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1、 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE CISPR 16-2-3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION Deuxime dition Second edition 2006-07 Spcifications des mthodes et des appareils de mesure des perturbations radiolectriques et de limmunit aux perturbations radiolectriques Partie 2-3: Mthodes de mesur
2、e des perturbations et de limmunit Mesures des perturbations rayonnes Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods Part 2-3: Methods of measurement of disturbances and immunity Radiated disturbance measurements Numro de rfrence Reference number CISPR 16-2-3:2006 C
3、OMIT INTERNATIONAL SPCIAL DES PERTURBATIONS RADIOLECTRIQUES INTERNATIONAL SPECIAL COMMITTEE ON RADIO INTERFERENCE Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les vers
4、ions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1
5、 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue de
6、s publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par
7、 lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publi
8、cation. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo- nible par courrier lectroniqu
9、e. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 F
10、ax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, e
11、dition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by t
12、he IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration
13、and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) e
14、nables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued
15、publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centr
16、e: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE CISPR 16-2-3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION Deuxime dition Second edition 2006-07 Spcifications des mthodes et des appareils de mesure des perturbations radiolectriques et de l
17、immunit aux perturbations radiolectriques Partie 2-3: Mthodes de mesure des perturbations et de limmunit Mesures des perturbations rayonnes Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods Part 2-3: Methods of measurement of disturbances and immunity Radiated disturba
18、nce measurements Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcaniqu
19、e, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrote
20、chnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch XD Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission CODE PRIX PRICE CODE COMIT INTERNATIONAL
21、 SPCIAL DES PERTURBATIONS RADIOLECTRIQUES INTERNATIONAL SPECIAL COMMITTEE ON RADIO INTERFERENCE -,-,- 2 CISPR 16-2-3 CEI:2006 SOMMAIRE AVANT-PROPOS8 1 Domaine dapplication 12 2 Rfrences normatives.12 3 Termes et dfinitions .14 4 Types de perturbations mesurer 20 5 Connexion du matriel de mesure 22 6
22、 Exigences et conditions gnrales de mesure 24 7 Mesure des perturbations rayonnes40 8 Mesure automatise des missions 122 Annexe A (informative) Mesure des perturbations en prsence dmissions ambiantes.134 Annexe B (informative) Utilisation des analyseurs de spectre et des rcepteurs balayage (voir Art
23、icle 6)162 Annexe C (informative) Exemple de budget dincertitude 168 Annexe D (informative) Dures de mesure et vitesses de balayage utilisables avec un dtecteur de valeur moyenne170 Annexe E (informative) Explication de la mthode de mesure de DPA applique lessai de conformit.178 Figure 1 Mesure dune
24、 combinaison dun signal bande troite et dun signal en impulsion en utilisant des balayages multiples avec maintien du maximum.34 Figure 2 Exemple danalyse temporelle36 Figure 3 Spectre large bande mesur avec un rcepteur accord par palier .38 Figure 4 Perturbations intermittentes bande troite mesures
25、 en utilisant des balayages courts et rapides avec la fonction maintien du maximum pour obtenir une vue densemble du spectre dmission 38 Figure 5 Principe des mesures du champ lectrique sur un emplacement dessai ouvert montrant les rayons directs et rflchis qui arrivent lantenne de rception .42 Figu
26、re 6 Installation dessai typique dans une chambre entirement anchoque, o a, b, c et e dpendent des caractristiques de la chambre50 Figure 7 Installation dessai typique pour un appareil de table dans le volume dessai dune chambre entirement anchoque54 Figure 8 Installation dessai typique pour un appa
27、reil reposant sur le sol dans le volume dessai dune chambre entirement anchoque56 Figure 9 Montage dessai pour un matriel pos sur table70 Figure 10 Montage dessai pour un matriel pos sur table, vue de dessus .72 Figure 11 Montage dessai pour un matriel pos au sol74 Figure 12 Montage dessai pour un m
28、atriel pos au sol, vue de dessus76 Figure 13 Position des plans pour la calibration du champ uniforme (vue de dessus).78 Figure 14 Mthode de mesure au-dessus de 1 GHz, antenne de rception en polarisation verticale.84 Figure 15 Illustration des exigences relatives la scrutation en hauteur pour deux c
29、atgories diffrentes de matriels en essai .88 -,-,- CISPR 16-2-3 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.9 1 Scope.13 2 Normative references .13 3 Terms and definitions .15 4 Types of disturbance to be measured .21 5 Connection of measuring equipment.23 6 General measurement requirements and conditions .25 7 Me
30、asurement of radiated disturbances .41 8 Automated measurement of emissions .123 Annex A (informative) Measurement of disturbances in the presence of ambient emissions135 Annex B (informative) Use of spectrum analyzers and scanning receivers (see clause 6) 163 Annex C (informative) Example of the un
31、certainty budget 169 Annex D (informative) Scan rates and measurement times for use with the average detector 171 Annex E (informative) Explanation of APD measurement method applying to the compliance test.179 Figure 1 Measurement of a combination of a CW signal (“NB”) and an impulsive signal (“BB”)
32、 using multiple sweeps with maximum hold35 Figure 2 Example of a timing analysis37 Figure 3 A broadband spectrum measured with a stepped receiver39 Figure 4 Intermittent narrowband disturbances measured using fast short repetitive sweeps with maximum hold function to obtain an overview of the emissi
33、on spectrum39 Figure 5 Concept of electric field strength measurements made on an open area test site (OATS) with the direct and reflective rays arriving at the receiving antenna43 Figure 6 Typical test set-up in FAR, where a, b, c and e depend on the room performance .51 Figure 7 Typical test set-u
34、p for table-top equipment within the test volume of a FAR 55 Figure 8 Typical test set-up for floor standing equipment within the test volume of a FAR.57 Figure 9 Test set-up for tabletop equipment.71 Figure 10 Test set-up for tabletop equipment, Top view .73 Figure 11 Test set-up for floor-standing
35、 equipment 75 Figure 12 Test set-up for floor-standing equipment, Top view 77 Figure 13 Position of planes for uniform field calibration (top-view)79 Figure 14 Measurement method above 1 GHz, receive antenna in vertical polarization.85 Figure 15 Illustration of height scan requirements for two diffe
36、rent categories of EUTs 89 -,-,- 4 CISPR 16-2-3 CEI:2006 Figure 16 Mthode de mesure par substitution (voir 7.4.1 et 7.4.3) 100 Figure 17 Dtermination de la distance de transition114 Figure 18 Principe de mesure des courants induits par un champ magntique laide du systme dantennes boucles 120 Figure
37、A.1 Diagramme de slection des largeurs de bande et des dtecteurs et erreurs de mesure estimes dues cette slection.138 Figure A.2 Diffrence relative des amplitudes des missions adjacentes pendant lessai prliminaire142 Figure A.3 Perturbation par un signal non modul (ligne en pointills) .144 Figure A.
38、4 Perturbation par un signal modul en amplitude (ligne en pointills) .144 Figure A.5 Indication dun signal modul en amplitude en fonction de la frquence de modulation avec le dtecteur de quasi crte dans les bandes B, C et D du CISPR146 Figure A.6 Indication dun signal modul en impulsion (largeur dim
39、pulsion 50 s) en fonction de la frquence de rptition avec des dtecteurs de crte, de quasi crte et de valeur moyenne .148 Figure A.7 Perturbation par un signal large bande (pointills) .148 Figure A.8 Perturbation du matriel en essai non module (pointills) .150 Figure A.9 Perturbation module en amplit
40、ude du matriel en essai (pointills) .150 Figure A.10 Augmentation de la valeur crte avec la superposition de deux signaux non moduls (Ua: niveau dmission ambiant; Ui: niveau de perturbation du matriel en essai).156 Figure A.11 Dtermination de lamplitude de la perturbation du matriel en essai au moye
41、n du rapport damplitude d et du facteur i156 Figure A.12 Augmentation de lindication moyenne mesure avec un rcepteur rel et calcule daprs lquation (A.8) .158 Figure D.1 Fonction de pondration dune impulsion de 10 ms pour des dtections de valeurs crtes (PK) et moyennes avec (CISPR AV) ou sans (AV) le
42、cteur crte; avec un contrleur de priode de 160 ms.174 Figure D.2 Fonctions de pondration dune impulsion de 10 ms pour des dtections de valeurs crtes (PK) et moyennes avec (CISPR AV )ou sans (AV) lecteur crte; avec un contrleur de priode de 100 ms174 Figure D.3 Exemple de fonctions de pondration (dun
43、e impulsion de 1 Hz) pour des dtections de valeurs crtes (PK) et moyennes quivalentes une fonction de largeur dimpulsion, avec un contrleur de priode de 160 ms 176 Figure D.4 Exemple de fonctions de pondration (dune impulsion de 1 Hz) pour des dtections de valeurs crtes (PK) et moyennes quivalentes
44、une fonction de largeur dimpulsion, avec un contrleur de priode de 100 ms 176 Figure E.1 Exemple de mesure de DPA par la mthode 1 pour des perturbations fluctuantes180 Figure E.2 Exemple de mesure de DPA par la mthode 2 pour des perturbations fluctuantes182 Tableau 1 Dures de balayage minimales pour
45、 les trois bandes CISPR avec dtecteur de crte et dtecteur de quasi crte 30 Tableau 2 Dimension minimale de w (wmin).86 Tableau 3 Exemples de valeurs de w pour trois types dantennes88 Tableau 4 Hauteurs dantenne recommandes pour garantir linterception du signal (pour le pr-balayage) dans la gamme de
46、frquence de 30 MHz 1 000 MHz.128 -,-,- CISPR 16-2-3 IEC:2006 5 Figure 16 Method of measurement Substitution method (see 7.4.1 and 7.4.3)101 Figure 17 Determination of the transition distance .115 Figure 18 Concept of magnetic field induced current measurements made with the loop antenna system.121 F
47、igure A.1 Flow diagram for the selection of bandwidths and detectors and the estimated measurement errors due to that selection .139 Figure A.2 Relative difference in adjacent emission amplitudes during preliminary testing 143 Figure A.3 Disturbance by an unmodulated signal (dotted line) 145 Figure A.4 Disturbance by an amplitude-modulated signal (dotted line)145 Figure A.5 Indication of an amplitude-modulated signal as a function of modulation frequency with the QP detector in C