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1、ROHS设备波长型色散型 X荧光光谱仪与能量型 X射线光谱仪比较X射线荧光分析仪(XRF)是可以对多元素同事测定的仪器。在X射线激发下，能够发出二次X射线。根据其波长和能量的不同实现两种理论的设备检测功能：1) 激发出的二次 X射线通过晶体分光后，由探测器接受经过衍射的特征X射线信号，根据检测出不同波长的二次 X射强度分析，从而实现定量分析，这就是波长型XRF分析仪。2) (ED-XRF)能量色散型X射线光谱仪：是通过检测器直接检测二次X射线的能量和强度，从而分析出样品中所含有元素的种类和浓度。两种设备的比较：项目波长色散型能量色散型原理X荧光经晶体分光，在不冋衍射角测X荧光直接进入检测器，
2、经电子学系统量不冋兀素的特征线处理得到不冋兀素(不冋能量)的X荧光能谱结构为满足全波段需要，配置多块晶体，无扫描机构，只用一个检测器和多道脉根据单道扫描和多道同事测定的需冲分析器，结构简单的多，无转动伴，要，设置扫描机构和若干固定通道可靠性高X-光管高功率，要高容量冷却系统，光管寿低功率。不许冷却，管寿命长命短检测器正比计数器，和晶体，检测器有关Si(Li),电子冷却灵敏度g/g 级轻基体g/g级，其他1010 x10pg/g准确度取决于标样取决于标样精密度很好低浓度时不如WD系统稳定咼工作周期性漂移校正，定期作工作好，工作曲线可长时间使用性曲线方便性一般方便分析速度单道慢，多道快快速人员要求较咼一般样品表面要求平滑要求不咼价格高低测定元素Z >5 , B-UZ >11 , Na-U,特殊铍窗时可Z >8 ,范围O-U