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1、 NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61587-3 Premire dition First edition 2006-06 Structures mcaniques pour quipement lectronique Essais pour la CEI 60917 et la CEI 60297 Partie 3: Essais de performance du blindage lectromagntique pour les baies, les btis et les bacs cartes Mechanica
2、l structures for electronic equipment Tests for IEC 60917 and IEC 60297 Part 3: Electromagnetic shielding performance tests for cabinets, racks and subracks Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61587-3:2006 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont
3、 numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publ
4、ication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des rensei
5、gnements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a
6、labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en util
7、isant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires p
8、ublications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo- nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements su
9、pplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consoli
10、dated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further informatio
11、n on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in add
12、ition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch
13、) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and
14、 replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any question
15、s regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61587-3 Premire dition First edition 2006-06 Structures mcaniques pour quipemen
16、t lectronique Essais pour la CEI 60917 et la CEI 60297 Partie 3: Essais de performance du blindage lectromagntique pour les baies, les btis et les bacs cartes Mechanical structures for electronic equipment Tests for IEC 60917 and IEC 60297 Part 3: Electromagnetic shielding performance tests for cabi
17、nets, racks and subracks Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou
18、 mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International E
19、lectrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE N Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission 2 61587-3 CE
20、I:2006 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 1 Domaine dapplication et objet 8 2 Rfrences normatives .8 3 Essais de performances du blindage lectromagntique10 3.1 Essais de performances du blindage lectromagntique pour les baies et les bacs cartes.10 3.2 Conditions dessai .10 3.3 Configuration dessai .10 3.3.1 Eta
21、lonnage de lantenne de rfrence 10 3.3.2 Antenne dmission10 3.3.3 Antenne de rception.12 3.3.4 Mesure de rfrence12 3.3.5 Montage de lantenne dmission12 3.3.6 Montage de lprouvette.12 3.4 Exigences dessai12 3.5 Rsultats dessai .14 3.5.1 Emplacements dessai en champ libre20 3.5.2 Chambres semi-anchoque
22、 ou compltement anchoque 22 Annexe A (informative) Exemple dantenne diple sphrique (SDA) 24 Figure 1 Configuration type de lquipement dessai .16 Figure 2 Exemple de prsentation des donnes de mesure 18 Figure 3 Montage pour la mesure de la valeur du champ de rfrence E1.20 Figure 4 Montage pour la mes
23、ure de la valeur du champ de fuite E2 (baie).20 Figure 5 Montage pour la mesure de la valeur du champ de fuite E2 (bac cartes).20 Figure 6 Montage pour la mesure de la valeur du champ de rfrence E1.22 Figure 7 Montage pour la mesure de la valeur du champ de fuite E2 (baie).22 Figure 8 Montage pour l
24、a mesure de la valeur du champ de fuite E2 (bac cartes).22 Figure A.1 SDA 24 Figure A.2 E/O-O/E 26 Figure A.3 Valeur du champ lectrique .28 Tableau 1 Niveau daffaiblissement du champ lectrique 14 61587-3 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.5 1 Scope and object9 2 Normative references .9 3 Electromagnetic s
25、hielding performance test11 3.1 Electromagnetic shielding performance tests for cabinets and subracks11 3.2 Test conditions11 3.3 Test configuration11 3.3.1 Calibration of the reference antenna11 3.3.2 Transmitting antenna.11 3.3.3 Receiving antenna.13 3.3.4 Reference measurement13 3.3.5 Transmittin
26、g antenna set-up 13 3.3.6 Test specimen set-up 13 3.4 Test requirements .13 3.5 Test results .15 3.5.1 Open field test sites.21 3.5.2 Semi-anechoic or full anechoic chambers23 Annex A (informative) An example of a spherical dipole antenna (SDA)25 Figure 1 Typical test equipment configuration .17 Fig
27、ure 2 Example of a measurement data presentation .19 Figure 3 Set-up for measurement of reference field strength E1.21 Figure 4 Set-up for measurement of leakage field strength E2 (cabinet).21 Figure 5 Set-up for measurement of leakage field strength E2 (subrack)21 Figure 6 Set-up for measurement of
28、 reference field strength E1.23 Figure 7 Set-up for measurement of leakage field strength E2 (cabinet).23 Figure 8 Set-up for measurement of leakage field strength E2 (subrack)23 Figure A.1 SDA25 Figure A.2 E/O-O/E27 Figure A.3 Electric field strength 29 Table 1 Electric field attenuation levels15 4
29、 61587-3 CEI:2006 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ STRUCTURES MCANIQUES POUR QUIPEMENT LECTRONIQUE ESSAIS POUR LA CEI 60917 ET LA CEI 60297 Partie 3: Essais de performance du blindage lectromagntique pour les baies, les btis et les bacs cartes AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechniqu
30、e Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et d
31、e llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, a
32、ux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (I
33、SO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss son
34、t reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de
35、 ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliqu
36、er de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune
37、procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute l
38、a CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe
39、 ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites d
40、ans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits
41、 analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 61587-3, a t tablie par le sous-comit 48D: Structures mcaniques pour quipement lectronique, du comit dtudes 48 de la CEI:
42、Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipement lectronique. Cette norme annule et remplace la spcification technique parue en 1999. Elle constitue la premire dition. Elle constitue galement une rvision technique qui a conduit au statut de Norme internationale. Cette norme inclut l
43、es modifications techniques majeures suivantes par rapport la spcification technique: la gamme de frquences est tendue 2 000 MHz. En Annexe A est cite en exemple une antenne diple. 61587-3 IEC:2006 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ MECHANICAL STRUCTURES FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS FOR
44、 IEC 60917 AND IEC 60297 Part 3: Electromagnetic shielding performance tests for cabinets, racks and subracks FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees).
45、 The object of IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Spe
46、cifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non- governmental organizati
47、ons liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matter
48、s express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees. 3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content