《BASMT检验规范》PPT参考课件.ppt

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1、1,目 錄,項目 (ITEM) 一 二 三 四,內容 (DESCRIPTION) 目錄 修訂履歷 目的 范圍 內容 附件,頁次 (PAGE) 1 1 124 2526,文件編號:HSI0803B,版 本,頁 次,生 效 日 期,核 准,審 核,製 作,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI COMPUTER CO., LTD.,文件保管單位:,A0,SMT檢驗規範,2,版 本,頁 次,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,A0,文件編號:HSI0803B,3,PAGE: 1 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司

2、KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,一、目的: 為使檢驗人員能依檢驗方法執行檢驗工作,特制定規範,以作為檢驗遵循 之依據。 二、範圍: SMT執行檢驗工作人員。 三、內容: 本檢驗規范的相應標准參考IPC-A-610C 電子組裝件的驗收條件電子產品 類第一、二級別(本規范部分檢驗標准滿足第三級別要求,詳見具體標准) 和一般性電子行規制定。,文件編號:HSI0803B,4,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,文件編號:HSI0803B,PAGE: 2 OF 24,5,

3、昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,文件編號:HSI0803B,PAGE: 3 OF 24,6,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,文件編號:HSI0803B,PAGE: 4 OF 24,7,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,文件編號:HSI0803B,PAGE: 5 OF 24,8,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO.,

4、 LTD.,SMT檢驗規範,文件編號:HSI0803B,PAGE: 6 OF 24,9,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,文件編號:HSI0803B,PAGE: 7 OF 24,10,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,文件編號:HSI0803B,PAGE: 8 OF 24,11,PAGE: 9 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,名稱:焊錫量,項目:角型

5、晶粒(一),正常的 l焊錫完全附著於焊接面,並呈凹陷狀,可允許的 l焊點錫量等於焊接面的1/3,拒收 l焊錫點錫量少於焊接面的1/3,文件編號:HSI0803B,12,PAGE: 10 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,名稱:焊錫量,項目:角型晶粒(二),正常的 l焊錫完全附著於焊接面,並呈凹陷狀 l低引腳外形的器件(引腳位于或接近于元件 體的下部)焊錫可爬伸至封裝或元件體下,可允許的 l焊錫完全附著於焊接面,且焊錫面呈圓弧狀 l零件焊接面錫量高突,不超出零件本體之1 / 2高,拒收 l焊錫含蓋整個焊接面

6、,且錫量高凸出本體,接觸 元件體,文件編號:HSI0803B,13,PAGE: 11 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,名稱:焊錫量,項目:圓型晶粒(一),正常的 l焊錫量附著面大於或等於焊接面的1 / 2,可允許的 l焊錫與元件間焊接良好 l錫量為圓半徑的1 / 2,拒收 l焊錫與零件端的焊接情形不良,文件編號:HSI0803B,14,PAGE: 12 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,名稱:焊錫量,項目:圓型晶粒

7、(二),正常的 l焊錫量附著面大於或等於焊接面的1/2,可允許的 l焊錫完全附著於焊接面,且呈圓弧狀,拒收 l焊錫覆蓋整個焊接面,且錫量高凸出零件 本體,文件編號:HSI0803B,15,PAGE: 13 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,名稱:焊錫量,項目:鷗翼型元件(一),正常的 l元件引腳的焊錫延伸到元件引腳的上彎曲處與下彎曲處的中間,可允許的 l元件引腳的焊錫延伸到元件引腳下彎曲處的頂部上方,拒收 l元件引腳的焊錫延伸到元件引腳下彎曲處 的下方,文件編號:HSI0803B,16,PAGE: 14

8、OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,名稱:焊錫量,項目:鷗翼型元件(二),正常的 l元件引腳的焊錫延伸到元件引腳的上彎曲處與下彎曲處的中間,可允許的 l元件引腳的焊錫延伸到元件引腳上彎曲處的 底部下方,拒收 l元件引腳的焊錫延伸到元件引腳上彎曲處的上方,文件編號:HSI0803B,17,名稱:焊錫量,項目:J型引腳元件(一),正常的 l焊錫自元件引腳彎曲處向外延伸,焊錫 呈凹面狀且吃錫良好,可允許的 l元件引腳的焊錫延伸在元件引腳彎曲處 的1 / 2,拒收 l元件引腳的焊錫僅在元件引腳底部沾錫, 焊錫無法延

9、伸至彎曲處,PAGE: 15 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,文件編號:HSI0803B,18,名稱:焊錫量,項目:J型引腳元件(二),正常的 l焊錫自元件引腳彎曲處向外延伸,焊錫 呈凹面狀且吃錫良好 l側面焊點長度D大于150%引腳寬度 l最小跟部焊點高度F為1 / 2引腳厚度加焊 錫厚度,可允許的 l元件引腳的焊錫延伸上元件引腳彎曲 處,且錫面呈圓弧狀,拒收 l元件引腳的焊錫延伸上元件上彎曲 處之上,且焊錫超出焊墊邊緣,焊錫 接觸元件體,PAGE: 16 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSH

10、AN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,文件編號:HSI0803B,19,PAGE: 17 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,名稱:浮焊高度,鷗翼型引腳元件 l焊錫焊接高度不得高出引腳厚度的二倍高,J型引腳元件 l焊錫焊接高度不得高出引腳厚度的二倍高,晶粒(圓型)元件 l元件引腳的一端或兩端不得高出自 焊墊0.5 mm焊接,T,2T,文件編號:HSI0803B,2T,T,0.5mm,20,PAGE:18 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI

11、 ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,名稱:點膠作業、印膠作業,項目:溢膠,說明:裝著零件採用機器自動點膠作業,或以印刷方式所實行的印膠作業 生產,因製程或人為的取置零件作業所造成的現象。,正常的 l膠均勻的點在基板裝著零件焊墊的中間,零 件裝著後,不會造成溢膠現象。,可允許的 l溢膠,但焊墊及零件焊點未沾膠 l待焊端大于1 / 2可焊端,拒收 l零件焊點沾膠、焊墊上沾膠 l焊墊與零件間隙大於0.5 mm l待焊端小于1 / 2可焊端,文件編號:HSI0803B,21,PAGE:19 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS

12、 CO., LTD.,SMT檢驗規範,名稱:偏移,項目:角型晶粒,正常的 l角型晶粒裝著在基板焊墊的中心位置,最大橫向偏移 l角型晶粒一端焊接點的1 / 2接觸面與該端焊 墊接觸仍能達成良好的焊接,最大縱向偏移 l角型晶粒的縱向偏移度,小於或等於晶粒本 身寬度的1 / 3,最大斜向偏移 l角型晶粒的斜向偏移度,為晶粒本身 寬度的1 / 3,文件編號:HSI0803B,22,PAGE:20 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,名稱:偏移,項目:圓型晶粒,正常的 l圓型晶粒裝著在基板焊墊的中心位置,最大橫向偏移

13、 l圓型晶粒一端焊接點的1 / 2接觸面與該端焊 墊接觸仍能達成良好的焊接,最大縱向偏移 l圓型晶粒的縱向偏移度,小於或等於晶 粒本身寬度的1 / 4,拒收 l圓型晶粒本體超出晶粒 的1 / 4 ,或晶粒 的另一端焊點超出晶粒的1 / 2,文件編號:HSI0803B,23,PAGE:21 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,名稱:偏移,項目:鷗翼型元件引腳(一),正常的 l引腳裝著在焊墊離本體的1 / 3處,可允許的 l引腳與焊墊前端齊,拒收 l引腳超出焊墊,即超出引腳下彎處引腳的1 / 2,文件編號:HS

14、I0803B,24,PAGE:22 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,名稱:偏移,項目:鷗翼型元件引腳(一),正常的 l引腳裝著在焊墊離本體的1 / 3處,可允許的 l引腳下彎區處與焊墊齊,拒收 l引腳下彎區處超出焊墊1 / 2,文件編號:HSI0803B,25,PAGE:23 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,名稱:偏移,項目:鷗翼型元件引腳(二),正常的,QFP四面引腳正確的裝著在焊墊上 且無偏移情形,最大縱向偏

15、移,QFP左右兩面引腳呈水平縱向偏移出 焊墊,其偏移度為引腳寬的1 / 2,最大橫向偏移,l QFP上下兩側引腳呈水平橫向偏移出焊墊 ,其偏移度為引腳寬的1 / 2,文件編號:HSI0803B,26,PAGE:24 OF 24,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,名稱:偏移,項目:PLCC,正常的,l PLCC四面引腳正確的裝著在焊墊上且無 偏移情形,最大縱向、橫向偏移,PLCC任一兩面引腳呈水平或垂直偏移出焊墊, 其偏移度為引腳寬的1 / 2,拒收,PLCC任一兩面引腳呈水平或垂直偏移出焊 墊,其偏移超出引腳寬的1

16、/ 2,文件編號:HSI0803B,27,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,名稱:推力不足,角形和圓形晶粒 用推力計對測試點進行測試,元件可承受 推力大于其下限標準 推力下限標準:0603=2.94N 0805=3.92N 1206=4.90N 1608=5.88N 2125=7.84N 3126=9.80N,SMT檢驗規範,施力方向和PC板夾角30度,施力點應在元件長度中心位置,施力方向和PC板夾角30度,施力點應在元件長度中心位置,晶体管 用推力計對測試點進行測試,元件可承受 推力大于其下限標準 推力下限標準:晶体管=6.86N

17、,推力下限標準: IC (PIN=5.88N IC (PIN8) =6.86N,施力點應在元件寬度中心位置,IC 用推力計對測試點進行測試,元件可承受推力 大于其下限標準,施力方向和PC板夾角30度,附 件 一,文件編號:HSI0803B,28,昆山達鑫電腦有限公司 KUNSHAN HEISEI ELECTRONICS CO., LTD.,SMT檢驗規範,附 件 二,文件編號:HSI0803B,不良項目代碼,S1: 缺件 S2: 錯件 S3: 極性錯誤 S4: 錫尖 S5: 短路 S6: 零件損傷 S7: 偏移 S8: 標示不清 S9: 錫多 S10: 錫球,S11: 橋接 S12: 溢膠 S13: 浮豎 S14: 熔錫不良 S15: 側立 S16: 錫量不足 S17: 空焊 S18: 浮焊 S19: 反白 S20: 多件,

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