1、标准超声波检测工艺规程制定2015/09/281、目的1目的本工艺规程是根据 NB/T470132015承压设备无损检测的第 1部分：通用要求和第 3部 分：超声检测，并结合我公司的实际情况进行制定。凡按国内规范设计、制造的锅炉、压力容器需作超声检测时，均应执行本工艺。本工艺自实施之日起，代替CKM-163002/06C。2、适用范围本工2规定了锅炉、压力容器及承压设备管子采用A型脉冲反射式超声探伤仪检测工件焊接接接头的超声检测方法和质量等级评定要求。且适用于钢板、锻件超声检测以及超声测厚方法。文件编制部门质控部编制人校对人部门负责人会签栏审批人生效日期分发部门部门份数部门份数经理部4管理部0
2、技术部2生产管理部0制造部1质控部2采购部0财务部0:营业部012-77修订 编号年月日R02007.11.18R12009.07.01R22010.06.01R32011.05.19R42012.07.01R52013.07.01R62014.06.06R62015.09.28修订记录标准改版换版换版换版换版换版换版3本工艺依据下列标准、法规及技术文件GB/T12604.1无损检测术语超声检测TSG Z8001-2013特种设备无损检测人员资格考核与监督管理规则NB/T47013.1-2015承压设备无损检测第1部分：通用要求NB/T47013.3-2015承压设备无损检测第4部分：超声检测
3、TSG G0001-2012锅炉安全技术监察规程GB/T 16507-2013锅壳锅炉GB/T 16508-2013水管锅炉TSG R0004-2009固定式压力容器安全技术监察规程TSG R0005-2011移动式压力容器安全技术监察规程GB 150-2011压力容器GB/T 11259无损检测超声波检测用钢参考试块的制作与检验方法GB/T 27664.1无损检测超声检测设备的性能与检验 第1部分：仪器GB/T 27664.2无损检测超声检测设备的性能与检验 第2部分：探头JB/T 8428无损检测超声检测用试块JB/T 9214无损检测A型脉冲反射式超声检测系统工作性能测试方法JB/T 1
4、0062超声探伤用探头性能测试方法4术语和定义4.1 底波降低量BG/BF锻件检测时，在靠近缺陷处的完好区域内第一次底面回波波幅BG与缺陷区域内的第一次底面回波波幅BF的比值，用dB值来表示。4.2 密集区缺陷锻件检测时，在显示屏扫描线上相当于50声程范围内同时有 5个或5个以上的缺陷反射信号，或是在50X50的检测面上发现在同一深度范围内有5个或5个以上的缺陷反射信号，其反射波幅均大于等于某一特定当量的缺陷。4.3 基准灵敏度和基准灵敏度：一般指将对比试块人工反射体回波高度或被检工件底面回波高度调整到某一基准时的灵 敏度。扫查灵敏度则主要指实际检测灵敏度。扫查灵敏度：为了不漏掉记录缺陷或某些
5、特定的缺陷，确保锅炉、压力容器的安全，在基准灵敏度基 础上，根据表面状况、检测缺陷要求及探头类型等适当提高dB数（增益）进行实际检测的灵敏度。4.4 超声标准试块JB/ T47013.3规定的用于仪器探头系统性能校准和检测校准的试块。4.5 超声对比试块用于检测校准的试块。4.6 缺陷自身高度缺陷在工件厚度方向上的尺寸。4.7 端点衍射超声波在传播过程中，当波阵面通过缺陷时，波阵面会绕缺陷边缘弯曲，并呈圆心展衍，这种现象称之为端点衍射。4.8 端点最大反射波当缺陷的端部回波的幅度达到最大时（也即缺陷端部回波峰值开始降落前瞬时的幅度位置），该回波称之为缺陷端点最大反射波。4.9 回波动态波型回波
6、动态波形是探头移动距离与相应缺陷反射体回波波幅变化的包络线。4.10 工件厚度ta）对于平板对接接头， 焊缝两侧母材厚度相等时，工件厚度t为母材厚度；焊缝两侧母材厚度不等时，工件厚度t为薄侧母材公称厚度；b）对于插入式接管角焊缝，工件厚度t为筒体或封头公称厚度；安放式接管角焊缝， 工件厚度t为接管公称厚度；c）对于T型焊接接头，工件厚度t为腹板公称厚度。5检测人员要求5.1超声检测人员必须按 TSG Z8001-2013特种设备无损检测人员资格考核与监督管理规则要求进行培训考核，取得超声检测资格证书。并且由公司向中国特种设备检验协会进行执业注册后，方能从事超声检测工作方法与等级的无损检测工作。
7、5.3 超声检测人员资格级别分为I级（初级）、n级（中级）和出级（高级）。5.4 质量等级评定及检测报告签发应有取得n级或出级资格证的人员担任，且资格证应在有效期内。5.5 超声检测人员应具有一定的金属材料、设备制造安装、焊接及热处理等方面的基本知识，应熟悉被检工件的材质、几何尺寸及透声性等，对检测中出现的问题能作出分析、判断和处理。6检测设备和器材6.1 检测仪器、探头和系统性能6.1.1 检测仪器采用A型脉冲反射式超声波探伤仪PXUT350败PXUT390其工作频率范围为0.510Hz,仪器至少在荧光屏满刻度的80%范围内呈线性显示。探伤仪应具有80dB以上的连续可调衰减器，步进级每档不大
8、于2dB,其精度为任意相邻12dB误差在 1dB以内，最大累计误差不超过 1dBo超声仪器各性能的测试条件和指标要 求应满足附录N的要求并由制造厂家提供证明文件，测试方法按GB/T27664.1的规定。6.1.2 探头a超声检测常用探头有直探头、单斜探头、双晶直探头和其他适用性探头，其性能应满足各种检测工件的检测需要，以最大可能有效地检测出不允许存在缺陷为原则。b圆形晶片直径一般不应大于40mm方形晶片任一边长一般不应大于40mm其性能指标应符合附录O的要求，测试方法应按 GB/T 27664.2 的规定。c单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于2 ,主声束垂直方向不应有明显的双峰。6.1.3 超
9、声探伤仪和探头的组合性能6.1.3.1 仪器和探头的组合性能包括水平线性、垂直线性、组合频率、灵敏度余量、盲区（仅限直探头）和远场分辨力，测试方法按附录C、W录口、W录规定执行。6.1.3.2 以下情况时应测定仪器和探头的组合性能：a）新购置的超声检测仪器和探头；b）仪器和探头在维修或更换主要部件后；c）检测人员有怀疑时。6.1.3.3 水平线性偏差不大于1%垂直线性偏差不大于 5%6.1.3.4 仪器和探头的组合频率与探头标称频率之间偏差不得大于土10%6.1.3.5 仪器-直探头组合性能应满足以下要求：a）灵敏度余量应不小于32dB.b）在基准灵敏度下，对于标称频率为5Hz的探头，盲区不大
10、于10 mm；对于标称频率为2.5Hz的探头，盲区不大于15 mm；c）直探头的远场分辨力应不小于20dB。6.1.3.6 仪器-斜探头组合性能应满足以下要求：a）灵敏度余量应不小于 42dB。b）斜探头的远场分辨力应不小于12dB。6.1.3.7 仪器和探头组合频率的测试方法按 JB/T10062的规定，其他组合性能的测试方法参照JB/T9214的规定。现有的探头单位：mm探头类别探头K直晶片尺寸探头频率直探头/14D 20D1.0Hz、2.5Hz、5Hz双晶探头/20D5 Hz斜探头K110X10、13X132.5 HzK210X10、13X132.5 HzK36X6、10X 10、13X
11、 132.5 Hz、5 Hz7试块和耦合剂7.1 标准试块标准试块是指本工艺规程规定的用于仪器探头系统性能校准和检测的试块，本工艺采用的标准试块有CSK-IA （入射点、3、分辨力测试）、CSK-IIA、CSK-IIIA 、DZ- 1（直探头盲区测试）、DB- P Z20-2和DB-P Z20-4 （垂直线性测试、水平线性测试、灵敏度余量测试）。7.1.1 标准试块应采用与被检工件声学性能相同或近似的材料制成。该材料内不得有影响人工缺陷显示的自然缺陷，当用直探头检测时，不得有大于2平底孔当量直径的缺陷。7.1.2 校准用反射体可采用长横孔、短横孔、平底孔、线切割槽和V型槽等。校准时，探头主声束
12、应与反射 体的反射面相垂直。7.1.3 标准试块尺寸精度应符合本工艺要求，并经计量部门检定合格。7.1.4 标准试块的其他制造要求应符合JB/T8428的规定。7.2 对比试块7.2.1 对比试块是指与被检件或材料化学成分相似，含有意义明确参考反射体的试块，用以调节超声检测设备的幅度和（或）时间分度，以将所检出的不连续信号与已知反射体所产生的信号相比较，即用于检测校准的试块。本工艺采用的对比试块有：阶梯平底试块，钢板超声检测对比试块、奥氏体不锈钢焊缝对比试块、钢管环向对接接头 GSt块、锻件CS式块、承压设备曲面纵向对接接头RB-L-1和RB-L-2试块、承压设备曲面环向对接接头RB-C试块。
13、7.2.2 对比试块的外形尺寸应能代表被检工件的特征，试块厚度应与被检工件的厚度相对应。如果涉及到 两种或两种以上不同厚度部件焊接接头的检测，试块的厚度应由最大厚度来确定。7.2.3 对比试块应采用与被检材料声学性能相同或相似的材料制成，试块用直探头检测时，不得有大于或等于2mm平底孔当量直径的缺陷。7.2.4 对比试块反射体的形状、尺寸和数量应符合本规程的规定。7.3 耦合剂7.3.1 应采用透声性好，且不损伤检测表面的耦合剂，如机油、化学浆糊、甘油和水等。7.3.2 耦合剂污染物含量的控制7.3.2.1 馍基合金上使用的耦合剂含硫量不应大于250mg/L。7.3.2.2 奥氏体不锈钢或钛材
14、上使用的耦合剂卤素（氯和氟）的总含量不应大于250mg/L。8超声检测设备和器材的测定、核查、运行核查和复核要求8.1 一般要求系统校准应在标准试块上进行，校准中应使探头主声束垂直对准反射体的反射面，以获得稳定和最大的反射信号。8.2 校准或核查8.2.1 每年至少对超声仪器和探头组合性能中的水平线性、垂直线性、组合频率、盲区（仅限直探头）、灵敏度余量、分辨力以及仪器的衰减器精度，进行一次校准并记录，测试要求应满足6.1.3的规定。8.2.2 每年至少对标准试块与对比试块的表面腐蚀与机械损伤，进行一次核查。8.3 仪器和探头运行核查测定方法按GB/T27664.1的规定。（见附录每隔6个月至少
15、对仪器的水平线性和垂直线性进行一次测定,C）对实际使用中探头每3个月至少对盲区（仅限直探头）、灵敏度余量和分辨力进行一次运行核查并记录，测试要求应满足6.1.3的规定。8.4 使用前仪器和探头系统测定每次检测前应检查仪器设备器材外观、线缆连接和开机信号显示情况是否正常。斜探头在使用前应进行前沿距离、K直测定。测定应按附录 M关规定进行。8.5 检测过程中仪器和探头系统的复核遇有下述情况应对系统进行复核：a校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时；b检测人员怀疑扫描量程和扫查灵敏度有变化时；c连续工作4h以上时；d工作结束时。8.6 检测结束前仪器和探头系统的复核a每次检测结束前，应对扫描量
16、程进行复核。如果任意一点在扫描线上的偏移超过扫描线读数的10%,则扫描量程应重新调整，并对检测结果进行复核；b每次检测结束前，应对扫查灵敏度进行复核。对距离-波幅曲线的校核不少于3点。如曲线上任何一点幅度下降2dB,则应对上一次复核后所检测的部位进行复检；如幅度上升2dB,则应对所有的记录信号进行重新评定。8.7 注意事项校准、复核和对仪器进行线性检测时，任何影响仪器线性的控制器（如抑制或滤波开关等）都应放在“关”的位置或处于最低水平上。8.8 检测操作指导书。9.1 应根据通用工艺规程的内容以及被检对象的检测要求操作指导书，其内容应包括：a）检测技术要求：检测技术（直接接触法-直探头检测、斜
17、探头检测、）和检测波形；b）检测对象：承压设备类别，检测对象的名称、规格、材质和热处理状态、检测部位等；c）检测设备器材：仪器型号、探头规格、耦合剂、试块种类。d）检测工艺相关技术参数：扫查方向及扫查范围、缺陷定量方法、检测记录和评定要求、检测示意图等。9.2 操作指导书在首次应用前应进行工艺验证，验证方式可在相关对比试块上进行，验证内容包括检测范围内灵敏度、信噪比等是否满足检测要求。10检测实施10.1 检测准备10.1.1 承压设备的制造、安装和在用检验中，超声检测的检测时机及抽检率的选择等应按相关法规、标准及有关技术文件的规定。10.1.2 所确定检测面应保证工件被检部分均能得到充分检查
18、10.1.3 焊缝的表面质量应经外观检查合格。检测面（探头经过的区域）上所有影响检测的油漆、锈蚀、飞 溅和污物等均应予以清除，其表面粗糙度应符合检测要求。表面的不规则状态不应影响检测结果的有效性。10.2 检测时应尽量扫查到工件的整个被检查区域是应彳证足够的复盖率（应大于探头直径的15%）。10.3 探头的扫查速度应当不成超过 150/s,以防止漏检。10.4 扫查灵敏度不低于基准灵敏度。10.5 应采用透声性好，且不损伤检测表面的耦合剂，如机油、浆糊等。10.6 灵敏度补偿在检测和缺陷定量时，对引起检测灵敏度下降和缺陷当量误差的因素应进行补偿，这些因素包括耦合、材质衰减和曲面的差异造成的灵
19、敏度变化。a）耦合补偿：在检测和缺陷定量时，应对由表面粗糙度引起的耦合损失进行补偿；b）衰减补偿：在检测和缺陷定量时，应对材质衰减引起的灵敏度下降和缺陷定量误差进行补偿；c）曲面补偿：在检测和缺陷定量时，对检测面是曲面的工件，应对由工件和试块曲率半径不同引起 的耦合损失进行补偿。10.7 检测过程中仪器和探头系统的复核遇有下述情况应对系统进行复核：a校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时；b检测人员怀疑扫描量程和扫查灵敏度有变化时；c连续工作4h以上时；d工作结束时。10.8 扫描量程的复核如果任意一点在扫描线上的偏移超过扫描线该点读数的10%或全扫描量程的5%,则扫描量程应重新调整，并
20、对上一次复核以来所有的检测部位进行复检。10.9 扫查灵敏度的复核复核时，如发现扫查灵敏度或距离一波幅曲线上任一深度人工反射体回波幅度下降2dB,则应对上一次复核以来所有的检测部位进行复检；如幅度上升2dB ,则应对所有的记录信号进行重新评定。10.10 不允许存在的缺陷应返修。返修的部位及返修影响的部位均应复探，复探部位的质量亦应符合验收 标准。返修后进行复验时，按原探伤条件进行。11超声检测记录和报告11.1 检测设备器材：a）检测仪器型号及编号；b ）探头（类型、晶片尺寸、K值、标称频率等）；c ） 试块型号；d ）耦合剂。11.2 检测工艺参数：a）检测范围、扫查位置（面、侧等） ；b
21、扫描比例；c） 扫查方式；d）检测灵敏度；e）耦合补偿量等。11.3 检测情况：a ）检测部位示意图；b ）缺陷位置、尺寸、回波波幅等；c ）缺陷评定级别；d ）缺陷类型、缺陷自身高度（在用承压设备检测时）。11.4 检测人员和复核人员签字。11.5 应依据检测记录出具检测报告。超声检测报告除符合 NB/T 47013.1的规定外，还至少应包括以下内容：a ）委托单位；b ）检测技术等级；c ）检测设备器材：仪器型号及编号、探头、试块、耦合剂；d ）检测示意图：检测部位、检测区域以及所发现的缺陷位置、尺寸和分布。11.6 记录、报告应有相应责任人员签名认可，保存期不得少于7年。7年后，若用户
22、需要可转交用户保管。11.7 缺陷类型识别和性质估判（见附录A）12承压设备用原材料钢板超声检测和质量分级本工艺适用于板厚6250的碳素钢、低合金钢制承压设备用板材的超声检测及其缺陷等级评定。奥氏 体钢板材的超声检测可参照执行。12.1 探头的选用见下表：（表1）承压设备用板材超声检测直探头选用板厚（）采用探头公称频率（Hz）探头晶片尺寸（）620双晶直探头45圆形晶片直径中1030 圆形晶片边长1030 20 60双晶直探头或单晶直 探头2560单晶直探头2512.1.1双晶直探头性能应符合附录F的要求。12.2 标准试块的选用12.2.1 当检测厚度W 20的钢板时（用双晶直探头），采用图
23、1所示的阶梯平底试块。图1阶梯平底试块12.2.2 检测厚度大于20的板材时，对比试块形状和尺寸应符合表2和图2的规定。对比试块人工反射体为中5平底孔，反射体个数至少3个。试块编号板材厚度t检侧面到平底孔的足寓5试块厚度T试块宽度8t2(M010. 20、304010240-6015、30. 45劭403 6010015, 30. 45、 60、 80100404100-15015,巩 45.取 HO, H。、140150605 15MM15* 60、削* 110* 140. tM2006062(X2M0 如、45、和，汕0、140.网 23025060图2板厚大于20检测用试块 表2承压设备
24、用板材超声检测用对比试块单位：mm（单直探头）注1：板材厚直大于40mm盹.试块也可用厚代薄,注2：为被轻单个试块尺寸和跖匕声学性能相同或相似的试块上的平底孔可加工在不同厚度试块上,13基准灵敏度a板厚不大于20时，用图1所示的试块将与工件等厚部位第一次底波高度调整到满刻度的50%,再提高10dB作为基准灵敏度。b板厚大于20时，应按图2按所用探头和仪器在 中5平底孔试块上绘制距离-波幅曲线，并以此曲线作为 基准灵敏度。c板厚不小于探头的三倍近场区时，如能确定板材底面回波与不同深度中5平底孔反射波幅度之间的关系，也可取钢板无缺陷的完好部位的第一次底波来校准灵敏度。13.1扫查灵敏度一般应比基准
25、灵敏度高6dB。14检测方法14.1.1 检测面可选钢板的任一轧制平面进行检测。若检测人员认为需要或设计上有要求时，也可对钢板的上下两轧制平面分别进行检测。14.1.2 耦合方式耦合方式可采用直接接触法或液浸法。14.1.3 灵敏度补偿检测时应根据实际情况进行耦合补偿和衰减补偿。14.1.3扫查方式a）在板材周边或剖口预定线两侧范围内应作100%扫查，扫查区域宽度见表3根据合同、技术协议书或图样的要求，也可进行其它形式的扫查。b）在板材中部区域，探头沿垂直于板材压延方向，间距不大于50的平行线进行扫查，或探头沿垂直和平行板材压延方向且间距不大于100格子线进行扫查。扫查示意图见图3 ;c）根据
26、合同、技术协议书或图样的要求，也可采用其他形式的扫查；d）双晶直探头扫查时，探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直。表3板材边缘或剖口预定线两侧区域宽度单位：板 厚区域宽度50N10075100图3探头扫查示意图50捌板中部扫指周边100%扫存区域削口覆定线/ 一 /15缺陷的测定与记录15.1 在检测基准灵敏度条件下，发现下列二种情况之一即作为缺陷：a）缺陷第一次反射波（F 1 ）波幅高于距离-波幅曲线，或用双晶探头检测板厚小于20板材时，缺陷第一次反射波（F 1 ）波幅大于或等于显示屏满刻度的50%;b）底面第一次反射波（B 1 ）波幅低于显示屏满刻度的50%,即B 1 50%15.2 缺陷
27、边界范围的确定a）检出缺陷后，应在它的周围继续进行检测，以确定缺陷的范围；b）板材厚度小于20mm用双晶直探头确定缺陷的边界范围或指示长度时，探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直，并使缺陷波下降到基准灵敏度条件下显示屏满刻度的25%,探头中心点即为缺陷的边界点；c）板材厚度2060mm用双晶直探头确定缺陷的边界范围时，探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直，并使缺陷波下降到距离-波幅曲线，探头中心点即为缺陷的边界点；d）用单直探头确定缺陷的边界范围或指示长度时，移动探头使缺陷第一次反射波波高下降到距离-波幅曲线，探头中心即为缺陷的边界点；e）确定15.1b）中缺陷的边界范围时，移动探头（单直探头
28、或双直探头）使底面第一次反射波升高到显示屏满刻度的50%。此时探头中心点即为缺陷的边界点16缺陷尺寸的评定方法16.1 缺陷指示长度的评定规则用平行于板材压延方向矩形框包围缺陷，其长边作为该缺陷的指示长度。16.2 单个缺陷指示面积的评定规则a） 一个缺陷按其指示的矩形面积作为该缺陷的单个指示面积；b）多个缺陷其相邻间距小于相邻较小缺陷的指示长度时，按单个缺陷处理，缺陷指示面积为各缺陷面积之和。16.3 缺陷面积占有率的评定规则在任一 1mx m1检测面积内，按缺陷面积所占的百分比来确定。如钢板面积小于1mx 1m,可按比例折算。16.4 钢板质量分级钢板质量分级见表 4和表5。在具体进行质量
29、分级要求时，表 4和表5应独立使用。16.5 在检测过程中，检测人员如确认钢板中有白点、裂纹等危害性缺陷存在时，应评为V级。16.6 在钢板中部检测区域，按最大允许单个缺陷指示面积和任一1mxim检测面积内缺陷最大允许个数确定质量等级。如整张板材中部检测面积小于1mxim缺陷最大允许个数可按比例折算。16.7 在钢板边缘检测区域，按最大允许单个缺陷指示长度、最大允许单个缺陷指示面积和任一1m检测长度内最大允许缺陷个数确定质量等级。如整张板材边缘检测长度小于1m,缺陷最大允许个数可按比例折算。16.8 斜探头检测a在检测过程中对缺陷有疑问或合同双方技术协议中有规定时，可采用斜探头检测。b承压设备
30、用钢板斜探头检测应按附录 B进行。表4承压设备用钢板中部检测区域质量分级等覆最大允许革个缺陷指示囿积5或 当量平底孔直径D在任一 Imx 1m检恻而根内缺陷晟大允许个数单个缺陷指示面积*当垃平底孔直控殍定盛国疆大允许个数I双品直探头精测日如1*77.宜探头检赭时10或单晶断探头检测时：或单品度探头检0H时：域注：使用单晶直探头检测并确定 15.1 b ）所示缺陷的质量分级（I级和口级）时，与双晶直探头要求相同表5承压设备用钢板边缘或剖口预定线两侧检测区域质量分级等级最大允许触个 映酷指示长度最大允许柒个喊陷指示面积耳或 当量平底孔直径。在任一 Im检测长度内最大允许疑陷个数单个缺陷指示长度工或
31、 当量平底孔直径评定茶圃最大允许个数J20.双品也探头检测时:$军50双晶宜探头检测时工10弋工珞202或酷晶置探头检评时：5 + SdB域单蔚在廉头检测时：破n-30双晶直探头检稠附；51（双品直探头检洌耐* 15（工W3。3或单晶直猴头检泅时5+J4dB或单品1操如W:.别胆父以,升14dBIII00025505IV100SG 000506-200500,纵向对接接头时，内外径比）70%I型17.2.417.217.4.1 100500的纵向对接接头且内外径比）70%I型附录J 159500的环向对接接头I型附录K接管与筒 体（或封 头）角接 接头6-200插入式：筒体（或封头） 500且
32、内外径 比）70%,接管公称 直径 80安放式：筒体（或封头） 300且接管公称直径）100I型附录L管子环向对接接头6-150外径）500I型17.2.417.217.4.26-150外径）159500I型17.2.4附录K17.4.26-50外径）32159n型17.2.417.317.4.2a46外径）32n型17.2.417.317.4.2管子纵向对接接头6-150外径）500,内外径比）70%I型17.2.417.217.4.2外径）100500,内外径比）70%I型17.2.4附录J17.4.217.2 承压设备I型焊接接头超声检测方法17.2.1 范围本条适用I型焊接接头的超声检
33、测，I型焊接接头范围见表617.2.2 探头探头频率选用2Hz5Hz。17.2.3 试块采用的标准试块为 CSK-I A、CSK-n A、CSK-m A。其形状和尺寸应分别符合图4、图5、图6规定。125110K2.0 K2.5 K3.0K1.0K1.5200其余3.219-77图4 CSK- I A试块全部30图5 CSK- n A试块CSKyA编号适用工件厚度f试块厚度T横孔位置横孔直径d 1CSK-HA4注K)431 15. 25. 3542.0CSK-UA-240-1001100 30. 50. 70. 90CSKJ1A-340-20021010. 30. 50 70.90% 1101
34、t 140、170)200*20单位:注1；孔径误差不大于0.02皿It,其他尺寸谟差不大于即，05mn“ 注册 成块长度由使用的声程等确定.注3：如声学特性相同或相近成块也可用厚代海、注4：可以在试块全厚度施围增加横孔数信口注5：也可使用其他直径的横孔，灵敏度应与此梢当注6：升孔受直度偏差不大FQJ，6.3图6 CSK- m A试块17.2.4 超声检测技术等级17.2.4.1 超声检测技术等级分为 A、B C三个检测级别。17.2.4.2 超声检测技术等级的选择超声检测技术等级的选择应符合制造、安装等有关规范、标准及设计图样规定。承压设备焊接接头的制造、安装时的超声检测，一般应采用b级超声
35、检测技术等级进行检测。对重要设备的焊接接头，可采用ca超声检测技术等级进行检测。17.2.4.3 不同检测技术等级的一般要求不同类型焊接接头超声检测的具体要求见附录G （规范性附录）。17.2.4.4 A 级检测A级适用于工件厚度为640mm焊接接头的检测。可用一种K直斜探头采用直射波法和一次反射波法在焊接接头的单面单侧或单面双侧进行检测。一般不要求进行横向缺陷的检测。17.2.4.5 B 级检测a ） B级适用于工件厚度为6200mrm1接接头的检测；b ）焊接接头一般应进行横向缺陷的检测；c ）对于按附录G （规范性附录）要求进行双面双侧检测的焊接接头，如受几何条件限制或由于堆焊层 （或复
36、合层）的存在而选择单面双侧检测时，还应补充斜探头作近表面缺陷检测。17.2.4.6 C 级检测a ） C级适用于工件厚度大于等于6500mm旱接接头的检测；b ）采用微检测时应将焊接接头的余高磨平。对焊接接头斜探头扫查经过的母材区域要用直探头进行检测，检测方法按以下的规定进行：对于C检测或必要时，斜探头扫查声束通过的母材区域，应先用直探头检测，以便检测是否有影响斜探头检测结果的分层或其他类型缺陷存在。该项检测仅作记录，不属于对母材的验收检测。母材检测的要点 如下：1）扫查灵敏度：将无缺陷处第二次底波调节为显示屏满刻度的100 %;2）凡缺陷信号幅度超过显示屏满刻度20 %的部位，应在工件表面作
37、出标记，并予以记录。c ）工件厚度大于15mmi焊接接头一般应在双面双侧进行检测，如受几何条件限制或由于堆焊层（或复合层）的存在而选择单面双侧检测时，还应补充斜探头作近表面缺陷检测；d ）工件厚度大于40mmi对接焊接接头，还应增加直探头检测；e ）焊接接头应进行横向缺陷的检测。17.2.4.7 用两种或两种以上 K值斜探头检测时，探头间折射角相差不应小于10。17.2.5 检测准备17.2.5.1 检测区17.2.5.2 检测区由焊接接头检测区宽度和焊接接头检测区厚度表征。17.2.5.3 焊接接头检测区宽度应是焊缝本身，再加上焊缝两侧各10mmi定。对接接头检测区示意见图7。17.2.18
38、对接焊接接头检测区厚度应为工件厚度加上焊缝余高。17.2.5.5 超声检测应覆盖整个检测区。若增加检测探头数量或增加检测面（侧）还不能完全覆盖，应增加辅助检测，包括采用其他无损检测方法。图7检测区示意图4昨平4注：a表示焊接接头检测区宽带17.2.6 检测面准备17.2.6.1 探头移动区宽度17.2.6.2 探头移动区宽度应能满足检测到整个检测区。见图 817.2.6.3 采用一次反射法检测时，探头移动区宽度应大于或等于1.25 P :P=2Kt 或 P=2t x tan 3式中：P 跨距，；T 工件厚度，；K 探头K值；3探头折射角，（）。17.2.6.4 采用直射法检测时，探头移动区宽度
39、应大于或等于0.75P 。17.2.6.5 检测面应清除油漆、焊接飞溅、铁屑、油垢及其他异物，以免影响声波耦合和缺陷判断。检测面应平整，检测面与探头楔块底面或保护膜间的间隙不应大于0.5mm,其表面粗糙度 Ra值应小于或等于25科值检测面一般应进行打磨。17.2.6.6 去除余高的焊缝，应将余高打磨到与邻近母材平齐。保留余高的焊缝，如果焊缝表面有咬边、较大的隆起和凹陷等也应进行适当的修磨，并作圆滑过渡以免影响检测结果的评定。17.2.6.7 探头K直（角度）采用一次反射法检测时，斜探头K值（角度）的选取应尽可能使主声束与检测面相对的底面法线夹角在35。70之间，当使用两个或两个以上K值（角度）
40、探头检测时，应至少有一种K直（角度）的探头满足这一要求。斜探头K值（角度）选取可参照表6的规定。条件允许时，应尽量采用较大K值探头。直探头标称频率的选取可参照表7的规定。（表6）推荐米用的斜探头 K值和标称频率工件厚度mm折射角（用值）标称频率/MHi孑6254-556*68o 40450-63* 402517.2.6.8 母材的检测对于C级检测，斜探头扫查声束通过的母材区域， 应先用直探头检测， 以便检测是否有影响斜探头检测 结果的分层或其他种类缺陷存在。 该项检测仅作记录，不属于对母材的验收检测。母材检测规程要点如下： a检测方法：接触式脉冲反射法，采用 25H和直探头，晶片尺寸1025。
41、b检测灵敏度：用接触式脉冲反射法，将无缺陷处第二次底波调节为荧光屏满刻度的100%。c凡缺陷信号幅度超过荧光屏满刻度20%的部位，应在工件表面作出标记，并予以记录。17.2.7 仪器调节17.2.7.1 斜探头入射点、折射角斜探头入射点、折射角的测量应选择在CSK-IA、CSK-IIA或CSK-IIIA 上进行。17.2.7.2 仪器时基线仪器时基线的调整应选择在CSK-IA、CSK-IIA 或CSK-IIIA 上进行。17.2.8 距离一波幅曲线绘制17.2.8.1 距离-波幅曲线应按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成，该曲线族由评定线、定量 线和判废线组成。评定线与定量线之间（包括评
42、定线）为 I区，定量线与判废线之间（包括定量线）为 II 区，判废线及其以上区域为III 区，如图9所示。如果距离-波幅曲线绘制在显示屏上，则在检测范围内曲线任一点高度不低于显示屏满刻度的20 %。图9距离一波幅曲线波幅dB判废线（RL）23-7717.2.9 距离一波幅曲线的灵敏度选择17.2.9.1 工件厚度为6200mmB勺焊接接头，斜探头或直探头检测时，用CSK-IIA试块制作的距离-波幅 曲线灵敏度按表6的规定。表6斜探头或直探头检测距离-波幅曲线的灵敏度试块型式工件厚度t/评定线定量线判废线6-40小 2X40-18dB小 2X40-12dB小 2 X 40-4dBCSK-IIA40 100小 2X60-14dB小 2X60-8dB2 X60+2dB1
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