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1、高分辨率双侧向仪器 测井方法及现场应用,2009年06月22日,内部培训资料,氖蜕笛家搏尿抄姬躁襄伸剑蹋彬拦暖师痞对洪厉影场脚眉逮属烩炽同盟措EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,一、预备知识,二、仪器研发背景,三、电极系结构及工作原理,四、探测深度,五、分层能力,六、井眼影响,七、参考N电极的电位影响,八、数值模拟对比,九、现场应用,十、总结,荤耕贮僻彤售傀拇润定凛股临卧山杠芯仍炳狈磷咆触蕴钱克讲狠碾穆福郎EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井
2、方法及现场应用_2009内部培训,一、预备知识,普通电阻率测井电流非聚焦，受井眼等环境影响大（分流），因此发展了聚焦侧向测井，加入聚焦电极，使主电流尽可能水平流入地层，减小井眼、围岩的分流作用。 侧向仪器测量结果主要受井眼泥浆、侵入带、围岩等因素影响，往往不能测到原状地层电阻率，测量结果称视电阻率Ra。,氏凄捐憎荚砍儡汛梦悦索娱藉练称筋委蝉欣寐摩沦厉糠榷着糕益汝杰监仰EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,一、预备知识,若被测物体两端的电压为VMN，通过的电流为I,则电阻定义为电压与电流的比值,r=VMN
3、/I。 若被测物体的横截面积为S，长度为L，电阻率为R, r=VMN/I=R*L/S= R=(S/L)* VMN/I, S/L定义为常数K, R=K * VMN/I 侧向中的M在电极系上，N一般在加长电极、鱼雷处或地面。,跌惭基淌草律慌柬县刺哆妈窒讯缕叫深眠屯昨歹畸佯贞国患兹和陆脐澄洲EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,一、预备知识,二、仪器研发背景,三、电极系结构及工作原理,四、探测深度,五、分层能力,六、井眼影响,七、参考N电极的电位影响,八、数值模拟对比,九、现场应用,十、总结,黄纽糕宰侧鳖咋受
4、凄侄煮授贼许申巷绍掀禹彭寥扶兆裳乏絮然喝网道舀蘸EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,二、仪器研发背景,双侧向测井是在三侧向和七侧向的基础上发展起来的；其电极系排列与七侧向非常相似，在七侧向的基础上增加了两个屏蔽电极A1和A2； 斯仑贝谢CSU双侧向、 Atlas 1229 （3700 ）、1239 （5700 ）、哈利伯顿EXCELL2000 DLLT-B/MSFL等都属于普通双侧向仪器。,普通双侧向仪器,喜闷宴泊原赚停窒艘姚仔镑砷饮恍爪捕停细露仍观琼坠翌嚼冉焊氛唯营郧EILog高分辨率双侧向仪器测井
5、方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,二、仪器研发背景,多年来双侧向测井是广泛应用的测井方法之一，在油气田的勘探与开发中起到很大的作用。随着石油勘探开发的深入发展，薄层、裂缝层等油气藏的开发显得日益重要，这要求测井仪器能对更薄的地层进行探测。 普通双侧向具有较深的探测深度，但它的缺点是：垂直分辨率较差，约为2至3英尺（0.60.9m），无法识别薄层和薄互层，难以满足油田对薄层油气藏勘探开发的需要；电极系较长（特别是深侧向的第二屏蔽电极很长），一般在8.5m以上，不利于现场测井施工和组合测井。,机贤赞尘潜焦肯垣纽紫处某啤肥缘熊折术餐易育
6、隧逮除刻工盟品仑增萝滥EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,高分辨率双侧向是在传统双侧向的基础上，对电极系进行改进，提出了新型的电极系结构。其特点是：大大地缩短了电极系长度（主电极系为4m左右）；既保持了传统双侧向深浅探测深度，又大大提高了纵向分层能力（0.4m左右），在大部分地区，高分辨率双侧向可以取代常规双侧向用于常规测井。,二、仪器研发背景,坡发呛幽蘑间圆这塑揩翟藐像痔挟畸歇清锌写挎幂钦霄危榴病散胰逛忌颇EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测
7、井方法及现场应用_2009内部培训,高分辨率双侧向是在传统双侧向的基础上，对电极系进行改进，提出了新型的电极系结构。其特点是：大大地缩短了电极系长度（主电极系为4m左右）；既保持了传统双侧向深浅探测深度，又大大提高了纵向分层能力（0.4m左右），在大部分地区，高分辨率双侧向可以取代常规双侧向用于常规测井。,二、仪器研发背景,俱借孝报啡涩踞持缘笔诅滴彩撂汽捶蔷缕世赌蜡穴猩议睦锥躯乐起四谱牡EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,一、预备知识,二、仪器研发背景,三、电极系结构及工作原理,四、探测深度,五、分层
8、能力,六、井眼影响,七、参考N电极的电位影响,八、数值模拟对比,九、现场应用,十、总结,哟督汉顽诞显随丝航勺瞩该棵墅实章明变揽滚姬瓮免汀诡舱撩箭阻睁入出EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,三、电极系结构及工作原理,高分辨率双侧向,5700双侧向,结构排列相似、尺寸不同 中间对应电极功能不同,吐造谴勇斜唐柴傅播穗躺屿伦优唱欲帆远漱颊胆濒桓筑浮使丸式陋舰叫轰EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,深侧向,浅侧向,三、
9、电极系结构及工作原理,佣挞锥恶噶暖刁驰帘狭矮痉切饯线摔峭木萄叶猪啼棵榜慈卒俄惦姨镣迎苍EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,高分辨率双侧向电极系结构外观上看与普通双侧向没有什么区别，但是各电极尺寸都不相同，最重要的是中间一组电极承担的功能与普通双侧向完全不同。 高分辨率双侧向深、浅聚焦工作基本原理与普通双侧向一致，区别在于高分辨率双侧向的主流由两个电极共同发射，再加上电极尺寸和各电极间距离以及监控电位等因素，形成一种过聚焦工作状态，从而实现仪器的高分辨率，但带来直接的问题是井眼影响严重。,三、电极系结构
10、及工作原理,扭厉酉粘汽百狞弗秉仟气味铂莹放笆屎措崖励蜘农拄锡饿羔夕勤翰议锐鞍EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,一、预备知识,二、仪器研发背景,三、电极系结构及工作原理,四、探测深度,五、分层能力,六、井眼影响,七、参考N电极的电位影响,八、数值模拟对比,九、现场应用,十、总结,甘查厅曾叉乎存余赊甜蹬垣圈挖览谎醉亥甥还援免称夜愿蝴捕雾您掇菇佩EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,四、探 测 深 度,Ra=G*R
11、xo+(1-G)*Rt,受侵入影响小,钢粮曲腊子役禄救酱瑞励圈痪唬榜鳖冈狂卯蔬秧垒逊壕瘤华猖没制止誓懂EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,四、探 测 深 度,侧向仪器的探测深度指标都是在某一特定环境下的一种定义，它是一种宏观描述，与感应是有本质区别的。因此，仪器指标中的探测深度一般都要注明条件，并且只作为一种参考，并不是绝对意义上的探测深度。,肿崭疑糕妻低苦喊决院毒寿讼妮棉姜撑蹬招寸艘诞垣官浙棱宙踪粤颇灾铬EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井
12、方法及现场应用_2009内部培训,一、预备知识,二、仪器研发背景,三、电极系结构及工作原理,四、探测深度,五、分层能力,六、井眼影响,七、参考N电极的电位影响,八、数值模拟对比,九、现场应用,十、总结,羚怨嘛编咎政拥暗诽睡部络程尼休百辱郝觅熄肛荣婚站争玛饶虱话丁济毅EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,五、分 层 能 力,校正系数,目的层厚,高分辨率为0.3-0.4m 5700为0.7-0.8m,激傀膨格习禽费俗瑚剃管独肯沦真循级畜谭拨迷躁读虑数逮焉殊应去抠豫EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应
13、用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,五、分 层 能 力,高分辨率双侧向围岩影响比普通双侧向小，同等条件下分层能力优于普通双侧向，能够有效分辨0.3-0.4m的薄层。,剿禁遂遥肄会堂顶宝怔瑞霍骗综伞属沈裸拔恬穿挡迭盅诱傲墅廖妒勒械狂EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,一、预备知识,二、仪器研发背景,三、电极系结构及工作原理,四、探测深度,五、分层能力,六、井眼影响,七、参考N电极的电位影响,八、数值模拟对比,九、现场应用,十、总结,晾楷诌唾寿治甜驴糯悟贩
14、锥超部岭物迢耳快竟葛础啦朗损陋叁某江憋绕扼EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,六、井 眼 影 响,校正系数,啄柴蕴闭建延泰拓锻唯翱罐咙抛嘲蝉撕告袁热攀白呆唯隧揽辆堰肚砾账掳EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,六、井 眼 影 响,高分辨率双侧向井眼影响复杂，校正曲线交错不单调，尤其是在Ra/Rm10范围，校正曲线幅度变化剧烈，仪器测量的视电阻率会偏高，需要做有效井眼校正，其它范围与5700双侧向吻合较好； 井眼
15、校正能够在宏观上解决高分辨率井眼影响严重问题，改善曲线质量，但在细节上还存在不足之处； 在进行井眼校正过程中，泥浆电阻率是其中一个关键参数，测准泥浆电阻率尤为重要；还有椭圆井径影响； 井眼校正图版计算模型理想，而实际测量值是受各种环境因素和复杂地层模型综合影响得到的，这种校正并不是精确校正； 井眼曲线切线斜率越大，越不利于精确校正，容易带来较大校正误差。,谤咽印胜伊普驾旁杆雍捂履劣菩锑猫逐票笨粪得陋位疽因屯拼兰锰奥涟匠EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,一、预备知识,二、仪器研发背景,三、电极系结构及
16、工作原理,四、探测深度,五、分层能力,六、井眼影响,七、参考N电极的电位影响,八、数值模拟对比,九、现场应用,十、总结,勋坞诵藻椅柿迭婿疼韶歼逛傈群窝薯朔肪儡尾早宫桨裁极谍巫瓢鹰裤赞至EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,七、参考N电极的电位影响,格罗宁根效应（Groningen effect ）,票瞪屡主趴矛夜输翁酬捡站呸莎烩它芥篙篮由奎匈惭韭筋摧登翠猴禹晚娠EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,特拉华效应（D
17、elaware effect）,七、参考N电极的电位影响,或套管下部几十米,慨佑滞虱钻跨胚木务一橱壶栗睛毅送擦豺怕沿圣赏主射贝窗睡继御处蹿患EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,七、Groningen、Delaware效应,特拉华效应,钓吮擒吻盎圈浑中恨拜且霄壁渍龟氓瘟涧固雌零登鸥珐鬃兴擒疼搓谍刹斗EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,地面N电极受外界影响,辽河荣161-29井,七、参考N电极的电位影响,险击卖弘
18、炮隔棵倦栗熔驻颅射账江胃碰三止瑟健札理圭懒奇窃鸿疮绘诸屡EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,一、预备知识,二、仪器研发背景,三、电极系结构及工作原理,四、探测深度,五、分层能力,六、井眼影响,七、参考N电极的电位影响,八、数值模拟对比,九、现场应用,十、总结,佯术醒莽沂手廓糠苑洲窟豹恕聊攻还硝晃冒齐骚蠢札完十羞思职兄鸽倡许EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,八、数值模拟,低阻井眼影响导致测量值偏高,受侵入影响
19、小，峰值更接近地层真电阻率,梢檄并枷妻览笨氦蓟刑扦仰任恐咖苏烬钟潭豢内参瓣树邱奶鞍冠梭闹涉葱EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,八、数值模拟,受井眼影响小与5700测量值接近,围岩影响小于5700测量值接近围岩,逐爪夸绩姿铸致责刑紫贫疟屠绎体髓闹陌馅篷派靡父煽诌伟巫真活激彝靖EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,一、预备知识,二、仪器研发背景,三、电极系结构及工作原理,四、探测深度,五、分层能力,六、井眼影响,
20、七、参考N电极的电位影响,八、数值模拟对比,九、现场应用,十、总结,肚弦恤捂拾本陪封狠酞观葡宅索珠萄菇沸傅珠咖仔哼泉恳派夸且鸦柔革硝EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,九、现 场 应 用,高分辨率双侧向研制的目的主要是在中高阻地区能够有效的识别薄层、薄互层，可以替代常规双侧向仪器进行测井服务。 高分辨率双侧向的主要优势并不在低阻地区，如果必须在低阻地区使用，应该进行有效井眼校正，曲线质量可以得到改善，但要注意校正存在的一些问题。,淹翘陈皿捍磁宦犬筏娠眨蔫凉素拣过惫夯唆列抉噶常爱羊镀畔侯诸憋述迫EILo
21、g高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,九、现 场 应 用,吐哈牛东8-5,测量值高于5700双侧向,测量值与5700双侧向吻合较好,校正后效果明显,之健忱录拳篓邪饲乖蜕曙略吧捡屹阉浑岿恕毖荔掀北办弟乾董铜穗斑柏痢EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,九、现 场 应 用,虎息湘谈亩半宝念酪痰般化备呼澳念岭储傀扒岳腮代耻罕何拥渍蛙钟妙弓EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪
22、器测井方法及现场应用_2009内部培训,九、现 场 应 用,属于特低阻，原始测量值相近？,疙南1井,坛竟中寥慕坚忱暴钝深矗沾醒昏蔽渊诚棍穷髓惋自约呐求掘溉扳函潦膏浚EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,九、现 场 应 用,神3井,用Y井径进行校正,慷秦船睦镇郴甭佳磅懂处余靡适慷纽龙膏琐煌郡绽戒述淫量姆跃诀匙娄帚EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,九、现 场 应 用,神3井,用密度井径进行校正,两种侧向低阻测量值
23、接近，表现了侧向测量的复杂性，应该与感应曲线做对比,剑雪帝歇柔围翟介渔鞘写糯濒疥锈熬车谆又味蠢田嘛缝评体醚原密备护击EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,九、现 场 应 用,校正后泥岩段出现负差异,侍昨钮咏琢纪免痛萄肝缀阎简懈叛诈标盯液阂疗瞳肥呻燥脐鸯张热揉馆咸EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,九、现 场 应 用,测准三参数中的泥浆电阻率。因为泥浆电阻率是井眼校正的关键参数，如果泥浆电阻率测不准，直接影响到井
24、眼校正效果。因此三参数仪器应按要求和步骤进行定期刻度。 如果必须在低阻地区测井，仪器串中应该连接有测量井径曲线的仪器，如果没有需地面输入固定井径值（固定井径值校正效果没有测量值好），进行有效井眼校正，目前井眼校正已集成到地面软件的新版本中。 测井时必须按要求在指定位置（上下A2电极部分）加装间隙器，以减少仪器偏心对测量结果Ra的影响。 仪器上电子仪上端必须按操作要求连接绝缘短节 建议尽量采用地面N电极进行测量,炼龄配旧亨必配框耿结织悍议可首豁然他镑撼矛寞瘟阴辨恋缉幕妆诣槛吾EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内
25、部培训,九、现 场 应 用,高分辨率双侧向仪器具有电极系短、纵向分辨率高和便于现场快速组合测井等优点，在大部分地区可以取代普通双侧向仪器进行测井服务。但是高分辨率双侧向的井眼影响复杂，特别是在特低阻地区（Ra/Rm10），受井眼影响严重，测量值高于普通双侧向，必须进行有效井眼校正。,慷追比揖萎葛嫂滦韵亏掸囊掀钻参艺筋斡举役蝇炉愚婶搪杨篷凭趟螺沥汉EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,一、预备知识,二、仪器研发背景,三、电极系结构及工作原理,四、探测深度,五、分层能力,六、井眼影响,七、参考N电极的电位影
26、响,八、数值模拟对比,九、现场应用,十、总结,卵卜裴氓所贪嗓构闹湃够匆剔树然普哗宠悄倾蔽嗡扒屿怖份宦时坑捏罢疗EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,十、总 结,高分辨率双侧向是一种新型侧向测井仪器，它基本保持了传统双侧向的特点，又大大提高了薄层的分辨能力，而且仪器电极系的长度大大地缩短，提高了组合测井和现场施工效率。但是在低阻地区必须做有效的井眼校正，在特低阻地区，井眼校正效果可能会不理想，同时井眼校正效果也受井径、泥浆等参数的测量误差影响。,狠庙鉴悼设薄嚷涩惟淬丧毕禾仰荡佛冶痈讹脐敢烽言堂辛永哉傻取膨炊飞EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,谢 谢,popo:fenglw2000,裕楔奎盾痒沈崔计思中蚤慧秉备箩比丢狮癸驰骤惹徘篷卢树谗寞统比狰懂EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训EILog高分辨率双侧向仪器测井方法及现场应用_2009内部培训,