IEC-TS-62098-2000.pdf

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1、SPECIFICATION TECHNIQUE CEI IEC TECHNICAL SPECIFICATION TS 62098 Premire dition First edition 2000-11 Mthodes dvaluation pour instruments microprocesseur Evaluation methods for microprocessor- based instruments Numro de rfrence Reference number CEI/IEC/TS 62098:2001 Copyright International Electrote

2、chnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 06:37:46 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la

3、CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base,

4、 la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. De

5、s renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtude

6、s qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherch

7、es en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum de

8、s dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements suppl

9、mentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidat

10、ed editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information o

11、n IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in additi

12、on to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) C

13、atalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and

14、replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding th

15、is publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie No

16、t for Resale, 03/08/2007 06:37:46 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- SPECIFICATION TECHNIQUE CEI IEC TECHNICAL SPECIFICATION TS 62098 Premire dition First edition 2000-11 Mthodes dvaluation pour instruments microprocesseur Evaluation methods for microprocessor-

17、 based instruments Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2001 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reprodui

18、te ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying a

19、nd microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission3, rue de Varemb Geneva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300e-mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODEW Copyright International Electrotechnical Commission Provided

20、by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 06:37:46 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 2 TS 62098 CEI:2001 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 INTRODUCTION.8 1Gnralits.10 1.1Domaine dapplication .10 1.2Rfrenc

21、es normatives10 1.3Dfinitions.10 2Dveloppements en instrumentation.12 3Considrations concernant lvaluation.14 3.1Approche systme.14 3.2Matrice dvaluation 16 3.3Zone limite (interfaces)20 4Technologie dvaluation20 4.1Analyse de linstrument .20 4.2Instruments sur une liaison de communication numrique

22、.30 4.3Identification des proprits des instruments.32 4.4Conditions dinfluence et essais 42 Annexe A (normative) Considrations pour mesurer la prcision62 Annexe B (informative) Mesures de lcart permanent dune boucle de rgulation64 Annexe C (informative) Rsolution et perte de laction intgrale.66 Anne

23、xe D (informative) Mise zro de lintgrateur par la protection anti-saturation68 Annexe E (informative) Exemple pratique de matrice dvaluation72 Bibliographie.76 Figure 1 Modle de systme gnrique16 Figure 2 Modle de matrice dvaluation18 Figure 3 Flux des donnes fonctionnelles en E/S de linstrument .20

24、Figure 4 Modle dinstrument gnrique 22 Figure 5 Modle gnrique de systme avec une liaison de communication numrique .32 Figure 6 Essai de vrification du fonctionnement .32 Figure 7 Essai de vrification du fonctionnement .34 Figure B.1 Sous-systmes Consigne entre64 Figure D.1 Effets de la mise zro de l

25、intgrateur par la protection anti-saturation 70 Tableau 1 Fonctions des instruments analogiques et microprocesseur14 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 06:37:46 MSTN

26、o reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- TS 62098 IEC:2001 3 CONTENTS FOREWORD.5 INTRODUCTION.9 1General 11 1.1Scope11 1.2Normative references 11 1.3Definitions .11 2Developments in instrumentation 13 3Evaluation considerations .15 3.1System approach.15 3.2Evaluation mat

27、rix.17 3.3Boundary area (interfaces).21 4Evaluation technology.21 4.1Instrument analysis21 4.2Instruments on a digital communication link .31 4.3Identification of instrument properties 33 4.4Influencing conditions and related tests43 Annex A (normative) Considerations on measuring accuracy 63 Annex

28、B (informative) Offset measurements of controllers65 Annex C (informative) Resolution and loss of integral action.67 Annex D (informative) Reset wind-up protection .69 Annex E (informative) Practical example of evaluation matrix .73 Bibliography77 Figure 1 Generic system model 17 Figure 2 Model of a

29、n evaluation matrix .19 Figure 3 Functional information flows entering and exiting an instrument.21 Figure 4 Generic instrument model.23 Figure 5 Generic model of a system with a digital communication link.33 Figure 6 Test for verifying functional operation33 Figure 7 Test for verifying functional o

30、peration35 Figure B.1 Setpoint/input subsystems.65 Figure D.1 Reset wind-up effects71 Table 1 Analog and microprocessor-based instrument functions .15 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not fo

31、r Resale, 03/08/2007 06:37:46 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 TS 62098 CEI:2001 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ MTHODES DVALUATION POUR INSTRUMENTS MICROPROCESSEUR AVANT-PROPOS 1)La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organi

32、sation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI,

33、entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participen

34、t galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2)Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible,

35、 un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3)Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou g

36、uides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4)Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute dive

37、rgence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5)La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de

38、ses normes. 6)Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente spcification technique peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas a

39、voir signal leur existence. La tche principale des comits dtudes de la CEI est llaboration des Normes internationales. Exceptionnellement, un comit dtudes peut proposer la publication dune spcification technique lorsquen dpit de maints efforts, laccord requis ne peut tre ralis en faveur de la public

40、ation dune Norme internationale, ou lorsque le sujet en question est encore en cours de dveloppement technique ou quand, pour une raison quelconque, la possibilit dun accord pour la publication dune Norme internationale peut tre envisage pour lavenir mais pas dans limmdiat. La CEI 62098, qui est une

41、 spcification technique, a t tablie par le sous-comit 65B: Dispositifs, du comit dtudes 65 de la CEI: Mesure et commande dans les processus industriels. Cette version bilingue (2001-05) remplace la version monolingue anglaise. Le texte anglais de cette spcification technique est bas sur les document

42、s 65B/388/CDV et 65B/401/RVC. Le rapport de vote 65B/401/RVC donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette spcification technique. La version franaise de cette spcification technique na pas t soumise au vote. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 3

43、. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 06:37:46 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- TS 62098 IEC:2001 5 INTERNATIONAL ELECTROTECH

44、NICAL COMMISSION _ EVALUATION METHODS FOR MICROPROCESSOR-BASED INSTRUMENTS FOREWORD 1)The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote

45、 international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested i

46、n the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with

47、conditions determined by agreement between the two organizations. 2)The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Committees. 3)The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in

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