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1、RAPPORT TECHNIQUE CEI IEC TECHNICAL REPORT 61586 Premire dition First edition 1997-02 Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61586: 1997 Estimation de la fiabilit des connecteurs lectriques Estimation of the reliability of electrical connectors Copyright International Electrotechnical Commission
2、Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 01:11:21 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CEI est cons- tamment
3、 revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de la publication sont disponibles auprs du Bureau Central de la CEI. Les renseignements relatifs ces rvisions, ltablis- sement des ditions rvises et aux amendements peuvent tre obten
4、us auprs des Comits nationaux de la CEI et dans les documents ci-dessous: Bulletin de la CEI Annuaire de la CEI Publi annuellement Catalogue des publications de la CEI Publi annuellement et mis jour rgulirement Terminologie En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CEI 50
5、: Vocabulaire Electrotechnique Inter- national (VEI), qui se prsente sous forme de chapitres spars traitant chacun dun sujet dfini. Des dtails complets sur le VEI peuvent tre obtenus sur demande. Voir galement le dictionnaire multilingue de la CEI. Les termes et dfinitions figurant dans la prsente p
6、ubli- cation ont t soit tirs du VEI, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. Symboles graphiques et littraux Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera: la CEI 27: Symboles littraux utiliser en lectrote
7、chnique; la CEI 417: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles; la CEI 617: Symboles graphiques pour schmas; et pour les appareils lectromdicaux, la CEI 878: Symboles graphiques pour quipements lectriques en pratique mdicale. Les symboles
8、et signes contenus dans la prsente publi- cation ont t soit tirs de la CEI 27, de la CEI 417, de la CEI 617 et/ou de la CEI 878, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. Publications de la CEI tablies par le mme comit dtudes Lattention du lecteur est attire sur les listes figurant
9、la fin de cette publication, qui numrent les publications de la CEI prpares par le comit dtudes qui a tabli la prsente publication. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technol
10、ogy. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available from the IEC Central Office. Information on the revision work, the issue of revised editions and amendments may be obtained from IEC National Committees and from the following IEC sources: IEC Bulletin IEC Ye
11、arbook Published yearly Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates Terminology For general terminology, readers are referred to IEC 50: International Electrotechnical Vocabulary (IEV), which is issued in the form of separate chapters each dealing with a specific field. Full
12、details of the IEV will be supplied on request. See also the IEC Multilingual Dictionary. The terms and definitions contained in the present publi- cation have either been taken from the IEV or have been specifically approved for the purpose of this publication. Graphical and letter symbols For grap
13、hical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications: IEC 27: Letter symbols to be used in electrical technology; IEC 417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets; IEC 617: Graphical s
14、ymbols for diagrams; and for medical electrical equipment, IEC 878: Graphical symbols for electromedical equipment in medical practice. The symbols and signs contained in the present publication have either been taken from IEC 27, IEC 417, IEC 617 and/or IEC 878, or have been specifically approved f
15、or the purpose of this publication. IEC publications prepared by the same technical committee The attention of readers is drawn to the end pages of this publication which list the IEC publications issued by the technical committee which has prepared the present publication. Copyright International E
16、lectrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 01:11:21 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- RAPPORT TECHNIQUE TYPE 2 CEI IEC TECHNICAL REPORT TYPE 2 61586 Premire d
17、ition First edition 1997-02 Estimation de la fiabilit des connecteurs lectriques Estimation of the reliability of electrical connectors R Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue CODE PRIX PRICE CODE IEC 1997 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved
18、Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any me
19、ans, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission3, rue de Varemb Geneva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300e-mail: inmailiec.ch IEC web site http: /www.iec.ch Commission Electrotechnique
20、 Internationale International Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 01:11:21 MSTNo reproduction or networking permitted without license from
21、 IHS -,-,- 2 61586 CEI:1997 SOMMAIRE Pages AVANT-PROPOS 4 INTRODUCTION .8 Articles 1Domaine dapplication.12 2Considrations gnrales .12 2.1 Mcanismes de dgradation intrinsque.12 2.2 Mcanismes de dgradation extrinsque12 2.3 Matrise de la dgradation extrinsque.12 2.4 Modes de dfaillance et mcanismes de
22、 dfaillance.14 2.5 Mcanismes de dgradation 14 3Mthodes dessais et facteurs dacclration.14 4Statistique sur la fiabilit.16 5Critres dacceptation.18 6Estimation de la fiabilit des connecteurs multicontacts 18 6.1 Estimation de la fiabilit dun connecteur partir de la fiabilit dun contact si les perform
23、ances des contacts sont statistiquement indpendantes18 6.2 Estimation de la fiabilit dun connecteur laide de distributions asymptotiques de valeurs extrmes .20 7Rsum et conclusions.22 Annexes A Exemple dtaill dun calcul de fiabilit de valeurs extrmes .24 BBibliographie 36 Copyright International Ele
24、ctrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 01:11:21 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61586 IEC:1997 3 CONTENTS Page FOREWORD.5 INTRODUCTION .9 Clause 1Scope.13
25、 2General considerations. 13 2.1 Intrinsic degradation mechanisms . 13 2.2 Extrinsic degradation mechanisms 13 2.3 Control of extrinsic degradation . 13 2.4 Failure modes and failure mechanisms . 15 2.5 Degradation mechanisms 15 3Test methods and acceleration factors 15 4Reliability statistics . 17
26、5Acceptance criteria. 19 6Estimation of the reliability of multi-position connectors. 19 6.1 Estimation of connector reliability from contact reliability when the contacts in a connector perform statistically independently. 19 6.2 Estimation of connector reliability using asymptotic extreme-value di
27、stributions 21 7Summary and conclusions 23 Annexes ADetailed example of an extreme-value reliability calculation.25 BBibliography . 36 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/
28、2007 01:11:21 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 61586 CEI:1997 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ ESTIMATION DE LA FIABILIT DES CONNECTEURS LECTRIQUES AVANT-PROPOS 1)La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale d
29、e normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres acti
30、vits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux tr
31、avaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2)Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible un accord interna
32、tional sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3)Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nati
33、onaux. 4)Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme CEI et la norme nation
34、ale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5)La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6)Lattention est attire sur le fait qu
35、e certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La tche principale des c
36、omits dtudes de la CEI est dlaborer des Normes internationales. Exceptionnellement, un comit dtudes peut proposer la publication dun rapport technique de lun des types suivants: type 1, lorsque, en dpit de maints efforts, laccord requis ne peut tre ralis en faveur de la publication dune Norme intern
37、ationale; type 2, lorsque le sujet en question est encore en cours de dveloppement technique ou lorsque, pour une raison quelconque, la possibilit dun accord pour la publication dune Norme internationale peut tre envisage pour lavenir mais pas dans limmdiat; type 3, lorsquun comit dtudes a runi des
38、donnes de nature diffrente de celles qui sont normalement publies comme Normes internationales, cela pouvant comprendre, par exemple, des informations sur ltat de la technique. Les rapports techniques de type 1 et 2 font lobjet dun nouvel examen trois ans au plus tard aprs leur publication afin de d
39、cider ventuellement de leur transformation en Normes internationales. Les rapports techniques de type 3 ne doivent pas ncessairement tre rviss avant que les donnes quils contiennent ne soient plus juges valables ou utiles. La CEI 61586, rapport technique de type 2, a t tablie par le sous-comit 48B:
40、Connecteurs, du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipements lectroniques. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 01:11:
41、21 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61586 IEC:1997 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ ESTIMATION OF THE RELIABILITY OF ELECTRICAL CONNECTORS FOREWORD 1)The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardizat
42、ion comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes In
43、ternational Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this prepa
44、ration. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2)The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an internationa
45、l consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Committees. 3)The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical reports or guides and they
46、are accepted by the National Committees in that sense. 4)In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standar
47、d and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5)The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6)Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. The main task of IEC technical committees is to prepare International Standards.