figu
42、re C.6 Modulated 5th harmonic and interharmonic at 287 Hz.67 Figure C.7 Component vectors at frequencies of 245 Hz and 255Hz.69 Table 1 Accuracy requirements for current, voltage and power measurements 33 Table 2 Smoothing filter coefficients according to the window width .43 6 61000-4-7 CEI:2002 CO
43、MMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ COMPATIBILIT LECTROMAGNTIQUE (CEM) Partie 4-7: Techniques dessai et de mesure Guide gnral relatif aux mesures dharmoniques et dinterharmoniques, ainsi qu lappareillage de mesure, applicable aux rseaux dalimentation et aux appareils qui y sont raccords AVANT-
44、PROPOS 1)La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation
45、 dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, go
46、uvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2)Les dcisions ou accords officiels de la CEI co
47、ncernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3)Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme