《实验六X射线标识谱和吸收.doc》由会员分享，可在线阅读，更多相关《实验六X射线标识谱和吸收.doc（7页珍藏版）》请在三一文库上搜索。
1、实验六X射线标识谱与吸收物理学院物理系00004037贾宏博同组：00004038孙笑晨实验目的1.1了解X射线标识谱产生的规律，验证莫塞莱宦律。1.2研究固体对X射线吸收的规律学习和掌握利用闪烁探测器测量能谱的方法。实验原理标识X射线的产生X射线入射到原子上，造成原子的内层电子激发，在该层上留下空位。这时，子向内跃迁填补此空位并放出X射线光子.这就是标识X射线。根拯原子物理理论有外层电27r2me41(声)(6-1)其中”为标识X射线的频率，z为原子序数。当年，莫塞莱从实验中发现，称为莫塞莱泄律。本实验目的之一即为通过测咼不同原子序数的材料样品的标识X射线频 率来验证此定律。2.2 X射线的
2、吸收一束强度为人的X射线垂直入射到均匀的吸收介质上，X射线的强度随着入射深度的 增加而衰减。当介质很薄时，衰减率din与吸收层厚度成正比：di . = - Podx(6-2)比例常数“u称为线衰减系数，量纲为厶单位为C”厂I,在吸收介质和入射X射线波长为一定时是一个常数。实际介质的厚度为上对（62）式积分得I = g exp( 一”肿)(6-3)线衰减系数“°由两部分构成:(6-4)（由于公式编辑器不能编辑汉字故以a代表adsorption吸收，d代表diffusion散射）陥称为线吸收系数，入射X射线与介质相互作用而被介质吸收的机制有三种：光电效应、 康普顿效应和正负电子对。对于能
3、量小于IMeV的X射线光子(本实验和一般X射线能量 都在此范用内)，正负电子对产生的概率为0,最主要的相互作用机制光电效应。bd称为弹 性散射系数，起源于汤姆逊散射，散射波长与入射波相同，只是方向有偏离，这些散射线 可以相互干涉加强。对于X射线来说比bd大得多，而且X射线波长越长，。占的比例 就越大。因此，近似的得到I =【0 exp(-rrx) = Zo exp(-s砂)(6-5)5称为相应于光电效应的质量吸收系数。一的意义是由于光电效应引起的入射束通过单位厚度(cm)吸收介质时衰减率的大小。根据实验特征可以得到下而的半经验公式：r, =NCZU，(6-6)C是常数，N是介质中原子数密度，Z
4、是介质原子序数，Q是入射X射线波长。 由此得到CNZ°兀ANOX/(6-7)式中A为介质的原子量。本实验的目的之二为测量铝介质对不同波长X射线的5并验证(6-7)式。3 实验仪器实验仪器原理图如图6-1所示。射线源为23SPu,其上方为铅板以防I匕源X射线进入探测器 干扰测量。X射线源发出的X射线照射在样品上激发出样品的标识X射线，标识X射线打 到Nal闪烁体中被闪烁体全吸收。闪烁体吸收标识X射线的同时发岀荧光，英光强正比于 闪烁体吸收的X射线光子的能量。经光电倍增管线性放大后产生一个电压脉冲。不冋能量 的X射线会产生不同幅度的电压脉冲，并随着时间的推移而产生多个脉冲。多道分析器的
5、每一个通道按通道号正比于电压脉冲的关系对应一个小范用的脉冲幅度进行讣数，在计算 机程序中显示出能谱图。横坐标为道址号，正比于闪烁体吸收的X射线频率。纵坐标为讣 数率，反映闪烁体吸收的X射线相对强度。这样，如果有标识X射线打到闪烁体上，峰值 频率就是标识X射线的频率。前置放大线性放大光电倍増管多道分析器N创闪烁体Pb实验仪器原理图图6-14 丈验方法和内容4.1测量不同材料的标识X射线能谱。测试样品为薄片状，平放在样品室的下而凹槽中。首先装入Mo样做一次谱，调节光电 倍增管的增益，在可以观测到半髙宽的前提下使峰值尽可能靠右，因为在所有样品中Mo 的原子序数最大，这样可以保证测到其他样品的蚯，还能
6、减小误差。总通道数选1024。记 录峰值道址、左右半髙道址.峰值计数和采样时间。峰值计数要大于10000.如表6所示。样品材料MoZrSrSeZnNiFeTi峰值道址458442407322236201167113左半高道址35434231624317814311361右半髙道址566546503404309268226160峰值计数1020910036100301003710276106261357110100时间（S）372400233185146151221380表6-1不同材料的标识X射线能谱4.2研究不同厚度铝材料对不同波长X射线吸收规律。利用靶材料的产生的固左波长的标识X射线。在靶
7、与闪烁体之间放上不同层数n的铝 片，对同一个靶，设宜泄时模式，对于Mo和Sc靶使】匸02468,对于Zix Fc和Ni靶使 n=0丄234。先确n=0时U巾髙的80%对应的两个道址，作为积分区间对每个厚度下的能谱 计数作完整积分，如表62。时间的设怎要使得在没有铝片（n=0）时的积分值达到10万以 上（Mo和Sc）或者50万（Zn、Fc和Ni）。样品材料MoSeZnNiFe时间（s）6030120150150枳分区间442-549289-365212-284174-250137-204n=0积分值142418114449557418523335503501n=l3660213038151189
8、85n=21211268014120983611207024435n=3112278390655471n=41080795035960589174241845n=69444430002n=88485916799n=10739659752表6-2不同厚度铝介质对不同材料的标识X射线的吸收规律5 实验数据处理5.1验证莫塞莱左律样品材料MoZrSrSeZnNiFeTiJ峰值道址原子序数z4240383430282622表6-3J峰值道址与原子序数Z的关系由于峰值道址正比于X射线频率,故只需验证J峰值道址* Z即可。如下表63。以 原子序数Z作横坐标，J峰值道址作纵坐标进行直线拟合得图62。相关系数
9、表明线性良 好，于是莫塞莱宦律得到验证。由于本实验未进行道址立标，故不能得岀截距和斜率的确 切值。24Testify of Mosslei's law222018161412108202530354045Zssalppe Aeegljbs图6-2J峰值道址与原子序数Z的关系5.2验证公式(6-5)和(6-7)由表62,将各个n值的计数积分值与】匸0的枳分值相比得到1 / /0 o对各个不同靶和各个n计算ln(/ZI/0)的值，如表64。靶材料MoSeZnNiFen0()0()00n1n2n3n4n6n8n=10表6-4ln(/n/0)与铝片层数n和不同的标识X射线靶的关系对每个靶作In
10、(人/°)5图并进行直线拟合，如图63。线性相关系数都在以上,验证了(65) 式。Aluminum© X-ray adsoprtion of various element's characteristics X-ray图6-3 ln(Zzr/Z0)与铝片层数n和不同的标识X射线靶的关系图6-4吸收系数与X射线波长的关系考虑到px. = 6.Smg/cm2,将各个拟合得到的斜率除以该数即得到g ,如下表65。考虑几oct/" oclll笔值道址"，取与每个靶相应的瞩值道址的三次方倒数得到才（任意单 位），作5才图并进行线性拟合，如图64,相关系数
11、，验证了 （6-7）式。靶材料MoSeZnNiFer,J(cm2 /g)才(.)表6-5 吸收系数与X射线波长的关系6 实验结论与讨论6.1本实验通过验证丿殛适旺与靶材料原子序数Z的线性关系，验证了莫塞莱左律。6.2本实验验证了均匀介质对X射线的吸收规律（6-5）式，测量了铝对不同靶材料发出的 标识X射线的相应于光电效应的质量吸收系数，并进一步验证了吸收系数与X射线波 长的关系（6-7）式7 思考题7.1估算汤姆逊散射对X射线吸收的影响。部分指出，光电效应占X射线吸收的主要机制。对Mo的标识X射线而言，实验测得铝对其吸收系数（相应光电效应）为g=355cr/g°铝的原子数密度为“ P
12、Z、 2.7-6.022 xlO23 .3 匚 in22 -3N =cm =6x10 cmA27则光电效应的散射截而为3.55x2.7八-”>b 一 "二° N=“ -10 cnr6xl022而汤姆逊散射的散射截面为6 =也Z =岚72逹1()二匸13_ = 10-23c加233可见，汤姆逊散射截而比光电效应散射截面小一个量级。.当X射线波长增加时还会 增加，所以汤姆逊散射在一般X射线的吸收机制中可以忽略。7.2 Nal闪烁探测器的能疑分辨率与X射线光子能量关系X射线光子能量越低，闪烁体的吸收率越髙，发岀的荧光光子越多，能量分辨率也就 高°做吸收实验时，在靶材料标识X射线的11金的右侧，还能观察到另一个峰，而且随着铝片厚度的增加，标识X射线峰削弱而该峰反会逐渐增强。实验表明该峰的位巻是基本不变 的，基本在道址500左右。经过与已知的标识X射线的频率对比，发现该峰实际上是邨PU 源发出的的X射线。