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1、光纤电接口指标与测试 电接口的指标应符合 ITU-T 的有关建议要求图 5-13 中的 A,B 点为电接口通常把 A 点称为输人口，B 点称为输 出口在输人口和输出口都需要测试的指标有：比特率及容 差、反射损耗,将此称为一般指标专门在输人口测试的指标 有输人口允许衰减和抗干扰能力、输入抖动容限；专门在输 出口测试的指标有输出口脉冲波形、无输入抖动时的输出抖 动容限 1一般指标与测试 (1)比特率及容差 比特率及容差的含义 比特率是指在单位时间内（通常为 Is）传送的比特数， 由于信号衰减、抖动及其他影响，实际传送数字信号的比特 率与标称比特率之间会有些差别当差别在一定范围内变化 时，光端机仍能
2、正确接收传输信号而不产生误码，这种差别 的允许范围即为容差表 5-1 给出了数字信号标称比特率及 容差。 表 5-1 各级电接口标称比特率及容差光端机 的输入口和输出口均应满足表 5-1 的要求。对输入口而言， 在光端机接收容差范围内的任何比特率信号时，输入口的参 数即允许衰减、允许抖动容限等参数都能满足各自的指标要 求。对输出口而言，无论光端机上游是什么设备，从光端机 输出口输出的信号比特率应在容差范围内。容差常用“ppm” 表示， 即 10-6。 例如， 当系统码速为 2048kbit/s， 容差为 50ppm， 即表示实际允许码速的偏差为 (20481035010-6)=102 bits
3、 测试方法 先以输人口比特率及容差的测试为例，测试方框图如图 5-16 所示，测试时，需测出输入口所能承受的比特率的正偏 和反偏的极限具体测试步骤如下： a按图 5-16 所示连接电路，其中光可变衰减器用以代 替长光纤。 b码型发生器发出规定标称比特率的测试信号。 c 调高码型发生器的比特率， 直到在误码检测器上出现 误码，此时的比特率为 b1。 d调低码型发生器的比特率，直到在误码检测器上出 现误码，此时的比特率为 b2。 eb1，b2 分别与标称比特率之间的差值就是正、负方 向的容差。图 5 - 16 输人口比特率及容差测试方框图 测试输出口比特率及容差时，需先测得输出口的比特率，这 就要
4、在图 5-16 中的输出口处接一个数字测试仪及数字式频 率计 数字式频率计从接收信号中提取时钟由频率计根据提 取的时钟给出信号的比特率它与标称比特率之间的差值应 在表 5-1 所示的容差范围内。 (2)反射损耗 反射损耗的含义 当传输电缆与光端机相连时，若连接点处阻抗不匹配， 就会产生反射损耗即当传输电缆的特性阻抗 Zc 与光端机 接口处的阻抗 ZX 不相等时，就会在光端机接口处产生反 射 反射信号与入射信号叠加， 使光端机接口处的信号失真， 以致造成误码这里用 bp 来表示反射损耗，它的定义式为 其中一般 ZC=75 Q由上式可知，当 ZX=ZC 时， =O，表示没有反射信号；当 ZXZC
5、时,则将引起反射若 反射功率为 Pr（ W） ，入射功率为 P0（ W） ，则式(5-23) 也可写为对于实际的光端机，电接口不可能完全阻抗 匹配，为了保证系统正常工作反射衰减应达到规定值表 5-2 给出了一、二、三次群电接口对输入口提出的反射损耗， 四次群电接口对输入和输出口提出的反射损耗的要求。 测试方法 光端机输人口与输出口反射损耗的测试方法相同现以 输人口为例测试反射损耗它的测试方框图如图 5-17 所 示具体测试步骤如下： a按图 5-17 所示连接电路，其中，振荡器发出测试所 需的电信号，75 反射电桥提供标准 75 阻抗，选频表用 来测试某一频率下的电信号功率电平值 b先断开 Z
6、X，调整振荡器输出，此时选频表的指示电 平即入射功率 Lo(dBm) c将 ZX 接在反射电桥上，此时电平表指示电平即为反 射功率 Lr(dBm) d计算反射损耗 bp= Lo 一 Lr(dB) 表 5-2 电接口反 射损耗指标图 5-17 电接口反射损耗测试方框图2 输 入口指标与测试 (l)输人口允许衰减 输人口允许衰减的含义 信号由电端机经过一段电缆送人光端机时，电缆对信号 有一定的衰减，这就要求光端机在接收这种信号时仍不会发 生误码，这种光端机输人口能承受一定传输衰减的特性，用 允许衰减来表示 测试方法 输入口允许衰减的测试方框图如图 5-18 所示， 具体测试 步骤如下： 图5一18
7、输人口允许衰减测试方框图a 按 图 5-18 所示连接电路其中，输入口连接电缆对信号的衰减 符合 衰减规律长光纤可用光可变衰减器代替。 b误码仪发送规定测试信号。 c 使连接电缆的衰减按表 5-3 所要求的允许衰减范围内 变化，以误码检测器检测不到误码时的衰减值为测试结果。 表 5-3 输入口允许的连线衰减和抗干扰能力(2)输入 口抗干扰能力 输入口抗干扰能力的含义 对光端机而言，由于数字配线架和上游设备输出口阻抗 的不均匀性，会在接口处产生信号反射，反射信号对有用信 号来说是个干扰信号通常把光端机在接收被干扰的有用信 号后仍不会产生误码的能力称为输入口的抗干扰能力，因 此，常用有用信号功率与
8、干扰信号功率之比表示抗干扰能力 的大小。 测试方法 输入口抗干扰能力的测试方框图如图 5-19 所示， 具体测 试步骤如下：图 5 一 19 输人口抗干扰能力测试方框图 a按图 5-19 所示连接电路其中，混合网络将有用信号和 干扰信号合并起来，光端机输入口处符合衰减规律的电缆的 衰减范围按表 5-3 选取，长光纤可用光可变衰减器代替。 b误码仪的码型发生器发出规定的测试信号作为有用 信号，干扰源发出干扰信号。 c 调节干扰支路的衰减嚣， 使信号干扰比的取值如表 5-3 所列，那么以误码检测器检测不到误码为测试结果。 (3)输入抖动容限 3输出口指标与测试 (1)输出口脉冲波形 脉冲波形样板
9、为使各厂家生产的不同型号的设备能彼此相连，就要求 这些设备的接口波形必须符合 ITU-T 提出的要求，即符合 G.703 建议中的脉冲波形样板，其图形如图 5-20图 5-23 所 示。可见，接口码速不同，对脉冲波形的要求不同，每种波 形的脉冲宽度及幅度、上升、下降时间、过冲程度等都有严 格规定但只要设备的接口波形在样板斜线范围内，则同一 码速的不同型号的设备就能互连。图 5-20 2048kbit/s 接口 脉冲样板图 5-21 8448kbit/s 接口脉冲样板图 5-22 34368kbit/s 接口脉冲样板图 5-23 139264kbit/s 接口脉冲样 板 (a)对应于二进制 “0
10、” 的脉冲样板图 5-23 139264kbit/s 接口 脉冲样板 (b)对应于二进制“1”的脉冲样板测试方法 输出口脉冲波形的测试方框图如图 5-24 所示， 具体测试 步骤如下：图 5-24 输出口样板波形测试方框图a按 图 5-24 所示连接电路，其中示波器与光端机输出口连接时， 要用 75 电阻匹配，带宽要足够大，尤其是当系统码速为 139. 26 Mlbit/s 时，还要用一个电容作交流耦合。 b断开输入信号，此时示波器的水平扫描线作为波形 样板的标称零电位。 c 再接上码型发生器， 并使之产生规定的伪随机码测试 信号，此时示波器的波形应满足规定的脉冲样板波形。 （2)无输入抖动时的输出抖动容限