基于ATmega 8单片机的电子元件测试仪 毕业设计论文.doc

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1、 本科毕业设计 基于 ATmega 8 单片机的电子元件测试仪 学生姓名： 学 号： 专 业： 电子信息工程 年 级： 2008 级 2 班 指导教师： The ATmega 8 microcontroller-based electronic components tester Student name Student number Major Electronic Information Engineering Supervising teacher University I 摘 要 随着电子科技的发展，电子元器件的广泛应用，电子元器件的测量显得愈来愈重 要。因此，设计可靠、安全、便捷的电

2、子元件测试仪具有极大的现实必要性。 在系统的硬件设计中，以ATmega 8单片机为核心的电子元件测试仪，使用对应的 震荡电流对被测元件进行充放电计算实现各个参数的测量。该系统通过测试电路进行 信号输入，取平均等技术获得较理想的测试结果。目前能够完成对电阻器电容器这些 基本电子元件测试，还能对大部分半导体器件参数的测试。论文详细说明该系统的基 本原理、硬件框架、主要电路以及软件框架。 对该课题的研究有助于了解电子元件的各个参数与电子元件的优劣。在应用设计 实践中，电子元件的测量是一个重要的发展方向。 关键词：ATmega 8单片机；测试仪；LCD1602 II Abstract With the

3、 development of electronic technology, electronic components widely used in the measurement of the electronic components are increasingly important. Therefore, the design is reliable, safe, and convenient electronic components tester has a great practical necessity. In the hardware design of the sys

4、tem to ATmega 8 microcontroller as the core of the electronic component tester, the shock current charge and discharge the measurement of various parameters on the measured components. The system passed the test circuit, the signal input, take the average and other technology to get better test resu

5、lts. Able to complete these basic electronic components resistor capacitor test, but also most of the semiconductor device parameters of the test. The paper detailed the basic principles of the system, the hardware framework, the main circuit and software framework. On the subject of research helps

6、to understand the performance of the various parameters of the electronic components and electronic components. In the large-scale equipment design practice, the measurement of electronic components is an important direction of development. Key words: ATmega 8 MCU; Tester; LCD1602 目 录 摘 要.I Abstract

7、.II 目 录.I 第 1 章 电子元件测试系统的背景、意义及技术路线.1 第 1 节 电子元件测试系统的背景.1 第 2 节 电子元件测试系统的意义.1 第 3 节 技术路线.1 第 2 章 系统硬件电路设计与软件设计.4 第 1 节 电子元件测试系统功能说明与组成.4 第 2 节 系统硬件配置及说明.4 第 3 节 电子元件的测量原理.8 第 4 节 主程序软件流程图.8 第 3 章 测试结果.10 第 1 节 参数测试结果.10 第 2 节 误差分析.11 结 论.12 参考文献.13 附 录.14 致 谢.20 1 第 1 章 电子元件测试系统的背景、意义及技术路线 第 1 节 电子元

8、件测试系统的背景 电子元件测试仪是电子设计中应用广泛的测试仪器之一。目前市场上存在多种电 子元件测试仪，普遍用于观察及测量电子元件各种输入输出特性，其性能较好、精度 较高。但是这些仪器一般采用模拟电路制作，制作复杂，而且价格昂贵。一些小型的 电子元件测试仪采用数字电路制作，价格低廉，但测量精度较低，测量的参数种类较 少，而且一般只能测量输出特性。因此本次设计了一个构造简单，使用方便，精度高， 自动化程度高及成本低的电子元件测试系统。 对于电阻器电容器这些基本电子元件通常采用电桥法测量其阻值，而对晶体二极 管、三极管、场效应管、晶闸管这些半导体电子元器无法用电桥法测量其各项参数， 所以一般使用晶

9、体管特性图示仪和晶体管直流参数测试仪测量半导体电子元器件的各 项参数 第 2 节 电子元件测试系统的意义 随着人们生活水平的提高，电子产品 DIY 的盛行，这些都需要对电子元件参数进 行较准确测量。对于普通的电子爱好者来说需要一个体积小巧价格便宜的测量设备， 所以就制作一个适合电子爱好者使用的测量仪器。 本次设计采用 ATmega 8 单片机为核心，测量电子元器件的参数，自动识别电子 元器件的引脚并显示在液晶上，当电子元器件取下后被测参数锁定在液晶上，更能直 观的了解电子元器件的参数及好坏情况，只需按一下测试按钮，即可进行下一次测量， 完全实现了一键操作的功能。 通过本次基于 ATmega 8

10、 单片机的电子元件测试仪的制作，可以了解、熟悉有关 单片机开发设计的过程，提高单片机编程技巧，了解 I/O 控制情况和各个引脚的功能。 能更好的掌握单片机的编程算法，提高编程技巧。 第 3 节 技术路线 单片机在实现电子产品智能化方面扮演着重要的角色。本设计在众多型号的单片 机中选用了 ATMEL 公司开发 ATmega 8 单片机。ATmega 8 单片机继承了 C51 单片 机和 PIC 单片机，运行速度快、功能强大的优点，是一款面向 C 语言编程的单片机1。 2 本设计结构非常简单，除了能够测量电阻器电容器等常用的基本元器件还能识别 多种常用的晶体管，如二极管、三极管、晶闸管及场效应管的

11、功能。 系统的选择方案与论证如下： 3.1 核心模块的选择 鉴于核心模块在整个测量系统中的重要地位，这里给出了核心处理器的几种设计 方案，对各方案进行详细介绍，并从中选择了一种适用于本次设计的方案。 方案一：测试仪由 NE555 和 R1、R2、C1 组成无稳态多谐振荡器及待测晶体管 组成的驱动级构成。可测 NPN 三极管和 PNP 三极管的好坏，并估计其 值。振荡器 的震荡频率 f=1.44/(R1+2R2)C1，图示参数的震荡频率约为 850Hz。若插上元件后无 声，说明元件已坏；若是声小，说明 低；声音大，说明 高。其原理图如图 1-1 所 示。 TRIG 2 Q 3 R 4 CVolt

12、 5 THR 6 DIS 7 VCC 8 GND 1 U1 NE555 R1 51K R2 100K C1 0.01u Q1 PNP RP 100K LS B BT L1 图 1-1 NE555 晶体管测量仪 方案二：采用 8 位单片机 AT89S52 作为系统核心。系统的输入输出特性测量和 频率特性测量部分各使用一片单片机控制。由芯片 ADC0809、运放 OPA27 和 INA120 构成电压采样电路，数控电流源采用了 DA 转换芯片 DAC0832，在电路中应 用了 CMOS 电流开关和控制电路来测量元件。并且采用 DDS 芯片 AD9852 形成单片 机控制的数控频率源。经过这些部分的

13、链接将示波器的两个通道 Y1、Y2 接到电路上 就可以实现晶体管频率特性的测量。 3 方案三：选用 ATmega 8 单片机，在测量时使用其内部 ADC 端口采集数据后对 数据进行判断，进而得出被测对象类型及具体参数。 方案选择论证：在本次设计中，为了让测量得更准确、更稳定，系统的核心制作 应具有电路简单、功能强大、可靠性高、便于扩展等优点，显然用 ATmega 8 单片机 来制作的晶体管测试仪符合了体积小、使用方便可靠性高等要求，可以满足人们的要 求。因此方案三更适合本次设计。 3.2 显示模块方案 显示部分是测量系统中实现人机交互的重要模块，准确实时的显示元件参数。常 用的显示方案有以下几

14、种： 方案一：通过电平转换芯片 MAX232 使该设计与电脑进行数据之间的传输，在 上位机界面显示测量结果。 方案二：LCD1602 液晶能显示 162 个字符，并且有串行和并行数据传输方式， 可以通过 1602 液晶显示元件的参数，可以满足本设计的基本需求。 方案选择论证：在方案一中，通过串口实现在电脑上显示元件参数使设计对电脑 的依赖性很大，违背了简单方便的原则。LCD1602 可以实现数据在其屏幕上用英文的 形式显示出来。本设计采用 LCD1602 串行控制方法对其测量结果进行显示。 3.3 供电模式的选择 电，是一个系统的能量来源，因此对供电的选择也是十分的重要。供电模式分为 以下三种

15、方案： 方案一：使用外接电源供电。 方案二：使用内部电池供电。 方案三：外接电源与内部电池并用。 方案选择论证：通过长时间的实践经验，我选择了方案三，既使用外部电源和电 池并用的方法给系统供电，在正常的情况下使用外接电源，在户外或不便时通过 9V 电池对系统供电使用起来非常方便。 4 第 2 章 系统硬件电路设计与软件设计 第 1 节 电子元件测试系统功能说明与组成 1.1 电子元件测试仪的主要功能如下： 1电阻器和电容器的测量 2自动检测 NPN 和 PNP 三晶体管，N 沟道和 P 沟道 MOSFET，二极管（包括 双二极管） ，晶闸管 3自动检测和测试元件的引脚 4测量 MOSFET 的

16、栅极阈值电压和栅电容 5使用液晶 LCD1602 显示数据 6一键操作，自动测量 1.2 电子元件测试仪的系统组成 该智能晶体管测量仪主要由主控制器模块、晶体管测试模块、显示模块、测试按 键模块、电源模块组成。系统框图如图 2-1。 主控制器 ATmega 8 单片机 显示模块 LCD1602 键盘 测试模块 晶体管 检测模块 系统电源模块 图 2-1 系统整体框图 第 2 节 系统硬件配置及说明 5 2.1 电子元件测试系统原理图 图 2-2 为系统原理图，原理图中 ATmega 8 单片机为整个系统的核心部分，系统 中，程序是假设 IO 口输出 1 时，其端口电压肯定为 0，无论其输出多少

17、电流。但实际 上如果被拉的电流多了，该点电压会下降的。所以系统程序是依赖于电源供电，必需 要带+5V 稳压，并用一个 AD 通道监测输入电压以保证稳压芯片两端有足够压降。使 用 LCD1602 作为显示输出，S1 为测试按键。R11 为检测供电电压，R12 用来校准 ATmega 8 单片机内部 ADC。根据实际测量值计算转换因子。采样电阻 R1R7 对结果 影响很大，所以需要每个电阻的阻值尽量接近 680 和 470K。 PC6 (RESET) 1 PD0 (RXD) 2 PD1 (TXD) 3 PD2 (INT0) 4 PD3 (INT1) 5 PD4 (XCK/T0) 6 VCC 7 G

18、ND 8 PB6 (XTAL1/TOSC1) 9 PB7 (XTAL2/TOSC2) 10 PD5 (T1) 11 PD6 (AIN0) 12 PD7 (AIN1) 13 PB0 (ICP) 14 PB1 (OC1A) 15 PB2 (SS/OC1B) 16 PB3 (MOSI/OC2) 17 PB4 (MISO) 18 PB5 (SCK) 19 AVCC 20 AREF 21 GND 22 PC0 (ADC0) 23 PC1 (ADC1) 24 PC2 (ADC2) 25 PC3 (ADC3) 26 PC4 (ADC4/SDA) 27 PC5 (ADC5/SCL) 28 U1 ATmega8

19、-16PI GND 1 VCC 2 VL 3 RS 4 RW 5 E 6 D1 7 D2 8 D3 9 D4 10 D5 11 D6 12 D7 13 D8 14 VCC 15 GND 16 P2 LCD1602 R12 680R VCC C2 104 C1 104 1 1 2 2 3 3 Q278L05VCC 9V R7 33K R11 27K DS1LED R13 27K R15 100K C3 104 S1 S W R1010K R8 3K3 R9 10K VCC VCC VCC R1 680R R2 470K R3 680R R4 470K R5 680R R6 470K R14 68

20、0R VCC 1 2 P4 9V IN 9V 2 3 1 S2 POWER Q1 8550 Q3 8050 Q4 8050 1 2 3 J1 CON3 图 2-2 系统原理图 2.2 主控制芯片 ATmega8 单片机的介绍 AVR 的单片机可以广泛应用于计算机外部设备、工业实时控制、仪器仪表、通讯 设备、家用电器等各个领域。ATmega 8 单片机是 ATMEL 公司在 2002 年第一季度推 出的一款新型 AVR 高档单片机。ATmega 8 单片机的芯片内部集成了较大容量的存储 器和丰富强大的硬件接口电路，具备 AVR 高档单片机 MEGE 系列的全部性能和特点。 但由于采用了小引脚封装

21、，所以其价格仅与低档单片机相当，同时也为单片机的初学 者提供了非常方便和简捷的学习开发环境2。 ATmega8 单片机的特点如下：高性能、低功耗的 8 位 AVR 微控制器，先进的 RISC 精简指令集结构先进的 RISC 结构，130 条功能强大的指令，大多数为单时钟周 6 期指令，32 个 8 位通用工作寄存器工作在 16MHz 时，具有 16MIPS 的性能片内集成 硬件乘法器片内集成了较大容量的非易失性程序和数据存储器以及工作存储器。具有 丰富强大的外部接口性能有 16 位定时计数器 1 个具有独立振荡器的异步实时时钟， 8 通道 A/D 转换（TQFP、MLF 封装） ，6 路 10

22、 位 A/D+2 路 8 位 A/D，6 通道 A/D 转 换（PDIP 封装） ，4 路 10 位 A/D+2 路 8 位 A/D，带片内 RC 振荡器的可编程看门狗定 时器，片内模拟比较器，可控制的上电复位延时电路和可编程的欠电压检测电路，外 部和内部的中断源 18 个。最多 23 个可编程 I/O 口，可任意定义 I/O 的输入输出方向； 输出时为推挽输出，驱动能力强；输入口可定义为三态输入，可以设定内部带上拉电 阻，省去外接电阻3。 2.3 ATmega 8 单片机的引脚配置 图 2-3 ATmega 8 引脚图 ATmega 8 单片机引脚说明：端口 C(PC7PC0)作为 A/D

23、转换器的模拟输入端。 端口 C 为 8 位双向 I/O 口，具有可编程的内部上拉电阻。其输出缓冲器具有对称的驱 动特性，可以输出和吸收大电流。作为输入使用时，若内部上拉电阻使能，端口被外 部电路拉低时将输出电流。在复位过程中，即使系统时钟还未起振，端口 C 处于高阻 状态。端口 B(PB7PB0)为 8 位双向 I/O 口，具有可编程的内部上拉电阻。其输出 缓冲器具有对称的驱动特性，可以输出和吸收大电流。作为输入使用时，若内部上拉 电阻使能，端口被外部电路拉低时将输出电流。在复位过程中，即使系统时钟还未起 振，端口 B 处于高阻状态。也可以用做其他不同的特殊功能。端口 D(PD7PD0) 为

24、8 位双向 I/O 口，具有可编程的内部上拉电阻。其输出缓冲器具有对称的驱动特性， 可以输出和吸收大电流。作为输入使用时，若内部上拉电阻使能，则端口被外部电路 7 拉低时将输出电流。在复位过程中，即使系统时钟还未起振，端口 D 处于高阻状态。 端口 D 也可以用做其他不同的特殊功能。RESET 复位输入引脚。持续时间超过最小 门限时间的低电平将引起系统复位。持续时间小于门限间的脉冲不能保证可靠复位4。 引脚 XTAL1 为反向振荡放大器与片内时钟操作电路的输入端。XTAL2 为反向振 荡放大器的输出端。AVCC 是端口 A 与 A/D 转换器的电源。不使用 ADC 模块时，该 引脚应直接与 V

25、cc连接。使用 ADC 时应通过一个低通滤波器与 Vcc连接。AREF 为 A/D 的模拟基准输入引脚5。 2.4 其他元件说明 在本设计中采用 L7805 三端稳压 IC 来组成稳压电源，所需的外围元件极少，电 路内部还有过流、过热及保护电路，使用起来可靠、方便，而且价格便宜。图 2-5 为 L7805 实物图。 图 2-5 L7805 实物图 本设计采用 LCD1602 液晶作为显示部分，LCD1602 液晶能显示 162 个字符，并 且使用四线制数据传输方式。LCD1602 采用标准的 16 脚接口，其中引脚说明如下： 第 1 脚为 Vss为电源地。第 2 脚为 VDD接 5V 电源正极

26、。第 3 脚是 V0 为液晶显示器对 比度调整端，当接正电源时对比度最弱，接地电源时对比度最高。第 4 脚为 RS 为寄 存器选择，高电平时选择数据寄存器、低电平时选择指令寄存器。第 5 脚为 RW 为读 写信号线，高电平时进行读操作，低电平时进行写操作。第 6 脚是 E 端为使能端。 D0D7 为 8 位双向数据端。LCD1602 的背灯电源为 15 脚背光正极，16 脚背光负极。 图 2-6 为 LCD1602 的实物图。 8 图 2-6 LCD1602 实物图 第 3 节 电子元件的测量原理 电子元件的测试仪的测试电路如图 3-1 所示，PX、PY、PZ 分别接入 ATmega 8 单片

27、机的 ADC 模块引脚，PX1、PX2、PY1、PY2、PZ1、PZ2 分别接入 ATmega 8 单 片机端口 B 双向 I/O 口，当 X Y Z 引脚接入被测元件后，按下测试按钮，程序就会分 别设置 X Y Z 通道电平，分别测量 X Y Z 这 3 个通道电阻上是否存在电压，所有 ADC 通道都进行对 X Y Z 通道上电阻上压降的采样，只要任意一个通道上电阻有压 降说明导通了，只要导通则记录其状态，然后根据对照真值表可以得出 X Y Z 引脚接 的是电子元件中哪一只引脚。程序的关键就是各种元件的真值表，元件真值表与元件 判断程序见附录。 Q1 TEST R1 470K R2 470K

28、 R3 470K R4 680 R5 680 R6 680 X Y Z PX1 PX2 PX PY1 PY2 PY PZ1 PZ2 PZ 图 2-7 被测电路 第 4 节 主程序软件流程图 主程序功能是初始化及按键监控。如图 3-2 所示，本设计程序流程图，本次设计 采用了 ATmega 8 内部 ADC 模块实现数据采集与分析，最后取平均值，达到更精确。 9 最后由 LCD1602 显示出晶体管的参数。当被测晶体管接入电路后按下测试按键等待 数秒后液晶上就会显示该晶体管的具体参数，从而实现晶体管的测量。部分程序见附 录。 开始 初始化 数据处理 AD 采样 LCD1602 显示 结束 有键按

29、下？ 是 否 图 2-8 系统流程图 10 第 3 章 测试结果 第 1 节 参数测试结果 用本套系统对实验室现有的电子元器件进行测量，相应的数据如表 4-1 到表 4-4 所示。 表 4-1 电阻参数测试结果 电阻阻值 35 100102 735997 10 K9.8 K 1M 9092K 表 4-2 二极管参数测试结果 AKUf 红色发光 LED121708mV 绿色发光 LED212926mV 二极管 IN400121697 mV 二极管 IN400731687mV 表 4-3 电容参数测试结果 电容引脚引脚Uf 103J319.92nF 473J3144.56nF 47431466.4

30、9nF 4.7uF314.40uF 220uF31183.81 uF 330uF31264.49uF 11 表 4-4 半导体元件参数测试结果 元件型号引脚引脚引脚 C8550PNPB=2C=3E=1Hfe=218Uf=893mV 8050DNPNB=2C=3E=1Hfe=158Uf=805mV A1015PNPB=1C=2E=3Hfe=653Uf=785mV 9015PNPB=1C=2E=3Hfe=762Uf=780mV E1300SNPNB=1C=2E=3Hfe=51Uf=648mV 6N60N-E-MOSC=0.16nGDS=123Vt=4080mV 由于使用的采样电阻不是很精确，在焊接

31、上也存在导线的内阻，因此在对电阻器 电容器的测量上随着参数的增加精确度也随之降低。而对半导体元件参数的测量可以 准确的测量出元件的型号与引脚排布。 第 2 节 误差分析 误差，在任何一种测量中，无论所用仪器多么精密，方法多么完善，实验者多么 细心，所得结果常常不能完全一致而会有一定的误差或偏差。严格地说，误差是指观 测值与真值之差，偏差是指观测值与平均值之差。但习惯上常将两者混用而不加区别。 根据误差的种类、性质以及产生的原因，可将误差分为系统误差、偶然误差和过失误 差三种6。在本设计中系统误差就是在信号输入的部分的 680 电阻 470K 电阻的精 度上，因为在实验室没有精度那么高的电阻，因

32、此采用了阻值比较接近的电阻代替， 从而产生了系统误差。偶然误差和过失误差的产生在于对电路的焊接与测量得方法上， 在焊接过程中必然导致线路阻值对电路的影响。在测量过程中，电子元件的引脚与插 座之间的接触不良或是悬空也对产生偶然误差和过失误差 7。 12 结 论 本文论述了基于 ATmega 8 单片机的电子元件测试仪的原理，实现了晶体管的数 据、信息的显示。阐述了 ATmega 8 单片机的基本原理和测量过程中的数据传送方式。 在单片机方面针对 ATmega 8 单片机 ADC 端口的特点、工作原理、数据采集的控制， 各种工作方式等问题进行了讲解。数据采集介绍了如何在单片机与硬件电路的连接， 阐

33、述了如何利用 ADC 模块来进行数据采集，保证通信过程不出现逻辑紊乱。 经过一段时间的收集资料，我的设计终于完成，看着自己的成果，有说不出的感 触。经过这段时间的努力，对我所学知识有了系统的总结。在本设计中，我主要是说 明它的原理和应用，然后针对半导体器件、电容、电阻的测量实现测量功能，让我学 会了分析问题、处理问题的方法，为以后的工作学习打下了比较坚实的基础。 总之，在设计过程学到了许多，作为现代的大学生，如果仅仅停留在以往的书面 层次上，是远远跟不上时代步伐的，也无法使自己立足在竞争如此激烈的社会里。通 过对本课题的研究，让我看到了自己的水平和差距，使我受益匪浅。 13 参考文献 1 耿德

34、根，宋建国，马潮等，AVR 高速嵌入式单片机原理与应用（修订版）M， 北京：北京航空航天大学出版社， （2002）：185-190 2 江海波，王卓然，耿德根，深入浅出 AVR M，北京：中国电力出版社， （2007）：6-12 3 沈文，Eagle lee，詹卫前，AVR 单片机 C 语言开发入门指导 M，北京：清华大 学出版社， （2003）：2-16 4 马潮，詹卫前，耿德根，ATmega 8 原理及应用手册 M，北京：清华大学出版社， （2003）：1-11 5 RichardBarnett, Larry OCull，嵌入式 C 编程与 Atmel AVR M，Ssrsh Cox，周俊

35、 杰等译，北京：清华大学出版社， （2003）：1-11 6 李明生，电子测量与仪器M，北京：高等教育出版社， （2003）：215-225 7 刘建清，刘汉文，寻李波，鲁金，从零开始学电子测量技术 M，北京：国防工 业出版社， （2006）：2-8 14 附 录 1.FET2、BJT 的真值表与 FET 的真值表 附表 1-1 FET2 的真值表 X000111 Y011001设置 Z101010 状态字 X Z Y 0X13 X Y Z 0X23 Y Z X 0X0D Y X Z 0X29 Z Y X 0X0E Z X N M O S Y 0X19 X Z Y 0X32 X Y Z 0X3

36、1 Y Z X 0X2C Y X P M O S Z 0X25 15 附表 1-2 BJT 的真值表 Z Y X 0X1C Z X Y 0X16 X000111 Y011001设置 Z101010 状态字 X Y 0X20 Y X 0X10 X Z 0X2 Z X 0X1 Y Z 0X8 Z 二 极 管 Y 0X4 X Y 0X30 X Z 0X03 Y 电 阻 Z 0X0C X/Y X Y/Z 0X18 X/Z N P N Y 0X22 16 附表 1-3 FET 的真值表 2判断程序如下 Z/X X/Y Z Y/X 0X5 X/Z Y Z/X 0X25 Z/Y X Y/Z 0X1C X/Y

37、 Z P N P Y/X 0X16 X000111 Y011001设置 Z101010 状态字 Y X/Z Z/X 0X3d X Y/Z Z/Y 0X37 Z X/Y N J F E T Y/X 0X3e Y X/Z Z/X 0X2f X Y/Z Z/Y 0X3b Z X/Y P _ J F E T Y/X 0X1f 17 Code unsigned char DIODETABLE6=0x12,0x6,0x24,0x21,0x18,0x09; / 对应 X Y Z 为 10Z 01Z Z10 Z01 1Z0 0Z1 Code unsigned char DIODEVOLTAGETABLE6=V

38、Y2,VX2,VZ2,VY2,VZ2,VX2; / 该状态下需要读取的 AD 通道 state=0; for(i=0;i=2; SetPort(PY1,vH vH=2; SetPort(PX1,vH GetADC(DIODEVOLTAGETABLEi); vH=ADC_DATA; if (vH0) state |=state2; / if vH0 说明 Vh 已经大于 20mV 了，即已经导通了。 else SetPortZ(PX1); /但如果接的是很大阻值的电阻，那么 470 上的电压很 低，也会少于 20mV，以为没导通，所以撤换成 R=120K 再测量。 SetPortZ(PY1);

39、SetPortZ(PZ1); vH=DIODETABLEi; SetPort(PZ2,vH /切换到 120K vH=2; 18 SetPort(PY2,vH vH=2; SetPort(PX2,vH GetADC(DIODEVOLTAGETABLEi); vH=ADC_DATA; if (vH3) state |=state2; / if vH3 mean vH more then 3*4*5mV=60mV SetPortZ(PX2); SetPortZ(PY2); SetPortZ(PZ2); state2=1; Switch (state) case 0x22: / NPN X=B NPN 管 基极是 X state2=1; if (TestBJT(1,PinX,PinY,PinZ, Else if (TestBJT(1,PinX,PinZ,PinY, /BEC else Pin=0; break; case 0x18: / NPN B=Y state2=1; if (TestBJT(1,PinY,PinX,PinZ, Else if (TestBJT(1,PinY,PinZ,PinX, else Pin=3; break; case 0x5: / NPN B=Z 3实物图 附图 1-1 实物图 附图 1-2 电路板