YD-T-828.27-1996.pdf

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1、Y D / T 8 2 8 . 2 7 一 1 9 9 6 前言 本系列标准等同采用国际电工委员会 I E C 8 3 5 系列标准 数字微波传输系统中所用设备的测量方 法 。 各标准的I E C前言统一采用 1 9 9 4 年出版的I E C 8 3 5的前言。 同时， 为了符合我国行业标准的要求， 在编写本系列标准时删去了原文本中有关国际标准草案( D I S ) 文件和投票结果报告的内容。 本系列标准的制定， 将使数字微波传输系统中所用设备的测量方法规范化， 有利于对这类传输系统 所用设备进行质量监督， 也有利于这类设备的研制、 生产、 维护和通信网的正常运行。 Y D/ T 8 2 8

2、 在 数字微波传输系统中所用设备的测量方法 总标题下， 包括以下三个部分， 每个部分 又包括若干节。 第 1 部分: 地面无线接力系统和卫星通信地球站通用的测量 ; 第 2 部分: 地面无线接力系统的测量; 第 3 部分: 卫星通信地球站的测量。 各标准的附录 A都是提示的附录。 鉴于本系列标准篇幅较大， 涉及数字微波传输系统中所用的各种类型设备的测量方法， 因此每一节 都作为本系列标准中独立的标准出版。 本标准由邮电部电信科学研究规划院提出并归口。 本标准起草单位: 邮电部第四研究所。 本标准主要起草人 : 李指行、 邵红威、 简德丰、 彭玉琴。 v D/ T 8 2 8 - 2 7 一 1

3、 9 9 6 I E C前言 1 ) I E C( 国际电工委员会) 是一个世界范围的标准化组织， 它由所有的国家电工委员会( I E C国家委员 会) 组成。 I E C的目标是促进在电气和电子领域有关标准化方面所有间题的国际合作。为此， I E C开 展了许多活动， 此外， 还出版国际标准。 这些标准的准备工作由各技术委员会负责。 任何对所处理的 课题感兴趣的国家委员会都可以参加此准备工作。与 I E C有联系的国际组织、 政府组织和非政府组 织也可以参加此准备工作。根据 I E C和 I S O( 国际标准化组织) 间的协议所规定的条款， I E C将与 I S O紧密合作。 2 )技术

4、委员会代表了对所处理的课题特别感兴趣的所有国家委员会。 由各技术委员会准备的I E C关于 各技术问题的正式决议或协议， 尽可能准确地表达出国际上的一致意见。 3 ) 这些正式决议或协议以标准、 技术报告或导则的形式发表， 以建议的形式供国际上应用， 并且在该意 义 上 被各个国家委员会接受。 4 )为了促进国际上的统一， I E C的各国家委员会同意在它们的国家和地区性标准中尽量直接采用 I E C 国际标准。相应的国家或地区性标准与 I E C标准之间若有差别， 应该明确指出。 YD/ T 828. 27 一 19 96 引言 设备本身的可靠性和传播条件会影响无线接力链路服务的可用度。由多

5、径传播引起的衰落是由于 分层大气中折射产生的干涉路径而产生的。 因为所有的干涉路径相对于直射路径都有时延， 所以除了接 收信号电平变化( 平衰落) 以外， 多径衰落还会使信号的幅度和群时延随频率而变化 如I T U - R 3 7 6 - 6 报告( 见本标准的第4 章) 所述， 克服传 播影响的一个方法是用两个( 或 更多个) 分 集通道发射或接收信号。 分集接收的依据是无线电信号沿不同路径和/ 或以不同频率到达接收地点所受 到的损伤是不完全相关的。 因此， 将分集接收机的输出适当地倒换或合成， 就可以减小平衰落和/ 或多径传播对链路可用于业 务的时间的影响。 通常采用下列类型的分集系统:

6、频率和交叉频带分集系统: 这 类分集设备使用同 一频带的不同频率或使用不同的 频带。 空间分集系统 : 这类分集系统使用一个发射天线和两个或更多个接收天线。 中 华 人 民 共 和 国 通 信 行 业标准 数 字 微 波 传 输 系 统 中 所 用 设 备 的 测 量 方 法 第2 部分: 地面无线接力系统的测量 第 7节 : 分 集 倒 换 与 合 成设备 Y D / T 8 2 8 2 7 一1 9 9 6 i d t I EC 8 3 5 - 2 - 7 : 1 9 9 4 1范围 本标准规定数字微波系统所用设备的测量方法。虽然在测量中也可能包含通道设备本身， 即发射 机、 接收机、 调

7、制器、 解调器等， 但在本标准中， 假设分集设备只由分集通道的倒换电路和/ 或合成电路组 成， 因而不考虑上述设备 2 引用标准 下列标准所包含的条文， 通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时， 所示版本均 为有效。所有标准都会被修订， 使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。 Y D / T 8 2 8 . 1 2 -1 9 9 6 数字微波传输系统中所用设备的测量方法 第 1 部分: 地面无线接力系统 和卫星通信地球站通用的测量第 2 节: 基本特性 Y D / T 8 2 8 . 1 4 -1 9 9 6 数字微波传输系统中所用设备的测量方法第 1 部分: 地面

8、无线接力系统 和卫星通信地球站通用的测量第 4 节 : 传输性能 Y D / T 8 2 8 . 2 5 -1 9 9 6 数字微波传输系统中所用设备的测量方法第2部分: 地面无线接力系统 的测量第5节: 数字信号处理分系统 Y D / T 8 2 8 . 2 8 -1 9 9 6 数字微波传输系统中所用设备的测量方法第 2 部分: 地面无线接力系统 的测量第8节: 自适应均衡器 I T U- T G. 7 0 3 建议( 1 9 7 2 ) 数字系列接口的物理/ 电气特性 I T U - R 7 5 2 建 议( 1 9 9 2 ) 无线 接力系统的分集技术 开关分集 3 . 1 一般考虑

9、在所有分集倒换分系统中， 将设备告警信号送到一个逻辑电路上， 以产生一个倒换驱动信号。从一 个通道到另一个通道的倒换可由一个内部测试点来监测。下面假定所给出的所有测量框图都包含无损 伤倒换设备， 如图 l a所示。 在无损伤基带倒换设备中， 有一个电路把两个输人信号进行比较， 并使其中一个信号与另一个信号 对齐 。 在测量时， 各个通道之间需要很高的隔离度， 以避免使B E R恶化， 例如应不小于2 0 d B 。 另外， 还应 i亥 注意到下面一些问题: 应该把调整倒换条件的设备控制器调到几个规定的位置上来进行所有的测量; 中华人民共和国邮电部1 9 9 6 一 0 3 一 1 2 批准1

10、9 9 6 一 0 3 一 1 2 实施 Y D/ T 82 8.27 一 1 996 不要使用步进式衰减器， 以避免改变衰减量时信号的瞬时中断; 在许多双通道倒换设备中， 为了避免不必要的倒换， 即使故障通道恢复到原来的状态， 开关仍 保持在它最后的位置上。下面的测量方法也适用于这种“ 无返回倒换” 型系统。 3 . 2 分集开关端口间的隔离度 分集倒换设备有两个或更多个输入口及一个输出口， 因此 必须测量不在用的输入口和在用的输入 口之间的隔离度。 衰减量的 测量应按照Y D / T 8 2 8 . 1 2 进行。 13 分集通道间的时延差 13 . 1 一般考虑 为使分集运行良好， 要求

11、倒换电路在倒换过程中不引起过大的传输损伤为了达到这个目的， 两个 比特流之间的时延差O r 必须短于脉冲持续时间T， 如 T / 3 , 在大容量系统中， 由于传播时延的变化， r 可能会变得比可容许时延差要大。这时， 就需要有自动 时延补偿措施。 最大可容许时延差 r ,必须大于分集通道间所预期的最大时延差， 在这种情况下， 可进行倒换， 而 无失步或比特滑动。 13 . 2 测量方法 测量可容许时延差的限值的框图如图 2 和图3所示。图 2 表示了一个包含射频可变时延的发射接 收段。通过降低射频输入电平来启动自动倒换。 首先 ， 调节图2中的衰减器 R F - 1 和 R F - 2 ，

12、使接收机的输入电平为标称值。 将时延 r 调到零， 并记 下分集开关的位置， 例如在通道 1 然后， 降低通道 1 的射频输入电平， 直到在一个规定的 B E R下倒换 到通道 2 。在倒换过程中， 既不容许出现时钟失步， 也不容许出现比特滑动。 然后， 对通道 2重复相同的步骤。 通过增加时延 r 来重复进行测量， 直至达到 r . ， 出现比特滑动 或失步时为止。 可容许的时延差也可用图3 所示的测量框图来测量， 其中包含基带可变时延。 这可通过记下如图 5 中的同步告警来检验。 在这种情况下， 用外部触发信号来启动人工倒换， 并按图 2 中所说明的相似方法增加时延。在这个 例子中， 基带

13、倒换设备包含比特差错检测器 3 - 3 . 3 结果表示 应按下面例子的方式来表示测量结果: 出现时钟失步或比特滑动时的时延 r . . . ， 即 z v s ; 在倒换过程中的差错数， 即y 。 3 . 3 . 4 需规定的细节 按照要求， 在详细的设备规范中应包括下列各项: a ) 可容许的传播时延差 r . . . ， 传播时延差超过 r , ， 就会发生时钟失步; b ) 在倒换过程中， 在标称输入电平和给定的传播时延差下， 所容许的最大比特差错数( 对“ 无损伤” 倒换来说， 这应该等于零) 。 3 , 4 由B E R告警引起的倒换 3 - 4 . 1 一般考虑 比特流的差错可以

14、用每个接收机解调器中的或在基带倒换设备的每个通道中的比特差错检测器来 检测 在衰落条件下， 对于无差错或“ 无损伤” 分集倒换， 必须采用快速检测法， 例如， 奇偶校验法或通过测 量眼图高度来检测的伪差错检测法。 应按照YD / T 8 2 8 . 1 4 来测量B E R. YD/ T 828. 27一 199 6 3 . 4 . 2 测量方法 测量基带倒换设备中的倒换判据的框图， 如图l b所示。 首先， 调节衰减器 R F - 1 和 R F - 2 ， 使接收到的输入电平为标称值， 并记下分集开关的位置， 例如在 通道 1 。 降低通道 1 的射频输入电平， 直至倒换到通道2 ， 并测

15、出B E R。 然后， 对通道2重复相同的步骤。 在进行这些测量时， 应验证当达到 B E R告警的动作电平和恢复电平时， 倒换动作是否正确。 如果基带倒换设备是一个独立的单元， 则只要采用基带差错插入技术， 没有发射一 接收段， 也能测出 倒换判据， 如图4 所示。 利用这套装置， 它包含B E R检测器， 增加通道 1 的差错比特数就能启动倒换， 然 后对通道 2 作同样的处理 测量B E R告警和B E R恢复条件的框图在YD / T 8 2 8 . 2 5 中给出。 3 . 4 . 3 结果表示 应列表表示倒换动作时和恢复时的 B E R， 并按照YD / T 8 2 8 . 2 5

16、， 给出B E R告警和 B E R恢复的条 件。应记下基带开关的位置。 3 . 4 . 4 需规定的细节 按照要求， 在详细的设备规范中应包括下列各项: a ) 所要求的倒换动作时 和恢复时的B E R ( 如分别为1 0 - 和1 0 - 6 ) ; b ) B E R告警和 B E R恢复按照 Y D / T 8 2 8 . 2 5 的规定。 I5 同步时间 3 . 5 . 1 定义和一般考虑 同步时间定义为在两个比特流恢复后， 重新建立它们之间的同步所需要的时间。 为了测量在传播中 断后的同步时间， 分集通道的比特流( 包含时钟和帧同步) 必须在倒换之前就同步。 15 . 2 测量方法

17、 测量同步时间的框图如图 5 所示。 首先， 将时延r 调到一个规定值上， 如。 . 5 A r m s . 。 然后用单冲击短脉冲信号来打开和闭合开关s 。 开 关的闭 合触发存储式示波器的时基。 示波器的Y输入由基带倒换设备的失步告警信号来驱动。 为了测 得最大同步时间， 应该重复测量几次。 15 . 3 结果表示 测量结果应该用示波器显示的拷贝来表示。 15 . 4 需规定的细节 按照要求， 在详细的设备规范中应包括下列项目: 所容许的最大同步时间( 如 1 m s ) . 合成分 集 4 . 1 一般考虑 合成技术的细节在 I T U - R 3 7 6 - 6 报告中给出。 虽然几种

18、类型的合成器有可能组合使用， 但通常可采用下列两种类型的合成器: a )最大功率合成器( 等增益或最大比率型) ; b ) 最小色散合成器( MI D) o 最小色散合成器在减小波形失真方面特别有效。所有类型的合成器都使用一个由相位控制分系统 驱动的连续可变的移相器。 为了验证控制电路的功能是否正常， 需要进行测量， 但测量结果可能随合成器类型的不同而不同。 例如， 在平衰落情况下侧量 B E R / 接收机的输人电平特性时， 或者在选择性衰落情况下测量特征曲线 时， 采用不同的合成器测量结果就不相同。 图 6 给出了空间分集系统中所用合成设备的简化框图。图 6 a 表示射领合成器， 而图 6

19、 6和图 6 c 夫 YD/ T 828 -27 一 19 96 示中频合成器。图 s c 的配置也可用于频率分集系统。上述所有合成器都是最大功率型的。最后， 图 6 d 所示的合成器使用一个特殊的相位控制分系统， 来实现最小色散合成。 4 . 2 B E R / 接收机输人电平特性 该测量适用于最大功率合成器和最小色散合成器。 4 . 2 . 1 测量方法 测量最大功率和最小色散合成设备的B E R与接收机输入电平之间的关系的框图如图7 所示 在不 同的接收机输入电平下， 测量点 1 和点 2 处的B E R， 对合成器的性能作出评估。 首先， 用可变衰减器 R F - 2 在通道 2中插入

20、高衰减量， 使通道 2 不能工作， 然后， 测量B E R与可变 衰减器 R F - 1 插入的衰减量之间的关系( 见图8的曲线 2 ) , 接着， 用可变衰减器R F - 1 在通道 1中插入高衰减量， 使通道 1 不能工作。然后， 调节R F - 2 ， 使得到 某个BE R值， 如 1 0 - s ， 并记下在点2处测得的通道 2 的接收机输入电平。然后 ， 将点 1 处的接收机输入 电平调整到上述值上， 再测量B E R与可变衰减器R F - 1 的衰减量之间的关系( 见图8的曲线 3 ) 。然后， 调节 R F - 2 ， 使得到其他几个B ER值， 如 B E R=1 0 - ,

21、1 0 - 7 等， 再重复以上步骤。 通过比较曲线 2 和 3 可看出， 当通道 1 的输入电平等于上述的通道 2 的固定输人电平时， 可获得载 噪比门限改善量 1 达 3 d B ( 有时称为分集增益) 。 图 8中的曲线 1 表示没有合成器时， B E R与可变衰减器R F - 1 的衰减量之间的关系曲线 将解调器 和差错检测器连接到合成设备中的中频合成电路的通道 1 的输入端， 就可测出这条曲线。注意: 曲线 2 是在通道 2不工作时， 在合成器输出端测得的 B E R与 R F - 1的衰减量之间的关系曲线， 它给出了由合 成电路的不理想引起的恶化量 d “ . 4 - 2 . 2

22、结果表示 测量结果应该用图形方式来表示， 如图 s 所示， 采用的坐标为: 水平坐标: 由 R F - 1 给定可变衰减量时的接收机 1 的输入电平， 单位为d B mo 垂直坐标: B E R 4 , 2 . 3 需规定的细节 按照要求， 在详细的设备规范中应包括下列各项: a ) 所要求的载噪比门限的最低改善量1 ， 例如最多3 d B ; b )两个通道间的时延差 4 . 3 带内幅度色散特性 4 . 3 . 1 一般考虑 带内幅度色散是指由多径衰落引起的幅度/ 频率特性的变化， 只有在最小色散合成设备中才测量 它。 在最小色散合成设备中， 用连续可变的移相器将两个信号( 中频或射频)

23、合成起来。 为了测量合成器 输出端的幅度色散特性 ， 要采用以下三个信号: 一个在频带中心( f) ， 一个在高端( f . ) ， 而另一个在低 端( f - ) . 4 - 3 . 2 测量方法 测量带内幅度色散特性的框图如图9 所示。 将伪随机脉冲送到调制器上， 而将已调信号送到衰落模 拟器上。 将仿真空间分集接收所必需的两个信号送到最小色散合成器上， 并调整幅度( A A Z ) 、 时延( : 、 、 r , ) 和 相位( 0 , . 0 z ) 来改变衰落情况。在 频谱分析仪上观察最小色散合 成器的输出信号。 在射频合成设备情况下， 射频发射机必须与调制器一起使用， 并需要一个射

24、频衰落模拟器。 测量步骤如下: 首先， 在不接合成器或者合成器不工作的情况下， 将A, Az . r , I r z . 0 ， 和 0 z 调整到规 定值， 并记录衰落模拟器输出信号的频谱， 如图1 0 a 所示 接着， 记录下合成器工作时最小色散合成器输 出信号的频谱， 如图 l o b 所示。这时， 带内幅度色散就被抑制掉了， 如图 l o b所示。必要时扩 可改变衰落 情况( A _ A , r , . r z . 0和0 2 ) ， 重复进行测量。 4 . 3 . 3 结 果表示 Y D/ T 8 2 8 - 2 7 一 1 9 9 6 带内幅度色散的测量结果应该用频谱分析仪显示的拷

25、贝来表示。 4 . 3 . 4 需规定的细节 按照要求， 在详细的设备规范中应包括下列各项: a ) 被测设备的结构; b )衰落情况( A, , A 2 I r l I r 2 1 0 1 和 o z ) ; c ) 标称输入电平( d B m) ; d )容许的最大幅度色散; e ) 进行测量所在的频率范围。 4 . 4 B E R/ 相位差特性 该测量的目的是验证在不同的相位条件下， 合成器是否能良好地运行。 该测量方法对最大功率合成 器和最小色散合成器都是适用的。 4 . 4 . 1 测量方法 测量 B E R与通道间相位差的关系的框图如图 1 1 所示。 必须验证， 在移相器 o f

26、 的相位调整范围内， 其衰减量是不变的。首先， 调节衰减器 R F - 2 ， 使接收机 输入口 1 和2的电平相等。然后， 调节衰减器R F - 0 ， 使 B E R为某一规定值 ， 如为 1 0 - s , 接着， 将移相器 声 ， 调到规定范围内的几个值上 ， 测量 B E R, 4 - 4 . 2 结果表示 测量结果应以图示方式来表示 ， 表示出B E R与两个射频输入口间相位差的关系。 4 . 4 . 3 需规定的细节 按照要求， 在详细的设备规范中应包括下列项目: 在分集接收机两个射频输入口之间的一个给定相位差下， 所容许的最大B E R变化值。 4 . 5 衰落特征曲线 该测量

27、适用于最大功率合成器和最小色散合成器。 可用于定型试验的动态特征曲线的测量方法， 见 Y D / T 8 2 8 . 2 8的第 5 章。 4 . 5 . 1 一般考虑 为了表征分集设备， 采用一种改进的特征曲线的测量方法， 即将合成器的一个输入端连接到一个仿 真平衰落的 通道 上， 而另一个输入端连接到一个仿真只有选择性衰落的通 道上( 见Y D / T 8 2 8 . 2 8 ) 。 进 行这些测量是为了检验合成器选择具有较低幅度色散， 从而具有较低 B E R的分集通道的能力。 4 . 5 . 2 测量方法 测量分集合成设备特征曲线的框图如图 1 2所示。该框图表示适用于中频和射频合成器

28、的测量配 置 。 测量步骤如下: 首先， 调节可变衰耗器 R F - 1和R F - 2 ， 使接收机输入电平为标称值， 并将双路径通道模拟器的参数 置为a =1 和b =0 B =一2 0 l o g o ( 1 一 b / a ) = O d B , 在这些条件下， 将点 1 和点 2 间的电平差定义为 P。接着， 在一个固定的时延 r 下， 把最大凹口 频 率f o 和凹口深度 1 -b / a ( a lb ) 调整到与一恒定的B E R相应的不同值上， 测量特征曲线。 通过增加可变 衰减器 R F - 1 的衰减值， 就可测得一组特征曲线， 每条特征曲线用相应的 P值为表征。 . 先

29、在正时延和负时延的一些规定值下分别重复进行测量， 改变时延方向是通过变换模拟器的通道 a和b ( 即b ra ， 且凹口深度=1 -a l b ) 来实现的。 然后， 交换通道 1 和 2 ， 再重复进行测量。 当A P趋向于 无穷大时， 得到的特征曲线接近于接收机没有分集时的特征曲线。 4 - 5 . 3 结果表示 测量结果应以图形方式来表示 ， 如图 1 3 所示。 每条特征曲线都必须用接收电平差 P来表征。 通过 互换时延的符号并交换输入端 1 和输人端 2 ， 就可测得四组曲线。在每种情况下， 都应说明双路径模拟 Y D/ T 8 2 8 - 2 7 一 1 9 9 6 器连接到哪一个

30、输入端口。 4 . 5 . 4 需规定的细节 按照要求， 对于每个 P值， 在详细的设备规范中应包括下列各项: a ) 接收机输人电平， d B m; b )比特率; c )伪随机二进制序列的长度; d ) B E R的测量时间; e ) B E R门限， 如 1 0 一 ; f )模拟器中所采用的正的或负的时延( 如 6 . 3 n s ) ; g )凹口频率偏移的最大范围( 如士1 5 MH z ) ; h ) 在上面8 ) 所给出的凹口 频率范围内， 得到上面e ) 所要求的B E R门限值所需的最小凹口 深度， d B- 1 * 口 2 . ) 输凶护切输 测 试 点 ， B ER和/

31、 或接收告警信号 无差错或“ 无损伤” 倒换设备的简化框图 图 1 用于分集系统的基带倒换设备 Y D / T 8 2 8 . 2 7 一1 9 9 6 份 B ER和/ 或接收告警信号 b 测量设备功能与射频电平或 B E R关系的框图 续 图 1 4 r 被侧基带 倒换设备少 长磊 二B E R和/ 或接收告警信号( 如果在倒换设备中有B ER检测器， 则可能不需要这些连线) 。 图 2 用可变射频时延线测量可容许时延差的框图 几 2 z Y D / T 8 2 8 - 2 7 一1 9 9 6 r 人 工 倒 换 图 3 用可变基带时延线测量可容许时延差的框图 图 4 测量基带倒换设备功

32、能与 B E R关系的框图 5 2 3 Y D / T 8 2 8 - 2 7 一1 9 9 6 R F一 1 . B E R和/ 或接收告警信号( 如果在倒换设备中有B E R检测器， 则可能不需要这些连线) 。 图 5 测量同步时间的框图 射频输 入 N o 中撷 输出 射频抽 入 N o 射频合成设备( 最大功率/ 空间分集) 图 6 分集合成设备的简化框图 5 2 4 Y D/ r 8 2 8 - 2 7 一 1 9 9 6 射 颇 输 人 中 频输 出 射颇输 入 No . 2L 二 二 三 J b 共用一个本振的中频合成设备( 最大功率/ 空间分集) 射额输 入 No . 7 中频

33、 输 出 射频输 入 No . 2 本振分供的中频合成设备( 最大功率/ 空间或频率分集) N o 射 濒 输 入 N n 射 濒 输 入 中频输 出 d 中频合成设备( 最小色散) 续图 6 5 2 5 Y D / T 8 2 8 - 2 7 一 1 9 9 6 RF一 1 被测射 频 合成设 备 见 图6 e 射 频 合 成 设 备 的 测 量 框 图 被 侧 中 倾 合成设备 见图6 卜 6 c 和 6 d b 中频合成设备的测量框图 图7 测量B E R / 接收机输人电 平特性的框图 52 6 Y D/ T 8 2 8 . 2 7 一1 9 9 6 R-州1州一 E000000 Bl

34、llll 接 收机翰 人 电平 ( d B . ) l o - ( R FI 的 函数 ) 曲线 1没有合成器时测得的 B E R曲线 曲线 2有合成器时测得的 B E R曲线 R F - 2衰减值很大， R F - 1衰减量可变 d为门限恶化量 曲线3 : R F - 2 值对应干B E R=1 0 - R F - 1 衰减量可变 I为门限改善量 图 8 B E R / 接收机输入电平特性的实例 被侧最 小 色散合 成器 ( 射颇 接收 机) 中颇 输出 ( 括号内为射频测量时的附加设备) 图 9 测量带内幅度色散特性的框图 5 2 7 YD/ T 828 -27 一 1 996 幅度 幅度

35、 频 率 a 接收信号 颇率 b 最小色散合成器输出信号 ( A, =A i =O d B , r , =r , =3 n s , , =1 8 0 0 , =1 6 0 0 ) 图 1 0 带内幅度色散特性 被测 射颇 / 中频合成 设备 ( 见图 6 ) 图 1 1 测量 B E R/ 合成器人口相位差特性的框图 5 2 8 YD/ r 8 28- 27一 19 96 R F 一t 被测射频 / 中频合成 设备 ( 见 图6 ) 一 一 一 一 一 从 RF 、 _ _ 一 一 图 1 2 测量合成系统特征曲线的框图 5 2 9 Y D / T 8 2 8 . 2 7 一1 9 9 6 o

36、 r 无穷大 (之心1匕。田。一。N 侧送口目状暇 了 = 6 . 3 n s o r增 加 o f 一， 一 一 ， 最大凹口 相对于频带中心的预率偏差 图1 3 特征曲线与电平差 P ( 正时延) 之间的关系曲线的实例 *草庐一苇草庐一苇*提供优质文档， 如果 你下载的文档有缺页、 模糊等现象或 者遇到找不到的稀缺文件， 请发站内 信和我联系！我一定帮你解决！ 提供优质文档， 如果 你下载的文档有缺页、 模糊等现象或 者遇到找不到的稀缺文件， 请发站内 信和我联系！我一定帮你解决！ 本人有各种国内外标准 20 余万个， 包括全系 列 GB 国标国标及国内行业行业及部门标准部门标准，全系列 BSI EN DIN JIS NF AS NZS GOST ASTM ISO ASME SSPC ANSI IEC IEEE ANSI UL AASHTO ABS ACI AREMA AWS ML NACE GM FAA TBR RCC 各国船级 社 船级 社 等大量其他国际标准。豆丁下载网址：豆丁下载网址： http:/